JPS6240380A - プラズマcvd法による堆積膜形成装置 - Google Patents

プラズマcvd法による堆積膜形成装置

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JPS6240380A
JPS6240380A JP17945585A JP17945585A JPS6240380A JP S6240380 A JPS6240380 A JP S6240380A JP 17945585 A JP17945585 A JP 17945585A JP 17945585 A JP17945585 A JP 17945585A JP S6240380 A JPS6240380 A JP S6240380A
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JP
Japan
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substrate
microwave
deposited film
high frequency
reaction chamber
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JP17945585A
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Eiji Takeuchi
栄治 竹内
Kozo Arao
荒尾 浩三
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Canon Inc
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    • H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192—Microwave generated discharge
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
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    • G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214—Silicon-based
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、基体上に堆積膜、とりわけ機能性膜、殊に半
導体ディバイス、電子写真用の感光ディバイス、画像入
力用のラインセンサー、撮像ディバイス、光起電力素子
などに用いられるアモルファス状あるいは多結晶状等の
非単結晶状の堆積膜を形成するのに至適なプラズマCV
D装置に関する。
〔従来技術の説明〕
従来、半導体ディバイス、電子写真用感光デ    □
ィバイス、画像入力用ラインセンサー、撮像ディバイス
、光起電力素子等に使用する素子部材としては、アモル
ファスシリコン例えば、水素又は/及びハロゲン(例え
ばフッ素、塩素等)で補償されたアモルファスシリコン
(以後「a−3i(H,X) jと記す。)膜等が提案
され、その中のいくつかは実用に付されている。そして
、そうしたa−8i()1.X)膜とともにそれ等a−
8i(H,X)膜等の形成法およびそれを実施する装置
についてもいくつか提案されていて、真空蒸着法、イオ
ノブレーティング法、いわゆるCVD法、プラズマCV
D法、光CVD法等があり、中でもプラズマCVD法は
至適なものとして実用に付され、一般に広く用いられて
いる。
ところで前記プラズマCVD法は、高周波またはマイク
ロ波エネルギーを利用して堆積膜形成用ガスを基体表面
の近傍で励起種化(ラジカル化)して化学的相互作用を
生起させ、該基体表面に膜堆積せしめるというものであ
るところ、そのための装置は、高周波またはマイクロ波
を放射するための手段、例えばアンテナまたは導波管と
基体の双方を固定する、第4図に示す形式のものである
。〔図中、101は反応容器、102は原料ガス導入管
、106は高周波またはマイクロ波電源、104は導波
管、105は透過窓、106は基体、107は基体保持
ステーゾ、108は加熱手段、109はガス排出管であ
る。〕ところが、こうした従来のプラズマCVD法によ
る装置にあっては、上述したように、操作時、導波管そ
して基体は共に固定されているわけであり、高周波また
はマイクロ波の電磁界は定在化し、電界は、例えば第5
−a図〔図中、aは反応空間内における高周波またはマ
イクロ波の電界強度の分布曲線を示す。〕に示されるよ
うな強度分布となり、そして、この電界の強度分布は、
適用する高周波またはマイクロ波の波長に 。
依存するので、結局のところ、系中に導入される堆積膜
形成用の原料ガスは、電界の強度分布に従った密度で励
起され励起種化するところとなるので、堆積される膜は
、第5−b図〔図中、bは反応空間内での基体7上に堆
積された堆積膜106の堆積状態を示す。〕に示すよう
に、おのずと電界の強い部分では厚く、また弱い部分で
は薄くなり、基体が前記の波長より長い場合にはなお更
であるが、形成される堆積膜に膜厚の他、密度、硬度そ
してまた組成の点についても不都合な影響を与えてしま
い、諸特性発現性を具有する所望の堆積膜製品を定常的
に得るというのは困難であるという問題がある。
もつとも上達した従来のプラズマCVD法による堆積膜
形成装置によれば、一応満足のゆく堆積膜製品の製造は
可能ではあるものの、その場合、各種・ぞラメ−ターに
ついて厳密な選択が必要とされる。ところが、そのよう
に厳密に選択されたパラメーターについてはその中の1
つの構成因子、とりわけそれがプラズマであって、不安
定な状態になりでもすると形成される膜は著しい悪影響
を受けて製品として成立し得ないものになってしまうと
いう問題が存在する。したがってその装置構成は1おの
ずと複雑なものとなり、装置規模、種類が変れば個々に
厳選されたi4ラメ−ターに対応し得るように設計しな
ければならない。
こうしたことから、プラズマCVD法については、それ
が今のところ至適な方法とされてはいるものの、上述し
たことから、所望の堆積膜を量産するとなれば装置に多
大の設備投資が必要となり、そうしたところで尚量産の
ための工程管理項目は多く且つ複雑であり、工程管理許
容幅は狭く、そしてまた装置調整が微妙であることから
、結局は製品をかなりコスト高のものにしてしまう等の
問題がある。
一方、前述の各種ディバイスが多様化して来ており、そ
のための素子部材即ち、前述した各種特性等の要件を総
じて満足すると共に適用対象、用途に相応し、そして場
合によってはそれが大面積化されたものである、安定な
堆積膜製品を低コストで定常的に供給されることが社会
的要求としてあり、この要求を満たす装置の開発が切望
されている。
〔発明の目的〕
本発明は、光起電力素子、半導体デイパ・イス、画像入
力用ラインセンサー、撮像ディバイス、電子写真用感光
ディバイス等に使用する堆積膜を形成する従来装置につ
いて、上述の諸問題を解決し、上述の要求を満たすよう
にすることを目的とするものである。
すなわち本発明の主たる目的は、電気的、光学的、光導
電的特性が殆んどの使用環境に依存することなく実質的
に常時安定しており、優れた耐光疲労特性を有し、繰返
し使用にあっても劣化現象を起こさず、優れた耐久性、
耐湿性を有し、残留電位の問題を生じない均一にして均
質な、改善された堆積膜を形成するためのプラズマCV
D法による堆積膜形成装置を提供するととにある。
本発明の他の目的は、形成される膜の緒特性、成膜速度
、再現性の向上及び膜品質の均一化、均質化をはかりな
がら、膜の大面積化に適し、膜の生産性向上及び量産化
も容易に達成することのできるプラズマCVD法による
堆積膜形成装置を提供することにある。
〔発明の構成、効果〕
本発明者は、従来装置についての前述の諸問題を克服し
て、上述の目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、上
述の従来のCVD法による堆積膜形成装置について、電
界の強度分布が基体の近傍において特定の手段を介して
一様になるようにしたところ、従来装置についての前述
の諸問題が解決され、且つ上述の目的を達成できる知見
を得、本発明乞完成するに至った。
即ち本発明の装置は、堆積膜形成用の原料ガスを励起さ
せて励起種化するための高周波またはマイクロ波発生手
段と、基体上に堆積膜を形成するための反応室とを有し
てなるプラズマCVD法による堆積膜形成装置において
、 前記反応室内に前記高周波またはマイクロ波の電磁界と
前記基体との相対的位置関係を変化させる機能を有する
高周波またはマイクロ波攪乱手段が設けられていること
を特徴とするものである。
かくなる本発明の装置は、堆積膜形成操作時、電界の強
度分布を基体の近傍において一様にするので、従来の堆
積膜形成装置に比較して成膜速度を飛躍的に伸ばすこと
ができ、加えて、基体が高周波またはマイクロ波の波長
より長いものであっても、製品たる膜の品質、厚さ、そ
して電気的、光学的、光導電的特性等の安定した堆積膜
を効率的に量産することを可能にし、そしてまた堆積膜
製品を低コストで提供することを可能にするものである
。
本発明の装置により堆積膜を形成するについて使用され
る原料ガスは、高周波またはマイクロ波のエネルギーに
より励起種化し、化学的相互作用して基体表面上に所期
の堆積膜を形成する類のものであれば何れのものであっ
ても採用することができるが、例えばa−8i(H,X
)膜を形成する場合であれば、具体的には、ケイ素に水
素、ハロゲン、あるいは炭化水素等が結合したシラン類
及びハロゲン化シラン類等のガス状態のもの、または容
易にガス化しうるものをガス化したものを用いることが
できる。これらの原料ガスは1種を使用してもよく、あ
るいは2種以上を併用してもよい。また、これ等の原料
ガスは、He、Ar等の不活性ガスにより稀釈して用い
ることもある。さらに、a−81(E、X)膜はn型不
純物元素又はn型不純物元素を1−ピングすることが可
能であり、これ等の不純物元素を構成成分として含有す
る原料ガスを、単独で、あるいは前述の原料ガスまたは
/および稀釈用ガスと混合して反応空間内に導入するこ
とができる。
また基体については、導電性のものであっても、半導電
性のものであっても、あるいは電気絶縁性のものでちっ
てもよく、具体的には金属、セラミックス、ガラス等が
挙げられる。そして成膜操作時の基体温度は、特に制限
されないが、60〜450℃の範囲とするのが一般的で
あり、好ましくは50〜350℃である。
また、堆積膜を形成するにあたっては、原料ガスな導入
する前に反応空間内の圧力を5 X 10’ Torr
以下、好ましくはlX10  Torr以下とし、原料
ガスを導入した時には反応空間内の圧力を1刈o−2〜
1    ′Torr好ましくは5X10−1〜I T
orrとするのが望ましい。
なお、本発明の装置による堆積膜形成は、通常は、前述
したように原料ガスを事前処理(励起種化)することな
く反応空間に導入し、そこで高周波またはマイクロ波の
エネルギーにより励起種化し、化学的相互作用を生起せ
しめることにより行われるが、二種以上の原料ガスを使
用する場合、その中の一種を事前に励起種化し、次いで
反応空間に導入するようにすることも可能である。
以下、本発明のプラズマCVD法による堆積膜形成装置
を、第1,2図の実施例により更に詳しく説明するが、
本発明の堆積膜形成装置はこれらによって限定されるも
のではない。
第1図は、高周波またはマイクロ波の電磁界と前記基体
との相対的位置関係を変化させる機能を有する高周波ま
たはマイクロ波攪乱手段として、透過窓を介して反応室
内に放射された高周波またはマイクロ波の進行方向前方
であって、透過窓の設けられた反応室の側壁と対向する
反応室の側壁の直前の位置に1つのファンを設けるとと
もに、原料ガスが原料ガス導入管より反応室に導入され
た直後に相当する位置にもう1つのファンを設けてなる
、本発明のプラズマCVD法による堆積膜形成装置を模
式的に示す断面略図である。
第1図において、1は土壁、側壁、及び底壁により密封
形成されてなる反応室Aを有する真空容器である。真空
容器1は、側壁上部に、1端は反応室A内に開口し、他
端は原料ガス供給源(図示せず)に連通していて、バル
ブ手段21を備えた原料ガス供給管2を有し、また、前
記側壁と対向する側壁下部に、1端は反応室A内に開口
し、他端はバルブ手段91を介して排気装置(図示せず
)に連通ずる排気管9を有する。
3は高周波またはマイクロ波電源であり、該電源により
発生される高周波またはマイクロ波は、三本柱整合器(
図示せず)、矩形導波管(図示せず)、アイソレーター
(図示せず)を介して前記電源に接続されている導波管
4に誘導され、真空容器1のガス導入管を有する側の側
壁に嵌装着された透過窓5を介して反応室A内に放射さ
れるようにされている。透過窓5は高周波またはマイク
ロ波を透過する板で“構成されており、好ましくは耐熱
性の高いシリコン樹脂、テフロン及びアルミナ(At2
03)セラミックス等の誘電体で構成されている。
7は、基体6を加熱する加熱手段8を内蔵する基体6の
保持ステージである。
11は、高周波またはマイクロ波を反射する材質例えば
アルミニウムや鉄等の導体で構成された羽根を有するフ
ァンであり、透過窓を介して放射され、進行する高周波
またはマイクロ波を反射するように、前記真空、容器の
排気管9を有する側の側壁に取り付けられており、真空
容器外に設けられた回転数可変な駆動装置12に連結さ
れている。第6図は前記ファンの形状の例示であって、
111は、高周波又はマイクロ波を反射する材質で構成
されたものを示すが、使用するファンの形状はこれによ
って限定されるものではない。反応室Aに放射された高
周波またはマイクロ波は、駆動装置12により回転せし
めたファン11により反射されるため、高周波又はマイ
クロ波の放射により生じた電磁界と基体6との相対位置
関係は、ファンの回転に対応して変化する。その結果、
基体206の表面近傍における電磁界の強度分布は、時
間積分をとった場合には一様となるため、該電磁界によ
って生成される励起種の密度分布も一様となり、基体全
面において均一な膜質及び均一な膜厚を有する堆積膜を
形成することが可能となる。
13は、原料ガスが前述の原料ガス導入管2より反応室
A内に導入された直後の位置に相当する位置に設けられ
たファンであり、該ファンの回転により原料ガスのガス
流が反射されるように設けられている。該ファン13の
形状は前述のファン11と同様のものであり、該ファン
13もまた、真空容器外に設けられた回転数可変な駆動
装置14に連結されているが、前述のファン11の場合
のように高周波又はマイクロ波を反射する材質で構成さ
れていなくてもよい。
原料ガスのガス流は反応室Aに導入されると同時に、駆
動装置14により回転せしめたファン16により反射さ
れ、攪乱されるため、基体6と該原料ガスのガス流との
相対的位置がファンの回転に対向して変化するとともに
、該ガス流の変化によって、高周波またはマイクロ波に
より生じる電磁界の強度分布および該電磁界により生成
される励起種の分布も変化する。この結果、基体6表面
近傍における励起種の分布が基体6表面における時間積
分としてみた場合に一様となるという作用効果が、一層
効率的に達成される。
10は、真空容器外に設けられた駆動装置であり、任意
の機械的手段を介して基体保持ステージ7に連結してお
り、該基体ステージを水平揺動、又は上下運動、あるい
は回転せしめるようにしである。該基体ステーシフの水
平揺動、上下運動、又は回転等は必要に応じて行なわれ
るが、堆積膜形成操作時に基体保持ステージ7の水平運
動、上下運動、又は回転、あるいはこれらのうちの2つ
以上を組み合わせて行なう場合には、電磁界の強度は時
間積分をとると基体全体について一様となり、その結果
生成される励起種の分布も一様となるため、基体表面上
に堆積する膜は均一にして均質なものとなり、諸 。
特性に富んだ所望の堆積膜を安定して得ることができる
という本発明の装置の作用効果をより一層効率的に達成
しうる。
第2図は、本発明のプラズマCVD法による堆積膜形成
装置の他の実施例を模式的に示す断面略図であり、本例
においては、前述の第1図実施例におけるガス導入管の
開口位置を変更シ、第1図実施例において設けた2つの
ファンを1つのファンとしたものである。なお、第2図
においては、第1図実施例と同一機能の装置構成部分に
ついては、第1図におけると同様の記号を用いて示した
。即ち、1は真空容器、2′はガス導入管、21′はパ
ルプ手段、3は高周波またはマイクロ波電源、4は導波
管、5は透過窓、6は基体、7は基体保持ステージ、8
′は加熱用手段、9は排気管、91はパルプ手段、10
は保持ステージ7の駆動装置、11はファン、12は回
転数可変の駆動装置である。
第2図実施例においては、真空容器の1つの側壁に透過
窓5を嵌装着するとともに、該側壁下部に、1端は反応
室A内に開口し、他端はバルブ手段91′を介して排気
装置(図示せず)に連通ずる排気管9′を有する。該側
壁に対向する他方の側壁には、前記嵌装着された透過窓
5の中心位置に相当する位置にガス導入管2′を有して
おり、該ガス導入管の1端は反応室A内に開口し、他端
はバルブ手段21′を介してガス供給源(図示せず)に
連通している。そして、真空容器内の該ガス導入管2′
の開口部直前には前述の透過窓を介して放射され、進行
してくる高周波またはマイクロ波を反射するように、高
周波またはマイクロ波を反射する材質で構成された羽根
を有するファン11を設けてあり、該ファンは第1図実
施例と同様の回転数可変の駆動装置12に連結されてい
る。本実施例の装置においては、駆動装置12により回
転せしめたファンにより、高周波またはマイクロ波が反
射されるとともに、反応室Aに導入された原料ガスが定
常流とならずに反応室Aの四方六方に拡散される。その
結果、高周波またはマイクロ波により生じた電磁界の強
度分布は時間的積分をとると一様となるとともに、基体
表面における励起種の密度分布も時間的積分をとると一
様となるため、基体表面に堆積する膜は均一にして均質
なものとなり、緒特性に富んだ所望の堆積膜を安定して
得ることが可能となる。なお、第2図実施例の場合にお
いても、必要に応じて駆動装置10により基体保持ステ
ージ7を水平揺動、上下運動、又は回転を、あるいはこ
れらのうちの2つ以上を組み合わせたものを、間欠的ま
たは連続的に行なうことが可能であり、そうした場合に
は、形成される堆積膜が均一かつ均質なものとなるとい
う作用効果を一層効率的に達成できる。
なお、前述の第1,2図においては、高周波又はマイク
ロ波の電磁界と基体との相対的位置関係を変化させる高
周波又はマイ;クロ波攪乱手段として、高周波またはマ
イクロ波を反射する材質で構成された羽根を有するファ
ンを用いた場合を示したが、該撹乱手段は、これに限定
されるものではなく、高周波又はマイクロ波の電磁界と
基体との相対的位置関係を変化させる機能を有するもの
であればよいことは言うまでもない。
次に、本発明の装置を操作して堆積膜を形成する例を記
載する。
実施例 1 本例においては、第1図に示す装置を用い、基体6とし
てM板を用い、基体保持ステージ7を電気的振動器10
を作動させて水平揺動させた。また、原料ガスとして、
SiH4ガスおよびH2ガスの混合ガスを用いた。
まず、バルブ21を閉じ、バルブ91を開いて反応室A
内を排気し、系内圧力をI X 10−6Torr以下
とした。次いでヒーター8に通電して基体6の温度を2
00℃に保持した。そこにバルブ21を開いて原料ガス
導入管2を介して上記混合ガス(ガス流量比1 二1)
’&系内圧力が1×10−2Torrになるまで導入し
、それと同時併行的にマイクロ波電源乙に通電して、周
波数2,45GHzのマイクロ波を透過窓5を介して放
射し、且つ、駆動装置12.14を駆動してファン11
゜15を回転せしめた。こうしたところで、原料ガスの
導入と排気をバルブ21とバルブ91を調整して系内圧
力を一定に保つとともに、基体6を水平揺動させながら
所定時開成膜操作した。
その後、操作を止め、基体を放冷した後、該基体を搬出
した。同様の操作を他の新たな基体9枚について繰返し
行なって、計10枚の膜堆積された基体を得た。それら
10枚の基体について、それらの表面に堆積された堆積
膜をテストしたところ、いずれのものも極めて緻密組成
の膜質で膜全体が均一かつ均質であり、電気的、光学的
、光導電特性が極めて優れていた。
実施例 2 振動器10を作動せずに、即ち基体6を揺動させること
なく静止した状態におき、他のところは実施例1と同様
の操作を行って、合計10の表面に膜堆積された基体を
得た。それら100基体について、それらの表面に堆積
された膜をテストしたところ、実施例1の場合(基体を
気的、光学的、光導電特性が極めて優れていた。
〔発明の効果の概略〕
本発明のプラズマCVD法による堆積膜形成装置は、反
応室内に高周波またはマイクロ波の電磁界と基体との相
対的位置関係を変化させる機能を有する高周波またはマ
イクロ波攪乱手段を設けることにより、基体表面近傍に
おける電磁界の強度分布が時間的積分をとった場合に一
様となるようになり、その結果基体表面に生成される励
起種の密度分布も一様となり、基体全面において均一か
つ均質な堆積膜を形成することができ、所望の優れた特
性を有する堆積膜を安定して得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1,2図は、本発明のプラズマCVD法による堆積膜
形成装置の実施例を示す模式図であり、第3図は、第1
.2図に示す装置のファンの形は、該装置における高周
波またはマイクロ波の電磁界の強度分布状態の説明因で
ある。 第1乃至3図について、 1・・・真空容器、2.2’・・・原料ガス供給管、2
1゜21′・・・バルブ、6・・・高周波またはマイク
ロ波電源、4・・・波導管、5・・・透過窓、6・・・
基体、7・・・基体保持ステージ、8・・・加熱手段、
9,9′・・・排気管、91.91’・・・バルブ、1
0・・・駆動装置、11.13・・・ファン、111・
・・羽根、12.14・・・回転数可変な駆動装置、A
・・・反応室 第4乃至5図について、 101・・・真空容器、102・・・原料ガス導入管、
103・・・高周波またはマ・fクロ波電源、104・
・・導波管、105・・・透過窓、106・・・基体、
107・・・基体保持ステージ、108・・・加熱手段
、109・・・ガス排出管、a・・・電磁界の強度分布
状態

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 堆積膜形成用の原料ガスを励起させて励起種化するため
    の高周波またはマイクロ波発生手段と、基体上に堆積膜
    を形成するための反応室とを有してなるプラズマCVD
    法による堆積膜形成装置において、前記反応室内に、前
    記高周波またはマイクロ波の電磁界と前記基体との相対
    的位置関係を変化させる機能を有する高周波またはマイ
    クロ波攪乱手段が設けられていることを特徴とするプラ
    ズマCVD法による堆積膜形成装置。
JP17945585A 1985-08-16 1985-08-16 プラズマcvd法による堆積膜形成装置 Pending JPS6240380A (ja)

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JP17945585A Pending JPS6240380A (ja) 1985-08-16 1985-08-16 プラズマcvd法による堆積膜形成装置

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JP (1) JPS6240380A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4925828A (en) * 1987-05-30 1990-05-15 Ricoh Company, Ltd. Leuco dyes and recording materials using the same
US4971651A (en) * 1990-02-05 1990-11-20 Hitachi, Ltd. Microwave plasma processing method and apparatus
US5025133A (en) * 1989-04-04 1991-06-18 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor wafer heating device
US5166244A (en) * 1989-11-30 1992-11-24 Shin-Etsu Chemical Company Limited Acrylic rubber composition
US5997686A (en) * 1992-07-27 1999-12-07 Tokyo Electron Limited Process for setting a working rate distribution in an etching or plasma CVD apparatus
JP2012227174A (ja) * 2012-08-23 2012-11-15 Hitachi Kyowa Engineering Co Ltd マイクロ波加熱装置

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