JPS6240645A - 光ピツクアツプの半導体レ−ザ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【産業上の利用分野１ 本発明は光学的情報記録再生装置における光ピックアッ
プの半導体レーザに関する。 【従来の技術】 光学的情報記録再生装置において、特に記録データーを
読み取りつつ複数の記録媒体に対して同時に記録するこ
とのできる光学的情報記録再生装置として第６図の装置
が開発されている。 かかる装置は、半導体レーザｌと、この半導体レーザ１
からのレーザビームを一方の記録用対物レンズ２と、他
方の記録用対物レンズ３に透過ならびに反射せしめる半
透鏡４とこの半透鏡４の反射ビームを他方の記録用対物
レンズ３に反射せしめるとともに読み取り用対物レンズ
５に透過する半透鏡６と、さらに前記半透鏡４．６間に
介装した外部変調器７．８と全反射鏡９．１０により構
成される２つの記録用ピックアップ１１．１２と、これ
に加えて、前記半導体レーザ１並びに半透鏡４，６を読
み取り用対物レンズ５間に介装した全反射鏡１３，１４
．フィルター１５とから成る読み取り用ピックアップ１
６との組み合せから成るものである。 また、前記構成中には、記録用発光パワーを設定するた
めの記録基準電圧、出力光をモニターする光検出器１７
、記録基準電圧１８と光検出器の出力を比較する比較器
１９並びに半導体レーザ１の駆動回路２０が設けられて
いる。 さらに、読み取り用ピックアップ１６のディスク２１は
１枚の記録データあるいはサーボトラックでもよく、記
録用ピックアップ１１．１２にはそれぞれのディスク２
２．２３を設けである。 また、前記記録用ピックアップ１１．１２と読み取り用
ピックアップ１６に使用する半導体レーザ２としては、
特開昭５５−１２０１８９号に開示されている技術が用
いられる。 そして、この半導体レーザ装置は、第７図に示す如く、
２層３０と１層３１とで、Ｐ　−ｎ接合面を作り、電極
３３．３４から接合面に垂直に電流を流し１面３５．３
６間を共振器として発振する。 レーザ発振した光は、面３５．３６に垂直に出射される
。 このレーザ装置３７の使用において、これに流す？ｌ！
流と、光出力の関係を示すのが第８図ａ。 ｂ、ｃである。 すなわち、電流値がｒｔｈに達するまでは光出力はゆる
やかに増加し、さらに電流を流すと急に光出力が増加す
る。 このような直接変調するには、第８図すのようにＩｔｈ
より少し高い電流値ＩＢにバイアスしておき、これにパ
ルス電流Ｉｓを重ねる。 これにより、光出力の時間（１）変化は第８図Ｃのよう
になるが、バイアスしているため信号パルス電流Ｉｓが
オフ時でも光が出射される（ＰＢ）。 ［発明が解決しようとする問題点１ 前述してきた光学的記録再生装置によれば記録せんとす
るデータを読み取りつつ複数の記録媒体に対して同時に
記録を遂行し得る利点、そして特にブリチェック方式に
よる欠陥検出に有効である等の利点を有するが、その構
成上以下の欠点を有するものである。 （１）　　複数個の記録用ピックアップの構成に当り、
個別的に外部変調器を装入する必要上高価で、大型化す
る。 （２）　　−光源を使用して半透鏡を装入しつつ構成す
るために出射効率（レーザ発光量／対物レンズ出射量）
が低下する。 因って、本発明は前記装置における欠点に鑑みてなされ
たもので、個別的な外部変調器や半透鏡を要求されるこ
となく、この種装置を構成することのできる光ピックア
ップの半導体レーザの提供を目的とするものである。 ｒ問題点を解決する手段１ 本発明の半導体レーザは、前後方向から光ビームを出射
される半導体レーザにおいて、前記半導体レーザを２分
割し、その分割間隙間に光検出器を配設したものである
。 ［作　用］ 本発明の半導体レーザは、半導体レーザの分割間隙間に
配設した光検出器により、２方向に出射される光ビーム
の光出力の相方または一方をモニターし、Ａ２０回路に
よって前記半導体レーザの出力をコントロールできるも
のである。

【実施例】

（第一実施例） 第１図ａ、ｂは第１実施例を示す。 半導体レーザーＡは２層とＮ層とでＰ−Ｎ接合面を作り
、電極３３．３４から接合面に垂直に電流を流し、面３
５．３６間を共振器として発振させる。 さらに半導体レーザＡを２層３０を共通にし光軸方向に
二分割して溝４０を設はレーザ部ＡＨ。 Ａ２を形成する。このレーザ部Ａ、、Ａ２の間に光検出
器４１．４２を設け、レーザ部Ａ、の後方ビームを光検
出器で、レーザ部Ａ２の後方ビームを４１で各々検出出
来るように配設したものである。 従ってレーザ部Ａ、、Ａ２の電極３３　、３３’にバイ
アスを加えたり、パルス電流を加えることにより、２枚
の光デイスク媒体に記録したり、読出しをしたりするこ
とが出来る。 なお、光検出器４１．４２はレーザ部Ａ、、Ａよ相互の
発光出力により影響（光検出器の反射によるモードずれ
）されないように光軸に対し傾斜させるように配するこ
とが望ましい。 （第二実施例） 第２図は第二実施例を示し、この第二実施例のものは、
前記第１の実施例の２枚の光検出器４１．４２の一方の
光検出器４２を配した点において第一実施例のものと異
なり、例えばリード・ライト用の一方のレーザ部Ａ２の
出力をＡＰＣ回路を通じて他方のリード用し−ザ部Ａ、
側にフィードバックするように構成したものである。 （第三実施例） 第３図の第三実施例のものは第１実施例の各レーｆ　部
Ａ　＋　　、Ａ　２の外部にコリメータレンズ４４．４
４’を配し、枠体４３でパッケージしたものでレーザ発
光点のずれである非点格差を除去、或は出射する光を平
行にするようにしたものである。 このコリメータレンズ４４　、４４　’は非球面レンズ
を用いると尚一層の前記効果を期待できる。 （使用例） 第４図は、半導体レーザＡの一使用例を示し、この使用
例は、集合型光デイスク装置に用いる複数台のライドリ
ード機能を持つピックアップに係り、特にシーク系を速
くするため光ピックアップの分離型の使用例を示してい
る。 ４５は光学的再生装置で、装Ｒ４５の光学系は次のよう
な構造になっている。スピンドルモータ（図示せず）に
よって、回転駆動させる２枚の円盤状の光学的記録媒体
（ディスク）４６のディスク面に対向して光学式の分離
型ピー、クアップ（光学ヘッド）４５の可動部材４８が
ボイスコイルモータによって、ディスク４６の半径方向
に移動自在に設けである。 上記可動部材４８は、キャリッジ５０に取付けられ、こ
のキャリッジ５０がボイスコイルモータ（ＶＣＭ）によ
って図示しないガイド棒に沿ってディスク４６の半径方
向に移動されるようにしである。この２個の可動部材４
８の移動方向に対向して、光学式の分離型ピックアップ
４５の固定部材４９が介装部材５１を用いる等して装置
５２に固定されている・ 全反射ミラー５４で反射された光は、１／４波長板を通
過することによって、常光線と異常光線との間で１７４
波長の位相差が生じ、直線偏光は円偏光となりレンズア
クチュエータ内の対物レンズ６１を通って集光されてデ
ィスク４６面にスポット状に照射される。 上記ディスク４６面で反射された円偏光の光は、再び対
物レンズ６１を通り、さらに１７４波長板を通ることに
よって、偏光面が９０度変化したものにされ、上記固定
部材４９のハウジング内に入射される。上記固定部材４
９のハウジング内には、記録又は、再生用の光源として
半導体レーザダイオードＡが取付けてあり、このダイオ
ードＡによって発光された例えばＰ偏光（紙面内で上下
方向に振動）の光は１体型（パッケージ内にある）コリ
メータレンズ４４によって平行光束にされる。この平行
光束は整形され、偏光、半透鏡を備えた１体プリズム５
２に入射され、楕円光束の短軸と長袖とを合わせること
により日光束に整形され、２個の直角プリズムの接合斜
面部分が多層の誘電体膜を蒸着したものを介装して形成
した偏光プリズム部５３でＰ偏光のみが透過し、Ｓ偏光
成分は反射される。 上記透過したＰ偏光の平行光束は、固定部材４９のハウ
ジングと離間して可動できる可動部材４８内の可動部材
４８と固定部材４９との間の光路を通り、固定部材４９
内の偏プリズム部５３で反射し、半透鏡部５５で、分岐
され透過した光は集光レンズ５６を経て光検出器５９に
入射され、アンプを通して情報信号を得ることができる
ようにしである。一方、上記半透鏡部５５で反射された
光は、ｌ／２波長板（省略）を通過し再びＰ偏光にされ
た後、臨界角プリズム部５７で反射し、集光レンズ５８
を経て４分割光検出器６０に入射される。尚、上記集光
レンズ５８は、フォーカスエラー信号内の偽合焦及び合
焦点を切り離すために介装しである。上記光学系は半導
体レーザＡの２つの出射孔側に各々設けられている。 尚、固定部材４９例の偏光プリズム部５３はディスク面
からの反射光が半導体レーザＡ側に戻らないように、例
えば往路ではＰ偏光として通し、復路ではＳ偏光が入射
されるように設定しであるが、ディスク４６での複屈折
により数％通過してしまう、この場合１／４波長板を回
転しレーザノイズが低減される位置に固定しても良い。 なお、第５図で示すものは、半導体レーザＡをヒートシ
ンク６５に設け、光検出器感度が周囲温度によって変化
する場合や、温度変化によって光出力が変化する場合等
に用いると良く、ヒートシンク６５は熱冷却素子（放熱
板）６６によって一定の温度が保たれるようになってい
る。 ［発明の効果］ 本発明の半導体レーザの前方光束、及び後方光束を情報
記録媒体に照射して簡単に情報の記録・再生・消去中ダ
ビング又は欠陥検出のいずれか又はそれ等の組合せを同
時に行うことが出来るとともに、本発明の半導体レーザ
を光学的情報記録再生装置に利用すると記録、再生の為
の２枚のディスクに向かう光路中に各々外部変調器を挿
入する必要がなく装置の大型化を防ぐという効果を奏す
るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ、ｂは本発明半導体レーザの第１実施例を示す
平面図、斜視図、第２図ａ、ｂは第２実施例を示す平面
図、斜視図、第３図ａ、ｂは第３実施例を示す平面図、
斜視図、第４図は本発明の半導体レーザの使用例を示す
概略的な側面図、第６図は従来の光学的記録再生装置の
構成図、第７図は従来の半導体レーザの斜視図、第８図
ａ。 ｂ、ｃは第７図示の半導体レーザにおける電流と出力光
の関係を示す線図である。 １・・・半導体レーザ ２．３・・・記録用対物レンズ ４．６・・・半透鏡 ５・・・レンズ ７．８・・・外部変調器 ９．１０，１３．１４・・・全反射鏡 １１．１２．１６・・・ピックアップ １５・・・フィルター １７．４１．４２・・・光検出器 １８・・・記録基準電圧 １９・・・比較器 ２０・・・駆動回路 ２１．２２．２３・・・ディスク ３０・・・Ｐ層 ３１・・・ｎ層 ３３．３４・・・電極 ３５．３６・・・而 ３７・・・レーザ装置 ４４．４４’・・・コリメータレンズ ４５・・・光学的再生装置 ４６・・・ディスク ４８・・・可動部材 ４９・・・固定部材 ５０・・・キャリッジ ５１・・・介装部材 ５２・・・プリズム ５３・・・偏光プリズム ５４・・・全反射ミラー ５６．５８・・・集光レンズ ５７・・・臨界角プリズム ６５…ヒートシンク ６６・・・熱冷却素子 Ａ、、Ａ２・・・レーザ部 シ 区 第３図 （ａ） （ｂ） 第６図 フ１ 第７図 手続補正書（方式） 昭和６０年１１月２９日 １、事件の表示 昭和６０年特許願第１８０６９６吟 ２、発明の名称 光ピックアップの半導体レーザ ３、補正をする者 事件との関係　　特　許　出　願　大 佐　　所　東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代
　理　人 昭和６０年１１月２６日 ６、補正の対象 明細書の「図面の簡単な説明」の欄 ？、補正の内容 ｊｌ）　　明細書第１２頁第１０行目と１１行目の間に
下記の記載を挿入する。 「５図は半導体レーザに放熱板を有するヒートシンクを
装備して構成した構成例を示す断面図、第」。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）前後方向から光ビームを出射する半導体レーザに
   おいて、前記半導体レーザの共振器を２分割し、その分
   割間隙間に光検出器を配設して構成したことを特徴とす
   る光ピックアップの半導体レーザ。
2. （２）前記半導体レーザはコリメータレンズを一体的に
   パッケージ構成していることを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記録の光ピック アップの半導体レーザ。
3. （３）前記半導体レーザを含む光学部材からなる固定部
   材は、温度制御されるように構成されていることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の光ピックアップの半
   導体レーザ。