JPS6241376B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6241376B2
JPS6241376B2 JP55143890A JP14389080A JPS6241376B2 JP S6241376 B2 JPS6241376 B2 JP S6241376B2 JP 55143890 A JP55143890 A JP 55143890A JP 14389080 A JP14389080 A JP 14389080A JP S6241376 B2 JPS6241376 B2 JP S6241376B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
magnetic pole
magnetomotive force
gap
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55143890A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5767272A (en
Inventor
Katsushige Tsuno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Denshi KK filed Critical Nihon Denshi KK
Priority to JP55143890A priority Critical patent/JPS5767272A/ja
Priority to DE19813139905 priority patent/DE3139905C2/de
Priority to GB8131187A priority patent/GB2087138B/en
Publication of JPS5767272A publication Critical patent/JPS5767272A/ja
Publication of JPS6241376B2 publication Critical patent/JPS6241376B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/10Lenses
    • H01J37/14Lenses magnetic
    • H01J37/141Electromagnetic lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、歪収差及びS字歪収差を殆んど零に
でき、しかも焦点距離を著じるしく短かくできる
3磁極電子レンズに関するものである。
3つの磁極により2つの磁極間隙を形成し、各
間隙に生ずる磁場の方向を逆転した3磁極電子レ
ンズにおいて、上側磁極間隙内と下側磁極間隙内
とに作られる磁界分布を対称にした場合、焦点距
離が最小となる条件において、歪収差が零にな
る。又、上側磁極間隙内の軸上磁場を下側磁極間
隙内の軸上磁場より弱くするように磁極形状を非
対称にすればある励磁条件においてS字歪収差を
零にすることができ、適当な形状と励磁条件の選
択によつて両歪収差を殆んど零にすることができ
る。第1図はこの様にして設計されたレンズの磁
極部の形状を示し、第2図は該レンズによる焦点
距離p、歪収差(△r/r)及びS字歪収差
(△S/r)の起磁力依存性を示す図である。第
1図において、1は第1磁極、2は第2磁極、3
は第3磁極で磁極1と2との間に第1磁極間隙
S1、磁極2と3との間に第2磁極間隙S2を形成す
る。d1,d2,d3は夫々、第1磁極、第2磁極、第
3磁極の穴径で、d2とd3を等しくし、且つ、d1
d2(d3)に対し、1.5〜5倍にすることにより歪収
差を小さくした状態でS字歪収差を零或いは負に
することが可能である。第2図は上記形状のレン
ズの特性を示し、pは焦点距離、△r/rは歪
収差、△S/rはS字歪収差を示し、横軸NIは
起磁力(AT)を示してある。この図から、第1
磁極間隙S1と第2磁極間隙S2に生ずる磁場の向き
を互いに逆にし、且つその起磁力を等しくして
2700AT付近に設定すると焦点距離pは極小値
(約5.3mm)を示し、起磁力がわずかにずれた
2800AT〜2900AT付近で歪収差△r/r及びS
字歪収差△S/rは零になる条件が存在する。
しかし乍ら、このレンズで問題になるのは、焦
点距離が極小値で5.3mmと長く、投影レンズとフ
イルムとの距離LをL=380mmの電子顕微鏡で
は該投影レンズの倍率Mpは約72倍にしかならな
い。従つて、総合倍率が50万倍〜100万倍といつ
た高倍観察を同一の装置で行うことができなくな
り、低倍と高倍とで投影レンズを組みかえなけれ
ばならないという不都合を生ずる。
本発明はこの様な歪収差及びS字歪収差の小さ
なレンズにおいて、更に、焦点距離を短かくする
ことを目的とするものである。
さて、3磁極レンズの焦点距離が何故通常の2
磁極レンズに比べて長くなるかについて考察して
みる。通常の2磁極レンズの焦点距離は、良く知
られたリープマン曲線によつて表わされる。これ
に対し、3磁極レンズではある起磁力の下で、極
小をとつて、それ以上の起磁力では焦点距離は増
加してしまう。これは、3磁極レンズでは、上側
磁極間隙(第1磁極間隙)S1に作られる磁界が縮
小レンズとして作用していることに起因する。そ
こで、本発明は、この上側磁極間隙による縮小を
可能な限り抑え、起磁力(下側磁極間隙内磁場の
み)の増大に拘りなしに上側磁極間隙内磁場の起
磁力をある値に固定することに特徴がある。第3
図は本発明を説明するための特性図で第1磁極間
隙内にかかる起磁力NI1を約2400AT(図中△印を
付した値)で固定し、第2磁極間隙内にかかる起
磁力NI2を増加させた場合の焦点距離、歪収差及
びS字歪収差を夫々点線′p,△r/r′,及び
△S/r′で示してある。この様な条件となせば
NI2の増加に伴つて焦点距離′pは減小し、又、
歪収差△r/r′も減小の傾向を示し、例えばNI1
=2400AT、NI2=3800ATで使用すれば′p=
3.6mm、△r/r′=0.3%、△S/r′=0.15%という
良好な結果が得られた。歪収差及びS字歪収差が
このように小さい場合、螢光板上で直線がゆがん
で見えることはなく、実用的に歪なしということ
ができる。前記条件における投影レンズの倍率
は、Lを前述と同一の380mmとして、約106倍と
なり、通常の2磁極投影レンズで設定されている
倍率と同程度である。前述の固定された第1磁極
間隙内磁場の起磁力NI1の値は、p(実線)が
極小をなす付近に選定される。即ち、両磁極間隙
内の起磁力を相等しくしたときの最小の焦点距離
が得られる付近にNI1を固定する。もし、pが
大きい位置でNI1を固定すると焦点距離の曲線
′pが図より上方に移動し、あまり小さくでき
ないからである。実際には本発明者の実験から、
pが極小を示すときのNI1の値より少し低い値
の方が良好であつた。装置に本発明を適用する場
合、比較的低い倍率、例えば数千倍〜数万倍で
は、第1及び第2磁極間隙内磁場共等しく約
2900ATに励磁し、比較的高い倍率、例えば数万
倍〜数十万倍では、第1磁極間隙内の磁場の起磁
力を約2400ATに、そして、第2磁極間隙内のそ
れを約3800ATに励磁すると、歪みのない像が、
倍率可変に支障なく得られる。
所で、斯るレンズにおいて、上側磁極間隙内の
磁場の励磁を停止し、下側磁極間隙内のみに磁界
を形成してみたところ、第3図に二点鎖線で示す
ような結果が得られた。3500AT以上において、
歪収差△r/r″及びS字歪収差△S/r″は、前述
の場合より大きくなつているが焦点距離″pは
著じるしく短かくなつている。起磁力4000AT付
近を使用すると、両収差は共に1%程度であり、
焦点距離は2.1mmにまで短かくなつている。この
ときの拡大率Mpは約180倍である。この値は通常
用いられている2極レンズの特性より優れてお
り、S字収差が全く問題にならない高倍(10万倍
以上)領域での観察には充分に使用できる条件で
ある。
第4図は上記レンズを組み込んだ倍率可変レン
ズ系の具体例を示すもので、4は中間レンズで、
その励磁コイル5は電源6に接続されている。7
は3磁極1,2及び3を有する投影レンズで、励
磁コイル8と9を有し、夫々電源10に接続さ
れ、コイル8により第1磁極間隙S1内に磁場を形
成し、コイル9により第2磁極間隙S2内に磁場を
形成する。各電源6,10及び11は倍率制御回
路12によりコントロールされており、所望の倍
率が得られるような電流が各コイルに供給され
る。投影レンズ7において、数千倍〜数万倍の比
較的低い倍率領域ではコイル8と9に間隙S1とS2
に同一起磁力で且つ向き(極性)が逆になるよう
な磁界を発生する電流が供給され歪収差及びS字
歪収差を略零にした状態で使用される。次に倍率
が数万倍〜数十万倍の高倍率領域になつたとき
は、コイル8への供給電流をpが極小になる付
近の電流に設定し、コイル9により多い電流を供
給する。これによつて、焦点距離を短かくする。
更に、高倍(数十万倍以上の超高倍)になると、
コイル8への電流供給が停止され、コイル9のみ
に大電流が供給され、焦点距離は更に短かくされ
る。尚、超高倍領域でコイル8をOFFにした
が、コイル9をOFFにし、コイル8に大電流を
供給しても良い。
以上の様なレンズとなせば、歪収差及びS字歪
収差を殆んど零にした3磁極レンズにおいて、焦
点距離を飛躍的に短かくでき、低倍から高倍まで
利用でき極めて実用的なものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は3磁極レンズの形状を示す図、第2図
はその特性図、第3図は本発明の特徴を示す特性
図、第4図は本発明レンズを電子顕微鏡の投影レ
ンズに組み込んだ具体例を示す図である。 1,2及び3:磁極、4:中間レンズ、7:投
影レンズ、5,8及び9:励磁コイル、6,10
及び11:電源、12:制御回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光軸に沿つて順に配置された第1、第2、第
    3の磁極を有し、隣接する3つの磁極によつて2
    つの磁極間隙を形成し、各磁極間隙内に生ずる磁
    場の極性を互いに逆にした3磁極レンズにおい
    て、前記第1、第2、第3の磁極の穴径を各々
    d1,d2,d3とするとき、d2とd3を略等しくし且つ
    d1>d2にすると共に、上側磁極間隙内の磁場の起
    磁力を、両磁極間隙内の起磁力を等しくして最小
    の焦点距離が得られるときの該起磁力近傍に固定
    した状態で、下側磁極間隙内の磁場の起磁力を上
    記上側磁極間隙内磁場の起磁力より高い値に設定
    することを特徴とする電子レンズ。 2 光軸に沿つて順に配置された第1、第2、第
    3の磁極を有し、隣接する3つの磁極によつて2
    つの磁極間隙を形成し、各磁極間隙内に生ずる磁
    場の極性を互いに逆にし、該両磁場を独立に励磁
    可能となした3磁極レンズにおいて、前記第1、
    第2、第3の磁極の穴径を各々d1,d2,d3とする
    とき、d2とd3を略等しくし且つd1>d2にすると共
    に、比較的低い拡大率の場合には、両磁極間隙内
    の磁場の起磁力を等しくして使用し、比較的高い
    拡大率の場合には、上側磁極間隙内の磁場の起磁
    力を両磁極間隙内の磁場の起磁力を等しくして最
    小の焦点距離が得られるときの該起磁力近傍に固
    定した状態で、下側磁極間隙内の起磁力を上記上
    側磁極間隙内のそれより高い値に設定することを
    特徴とする電子レンズ。 3 光軸に沿つて順に配置された第1、第2、第
    3の磁極を有し、隣接する3つの磁極によつて2
    つの磁極間隙を形成し、各磁極間隙内に生ずる磁
    場の極性を互いに逆にし、該両磁場を独立に励磁
    可能となした3磁極レンズにおいて、前記第1、
    第2、第3の磁極の穴径を各々d1,d2,d3とする
    とき、d2とd3を略等しくし且つd1>d2にすると共
    に、比較的低い拡大率の場合には、両磁極間隙内
    の磁場の起磁力を等しくして使用し、比較的高い
    拡大率の場合には、上側磁極間隙内の磁場の起磁
    力を両磁極間隙内の磁場の起磁力を等しくして最
    小の焦点距離が得られるときの該起磁力近傍に固
    定した状態で、下側磁極間隙内の起磁力を上側磁
    極間隙内のそれより高い値に設定し、更に高い拡
    大率の場合には、いずれか一方の磁極間隙内のみ
    に強い磁場を発生せしめることを特徴とする電子
    レンズ。
JP55143890A 1980-10-15 1980-10-15 Electron lens Granted JPS5767272A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55143890A JPS5767272A (en) 1980-10-15 1980-10-15 Electron lens
DE19813139905 DE3139905C2 (de) 1980-10-15 1981-10-07 Verfahren zum Betrieb einer Elektronenlinse mit drei Magnetpolstücken
GB8131187A GB2087138B (en) 1980-10-15 1981-10-15 Electron lens equipped with three magnetic pole pieces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55143890A JPS5767272A (en) 1980-10-15 1980-10-15 Electron lens

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5767272A JPS5767272A (en) 1982-04-23
JPS6241376B2 true JPS6241376B2 (ja) 1987-09-02

Family

ID=15349410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55143890A Granted JPS5767272A (en) 1980-10-15 1980-10-15 Electron lens

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPS5767272A (ja)
DE (1) DE3139905C2 (ja)
GB (1) GB2087138B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4585942A (en) * 1983-03-17 1986-04-29 Jeol Ltd. Transmission electron microscope

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS526073A (en) * 1975-07-04 1977-01-18 Hitachi Ltd Magnetic field type electronic lens
JPS5945171B2 (ja) * 1979-12-28 1984-11-05 日本電子株式会社 電子レンズ
JPS5723454A (en) * 1980-07-16 1982-02-06 Jeol Ltd Electron lens

Also Published As

Publication number Publication date
DE3139905C2 (de) 1984-02-16
DE3139905A1 (de) 1982-06-09
GB2087138B (en) 1984-11-21
GB2087138A (en) 1982-05-19
JPS5767272A (en) 1982-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6290839A (ja) イオンマイクロビ−ム装置
US6861651B2 (en) Electron-optical corrector for eliminating third-order aberations
US4469948A (en) Composite concentric-gap magnetic lens
US3952198A (en) Electron lens
US3851172A (en) Compound electron lens for electron microscope and the like
US7420179B2 (en) Electron microscope
EP0596529B1 (en) Electron lens
JPS6241376B2 (ja)
US2323328A (en) Projection lens for electron microscopes
US4384208A (en) Electron lens equipped with three magnetic pole pieces
US4450357A (en) Electron lens equipped with three magnetic pole pieces
US4520264A (en) Electron microscope
JPS6245662B2 (ja)
US2418432A (en) Magnetic electron lens system
JPH05160012A (ja) 電子線縮小転写装置
JP3237013B2 (ja) 電子線縮小転写装置
US3188465A (en) Two stage electron beam magnification device comprising plural adjustable magnetic lens system
US4412132A (en) Electron lens equipped with three magnetic pole pieces
JPH0136230B2 (ja)
JPS59112556A (ja) 走査形電子顕微鏡の電子線偏向装置
JPH05161148A (ja) フォーカス回路
JPS5851661B2 (ja) 電子レンズ
JPS58119146A (ja) 電子顕微鏡
JPS5837939B2 (ja) 電子レンズ
JPH0136284Y2 (ja)