JPS6244246B2 - - Google Patents
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- JPS6244246B2 JPS6244246B2 JP51116108A JP11610876A JPS6244246B2 JP S6244246 B2 JPS6244246 B2 JP S6244246B2 JP 51116108 A JP51116108 A JP 51116108A JP 11610876 A JP11610876 A JP 11610876A JP S6244246 B2 JPS6244246 B2 JP S6244246B2
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- lens
- semi
- laser
- optical device
- cylindrical lens
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- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/0604—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by a combination of beams
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/064—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
- B23K26/0648—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms comprising lenses
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D15/00—Component parts of recorders for measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
- G01D15/14—Optical recording elements; Recording elements using X-or nuclear radiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
- G02B19/0009—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only
- G02B19/0014—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only at least one surface having optical power
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0033—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
- G02B19/0047—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source
- G02B19/0052—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source the light source comprising a laser diode
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
- G02B27/0966—Cylindrical lenses
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4204—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
- G02B6/4206—Optical features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/024—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
- H04N1/032—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information reproduction
- H04N1/036—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information reproduction for optical reproduction
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Lenses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は薄いフイルム内に模写画像をつくるた
めの薄いフイルムのレーザ加工に関し、さらに詳
細には信頼性に富み且つ高品質の画像を該フイル
ムに構成しうるようにレーザの出力を変換するた
めのレンズ系又は光学装置に関する。
めの薄いフイルムのレーザ加工に関し、さらに詳
細には信頼性に富み且つ高品質の画像を該フイル
ムに構成しうるようにレーザの出力を変換するた
めのレンズ系又は光学装置に関する。
印刷ページの高分解画像を伝送するためのコン
パクトで独創的なフアクシミルシステムが“ベ
ル・ラボラトリーズ・レコード(Bell
Laboratories Record)”1975年3月号、163〜169
頁所載のH.A.Watsonの論文「An Experimental
Page Facsimile System」に記載されている。
これに記載されているフアクシミルシステムの最
も重要な利点はその速度である。これは、標準の
8 1/2×11インチ(約21.6×28.0cm)サイズの1ペ ージの画像を走査、伝送、再現するのに要する時
間が10秒という速度である。
パクトで独創的なフアクシミルシステムが“ベ
ル・ラボラトリーズ・レコード(Bell
Laboratories Record)”1975年3月号、163〜169
頁所載のH.A.Watsonの論文「An Experimental
Page Facsimile System」に記載されている。
これに記載されているフアクシミルシステムの最
も重要な利点はその速度である。これは、標準の
8 1/2×11インチ(約21.6×28.0cm)サイズの1ペ ージの画像を走査、伝送、再現するのに要する時
間が10秒という速度である。
上記フアクシミルシステムのための装置は3つ
の基本部分から構成されている。すなわち、送信
端には原本を現わすビデオ信号を発生するページ
走査装置が存在する。次に、上記ビデオ信号を伝
送する広帯域アナログ伝送ラインが存在する。そ
して最後に受信端に、薄いフイルムを選択的に加
工し、これにより原本の画像を模写するためのレ
ーザを含む装置が置かれている。
の基本部分から構成されている。すなわち、送信
端には原本を現わすビデオ信号を発生するページ
走査装置が存在する。次に、上記ビデオ信号を伝
送する広帯域アナログ伝送ラインが存在する。そ
して最後に受信端に、薄いフイルムを選択的に加
工し、これにより原本の画像を模写するためのレ
ーザを含む装置が置かれている。
受信装置に包含されているレーザは有利にはヒ
化ガリウムしま幾何模様二重ヘテロ構造装置(a
galliumarsenide stripegeometry double−
heterostructure device)である。このようなレ
ーザーを用いると、薄いフイルムを加工するため
の比較的コンパクトで簡単な受信装置を製作する
ことが可能である。
化ガリウムしま幾何模様二重ヘテロ構造装置(a
galliumarsenide stripegeometry double−
heterostructure device)である。このようなレ
ーザーを用いると、薄いフイルムを加工するため
の比較的コンパクトで簡単な受信装置を製作する
ことが可能である。
典型的なヒ化ガリウムレーザは非点収差とだ円
断面とを持つ光学的出力ビームを出す。薄いフイ
ルムの高品質加工を保証するためには、このビー
ムの非点収差の性質をコリメートし、さらに該ビ
ームを円形断面を持つビームに変換することが重
要である。レーザビームをこのようにコリメート
し、変換するための装置の実例は米国特許出願第
599850号(米国特許第4030122号)(R.G.
Chemelli、D.D.CookおよびR.C.Millerの出願で
目下係属中)の明細書に記載されている。
断面とを持つ光学的出力ビームを出す。薄いフイ
ルムの高品質加工を保証するためには、このビー
ムの非点収差の性質をコリメートし、さらに該ビ
ームを円形断面を持つビームに変換することが重
要である。レーザビームをこのようにコリメート
し、変換するための装置の実例は米国特許出願第
599850号(米国特許第4030122号)(R.G.
Chemelli、D.D.CookおよびR.C.Millerの出願で
目下係属中)の明細書に記載されている。
ヒ化ガリウムレーザは時としてビームステアリ
ング効果(beam steering effect)および/また
はビームフイラメンテーシヨン効果(beam
filamentation effect)の現象を示す。これらの
効果は当業者に公知であり、特にレーザが上記し
たChemelli、CookおよびMillerの特許出願明細
書に記載されている光学装置に組み入れられた場
合にはつきりと現われうる。これらの効果は従来
製作されているようなヒ化ガリウムレーザ加工装
置によつて形成される画像の品質を劣化させる傾
向がある。
ング効果(beam steering effect)および/また
はビームフイラメンテーシヨン効果(beam
filamentation effect)の現象を示す。これらの
効果は当業者に公知であり、特にレーザが上記し
たChemelli、CookおよびMillerの特許出願明細
書に記載されている光学装置に組み入れられた場
合にはつきりと現われうる。これらの効果は従来
製作されているようなヒ化ガリウムレーザ加工装
置によつて形成される画像の品質を劣化させる傾
向がある。
本発明は固体接合レーザの出力面とレーザビー
ムにより選択的に加工される薄いフイルムとの間
に挿入されるレンズ系を提供するものである。本
発明のレンズ系が関連する上記固体接合レーザ
は、その接合面に垂直な面で見たその出力ビーム
が該出力面のところに見掛けの光源を持つた比較
的大きい遠視野発散角(far−field divergence
angle)を有しそしてその接合面に平行な面で見
た出力ビームが該出力面より後方のそのレーザ内
部に見掛けの光源を持つた比較的小さい遠視野発
散角を有するものである。しかして本発明のレン
ズ系は上記レーザによつて出射される光を集めそ
して上記各光源の互に離隔された実像を形成する
よう配置された1つの球面レンズと、該球面レン
ズによつて形成された光を集めて上記薄いフイル
ムに向う光線(light rays)を1つの像から等方
性をもつて発散するように現わせしめるためのレ
ンズ手段とを包含し、そして上記球面レンズは該
レーザの出力ビームによつて示される最大発散に
適応し且つ該ビームによつて示されるビームステ
アリング効果に適応するのに十分な大きさの開口
数を有する。
ムにより選択的に加工される薄いフイルムとの間
に挿入されるレンズ系を提供するものである。本
発明のレンズ系が関連する上記固体接合レーザ
は、その接合面に垂直な面で見たその出力ビーム
が該出力面のところに見掛けの光源を持つた比較
的大きい遠視野発散角(far−field divergence
angle)を有しそしてその接合面に平行な面で見
た出力ビームが該出力面より後方のそのレーザ内
部に見掛けの光源を持つた比較的小さい遠視野発
散角を有するものである。しかして本発明のレン
ズ系は上記レーザによつて出射される光を集めそ
して上記各光源の互に離隔された実像を形成する
よう配置された1つの球面レンズと、該球面レン
ズによつて形成された光を集めて上記薄いフイル
ムに向う光線(light rays)を1つの像から等方
性をもつて発散するように現わせしめるためのレ
ンズ手段とを包含し、そして上記球面レンズは該
レーザの出力ビームによつて示される最大発散に
適応し且つ該ビームによつて示されるビームステ
アリング効果に適応するのに十分な大きさの開口
数を有する。
本発明の1つの具体例によれば改良されたヒ化
ガリウムレーザ加工装置が得られる。この装置は
ビームステアリング効果および或る種のフイラメ
ンテーシヨン効果に比較的不感応であり、ヒ化ガ
リウムレーザの出力の非点収差の性質は十分にコ
リメートされそして出力ビームは円形断面を有す
るビームに変換される。
ガリウムレーザ加工装置が得られる。この装置は
ビームステアリング効果および或る種のフイラメ
ンテーシヨン効果に比較的不感応であり、ヒ化ガ
リウムレーザの出力の非点収差の性質は十分にコ
リメートされそして出力ビームは円形断面を有す
るビームに変換される。
1つの特定の実施態様では、固体PpnN接合レ
ーザの出力面と、その中にマイクロ画像を形成す
るためレーザビームによつて選択的に加工される
薄いフイルムとの間に1つのレンズ系が挿入され
る。PpnNレーザの特徴はその接合面に垂直な面
で見た出力ビームが該レーザの出力面に見掛けの
光源を持つた比較的大きい遠視野発散角を有しそ
してその接合面に平行な面で見たときに、出力ビ
ームが該出力面より後方のレーザ内部に見掛けの
光源を持つた比較的小さい遠視野発散角を有する
ことである。
ーザの出力面と、その中にマイクロ画像を形成す
るためレーザビームによつて選択的に加工される
薄いフイルムとの間に1つのレンズ系が挿入され
る。PpnNレーザの特徴はその接合面に垂直な面
で見た出力ビームが該レーザの出力面に見掛けの
光源を持つた比較的大きい遠視野発散角を有しそ
してその接合面に平行な面で見たときに、出力ビ
ームが該出力面より後方のレーザ内部に見掛けの
光源を持つた比較的小さい遠視野発散角を有する
ことである。
本発明の1つの特定の実施例では、そのレンズ
系は上記レーザによつて出射された光を集めそし
て該見掛けの各光源の相互に離隔した実像を形成
するよう配置された大開口数の球面レンズを含
む。さらにそのレンズ系は上記球面レンズによつ
て形成された光を集めそして薄いフイルムに向け
られた光線が上記複数の実像の1つから等方的に
発散するように現われるようにするべく配置され
た1つの半円筒形レンズを含む。
系は上記レーザによつて出射された光を集めそし
て該見掛けの各光源の相互に離隔した実像を形成
するよう配置された大開口数の球面レンズを含
む。さらにそのレンズ系は上記球面レンズによつ
て形成された光を集めそして薄いフイルムに向け
られた光線が上記複数の実像の1つから等方的に
発散するように現われるようにするべく配置され
た1つの半円筒形レンズを含む。
以下図面を参照しながら本発明をさらに詳細に
説明する。
説明する。
第1図には本発明が適用される種類の固体接合
レーザ10の図式的断面図が示されている。例示
のため、このレーザ10は1つのGaAs基層(図
示せず)の上に順次形成されたN−型GaAlAsの
層12、n−型GaAsの層13、p−型GaAsの層
14およびP−型GaAlAsの層15の各層を含む
ヒ化ガリウムしま幾何模様二重ヘテロ構造の装置
として示されている。このレーザ10の最低準位
光学モードは主としてプロトンボンバードによつ
て通常規定されるしま幅内のP−型GaAs域14
に限定される。最低準位モード動作のための該
GaAsの層14の高さ(あるいはy−軸方向の寸
法)は普通1.5ミクロンより小さい。なお、この
種類のレーザのより詳細についてはジヤーナル・
オブ・アプライド・フイジクス(Journal of
Applied Physics)第44巻、No.3(1973年3
月)、1276〜1280頁を参照されたい。図示した例
では、該層14のしま幅(第2図のaの寸法)は
約12ミクロンであり、そしてレーザ10を寸法は
x,y,zの各軸の方向にそれぞれ約380×100×
380のミクロンである。
レーザ10の図式的断面図が示されている。例示
のため、このレーザ10は1つのGaAs基層(図
示せず)の上に順次形成されたN−型GaAlAsの
層12、n−型GaAsの層13、p−型GaAsの層
14およびP−型GaAlAsの層15の各層を含む
ヒ化ガリウムしま幾何模様二重ヘテロ構造の装置
として示されている。このレーザ10の最低準位
光学モードは主としてプロトンボンバードによつ
て通常規定されるしま幅内のP−型GaAs域14
に限定される。最低準位モード動作のための該
GaAsの層14の高さ(あるいはy−軸方向の寸
法)は普通1.5ミクロンより小さい。なお、この
種類のレーザのより詳細についてはジヤーナル・
オブ・アプライド・フイジクス(Journal of
Applied Physics)第44巻、No.3(1973年3
月)、1276〜1280頁を参照されたい。図示した例
では、該層14のしま幅(第2図のaの寸法)は
約12ミクロンであり、そしてレーザ10を寸法は
x,y,zの各軸の方向にそれぞれ約380×100×
380のミクロンである。
薄いフイルムを加工するためにヒ化ガリウムレ
ーザを使用した場合に生じる2つの主要な問題点
は該レーザ10によつて与えられる出力ビームの
非点収差とだ円断面である。この2つの特性は接
合面に垂直な面(第1図参照)と接合面に平行な
面(第2図参照)内に該レーザから出射されるダ
ツシユ線で示した光線で図示されている。なお接
合面は第1図および第2図に示したx−z面をな
す。詳細に言うと、ここで想定した特定のGaAs
レーザの場合ではその接合面に垂直な面で見たレ
ーザビームは通常そのレーザ出力ミラー(レーザ
10の右端面)の位置に見掛けの光源を持ち、そ
して約25〜30゜の遠視野発散半角θ1(第1図)
を持つ(ピーク強度の1/l2において測定)。接
合面に平行な面で見たレーザビームは該レーザ出
力ミラーの後方約20〜50ミクロンの距離bのとこ
ろに見掛けの光源を持ち、そこから約6〜8゜の
遠視野発散半角θ2(第2図)を持つ。
ーザを使用した場合に生じる2つの主要な問題点
は該レーザ10によつて与えられる出力ビームの
非点収差とだ円断面である。この2つの特性は接
合面に垂直な面(第1図参照)と接合面に平行な
面(第2図参照)内に該レーザから出射されるダ
ツシユ線で示した光線で図示されている。なお接
合面は第1図および第2図に示したx−z面をな
す。詳細に言うと、ここで想定した特定のGaAs
レーザの場合ではその接合面に垂直な面で見たレ
ーザビームは通常そのレーザ出力ミラー(レーザ
10の右端面)の位置に見掛けの光源を持ち、そ
して約25〜30゜の遠視野発散半角θ1(第1図)
を持つ(ピーク強度の1/l2において測定)。接
合面に平行な面で見たレーザビームは該レーザ出
力ミラーの後方約20〜50ミクロンの距離bのとこ
ろに見掛けの光源を持ち、そこから約6〜8゜の
遠視野発散半角θ2(第2図)を持つ。
レーザ10の出力は2つの空間的に分離された
空間等価ビームウエースト(airequivalent beam
waists)の形で都合よく書き示すことができる。
本願図面ではこれらウエーストは明らかには示さ
れていない。表現の簡単化のためにすべての光源
ならびにそれらの像は略図的に点として示され
る。これらビームウエーストの1つWxは大きさ
が第2図に示した幅aの半分に等しくそして接合
面に平行な光線発散にあずかる。他方のビームウ
エーストWyはほぼ層14の高さの半分に等しく
接合面に垂直な光線発散にあずかる。これらのビ
ームウエーストが空間的に分離されている事実は
このレーザビームが非点収差性であることを意味
する。Wxが典型的にWyよりも大きいという事実
は該レーザビームが断面だ円形であることを意味
しそしてその遠視野発散が接合面に垂直な方向に
おいて接合面に平行な方向におけるよりもより急
速であることを物語る。この非点収差とだ円性
は、実際上最大のレーザ加工性能を得るために必
要とされる球形波面の目的を達成するためコリメ
ートされなければならない。
空間等価ビームウエースト(airequivalent beam
waists)の形で都合よく書き示すことができる。
本願図面ではこれらウエーストは明らかには示さ
れていない。表現の簡単化のためにすべての光源
ならびにそれらの像は略図的に点として示され
る。これらビームウエーストの1つWxは大きさ
が第2図に示した幅aの半分に等しくそして接合
面に平行な光線発散にあずかる。他方のビームウ
エーストWyはほぼ層14の高さの半分に等しく
接合面に垂直な光線発散にあずかる。これらのビ
ームウエーストが空間的に分離されている事実は
このレーザビームが非点収差性であることを意味
する。Wxが典型的にWyよりも大きいという事実
は該レーザビームが断面だ円形であることを意味
しそしてその遠視野発散が接合面に垂直な方向に
おいて接合面に平行な方向におけるよりもより急
速であることを物語る。この非点収差とだ円性
は、実際上最大のレーザ加工性能を得るために必
要とされる球形波面の目的を達成するためコリメ
ートされなければならない。
前記したChemelli、CookおよびMillerの米国
特許出願明細書には、第1図および第2図に示し
たレーザ10から発射されるだ円光束を円形光束
に変換するため並びに該レーザ光を記録体上に集
束させるための光学要素が記載されている。該出
願明細書にかかる光学要素として特記されたもの
は本願の第1図と第2図とに図示されている。こ
れら光学要素は小さな半円筒形レンズ16と特定
屈折率の光学繊維17とよりなる。
特許出願明細書には、第1図および第2図に示し
たレーザ10から発射されるだ円光束を円形光束
に変換するため並びに該レーザ光を記録体上に集
束させるための光学要素が記載されている。該出
願明細書にかかる光学要素として特記されたもの
は本願の第1図と第2図とに図示されている。こ
れら光学要素は小さな半円筒形レンズ16と特定
屈折率の光学繊維17とよりなる。
半円筒形レンズ16は第1図の扇形ビーム内に
包含されている光線を種々の大きさだけ主軸18
の方に屈折させる働きをする。特に該レンズ16
は第1図に示した発散角θ3を、大体において第
2図の発散角θ2に等しくするよう選択されてい
る。第2図に示した扇形ビームに対しては、該半
円筒形レンズ16はなんらの集束作用も加えな
い。第2図のビームを構成している光線はしかし
ながらこのレンズ16によつて屈折されそして入
射角に応じて増加する対応する大きさだけそれぞ
れ変位される。
包含されている光線を種々の大きさだけ主軸18
の方に屈折させる働きをする。特に該レンズ16
は第1図に示した発散角θ3を、大体において第
2図の発散角θ2に等しくするよう選択されてい
る。第2図に示した扇形ビームに対しては、該半
円筒形レンズ16はなんらの集束作用も加えな
い。第2図のビームを構成している光線はしかし
ながらこのレンズ16によつて屈折されそして入
射角に応じて増加する対応する大きさだけそれぞ
れ変位される。
上記米国特許出願明細書に記載されているよう
に、第1図と第2図とに示されたレンズ16の働
きは加工に有用なほとんど非点収差のない且つ円
形断面のビームにレーザの出力ビームを変換する
ことである。
に、第1図と第2図とに示されたレンズ16の働
きは加工に有用なほとんど非点収差のない且つ円
形断面のビームにレーザの出力ビームを変換する
ことである。
第1図と第2図の半円筒形レンズ16のごとき
光学要素はy−z面(接合面に垂直な面)の扇形
ビームに対してのみレンズ作用を持つ。以下この
ようなレンズをCyレンズという。〔もしこの光学
要素16がz軸のまわりに90゜回転された場合に
は、これはCxレンズと呼ばれるであろう。その
場合、該レンズはx−z面(接合面に平行な面)
内の扇形ビームに対してのみレンズ作用を持つで
あろう〕。
光学要素はy−z面(接合面に垂直な面)の扇形
ビームに対してのみレンズ作用を持つ。以下この
ようなレンズをCyレンズという。〔もしこの光学
要素16がz軸のまわりに90゜回転された場合に
は、これはCxレンズと呼ばれるであろう。その
場合、該レンズはx−z面(接合面に平行な面)
内の扇形ビームに対してのみレンズ作用を持つで
あろう〕。
前記したように、ヒ化ガリウムレーザは時々ビ
ームステアリングおよび/またはフイラメンテー
シヨン効果を示す。ビームステアリングは、たと
えば、第2図の主軸18がz−軸に関し0゜以外
の角度をなすようにx−z面内で上下に傾いたと
考えることにより説明される。フイラメンテーシ
ヨンの1つの一般的なタイプは、たとえば、x−
軸に沿つて第2図にレーザ出力面の左方にあるも
のとして示されている見掛けの光源が移動するこ
とで説明されるものである。
ームステアリングおよび/またはフイラメンテー
シヨン効果を示す。ビームステアリングは、たと
えば、第2図の主軸18がz−軸に関し0゜以外
の角度をなすようにx−z面内で上下に傾いたと
考えることにより説明される。フイラメンテーシ
ヨンの1つの一般的なタイプは、たとえば、x−
軸に沿つて第2図にレーザ出力面の左方にあるも
のとして示されている見掛けの光源が移動するこ
とで説明されるものである。
第1図および第2図に示した装置にビームステ
アリングまたは光源移動のフイラメンテーシヨン
が起ると、レーザ10によつて発せられた出力の
一部は光学繊維17に入らなくなるだろう。この
絞り効果が相当に大きくなると、信頼性に富み品
質良く薄いフイルムを加工するレーザの能力は著
るしく悪影響を受けるであろう。なぜならば、薄
いフイルムに到達されるレーザエネルギーが減少
されると、所望よりも小さい孔が加工されそして
ある特定のしきい値以下では全く孔が加工されな
くなるからである。
アリングまたは光源移動のフイラメンテーシヨン
が起ると、レーザ10によつて発せられた出力の
一部は光学繊維17に入らなくなるだろう。この
絞り効果が相当に大きくなると、信頼性に富み品
質良く薄いフイルムを加工するレーザの能力は著
るしく悪影響を受けるであろう。なぜならば、薄
いフイルムに到達されるレーザエネルギーが減少
されると、所望よりも小さい孔が加工されそして
ある特定のしきい値以下では全く孔が加工されな
くなるからである。
第1図および第2図の光学要素16と17とを
含む装置に対する改良である本発明の特定の具体
例を説明する前に、まず本発明の実施例が包含さ
れうる全体的装置についてごく簡単に説明してお
くのが有益であろう。そのような全体的装置の1
つの例は第3図に示されている。
含む装置に対する改良である本発明の特定の具体
例を説明する前に、まず本発明の実施例が包含さ
れうる全体的装置についてごく簡単に説明してお
くのが有益であろう。そのような全体的装置の1
つの例は第3図に示されている。
上述したワトソン(Watson)の論文に記載さ
れた特定のフアクシミルシステムはイツトリウ
ム・アルミニウム・ガーネート(YAG)レーザ
を含む。しかしながらこのレーザは実用上ある種
の欠点がある。その主たるものはこのレーザには
水冷システムと、内部および外部の音響光学的変
調器とを必要とすることである。これに対し、
GaAsレーザははるかに小型であり、そしてYAG
レーザよりも非常に安価である。変調はレーザの
p−n接合を通る順電流を変えるだけで実施でき
る。GaAsレーザの必要電力はきわめて小さく且
つ水冷を必要としない。したがつて、第3図の例
示装置はGaAsレーザ20を含むものとして示さ
れている。第3図の装置は、たとえば、フアクシ
ミル伝送、情報回収およびコンピユータ製図法の
領域で使用しうる。
れた特定のフアクシミルシステムはイツトリウ
ム・アルミニウム・ガーネート(YAG)レーザ
を含む。しかしながらこのレーザは実用上ある種
の欠点がある。その主たるものはこのレーザには
水冷システムと、内部および外部の音響光学的変
調器とを必要とすることである。これに対し、
GaAsレーザははるかに小型であり、そしてYAG
レーザよりも非常に安価である。変調はレーザの
p−n接合を通る順電流を変えるだけで実施でき
る。GaAsレーザの必要電力はきわめて小さく且
つ水冷を必要としない。したがつて、第3図の例
示装置はGaAsレーザ20を含むものとして示さ
れている。第3図の装置は、たとえば、フアクシ
ミル伝送、情報回収およびコンピユータ製図法の
領域で使用しうる。
第3図において、受信されたアナログ電気信号
21は入力端子22に与えられる。この信号21
はたとえばある種のグラフ資料をラスタ走査した
結果生じたものと仮定される。より詳細には、信
号21は1つの走査フレームの上から下まで等間
隔で順次並んだ線に沿つた明域と暗域のアナログ
表現である。
21は入力端子22に与えられる。この信号21
はたとえばある種のグラフ資料をラスタ走査した
結果生じたものと仮定される。より詳細には、信
号21は1つの走査フレームの上から下まで等間
隔で順次並んだ線に沿つた明域と暗域のアナログ
表現である。
パルス発生器23は信号21に応答して可変振
幅パルス列24を発生する。このパルス列24内
のパルスはパルス化された動作モードでレーザ2
0を作動させる。この動作モードにおいて、レー
ザ20は約100ナノ秒の持続時間ごとに8900Åの
波長で可変強度出力パルスを発生する。1行の加
工の間、このようなパルスが約2×105/秒まで
の反復速度で生じうる。図示の例では、本発明の
レンズないしレンズ系25はレーザ20によつて
発生された光学パルスの通路内に挿入されてい
る。このレンズ系の各種実施例が第4図ないし第
9図に図示されており、後に詳述する。レンズ系
25はビームステアリングおよびフイラメンテー
シヨンには比較的不感応でありそしてレーザの出
力を拡大された円形断面の非点収差のないビーム
に変換する働きをするる。レンズ系25によつて
与えられたビームはダツシユ線26によつて示さ
れている。
幅パルス列24を発生する。このパルス列24内
のパルスはパルス化された動作モードでレーザ2
0を作動させる。この動作モードにおいて、レー
ザ20は約100ナノ秒の持続時間ごとに8900Åの
波長で可変強度出力パルスを発生する。1行の加
工の間、このようなパルスが約2×105/秒まで
の反復速度で生じうる。図示の例では、本発明の
レンズないしレンズ系25はレーザ20によつて
発生された光学パルスの通路内に挿入されてい
る。このレンズ系の各種実施例が第4図ないし第
9図に図示されており、後に詳述する。レンズ系
25はビームステアリングおよびフイラメンテー
シヨンには比較的不感応でありそしてレーザの出
力を拡大された円形断面の非点収差のないビーム
に変換する働きをするる。レンズ系25によつて
与えられたビームはダツシユ線26によつて示さ
れている。
第3図に示したコリメートされたビーム26は
電気機械的に駆動されるガルバノメータミラー2
8に投射される。ミラー28は図面の頁に垂直な
軸線のまわりに鋸歯状に振動する。これによりビ
ームは加工されている1つのフレームの一方の側
から他方の側へ偏向される。ミラー28から反射
後、該ビーム26は扁平対物レンズ30によつて
集束されダイクロイツクミラー32に向けられ
る。該ミラー32は8900Åの光に対し高い反射性
を有する。直径約5ミクロンの細いウエーストビ
ームはこのミラー32によつて薄いフイルム34
の面上に向けられる。
電気機械的に駆動されるガルバノメータミラー2
8に投射される。ミラー28は図面の頁に垂直な
軸線のまわりに鋸歯状に振動する。これによりビ
ームは加工されている1つのフレームの一方の側
から他方の側へ偏向される。ミラー28から反射
後、該ビーム26は扁平対物レンズ30によつて
集束されダイクロイツクミラー32に向けられ
る。該ミラー32は8900Åの光に対し高い反射性
を有する。直径約5ミクロンの細いウエーストビ
ームはこのミラー32によつて薄いフイルム34
の面上に向けられる。
第3図のガルバノメータミラー28は図面の頁
の面内に位置する1つの軸線のまわりを回転しう
るようジンバルで自在支えされており、そして該
軸線のまわりをゆつくりと回転させられる。これ
によりレーザビームはフイルム34上のフレーム
の上から下までゆつくりと移動させられる。この
ような態様で多数の離隔された線が順次該フイル
ム上に加工される。
の面内に位置する1つの軸線のまわりを回転しう
るようジンバルで自在支えされており、そして該
軸線のまわりをゆつくりと回転させられる。これ
によりレーザビームはフイルム34上のフレーム
の上から下までゆつくりと移動させられる。この
ような態様で多数の離隔された線が順次該フイル
ム上に加工される。
ランプ36からの光はコンデンサーレンズ系3
8によりダイクロイツクミラー32を通じて薄い
フイルム34上に投影される。しかしてフイルム
34上に加工されているフレームの画像は投影レ
ンズ40を介してスクリーン42の上に投写され
る。
8によりダイクロイツクミラー32を通じて薄い
フイルム34上に投影される。しかしてフイルム
34上に加工されているフレームの画像は投影レ
ンズ40を介してスクリーン42の上に投写され
る。
第4図には、ヒ化ガリウムレーザによつて発生
された光学的ビームの上記したウエーストWxと
Wyとがそれぞれ点50と51とで表わされてい
る。さらに表現の簡単化のために、該2つのウエ
ーストから出る光線は単純な二次元的表現により
示されている。第4図内のC1とC2とは主軸53
に沿つた、ビーム断面がその位置で円形であると
ころの位置をそれぞれ示す。C1はレーザの内部
に位置しそしてC2は一般的にレーザ出力ミラー
の右方5〜20ミクロンのところに位置する。Ox
とOyとはレンズ55の中心から各ウエーストす
なわちWxとWyまでの距離である。Aはそのビー
ムの近域非点収差を表わす。
された光学的ビームの上記したウエーストWxと
Wyとがそれぞれ点50と51とで表わされてい
る。さらに表現の簡単化のために、該2つのウエ
ーストから出る光線は単純な二次元的表現により
示されている。第4図内のC1とC2とは主軸53
に沿つた、ビーム断面がその位置で円形であると
ころの位置をそれぞれ示す。C1はレーザの内部
に位置しそしてC2は一般的にレーザ出力ミラー
の右方5〜20ミクロンのところに位置する。Ox
とOyとはレンズ55の中心から各ウエーストす
なわちWxとWyまでの距離である。Aはそのビー
ムの近域非点収差を表わす。
本実施例では焦点距離を持つ開口数の大きい
球面レンズ55が第4図のウエーストWxとWyか
ら出るビームの光路内に挿入されている。さらに
詳細に言うと、レンズ55はレーザビームの前記
した発散にビームステアリングによつて生じる付
加的角度偏倚を加えたものに対し十分適応できる
大きい開口数の良好にコリメートされた光学要素
である。光学要素55としては単一の球面レンズ
で十分ではあるが、しかし、複数のレンズ要素か
らなり、その全体的効果が単一の球面レンズに比
肩しうるような、よくコリメートされた顕微鏡対
物レンズを使用すると好都合である。光学要素5
5を構成しうるかかる対物レンズの例をあげれ
ば、開口数0.65であつて1個または数個の直列配
置されたアプラナートレンズと、これに続く1個
または複数の球面二重レンズとを含む常用の43倍
の顕微鏡対物レンズである。重要なのは、レンズ
55がこれに投射されたビームの発散角を実質的
に縮少するのに有効であることである。
球面レンズ55が第4図のウエーストWxとWyか
ら出るビームの光路内に挿入されている。さらに
詳細に言うと、レンズ55はレーザビームの前記
した発散にビームステアリングによつて生じる付
加的角度偏倚を加えたものに対し十分適応できる
大きい開口数の良好にコリメートされた光学要素
である。光学要素55としては単一の球面レンズ
で十分ではあるが、しかし、複数のレンズ要素か
らなり、その全体的効果が単一の球面レンズに比
肩しうるような、よくコリメートされた顕微鏡対
物レンズを使用すると好都合である。光学要素5
5を構成しうるかかる対物レンズの例をあげれ
ば、開口数0.65であつて1個または数個の直列配
置されたアプラナートレンズと、これに続く1個
または複数の球面二重レンズとを含む常用の43倍
の顕微鏡対物レンズである。重要なのは、レンズ
55がこれに投射されたビームの発散角を実質的
に縮少するのに有効であることである。
第4図の実施例では、レンズ55は拡大レンズ
として作用し該レンズ55の中心からの距離がIx
およびIyであるところにそれぞれWxとWyの像
W′xとW′yを形成する。C1とC2に対応するビーム
断面円形位置はこの時にC′1とC′2に位置する。球
面レンズ55の焦点距離と物距離OxとOyとか
ら計算して、その像視野非点収差A′は次のよう
になる: A′≡(Iy−Ix) =(IxIy/OxOy)A≡(MxMy)A。
として作用し該レンズ55の中心からの距離がIx
およびIyであるところにそれぞれWxとWyの像
W′xとW′yを形成する。C1とC2に対応するビーム
断面円形位置はこの時にC′1とC′2に位置する。球
面レンズ55の焦点距離と物距離OxとOyとか
ら計算して、その像視野非点収差A′は次のよう
になる: A′≡(Iy−Ix) =(IxIy/OxOy)A≡(MxMy)A。
図示の例では、線倍率Myは約43そして線倍率
Mxは約30であるから、A′は約1300Aである。A
の代表的範囲は40乃至50ミクロンである。したが
つてA′は約50乃至65mmであり、この数値は簡単
に製造できる従来の半円筒形レンズでコリメート
可能な範囲である。
Mxは約30であるから、A′は約1300Aである。A
の代表的範囲は40乃至50ミクロンである。したが
つてA′は約50乃至65mmであり、この数値は簡単
に製造できる従来の半円筒形レンズでコリメート
可能な範囲である。
第5図に示した本発明の1つの実施例では、簡
単なCx型の単一半円筒形レンズ57が球面レン
ズ55によつて形成された光線の光路内に挿入さ
れる。特に、該レンズ57は主軸53上のC′1で
示される上記ビーム断面円形位置にその中心が位
置している。該レンズ57はW′yにW′xの実像を
結ぶよう設計されている。従つて、W′yから右方
のすべての光線は等方的にほとんどW′yから発散
するように現われる。換言すれば、W′yから出て
第5図の右方にのびている各光線は主軸53に関
しほとんど同一の角度をなしているように現われ
る。したがつてW′yから発散する球面波先は常用
の光学要素によつて、第3図に参照数字26で示
されたような円形断面のビームを形成するよう拡
大され且つコリメートされうる。
単なCx型の単一半円筒形レンズ57が球面レン
ズ55によつて形成された光線の光路内に挿入さ
れる。特に、該レンズ57は主軸53上のC′1で
示される上記ビーム断面円形位置にその中心が位
置している。該レンズ57はW′yにW′xの実像を
結ぶよう設計されている。従つて、W′yから右方
のすべての光線は等方的にほとんどW′yから発散
するように現われる。換言すれば、W′yから出て
第5図の右方にのびている各光線は主軸53に関
しほとんど同一の角度をなしているように現われ
る。したがつてW′yから発散する球面波先は常用
の光学要素によつて、第3図に参照数字26で示
されたような円形断面のビームを形成するよう拡
大され且つコリメートされうる。
第5図に例示した特定の実施例では、O′xとI′x
との距離はそれぞれ40mmと20mmである。この場合
に、該Cxレンズ57の焦点距離cxは約13mmで
ある。
との距離はそれぞれ40mmと20mmである。この場合
に、該Cxレンズ57の焦点距離cxは約13mmで
ある。
第6図に示した別の実施例では、Cy型の簡単
な単一半円筒形レンズ59が主軸53上にその中
心を位置させて球面レンズ55によつて形成され
た光線の光路内に配置されている。特に、該レン
ズ59はC′2で表わされた上記ビーム円形位置に
位置されている。このレンズ59はW′xにW′yの
虚像を形成するように選択されている。従つて、
これにより1つの球面波先が形成される。なぜな
らば、レンズ59の右方のすべての光線は等方的
にW′xからほとんど発散するよう現われるからで
ある。
な単一半円筒形レンズ59が主軸53上にその中
心を位置させて球面レンズ55によつて形成され
た光線の光路内に配置されている。特に、該レン
ズ59はC′2で表わされた上記ビーム円形位置に
位置されている。このレンズ59はW′xにW′yの
虚像を形成するように選択されている。従つて、
これにより1つの球面波先が形成される。なぜな
らば、レンズ59の右方のすべての光線は等方的
にW′xからほとんど発散するよう現われるからで
ある。
第6図の特定実施例では、W′xとW′yとの間の
距離は60mmそしてW′xとC′2との間の距離は100mm
である。この場合、該Cyレンズ59の焦点距離
は約70mmである。
距離は60mmそしてW′xとC′2との間の距離は100mm
である。この場合、該Cyレンズ59の焦点距離
は約70mmである。
C′1(第5図)およびC′2(第6図)の位置にお
けるビーム断面の直径は通常1mm以内であるから
して、レンズ57と59とが非常に弱い(すなわ
ちF−数の大きい)光学要素でありうることが明
らかである。一般的には、Cyレンズ59はCxレ
ンズ57より弱いものであつてよい。したがつて
レンズ59は大きいF−数と、より収差のない性
能に特徴があり、これはある種の用途では一般に
好ましいものであり、実用上重要な特徴である。
最も重要なことは、Cyレンズ59(第6図)が
使用された場合には、光源移動のフイラメンテー
シヨンに起因するウエーストW′xの移動(x軸方
向における)がなんらの収差ももたらさないこと
である。なぜならばこのレンズはx軸方向に零度
のレンズであるからである。この特徴はCxレン
ズ(第5図)には欠けており、したがつて一般的
に言つてCyレンズのみを使用する実施例の方が
好ましい。しかし第5図の実施例は第6図の実施
例よりもその光路長が短い。この事実が実用上重
要となる場合がある。したがつてそのような場合
には、光源移動のフイラメンテーシヨンに敏感で
あるという欠点にもかかわらず第5図の実施例が
選択されうる。
けるビーム断面の直径は通常1mm以内であるから
して、レンズ57と59とが非常に弱い(すなわ
ちF−数の大きい)光学要素でありうることが明
らかである。一般的には、Cyレンズ59はCxレ
ンズ57より弱いものであつてよい。したがつて
レンズ59は大きいF−数と、より収差のない性
能に特徴があり、これはある種の用途では一般に
好ましいものであり、実用上重要な特徴である。
最も重要なことは、Cyレンズ59(第6図)が
使用された場合には、光源移動のフイラメンテー
シヨンに起因するウエーストW′xの移動(x軸方
向における)がなんらの収差ももたらさないこと
である。なぜならばこのレンズはx軸方向に零度
のレンズであるからである。この特徴はCxレン
ズ(第5図)には欠けており、したがつて一般的
に言つてCyレンズのみを使用する実施例の方が
好ましい。しかし第5図の実施例は第6図の実施
例よりもその光路長が短い。この事実が実用上重
要となる場合がある。したがつてそのような場合
には、光源移動のフイラメンテーシヨンに敏感で
あるという欠点にもかかわらず第5図の実施例が
選択されうる。
第3図に示した形式の実際の装置では、C′2に
配置された単一半円筒形レンズ59(第6図)を
用いて実質的に回折の制限された性能結果が得ら
れうることが確認されている。
配置された単一半円筒形レンズ59(第6図)を
用いて実質的に回折の制限された性能結果が得ら
れうることが確認されている。
前記したように、球面レンズ55はビーム発散
角を縮小する。その結果、ビームステアリング効
果に起因する主軸53からのレーザビームの角度
偏倚はすべて縮小される。さらに詳細に説明する
と、本発明の特定実施例においては、10゜のオリ
ジナルレーザビームのステアリングすなわち角度
偏倚は球面レンズ55によつて約1/2゜まで減
少される。実際問題として、レンズ57(第5
図)およびレンズ59(第6図)の開口角は一般
的にそのような比較的小さい偏倚に容易に適応す
るに十分な大きさであり、そして更に、レンズ5
9は収差を生じさせることなく接合面内の光源移
動に適応することができる。ビームの角度的およ
び並進的な小さな移動に対する同様な不感応性
は、レンズ57ないしレンズ59と薄いフイルム
34(第3図)との間に挿入された付加的な光学
要素にも容易に取り入れることができる。以上の
理由からして、上記した実施例ではビームステア
リングに対し比較的不感応であり、そして第6図
の実施例では更に光源移動のフイラメンテーシヨ
ン効果に対しても不感応であることが判明してい
る。
角を縮小する。その結果、ビームステアリング効
果に起因する主軸53からのレーザビームの角度
偏倚はすべて縮小される。さらに詳細に説明する
と、本発明の特定実施例においては、10゜のオリ
ジナルレーザビームのステアリングすなわち角度
偏倚は球面レンズ55によつて約1/2゜まで減
少される。実際問題として、レンズ57(第5
図)およびレンズ59(第6図)の開口角は一般
的にそのような比較的小さい偏倚に容易に適応す
るに十分な大きさであり、そして更に、レンズ5
9は収差を生じさせることなく接合面内の光源移
動に適応することができる。ビームの角度的およ
び並進的な小さな移動に対する同様な不感応性
は、レンズ57ないしレンズ59と薄いフイルム
34(第3図)との間に挿入された付加的な光学
要素にも容易に取り入れることができる。以上の
理由からして、上記した実施例ではビームステア
リングに対し比較的不感応であり、そして第6図
の実施例では更に光源移動のフイラメンテーシヨ
ン効果に対しても不感応であることが判明してい
る。
第5図および第6図の実施例によつて形成され
た球面波先はそのビームを拡大しコリメートする
常用の光学要素に与えられる。例として、第7図
は第6図のレンズ59の光学的出力が慣用のビー
ムエキスパンダとコリメータ60へ与えられる場
合を示す。第7図において、出力光線26は円形
断面を有するコリメートされたビームを示す。こ
の光線26は第3図の光学系25から出る同じ参
照数字を付した光線に対応するものである。な
お、これらのエキスパンダ−コリメータ要素は回
折が小さい、しかし一定の角度域に亘つて制限さ
れるよう設計されなければならない。
た球面波先はそのビームを拡大しコリメートする
常用の光学要素に与えられる。例として、第7図
は第6図のレンズ59の光学的出力が慣用のビー
ムエキスパンダとコリメータ60へ与えられる場
合を示す。第7図において、出力光線26は円形
断面を有するコリメートされたビームを示す。こ
の光線26は第3図の光学系25から出る同じ参
照数字を付した光線に対応するものである。な
お、これらのエキスパンダ−コリメータ要素は回
折が小さい、しかし一定の角度域に亘つて制限さ
れるよう設計されなければならない。
第5図と第6図に示した特定の実施例には各種
の変更が可能である。たとえば、球面収差を最小
限にするためあるいは回避するために一組の半円
筒形レンズ、あるいは1個の球面レンズと1個の
半円筒形レンズの組合わせを使用することができ
る。このような変更例がそれぞれ第8図と第9図
に示されている。
の変更が可能である。たとえば、球面収差を最小
限にするためあるいは回避するために一組の半円
筒形レンズ、あるいは1個の球面レンズと1個の
半円筒形レンズの組合わせを使用することができ
る。このような変更例がそれぞれ第8図と第9図
に示されている。
第8図では、半円筒形Cxレンズ61がW′y
に、そして半円筒形Cyレンズ62が上記レンズ
61の右方のビーム断面円形位置に配置されてい
る。
に、そして半円筒形Cyレンズ62が上記レンズ
61の右方のビーム断面円形位置に配置されてい
る。
第9図では、発散半円筒形Cyレンズ63が
W′xに、そして半円筒形Cxレンズ64が上記レ
ンズ63の右方のビーム断面円形位置におかれて
いる。
W′xに、そして半円筒形Cxレンズ64が上記レ
ンズ63の右方のビーム断面円形位置におかれて
いる。
第1図と第2図は従来技術のレンズ要素と組合
わされた公知固体接合レーザの断面で示す側面図
と上面図である。第3図は本発明の1実施例を含
むレーザ加工装置の概略図である。第4図は本発
明の1実施例によるレンズ系に含まれる主要レン
ズ要素の1つを示す。第5図と第6図とは本発明
の2つの実施例をそれぞれ示す。第7図はビーム
エキスパンダとコリメータに組合わされた本発明
の1実施例に含まれるレンズ要素のうちの1つを
示す。第8図と第9図とは本発明の別の2つの実
施例をそれぞれ示す。 20,10……固体接合レーザ、34……薄い
フイルム、25……レンズ系、55……球面レン
ズ、θ1……大きな遠視野発散角、θ2……小さ
な遠視野発散角、57,59……半円筒形レン
ズ、60……ビームエキスパンダおよびコリメー
タ、61,62……半円筒形レンズ、63……発
散半円筒形レンズ、64……半円筒形レンズ。
わされた公知固体接合レーザの断面で示す側面図
と上面図である。第3図は本発明の1実施例を含
むレーザ加工装置の概略図である。第4図は本発
明の1実施例によるレンズ系に含まれる主要レン
ズ要素の1つを示す。第5図と第6図とは本発明
の2つの実施例をそれぞれ示す。第7図はビーム
エキスパンダとコリメータに組合わされた本発明
の1実施例に含まれるレンズ要素のうちの1つを
示す。第8図と第9図とは本発明の別の2つの実
施例をそれぞれ示す。 20,10……固体接合レーザ、34……薄い
フイルム、25……レンズ系、55……球面レン
ズ、θ1……大きな遠視野発散角、θ2……小さ
な遠視野発散角、57,59……半円筒形レン
ズ、60……ビームエキスパンダおよびコリメー
タ、61,62……半円筒形レンズ、63……発
散半円筒形レンズ、64……半円筒形レンズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 固体接合レーザーの出力面と該レーザービー
ムにより選択的に加工される物品との間に挿入さ
れる光学装置であつて、接合面に対して垂直の面
内で見たとき該レーザーの出力ビームは該出力面
のところに見掛けの光源を持つ比較的大きい遠視
野発散角を有し、そして接合面に対して平行な面
内で見たとき該レーザーの出力ビームは該出力面
の後方に見掛けの光源をもつ比較的小さい遠視野
発散角を有するものにおいて、 該光学装置は、球面レンズ装置55で充分大き
な開口数を有し、且つ該レーザーから出射された
光を集めて、前記光源の離隔した実像(Wx′,
Wy′)を形成するために、そして該ビームによる
最大の発散および該ビームによつて示されるビー
ムステアリング効果に適応することが出来るよう
にするために拡大レンズ装置として作用するごと
く構成された球面レンズ装置を含み、該光学装置
はさらに、該ビームの断面が円形である場所に位
置する半円筒形レンズから成る半円筒形レンズ装
置で、該半円筒形レンズの前記の位置および焦点
距離は物品に向けられる光が該球面レンズから集
められそして実像から等方的に発散するように出
現するごとく構成された半円筒形レンズ装置を含
むことを特徴とする光学装置。 2 発散光線の光路内に挿入された手段が該光線
をコリメートしそして円形断面を有する1つのビ
ームを形成するのに役立つ特許請求の範囲第1項
の光学装置。 3 レーザによつて与えられるビームは該ビーム
が前記球面レンズに入射するより前に相互に離隔
した2つのビーム断面円形位置を持ち、その2つ
の位置の一方の位置C1は該レーザ内部に位置し
ており、他方の位置C2は該レーザの出力面と該
球面レンズとの間に位置しており、該球面レンズ
によつて形成されたビームは上記2つの位置C1
とC2とにそれぞれ対応する2つの互に離隔した
ビーム断面円形位置C1′とC2′とを有し、前記した
互に離隔された見掛けの光源の像をWx′とWy′と
で表わすと、Wx′はWy′よりも該球面レンズに近
く位置し、C1′はWx′とWy′との間にあり、そし
てC2′はWy′よりもさらに遠く該球面レンズから
離れておりそして前記したレンズ手段は上記位置
C1′,C2′,Wx′,Wy′のうちの1つの位置に配置
された1つの半円筒形レンズを包含する特許請求
の範囲第1項の光学装置。 4 前記半円筒形レンズが収斂型のレンズであり
そしてWy′の位置にWx′の実像を形成するよう
C1′に位置され、従つてWy′の物品側では、すべ
ての光線が等方性をもつてWy′から発散するよう
現われる特許請求の範囲第3項の光学装置。 5 前記半円筒形レンズが収斂型のレンズであり
そしてWx′にWy′の虚像を形成するようC2′に配
置され、従つて該半円筒形レンズの物品側では、
すべての光線が等方性をもつてWx′から発散する
よう現われる特許請求の範囲第3項の光学装置。 6 前記半円筒形レンズが収斂型のレンズであり
そしてWx′から出る発散光線をコリメートするよ
うWy′に配置されており、さらに前記レンズ手段
はWy′から出る発散光線をコリメートするよう上
記した半円筒形レンズの物品側のビーム断面円形
位置に配置された第2の半円筒形レンズを包含し
ている特許請求の範囲第3項の光学装置。 7 前記半円筒形レンズが発散型のレンズであり
そしてWy′に向う収斂光線をコリメートするよう
Wx′に配置されており、さらに前記レンズ手段は
Wx′から出る発散光線をコリメートするよう上記
発散円筒形レンズの物品側のビーム断面円形位置
に配置された収斂型の半円筒形レンズを包含して
いる特許請求の範囲第3項の光学装置。 8 前記レンズ手段がさらにWy′から発散する光
線の光路内に置かれたビームエキスパンダおよび
コリメータを包含している特許請求の範囲第4項
の光学装置。 9 前記レンズ手段がさらに半円筒形レンズから
発散する光線の光路内に置かれたビームエキスパ
ンダおよびコリメータを包含している特許請求の
範囲第5項の光学装置。 10 該光学装置がレーザ加工装置の部分として
組み込まれているところの特許請求の範囲第1項
の光学装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/617,531 US3974507A (en) | 1975-09-29 | 1975-09-29 | Conversion of stripe-geometry junction laser emission to a spherical wavefront |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5242741A JPS5242741A (en) | 1977-04-02 |
| JPS6244246B2 true JPS6244246B2 (ja) | 1987-09-18 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP51116108A Granted JPS5242741A (en) | 1975-09-29 | 1976-09-29 | Lens system for converting laser radiation to spherical wave end and laser machining device utilizing same |
Country Status (7)
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