JPS6249209A - 線状レ−ザ−光点発振器を有する距離計 - Google Patents
線状レ−ザ−光点発振器を有する距離計Info
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- JPS6249209A JPS6249209A JP18917085A JP18917085A JPS6249209A JP S6249209 A JPS6249209 A JP S6249209A JP 18917085 A JP18917085 A JP 18917085A JP 18917085 A JP18917085 A JP 18917085A JP S6249209 A JPS6249209 A JP S6249209A
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- laser
- oscillator
- laser oscillator
- laser beam
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔差業上の利用分野〕
この発明は、トンネル掘削断面の測定装置に関するもの
である。
である。
この出願人は、先にトンネル掘削断面を測定する場合に
用いて好適な第9図ない]−第7ノ図に示すトンネ/l
−掘削断面の辿]定力法お・よびその装置を提供した(
特願昭59−190613)。
用いて好適な第9図ない]−第7ノ図に示すトンネ/l
−掘削断面の辿]定力法お・よびその装置を提供した(
特願昭59−190613)。
図中符号1は基台を示し、この基台1は水準器2を備え
、そり、て三131413上のxyステージ41てセッ
トされて、その三脚3上の水平面内にて位+i調整可能
となつ゛〔いる。この基台1には、1)−ザー距離計5
の筒、状本体6が、水平とされtこその軸線を中心とし
゛C回転自在に保持され′Cいも。筒状本体6((は、
その軸線方向に沿って撮像器7、し、−デー発温器8、
および反り」機構9が直列に備えられている。レープ−
発振器8は、セットボルト10によって筒状本体6内に
セットされて、反射機構9姓向けてレーザー光を発射し
、亡1−1て反射機構9は、そのレーザー芳、を固定ミ
ラー11.によって、筒状本体6の軸線の直角方向に反
射すると共に、その反射光の光路に対して進退自在の可
動反射ミラー12を備えた構成とされている。この可動
反射ミラー12は、それが第1/図実線で示すように回
動されたときには反射光の光路から退き、またぞれが同
図中点線で示すように回動されたときには、筒状本体6
の軸線を含む1つの平面内(この平面は、筒状本体6が
第9図に示すような回転状態にあるときは垂直平面とな
る)において、レーザー光の反射角を可変できるように
備えられている。
、そり、て三131413上のxyステージ41てセッ
トされて、その三脚3上の水平面内にて位+i調整可能
となつ゛〔いる。この基台1には、1)−ザー距離計5
の筒、状本体6が、水平とされtこその軸線を中心とし
゛C回転自在に保持され′Cいも。筒状本体6((は、
その軸線方向に沿って撮像器7、し、−デー発温器8、
および反り」機構9が直列に備えられている。レープ−
発振器8は、セットボルト10によって筒状本体6内に
セットされて、反射機構9姓向けてレーザー光を発射し
、亡1−1て反射機構9は、そのレーザー芳、を固定ミ
ラー11.によって、筒状本体6の軸線の直角方向に反
射すると共に、その反射光の光路に対して進退自在の可
動反射ミラー12を備えた構成とされている。この可動
反射ミラー12は、それが第1/図実線で示すように回
動されたときには反射光の光路から退き、またぞれが同
図中点線で示すように回動されたときには、筒状本体6
の軸線を含む1つの平面内(この平面は、筒状本体6が
第9図に示すような回転状態にあるときは垂直平面とな
る)において、レーザー光の反射角を可変できるように
備えられている。
前記撮像器7は、ネジ13を支軸と1.、て揺動自在に
備えられていて、筒状本体6の軸線と、固定ミラー11
から反射するレーザー光線とを含むように、それらの画
線によって規定され不)一平面内(この平面は、筒状本
体6が第9図に示ず15な回転状態にあるときに垂直平
fa1となる)において揺動自在となっている。この撮
像器7 +Cは第10図(/l:示すようりで、複数の
)討ト1”、、、 L/メントが第1i′横に一次元的
f並べられてβ次ノ[、固体撮像ソ・;子とされた)2
トセンザー 14と、レンズ15カリ+b牙られていて
、前記反射機構9の固定ミう−11から反射されたレー
ザー光の投射スポットを、レンズ15を通し2てツメ1
−十ンザー14−トげ映1−. Lll 1..1、そ
してこのフメト+ンザ 14+における映像位置に当た
るフ」1・手しメントが電気信号を出力するよう((な
っている、。
備えられていて、筒状本体6の軸線と、固定ミラー11
から反射するレーザー光線とを含むように、それらの画
線によって規定され不)一平面内(この平面は、筒状本
体6が第9図に示ず15な回転状態にあるときに垂直平
fa1となる)において揺動自在となっている。この撮
像器7 +Cは第10図(/l:示すようりで、複数の
)討ト1”、、、 L/メントが第1i′横に一次元的
f並べられてβ次ノ[、固体撮像ソ・;子とされた)2
トセンザー 14と、レンズ15カリ+b牙られていて
、前記反射機構9の固定ミう−11から反射されたレー
ザー光の投射スポットを、レンズ15を通し2てツメ1
−十ンザー14−トげ映1−. Lll 1..1、そ
してこのフメト+ンザ 14+における映像位置に当た
るフ」1・手しメントが電気信号を出力するよう((な
っている、。
一力、筒状本体6にはリンクギア16がII′〈めイ・
jけられ、ぞしてこのリンクギア16は、ギア17、つ
λ〜ムホイーΔ18、ウオーム19してよってステッピ
ングモー タ20に、連結されてい゛(、このステッピ
ングモータ20によ一″)て、筒状本体6がイーの軸線
を中心として例えば、〜0ずつの所定角度ずつ回転され
るようになっている。なお、第7図中符−弓21はスデ
ッピ〉′クモータ用ドライバを示し、また筒状本体60
周部には、その回転角度を表示する分度目盛22が付さ
れている。
jけられ、ぞしてこのリンクギア16は、ギア17、つ
λ〜ムホイーΔ18、ウオーム19してよってステッピ
ングモー タ20に、連結されてい゛(、このステッピ
ングモータ20によ一″)て、筒状本体6がイーの軸線
を中心として例えば、〜0ずつの所定角度ずつ回転され
るようになっている。なお、第7図中符−弓21はスデ
ッピ〉′クモータ用ドライバを示し、また筒状本体60
周部には、その回転角度を表示する分度目盛22が付さ
れている。
〔発明が順′決12ようとする問題点〕ところが、上記
従来のトンネル掘削断面の測定装置に訃いては、次に挙
げるような欠点があった。
従来のトンネル掘削断面の測定装置に訃いては、次に挙
げるような欠点があった。
(1) L/−ザー発振器K II e −N eガ
ス1.′−ザーを用いていたため装置tt全全体大型な
ものとなる。
ス1.′−ザーを用いていたため装置tt全全体大型な
ものとなる。
(2) レーザー光を反射させる反射機構を用いるこ
とから反射されたレーリー光がミラー屈折により誤差を
生じる。
とから反射されたレーリー光がミラー屈折により誤差を
生じる。
G) 投射されるレーザー光がスポットであるため、撮
像器のフ刈トセンサー上にイiW実に結像さぜろのが回
灯である。
像器のフ刈トセンサー上にイiW実に結像さぜろのが回
灯である。
この発明は上記事情に鑑みてなされたもので必り、装置
全体を小型載置化し、ミラー屈折による誤差をなくすた
め反射機構をな(+=、レーザー光が撮像器のフォトセ
ンザー上に確実に結像する縁状レーザ光点発振器を有す
る距離針を提供することを目的としている。
全体を小型載置化し、ミラー屈折による誤差をなくすた
め反射機構をな(+=、レーザー光が撮像器のフォトセ
ンザー上に確実に結像する縁状レーザ光点発振器を有す
る距離針を提供することを目的としている。
この発明は、レーザー発振器に半導体レーザー発振器を
使用シフ、この半導体レーザー発振器の前方に半導体レ
ーザー発振器から発振されたレーリ′−光を集光するコ
リメータレンズ、おJ′びA++記レーし−光をi&線
的Qτ拡散させるシリンドリカ刀・レンズを焦点調整可
能に装着[、て前d謂IX1題点な解決している。
使用シフ、この半導体レーザー発振器の前方に半導体レ
ーザー発振器から発振されたレーリ′−光を集光するコ
リメータレンズ、おJ′びA++記レーし−光をi&線
的Qτ拡散させるシリンドリカ刀・レンズを焦点調整可
能に装着[、て前d謂IX1題点な解決している。
以)、この発明の一実施例を図面を参照し、て説明する
。゛まず、この発明による線状1ノ一ザ〜光点発振器を
有する距離計(以下、「レーザー距離用」と略称する)
Kついて説明する。
。゛まず、この発明による線状1ノ一ザ〜光点発振器を
有する距離計(以下、「レーザー距離用」と略称する)
Kついて説明する。
第1図において符号30はl/−ザー距離口にあり、3
1は基台である。基台3にでは水準器32が備オられて
いる。基台31は5、第り図に示すように、三脚33上
のxyステージ34にセン)・されており、三脚33上
の水Y面内において位置調整可能とされている。また、
基台31には装置本体35が、水平とされたその軸線を
中心として回転自在に保持されている。装置本体35に
(j′、その軸線方向に沿って一端部K 1.、/−ザ
ー発振装置36が、他端部に撮像器37がそれぞれ設置
されている。
1は基台である。基台3にでは水準器32が備オられて
いる。基台31は5、第り図に示すように、三脚33上
のxyステージ34にセン)・されており、三脚33上
の水Y面内において位置調整可能とされている。また、
基台31には装置本体35が、水平とされたその軸線を
中心として回転自在に保持されている。装置本体35に
(j′、その軸線方向に沿って一端部K 1.、/−ザ
ー発振装置36が、他端部に撮像器37がそれぞれ設置
されている。
し/−リ゛−発振装置M 3 ci目8、第一図、第、
7図に示−−J’ IL5に、装置本体38とその内部
υ(固定さ7団?、=プレス−1−グ:3G)と、半導
体レーソ゛−発振器40とから1つ11おり1.!1′
導体レーザー発振i(:440の先端部には半導体1ノ
ー ず−発振);に40から発振されたレーザー光6′
合焦11+!−6ためのI」リメータレンズ4■と、そ
のレー リ′−光を直上4的に」人数さするためのシリ
ソドリ力ルし/アズ642どが取伺けられている。
7図に示−−J’ IL5に、装置本体38とその内部
υ(固定さ7団?、=プレス−1−グ:3G)と、半導
体レーソ゛−発振器40とから1つ11おり1.!1′
導体レーザー発振i(:440の先端部には半導体1ノ
ー ず−発振);に40から発振されたレーザー光6′
合焦11+!−6ためのI」リメータレンズ4■と、そ
のレー リ′−光を直上4的に」人数さするためのシリ
ソドリ力ルし/アズ642どが取伺けられている。
一フj撮像器371t、ネ・ヅ43を支軸どり、、 ’
−c 4r+♂動自在1・・C備えらJじτ二↓、・り
装置本体35の41+線と半導体し〜 リ°−発振器4
0から発振さJi、イ〕レ−リ“−光線とを含むよう圧
、−亡れらの両線にJ゛つ゛(規宇される一平面内(こ
のY−而は鼓fi′1”、本体35がl’l’; 7図
し看示ずような回転状態C′こ」)・シときに型口1甲
面とlろ)Kおい”(’hii動自在店・さオ]゛([
いイ:1o・−の撮像、4737には、第り図、第A図
、第ff!%lK示す上うに複数の)第1・、:I:1
/メントが一列に並べられ゛C1−’r元固体撮像素了
−とさ!し1.゛−ライン士ツリー44と、レンズ45
がilmえらノ1ている。また、撮像器:37(、(は
、撮像器37の映像出力を取り出1て演舞処理するため
の演算処、、理装置46が抜けされている。
−c 4r+♂動自在1・・C備えらJじτ二↓、・り
装置本体35の41+線と半導体し〜 リ°−発振器4
0から発振さJi、イ〕レ−リ“−光線とを含むよう圧
、−亡れらの両線にJ゛つ゛(規宇される一平面内(こ
のY−而は鼓fi′1”、本体35がl’l’; 7図
し看示ずような回転状態C′こ」)・シときに型口1甲
面とlろ)Kおい”(’hii動自在店・さオ]゛([
いイ:1o・−の撮像、4737には、第り図、第A図
、第ff!%lK示す上うに複数の)第1・、:I:1
/メントが一列に並べられ゛C1−’r元固体撮像素了
−とさ!し1.゛−ライン士ツリー44と、レンズ45
がilmえらノ1ている。また、撮像器:37(、(は
、撮像器37の映像出力を取り出1て演舞処理するため
の演算処、、理装置46が抜けされている。
さらに、装置a本体35罠はりングギャ47が嵌め付け
られて訃り、このリングギヤ47は、ギア48、ウメー
ムポイール49、ウオーム5(Icよってステッピング
千−夕511□−こ連結されている。
られて訃り、このリングギヤ47は、ギア48、ウメー
ムポイール49、ウオーム5(Icよってステッピング
千−夕511□−こ連結されている。
このステツビソグモータ5jは、装置本体35るグその
軸線を中心とし”C1例えば9パずつの所定角度テ回転
””−F 6 L ウK ’1)−(イZ>、 i ラ
に、 基a 31、の−・端9 K It’−3、スデ
ツビング]−−−タ用ドライバ52が設けられ“(おり
、すた、装置本体35の局部番・コは、その回転角IW
を表示する分度目盛53が伺された構成とされている。
軸線を中心とし”C1例えば9パずつの所定角度テ回転
””−F 6 L ウK ’1)−(イZ>、 i ラ
に、 基a 31、の−・端9 K It’−3、スデ
ツビング]−−−タ用ドライバ52が設けられ“(おり
、すた、装置本体35の局部番・コは、その回転角IW
を表示する分度目盛53が伺された構成とされている。
次に、L記のようi7構成され大工1・/−ザー距離計
30の撮像器37と半導体レーリ゛−発振器40との光
学的、な関係を第り図、第、9図を用いて説明する。
30の撮像器37と半導体レーリ゛−発振器40との光
学的、な関係を第り図、第、9図を用いて説明する。
装置本体35の中心1411線と半導体レーザー発振器
40の中心軸線との交点なレーザー光発射点P1とり5
、ここから装置本体3 !iの軸線力向に距離1)だけ
、゛また、半導体レーザー・発振器40の軸線フッ向に
WL軸VWだけ離れた撮像器37のし・ンズ45σ〕中
心を規準点P2々1.. ゛t’パイ、−のlノ−チー
光発射点1)1からの1ノーシ゛−・、”I’J/にl
・ンネルの彷(削壁面(4当ったときの実(県の投射ス
ポットP8を撮像ル’A 37が規準[1、その投射ス
ポットP8の規準角θ十αに応じたライン七ツリー44
Fの位@PAKモ・の映像を結び、−f−1−Cとの撮
像器37は、1./−ザー・光発射点P1から訪中距離
yOだけ離れた点Ph1C対する親、準用4・θとl−
、”を二、亡の設定された規準角θに対応1ろ想定の映
像位置P6と、[)旧11F実際の映像位置1)4との
変位置、つ°ま、り規準角の変化−駄α含・映像出力の
変化とり、て出力するよう産η、つてい4)。この撮像
器37の映像出力【よ演■−処理装!46に入力され、
イー゛I−,−C、j−の演算処理鞍蓚は−その人力信
号に基づき後述f7i1、う′fJ:二角測二角測面−
1:式によってレーザー光発射点P1から実際の投射、
ベボツ)Pa−までの距離yをl?t 1ti1+する
。
40の中心軸線との交点なレーザー光発射点P1とり5
、ここから装置本体3 !iの軸線力向に距離1)だけ
、゛また、半導体レーザー・発振器40の軸線フッ向に
WL軸VWだけ離れた撮像器37のし・ンズ45σ〕中
心を規準点P2々1.. ゛t’パイ、−のlノ−チー
光発射点1)1からの1ノーシ゛−・、”I’J/にl
・ンネルの彷(削壁面(4当ったときの実(県の投射ス
ポットP8を撮像ル’A 37が規準[1、その投射ス
ポットP8の規準角θ十αに応じたライン七ツリー44
Fの位@PAKモ・の映像を結び、−f−1−Cとの撮
像器37は、1./−ザー・光発射点P1から訪中距離
yOだけ離れた点Ph1C対する親、準用4・θとl−
、”を二、亡の設定された規準角θに対応1ろ想定の映
像位置P6と、[)旧11F実際の映像位置1)4との
変位置、つ°ま、り規準角の変化−駄α含・映像出力の
変化とり、て出力するよう産η、つてい4)。この撮像
器37の映像出力【よ演■−処理装!46に入力され、
イー゛I−,−C、j−の演算処理鞍蓚は−その人力信
号に基づき後述f7i1、う′fJ:二角測二角測面−
1:式によってレーザー光発射点P1から実際の投射、
ベボツ)Pa−までの距離yをl?t 1ti1+する
。
次に、上記の様シフ構成、”(、l′I六′ニレーザー
距離1130を用い゛(トソトA・掘削断面な旧1定I
Z)方法を簡Jiiに述ベイ)、。
距離1130を用い゛(トソトA・掘削断面な旧1定I
Z)方法を簡Jiiに述ベイ)、。
1ず、第6ぶIc中」くすよう(・「、掘削坑附1面の
設Rt中)1゛?点i’ o l’l”対づるレーザー
距離113Qの据イ・1位置の座標 Z’) ′まり装
置本体35の軸線の座標l)を所定のワラ法Vlり求め
イ〕。
設Rt中)1゛?点i’ o l’l”対づるレーザー
距離113Qの据イ・1位置の座標 Z’) ′まり装
置本体35の軸線の座標l)を所定のワラ法Vlり求め
イ〕。
次に、レーザー光発射点I’lからのレーザー元を掘削
坑壁面に当て、子の投射、・又ボットろ′P8とし、て
そこを撮像器37によって規準3る。このときには、す
I側坑の大きさUて合+j′:”C1予め撮像器37を
所定の揺動位置6で4−ントI9、て、そのう・fンセ
ンザー、14゜上に投射スポットPaが1央し出ごれる
ようK L ”(オ(、、L、、 l;−が−Di、撮
像”dI’r 37 ’+−X、Aft :J l−た
ようしτ第S図IC7)< L、た規準角の変位量α紮
映像出力の変イlzとlて出力」ろ。
坑壁面に当て、子の投射、・又ボットろ′P8とし、て
そこを撮像器37によって規準3る。このときには、す
I側坑の大きさUて合+j′:”C1予め撮像器37を
所定の揺動位置6で4−ントI9、て、そのう・fンセ
ンザー、14゜上に投射スポットPaが1央し出ごれる
ようK L ”(オ(、、L、、 l;−が−Di、撮
像”dI’r 37 ’+−X、Aft :J l−た
ようしτ第S図IC7)< L、た規準角の変位量α紮
映像出力の変イlzとlて出力」ろ。
次に1演ガ処理4・玄8置46は、撮@器37からの信
月に基づいて、レージ”−光発射点l)1から投射スホ
ツ)Paまでのrqs離yを下式により求めイ〕1、y
ニー■〕 ・ −(θ:Jlα) ]−EとIiで、α
□ t、、In ” H/’ B % θ−” t
an −’ 0’o−E)/T)であイ〕。
月に基づいて、レージ”−光発射点l)1から投射スホ
ツ)Paまでのrqs離yを下式により求めイ〕1、y
ニー■〕 ・ −(θ:Jlα) ]−EとIiで、α
□ t、、In ” H/’ B % θ−” t
an −’ 0’o−E)/T)であイ〕。
次に、ステッピングモータ51によシ装置本体35を所
定角度づつ回転させて、掘削坑壁面に対とレーザー光発
射点P1との間の距離yを演算処理装置、によって近火
n1測1゛る。これによシ、掘削坑の断面中におけるレ
ーザー光発射点Pvから掘削坑の周壁間の距離を、峰の
1に側坑全周に亘って所定の角度毎に目測する。
定角度づつ回転させて、掘削坑壁面に対とレーザー光発
射点P1との間の距離yを演算処理装置、によって近火
n1測1゛る。これによシ、掘削坑の断面中におけるレ
ーザー光発射点Pvから掘削坑の周壁間の距離を、峰の
1に側坑全周に亘って所定の角度毎に目測する。
したがって、こうした計測値から、レーザー光発射点P
1を中心とする掘削坑のh面形状を知ることができる。
1を中心とする掘削坑のh面形状を知ることができる。
また、−そのレーザー光発射点P1を中心とする(^0
削坑の実測断面と、前述した掘削坑〕中心点Poを中心
とする掘削坑の股引り面とを、それらの中心点P1.P
oの座標関係から正確に対比させることができる。
削坑の実測断面と、前述した掘削坑〕中心点Poを中心
とする掘削坑の股引り面とを、それらの中心点P1.P
oの座標関係から正確に対比させることができる。
そして、例えばコンピュータ処理によって掘削坑の実測
断面および股引断面の図示、およびそ゛れら両断面の対
比による余掘面積や体積の4出などを行うことができ4
)。さらに、その他にもトンネル掘削地山変形駆の目測
や地′)窄洞掘削容檀η出用I)ATAW+測等にも利
用するととができ石1、また、このレーザー距離113
0において(j1第7図に示jようにl/−ザー発揚器
に小型1¥[の半導体レーザー発振器40を使用(5、
し・−ザ2−光をミラー反射機構等を用いず、トンネル
(ξ11削壁血に向けて直接的圧発振し、さらGてその
発振さJlだL]−ブー光をコリメータレンズ4に焦合
さ、1章、焦合[、たt/−ブー光をシリンドリカルレ
ンズ42によって直線的に拡散さゼてトンネル(^11
削壁面圧4ぐ射する。次に、、l−ンネル掘削壁面げ一
投射された線状レーザー光54ば、第g1ツIV(示す
ユ′うに撮像器37のラインセンサー440列に対[−
1て直交し、て結像1−1、投射スボン)Paの変化に
L6じでラインセンサー44の上を子のKさ方向に対[
−5て変位する。
断面および股引断面の図示、およびそ゛れら両断面の対
比による余掘面積や体積の4出などを行うことができ4
)。さらに、その他にもトンネル掘削地山変形駆の目測
や地′)窄洞掘削容檀η出用I)ATAW+測等にも利
用するととができ石1、また、このレーザー距離113
0において(j1第7図に示jようにl/−ザー発揚器
に小型1¥[の半導体レーザー発振器40を使用(5、
し・−ザ2−光をミラー反射機構等を用いず、トンネル
(ξ11削壁血に向けて直接的圧発振し、さらGてその
発振さJlだL]−ブー光をコリメータレンズ4に焦合
さ、1章、焦合[、たt/−ブー光をシリンドリカルレ
ンズ42によって直線的に拡散さゼてトンネル(^11
削壁面圧4ぐ射する。次に、、l−ンネル掘削壁面げ一
投射された線状レーザー光54ば、第g1ツIV(示す
ユ′うに撮像器37のラインセンサー440列に対[−
1て直交し、て結像1−1、投射スボン)Paの変化に
L6じでラインセンサー44の上を子のKさ方向に対[
−5て変位する。
したがって、とのレーザー即刻1泪30は、装置ね”冷
体を小型軽[I゛ることがhi *cと力、す、ライン
セン−!j−44の」−ハコリメータ1/ ?/ズとシ
リンドリカ刀・レンズとでrjJや長さなU周整1.プ
、−線状■/−サー光54を正確に、かつ、確実にライ
ンセンサー44上に結像させイ)ことができる。
体を小型軽[I゛ることがhi *cと力、す、ライン
セン−!j−44の」−ハコリメータ1/ ?/ズとシ
リンドリカ刀・レンズとでrjJや長さなU周整1.プ
、−線状■/−サー光54を正確に、かつ、確実にライ
ンセンサー44上に結像させイ)ことができる。
寸た、撮像器37の撮りm素子にラインセンツー44を
用いているので適用帽i1+11長の範囲を長くするこ
とができ、それ(でよってトンネルの断面半径変更に伴
う基準長の設定調整時間を短縮づることかできる。1だ
、大メモリー処理を必要とするエリアセンツーに比べ、
ラインセンサー44は少メモリー処理で済むため4測時
間が短縮bl能であると共に、ラインセンサー44用の
1ンターフエイスは小容彊の安価な市販品で済1すこと
ができる。
用いているので適用帽i1+11長の範囲を長くするこ
とができ、それ(でよってトンネルの断面半径変更に伴
う基準長の設定調整時間を短縮づることかできる。1だ
、大メモリー処理を必要とするエリアセンツーに比べ、
ラインセンサー44は少メモリー処理で済むため4測時
間が短縮bl能であると共に、ラインセンサー44用の
1ンターフエイスは小容彊の安価な市販品で済1すこと
ができる。
上述した↓うに、この発明による線状レーザー光点発振
器を廟する距#用は、レーザー発振器に半導体レーザー
発振器を使用し、この半導体レーザー発振器の前方に半
導体レーザー発振器から発振されたレーザー光を集光す
るコリメータレンズおよび前記レーザー光を直線的に拡
散させるシリンドリカルレンズを焦点調整可能に装着し
たものであるので、次に挙げる効果を得ることができる
。
器を廟する距#用は、レーザー発振器に半導体レーザー
発振器を使用し、この半導体レーザー発振器の前方に半
導体レーザー発振器から発振されたレーザー光を集光す
るコリメータレンズおよび前記レーザー光を直線的に拡
散させるシリンドリカルレンズを焦点調整可能に装着し
たものであるので、次に挙げる効果を得ることができる
。
(1) レーザー発振器にご1′、、→体し−ザ=発
振2×を用いたので装有全体を小型軒11にすることが
できる。
振2×を用いたので装有全体を小型軒11にすることが
できる。
(2) レーザー光を反射させる反射P&:構を用い
ないのでミラー屈折等を起さずレーザー光が撮像器内に
誤差なく正確に結像さ才1石。
ないのでミラー屈折等を起さずレーザー光が撮像器内に
誤差なく正確に結像さ才1石。
(3)投射されるレーザー光が線状1/−、−ブー光で
あるため、レーザー光を撮像器のラインセンサー上に確
実に結像させることができる。
あるため、レーザー光を撮像器のラインセンサー上に確
実に結像させることができる。
第7図ないし7第g図はこの発明の一実施例を示す図で
あり、第7図は要部の余1.?lI!、図、第β図はレ
ーザー発振製画の争1視図、右)、3図(jレーザー発
振装置の一部断面をした(lj1面図、卯1り図、第、
3図はレーザー距離側の光学的万原理を説、明″′r′
Z)ための説明図、第4図はトンネA−掘削旧1面内を
レーザー距離側で測定しているところを鯖□明するため
の説明図、第7図はレーザー光を東光l−自線状に拡散
しているところを費、明するための酸、四回、第g図は
線状レーザー光が痺像器内のラインセンザー十に直交す
イ)まうVr精像(〜′−〇いろ状態を示す図、卯7図
は従来のレーザ距μxa=+の要部のが1祝図、m 7
0図は第9図の側面図、第7)図は第9図の反射機構部
分の説明図である。
あり、第7図は要部の余1.?lI!、図、第β図はレ
ーザー発振製画の争1視図、右)、3図(jレーザー発
振装置の一部断面をした(lj1面図、卯1り図、第、
3図はレーザー距離側の光学的万原理を説、明″′r′
Z)ための説明図、第4図はトンネA−掘削旧1面内を
レーザー距離側で測定しているところを鯖□明するため
の説明図、第7図はレーザー光を東光l−自線状に拡散
しているところを費、明するための酸、四回、第g図は
線状レーザー光が痺像器内のラインセンザー十に直交す
イ)まうVr精像(〜′−〇いろ状態を示す図、卯7図
は従来のレーザ距μxa=+の要部のが1祝図、m 7
0図は第9図の側面図、第7)図は第9図の反射機構部
分の説明図である。
Claims (1)
- 所定長のレーザー距離計の装置本体を、その軸線回力に
回転可能に基台に支持し、前記装置本体の一端部側に装
置本体の軸線と直交する方向にレーザー光を発振可能な
レーザー発振器を取付け、前記装置本体の他端部側に装
置本体の軸線とレーザー発振器のレーザー発振方向とで
規定される面内において揺動可能に撮像器を設け、この
撮像器に撮像器の映像出力を演算処理する演算処理装置
を接続したレーザー距離計において、前記レーザー発振
器に半導体レーザー発振器を使用し、この半導体レーザ
ー発振器の前方に半導体レーザー発振器から発振された
レーザー光を集光するコリメータレンズ、および前記レ
ーザー光を直線的に拡散させるシリンドリカルレンズを
焦点調整可能に装着したことを特徴とする線状レーザー
光点発振器を有する距離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18917085A JPS6249209A (ja) | 1985-08-28 | 1985-08-28 | 線状レ−ザ−光点発振器を有する距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18917085A JPS6249209A (ja) | 1985-08-28 | 1985-08-28 | 線状レ−ザ−光点発振器を有する距離計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6249209A true JPS6249209A (ja) | 1987-03-03 |
Family
ID=16236644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18917085A Pending JPS6249209A (ja) | 1985-08-28 | 1985-08-28 | 線状レ−ザ−光点発振器を有する距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6249209A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5749805A (en) * | 1980-09-09 | 1982-03-24 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring device for roughness of surface |
| JPS57105803A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Erasing head |
| JPS60149912A (ja) * | 1984-01-17 | 1985-08-07 | Kajima Corp | トンネル断面測距装置 |
-
1985
- 1985-08-28 JP JP18917085A patent/JPS6249209A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5749805A (en) * | 1980-09-09 | 1982-03-24 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring device for roughness of surface |
| JPS57105803A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Erasing head |
| JPS60149912A (ja) * | 1984-01-17 | 1985-08-07 | Kajima Corp | トンネル断面測距装置 |
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