JPS6249680B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6249680B2 JPS6249680B2 JP56023144A JP2314481A JPS6249680B2 JP S6249680 B2 JPS6249680 B2 JP S6249680B2 JP 56023144 A JP56023144 A JP 56023144A JP 2314481 A JP2314481 A JP 2314481A JP S6249680 B2 JPS6249680 B2 JP S6249680B2
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- Japan
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- Expired
Links
- 101100521334 Mus musculus Prom1 gene Proteins 0.000 description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 206010023203 Joint destruction Diseases 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ユーザで書込み可能な読出し専用メ
モリ（以下、PROMという。）の書込みマージン
測定装置に関するものである。
モリ（以下、PROMという。）の書込みマージン
測定装置に関するものである。
従来からPROMは、ユーザで書込み可能である
という利便に反し、その信頼性について次のよう
な問題点があつた。
という利便に反し、その信頼性について次のよう
な問題点があつた。
すなわち、PROMには、その製造条件の変動な
どによる書込み条件の設定余裕度（書込みマージ
ン）の不足などがありうるので、書込み器を用い
て所望のプログラムを書き込む場合、その書込み
条件の設定が適当でないときには、数度の書込み
によつて始めて確実な書込みが行われ、または全
く書込みが行われないというおそれがあつた。
どによる書込み条件の設定余裕度（書込みマージ
ン）の不足などがありうるので、書込み器を用い
て所望のプログラムを書き込む場合、その書込み
条件の設定が適当でないときには、数度の書込み
によつて始めて確実な書込みが行われ、または全
く書込みが行われないというおそれがあつた。
したがつて、そのように書込みマージンが少な
いPROMは、その情報記憶保持特性も悪いものが
多く、それを長期間使用していると、プログラ
ム、データなどの書込み内容が変化するおそれが
あるので、その使用システムのシステムダウンを
もひきおこしかねないというものである。
いPROMは、その情報記憶保持特性も悪いものが
多く、それを長期間使用していると、プログラ
ム、データなどの書込み内容が変化するおそれが
あるので、その使用システムのシステムダウンを
もひきおこしかねないというものである。
このように、PROMに対して確実にプログラ
ム、データなどを書込むことは、非常に重要なこ
とであるにもかかわらず、従来は、その書込みマ
ージンまたは書込み特性を容易に測定する手段が
なく、ユーザが書込みマージンを容易、確実に知
ることができなかつたので、そのチエツクに多大
の手数を要し、また、充分な信頼性が得られなか
つた。
ム、データなどを書込むことは、非常に重要なこ
とであるにもかかわらず、従来は、その書込みマ
ージンまたは書込み特性を容易に測定する手段が
なく、ユーザが書込みマージンを容易、確実に知
ることができなかつたので、そのチエツクに多大
の手数を要し、また、充分な信頼性が得られなか
つた。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をな
くし、PROMの書込みを効率化しうるとともに、
あらかじめ書込みマージン不足のものを除去して
信頼性を得るための書込みマージン測定装置を提
供することにある。
くし、PROMの書込みを効率化しうるとともに、
あらかじめ書込みマージン不足のものを除去して
信頼性を得るための書込みマージン測定装置を提
供することにある。
本発明の特徴は、被測定の書込み可能な読出し
専用メモリに対して指定された書込み条件で書込
みを行いうる書込み手段と、これに対し、上記被
測定の書込み可能な読出し専用メモリの一部また
は全部のアドレスを複数ブロツクに分割し、その
分割数に応じて定格書込み条件以下の任意の書込
み条件を指定しうる書込み条件可変設定手段と、
書込みパルスの電圧、電流、幅、立上り時間など
の各書込み条件を、定格書込み条件より弱いもの
から順次に定格書込み条件まで段階的に変化さ
せ、それぞれ、上記被測定の書込み可能な読出し
専用メモリの分割されたブロツクに書込み、その
ブロツクごとの書込み結果を照合し、各ブロツク
ごとの書込み率を算出し、各ブロツクごとの書込
み率より算出した書込みマージンその他必要な結
果を表示または記録しうる表示・記録手段と、こ
れら各手段に係る必要な制御・処理を行いうる制
御・処理手段と含んで構成した書込みマージン測
定装置にある。
専用メモリに対して指定された書込み条件で書込
みを行いうる書込み手段と、これに対し、上記被
測定の書込み可能な読出し専用メモリの一部また
は全部のアドレスを複数ブロツクに分割し、その
分割数に応じて定格書込み条件以下の任意の書込
み条件を指定しうる書込み条件可変設定手段と、
書込みパルスの電圧、電流、幅、立上り時間など
の各書込み条件を、定格書込み条件より弱いもの
から順次に定格書込み条件まで段階的に変化さ
せ、それぞれ、上記被測定の書込み可能な読出し
専用メモリの分割されたブロツクに書込み、その
ブロツクごとの書込み結果を照合し、各ブロツク
ごとの書込み率を算出し、各ブロツクごとの書込
み率より算出した書込みマージンその他必要な結
果を表示または記録しうる表示・記録手段と、こ
れら各手段に係る必要な制御・処理を行いうる制
御・処理手段と含んで構成した書込みマージン測
定装置にある。
なお、これを詳述すれば、書込み条件、すなわ
ち、書込みパルスの電圧、電流、幅、立上り時間
などを、定格書込み条件より弱いものから順次に
定格書込み条件まで段階的に変化させ、それぞ
れ、被測定のPROMの分割されたブロツクに書込
み、そのブロツクごとに書込み結果を照合し、い
ずれの書込み条件以上で充分な書込みが行われて
いるかを判定することによつて書込みマージンの
測定を可能とするものである。
ち、書込みパルスの電圧、電流、幅、立上り時間
などを、定格書込み条件より弱いものから順次に
定格書込み条件まで段階的に変化させ、それぞ
れ、被測定のPROMの分割されたブロツクに書込
み、そのブロツクごとに書込み結果を照合し、い
ずれの書込み条件以上で充分な書込みが行われて
いるかを判定することによつて書込みマージンの
測定を可能とするものである。
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明す
る。
る。
第１図は、本発明に係る書込みマージン測定装
置の一実施例のブロツク図、第２図は、そのフロ
ーチヤートである。
置の一実施例のブロツク図、第２図は、そのフロ
ーチヤートである。
ここで、１０は、書込みマージン測定装置、１
１は、制御・処理手段に係る処理装置（MPU）、
１２は、同内部メモリ（RAM）、１３は、同入出
力制御回路（IOC）、１４は、書込み手段に係る
パルス発生器（PG）、１５は、書込み条件可変設
定手段に係るキーボード（KBD）、１６は、表
示・記録手段に係るデイスプレイ（CRT）、２０
は、被測定のPROMである。
１は、制御・処理手段に係る処理装置（MPU）、
１２は、同内部メモリ（RAM）、１３は、同入出
力制御回路（IOC）、１４は、書込み手段に係る
パルス発生器（PG）、１５は、書込み条件可変設
定手段に係るキーボード（KBD）、１６は、表
示・記録手段に係るデイスプレイ（CRT）、２０
は、被測定のPROMである。
まず、書込みマージンの測定に先だち、PROM
２０（例えば、ヒユーズ焼切り形のもの）の一部
または全部のメモリセルを適宜に複数ブロツクに
分割し、その分割数に対応する各書込み条件を設
定し、そのデータを内部メモリ１２に記憶させる
（第２図のステツプ）。
２０（例えば、ヒユーズ焼切り形のもの）の一部
または全部のメモリセルを適宜に複数ブロツクに
分割し、その分割数に対応する各書込み条件を設
定し、そのデータを内部メモリ１２に記憶させる
（第２図のステツプ）。
この書込み条件データは、例えば、弱書込み、
中程度書込み、定格書込みに応じ、その焼切り電
圧、印加寺間、立上り時間および適用ブロツクの
書込みアドレス指定などからなり、キーボード１
５から入出力制御回路１３、処理装置１１を介し
て内部メモリ１２に記憶される。
中程度書込み、定格書込みに応じ、その焼切り電
圧、印加寺間、立上り時間および適用ブロツクの
書込みアドレス指定などからなり、キーボード１
５から入出力制御回路１３、処理装置１１を介し
て内部メモリ１２に記憶される。
なお、PROM２０の書込みを行うべきアドレス
指定は、処理装置１１により、乱数などに従つて
ランダムに決定され、そのアドレスは、内部メモ
リ１２に記憶されている。
指定は、処理装置１１により、乱数などに従つて
ランダムに決定され、そのアドレスは、内部メモ
リ１２に記憶されている。
また、本測定装置１０の制御は、あらかじめ内
部メモリ１２に格納された所定のプログラムに従
い、処理装置１１によつて行われる。
部メモリ１２に格納された所定のプログラムに従
い、処理装置１１によつて行われる。
次に、測定動作の開始させるようにキーボード
１５で所定の操作（例えば、測定開始ボタンの操
作）が行われると、本装置の測定のための動作が
起動される（ステツプ）。
１５で所定の操作（例えば、測定開始ボタンの操
作）が行われると、本装置の測定のための動作が
起動される（ステツプ）。
この起動操作は必ずしも必要でなく、上記ステ
ツプの終了により、自動的に起動が行われるよ
うにすることもできる。
ツプの終了により、自動的に起動が行われるよ
うにすることもできる。
これにより、処理装置１１は、まず、入出力制
御回路１３を介し、PROM２０の全アドレスにつ
いてデータ読取りを行い、全アドレスが未書込み
のものであるか否かのチエツク（ブランクチエツ
ク）を行う（ステツプ）。
御回路１３を介し、PROM２０の全アドレスにつ
いてデータ読取りを行い、全アドレスが未書込み
のものであるか否かのチエツク（ブランクチエツ
ク）を行う（ステツプ）。
その結果、書込み済のアドレスがあれば、その
アドレス、データなど必要な事項をデイスプレイ
１６に表示せしめ、PROM２０を他のものに交換
し、または書込み消去などの処置を行いうるよう
にする（ステツプ）。
アドレス、データなど必要な事項をデイスプレイ
１６に表示せしめ、PROM２０を他のものに交換
し、または書込み消去などの処置を行いうるよう
にする（ステツプ）。
全アドレスが未書込みであれば、分割されたブ
ロツクごとに、順次、所定の書込み条件、書込み
アドレスを内部メモリ１２から取り出し、それら
を入出力制御回路１３を介してパルス発生器１４
に指定し、PROM２０へ所定条件で書込みを行わ
せる（ステツプ）。
ロツクごとに、順次、所定の書込み条件、書込み
アドレスを内部メモリ１２から取り出し、それら
を入出力制御回路１３を介してパルス発生器１４
に指定し、PROM２０へ所定条件で書込みを行わ
せる（ステツプ）。
書込み動作が完了すると、処理装置１１は、
PROM２０の各ブロツクごとに、順次、その各ア
ドレスに対する書込みデータを読み取り、内部メ
モリ１２に記憶されている当該アドレスに係るデ
ータと照合し、その書込み率（例えば、書込みが
行われるべきアドレス数に対し、実際に書込みが
行われているアドレス数の比率）その他必要なデ
ータを算出する（ステツプ）。
PROM２０の各ブロツクごとに、順次、その各ア
ドレスに対する書込みデータを読み取り、内部メ
モリ１２に記憶されている当該アドレスに係るデ
ータと照合し、その書込み率（例えば、書込みが
行われるべきアドレス数に対し、実際に書込みが
行われているアドレス数の比率）その他必要なデ
ータを算出する（ステツプ）。
次いで、その照合結果（後述の書込みマージン
の値を含む。）を各ブロツクごとにデイスプレイ
１６に表示せしめて測定動作を終了する（ステツ
プ）。
の値を含む。）を各ブロツクごとにデイスプレイ
１６に表示せしめて測定動作を終了する（ステツ
プ）。
以上により、PROM２０の各ブロツクごとに書
込み率が判明するので、例えば、定格書込み条件
と定格以下の書込み条件で書込み率が100％とな
るときの焼切り電圧、パルス幅などの差を書込み
マージンの値として判定することができる。
込み率が判明するので、例えば、定格書込み条件
と定格以下の書込み条件で書込み率が100％とな
るときの焼切り電圧、パルス幅などの差を書込み
マージンの値として判定することができる。
以上、被測定のPROM２０をヒユーズ焼切り形
のものとして説明したが、その他の接合部破壊
形、紫外線消去形のものであつても、書込みを行
うパルス発生器１４を適合する書込み形式とする
ことにより、同様に書込みマージンを測定するこ
とができる。
のものとして説明したが、その他の接合部破壊
形、紫外線消去形のものであつても、書込みを行
うパルス発生器１４を適合する書込み形式とする
ことにより、同様に書込みマージンを測定するこ
とができる。
以上、詳細に説明したように、本発明によれ
ば、PROMの書込みマージンを任意的、系統的に
可変として測定しうる装置を実現することができ
るので、メモリのスクリーニングまたは最適書込
み条件を知ることができ、情報記憶保持特性が良
好な確実なプログラム書込みに、ひいては、その
メモリを使用したシステムの信頼性向上に顕著な
効果が得られる。
ば、PROMの書込みマージンを任意的、系統的に
可変として測定しうる装置を実現することができ
るので、メモリのスクリーニングまたは最適書込
み条件を知ることができ、情報記憶保持特性が良
好な確実なプログラム書込みに、ひいては、その
メモリを使用したシステムの信頼性向上に顕著な
効果が得られる。
第１図は、本発明に係る書込みマージン測定装
置の一実施例のブロツク図、第２図は、そのフロ
ーチヤートである。 １０…書込みマージン測定装置、１１…処理装
置、１２…内部メモリ、１３…入出力制御回路、
１４…パルス発生器、１５…キーボード、１６…
デイスプレイ、２０…PROM。
置の一実施例のブロツク図、第２図は、そのフロ
ーチヤートである。 １０…書込みマージン測定装置、１１…処理装
置、１２…内部メモリ、１３…入出力制御回路、
１４…パルス発生器、１５…キーボード、１６…
デイスプレイ、２０…PROM。
Claims (1)
- １ 被測定の書込み可能な読出し専用メモリに対
して指定された書込み条件で書込みを行いうる書
込み手段と、これに対し、上記被測定の書込み可
能な読出し専用メモリの一部または全部のアドレ
スを複数ブロツクに分割し、その分割数に応じて
定格書込み条件以下の任意の書込み条件を指定し
うる書込み条件可変設定手段と、書込みパルスの
電圧、電流、幅、立上り時間などの各書込み条件
を、定格書込み条件より弱いものから順次に定格
書込み条件まで段階的に変化させ、それぞれ、上
記被測定の書込み可能な読出し専用メモリの分割
されたブロツクに書込み、そのブロツクごとの書
込み結果を照合し、各ブロツクごとの書込み率を
算出し、各ブロツクごとの書込み率より算出した
書込みマージンその他必要な結果を表示または記
録しうる表示・記録手段と、これら各手段に係る
必要な制御・処理を行いうる制御・処理手段とを
含んで構成したことを特徴とする書込みマージン
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56023144A JPS57138100A (en) | 1981-02-20 | 1981-02-20 | Write margin measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56023144A JPS57138100A (en) | 1981-02-20 | 1981-02-20 | Write margin measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57138100A JPS57138100A (en) | 1982-08-26 |
| JPS6249680B2 true JPS6249680B2 (ja) | 1987-10-20 |
Family
ID=12102364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56023144A Granted JPS57138100A (en) | 1981-02-20 | 1981-02-20 | Write margin measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57138100A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7190617B1 (en) | 1989-04-13 | 2007-03-13 | Sandisk Corporation | Flash EEprom system |
-
1981
- 1981-02-20 JP JP56023144A patent/JPS57138100A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57138100A (en) | 1982-08-26 |
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