JPS62501310A

JPS62501310A - 集積回路パッケ−ジをテストする装置のための接点セット

Info

Publication number: JPS62501310A
Application number: JP61500067A
Authority: JP
Inventors: リー　ケニス　アール; カランダー　アーネスト　エル　ジユニア
Original assignee: アセコ　コ−ポレ−シヨン
Priority date: 1984-12-10
Filing date: 1985-12-09
Publication date: 1987-05-21
Also published as: EP0207129A4; US4686468A; EP0207129A1; WO1986003591A1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】集積回路パッケージをテストする装置のための接点セットｌ肌勿立互本発明は、一般に、集積回路に対して電気的及び電子的なテストを行なうテスト装置の分野に係り、特に、このような装置のテスト器具に用いる接点セットであって、テストを行なえるようにするための集積回路への接続を容易にする接点セットに係る。

光丘伎直集積回路パッケージは、製造後に、電気的及び電子的に機能するかどうか判断すべくテストしなければならない。集積回路のテスト器具は、典型的に、複数の接点ストリップより成る接点セットを有しており、上記接点ストリップは、ベース部材から上方に延びていると共に、パッケージのリードをテスト装置内の電気的なテスト回路に接続するためのリードを構成する。

典型的に、上記ストリップは、平らな接触面域を形成するように曲げられる自由端を有している。ラムが集積回路パッケージを取り上げ、接点ストリップの接点面域に対してテスト整列状態に配置し、集積回路をテスト装置に接続してテストを行なえるようにする。

公知の集積回路テスト装置には多数の欠点がある。これらの幾つかにおいては、器具に使用された接点セットの接点ストリップを個々に整列しなければならないが、これは、熟練者を必要とする困薙で且つ時間のかぎる作業であるａｌつのストリップが折れたり又はテスト整列位置から曲がっていたりする場合には、全整列操作を実行しなければならない。接点ストリップの構成、即ち、上方に片持梁支持されていて接触を行なう先端に屈曲部があり且つラムによって接触力が与えられるような構成により、接点ストリップの寿命が比較的短く、従って、上記した時間のかきる修理作業を比較的頻繁に行なわねばならない。更に、異なったリード構成のパッケージをテストしようとする場合には、正しい向きの接点セットを設けるように時間のかＮる交換作業を行なわねばならない。又、公知テスト器具の接点セットの接点ストリップは、典型的に、長さが比較的長く。

従って、キャパシタンス及びインダクタンスが比較的大きなものとなって、高周波数のテスト能力に制約をきたす。

見匪例又豆本発明は、集積回路パッケージを受け入れてそのリードと電気的接触を行ない、集積回路を電気的及び電子的にテストできるようにするテスト器具に用いる新規で且つ改良された接点セットを提供するものである。

要約すれば１本発明は、支持シートを含む平らな接点セットを具備し、上記支持シートの面は、該シートと同一平面となる複数の導電性接点ストリップを支持する。上記支持シートは、テスト位置を画成する中央の穴を有し、集積回路パッケージはこの中央穴に挿入される。接点ストリップは、片持梁形態で。

中央穴の縁上に延びる。中央穴の寸法並びに接点ストリップの向き及び位置は、接点セットがテスト器具に配置され且つ集積回路パッケージがテストのために器具に取り付けられた時に。

集積回路パッケージが一般的に上記穴に嵌合され且つそのリードが中央穴へと延びている接点ストリップの部分に接触するようなものとされる。

１つの実施例において、上記支持シートは、弾力性のものであって、接点ストリップを下から支持する下部支持部材と、接点ストリップを中央穴の領域の外部に保持し且つこれをカッ（−する上部保持部材とを備えている。上部シート部材には、テスト装置Ｕへ接触を行なえるようにするテスト接触ノツチも形成されている。

本発明の新規な接点セットでは、プリント基板トレースを形成する技術と同様のエツチング技術を使用して接点ストリップを比較的容易に形成することができる。接点セットをテスト器具に取り付ける時には、公知接点セットの場合に典型的であった手動の接点ストリップ整列は必要とされない。従って、本装置の停止時間を短縮することができる。更に、新規な接点セットに含まれた接点ストリップの構成により、接点ストリップの寿命を延ばすことができ、テスト装置の停止時間を更に短縮することができる。これに加えて１本発明は、接点ストリップの長さを減少し、キャパシタンス及びインダクタンスを下げ、接点セットの高周波数テスト容量を増加することができる。

又、本発明は、接点セットを受け入れて支持する新規なテスト器具も提供する。

このテスト器具は、集積回路パッケージを接点セントの中央穴のテスト整列位置に案内するガイドを備えているにの器具は、一実施例においては、ラムが集積回路パッケージを除去できない場合にこのパッケージを機械的に放出することのできる放出部材と、その周囲でテスト装置を接点セットに電気的に接続できるようにするコネクタとを備えている。

量」野鉱隨星ｊＩ幻几本発明は、特許請求の範囲に特に指摘する０本発明の上記及び更に別の効果は、添付図面を参照した解説のための実施例の以下の詳細な説明から明らかとなろう。

第１Ａ図及び第１Ｂ図は、本発明によって構成された新規な接点セットの各々上面図及び断面図、そして第２Ａ図及び第２Ｂ図は、接点セットを受け入れて支持するテスト器具の各々部分断面側面図及び上面図であって、集積回路パッケージを受け入れてそのリードを電気的及び電子的テストのために電気的に接続するところを示した図である。

尖盈勇第１Ａ図及び第１Ｂ図を説明すれば、本発明によって構成された接点セット１１は、シート材料の上部シート部材２２と下部シート部材２３との間にサンドインチされた複数の平らな接点ストリップ２１を備えている。一実施例においては、カプトン（Ｋａｐｔｏｎ）のような弾力性の絶縁材料がシート部材２２及び２３のシート材料として使用される。上部及び下部の両シート部材は、参照番号２４で示された長方形の中央穴を有しており、下部シート部材は、接点ストリップの下で中央穴へと若干延び込んでいる複数の舌状部２５を備えている。接点ストリップは、片持梁形態で舌状部上を穴２４の領域へと延びている。

又、上部シート部材２２は、その外縁に形成された複数の一般的に長方形のテストアクセスノツチ２６を備えており、これらノツチは、接点セット１１の外周付近で接点ストリップの端部を露出させ、接点セット１１の使用時にテスト用のコネクタを接点ストリップ２１に接続できるようにする。接点ストリップ２１は、必要に応じてナスｌ−用コネクタのピンを受け入れるために、ノツチ２６によって露出された領域にピン穴２８を設けることができる。接点ストリップ２１、穴２４．舌状部２５、ノツチ２６及びピン穴２８の構成は、′テストしようとする集積回路パッケージの形状及びそこから延びるリードの構成によって左右されることが当業者に明らかであろう。

接点ストリップは、導電性材料の１枚のシートから形成することができ、このシートは所望の接点ストリップパターンを形成するようにエツチングされる。このエツチングプロセス中のエツチングパターンは、シート材料で形成された外部の接点フレーム（図示せず）によって支持された接点ストリップを残すようなものであり、このフレームは接点セットが完成した後に後で除去することができる。

この形成された接点ストリップの上面及び下面にシート部材２２及び２３を形成する絶縁材料の層が付着される。接点フレームが除去された後に得られる接点セットは、第２Ａ図及び第２Ｂ図について以下に述べるようなテスト器具に取り付けることができる。

新規な接点セットは、公知技術で提俳された接点セットに勝る多数の効果を発揮する。新規な接点セットにおいては、接点ストリップを公知のものよりも相当に短くすることができ。

これにより、接点セラ１〜によって与えられる付加的なキャパシタンス及びインダクタンスを減少し、高周波数のテスト容量を増大することができる。新規な接点セットは、公知の接点セットよりも容易に形成でき、公知の接点セットよりも迅速に交換でき、停止時間が短縮される。更に、・この交換作業は、公知技術において必要とされたように集積回路リードとの整列を確保するための接点ストリップの整列を必要とせず、従って、交換を行なうのにあまり熟練度が要求されない。全ての接点ストリップを単一の平面に設けて支持シート部材によってテスト位置付近に支持することにより、ストリップが必要なテスト整列位置から逸脱するおそれが最小とされる。

第２Ａ図及び第２Ｂ図は、新規な接点セット１１を支持するのに適したテスト器具１０を示している。このテスト器具１０は、下部支持部材１２と上部ガイド部材１３との間にクランプされた接点セット１１を支持している。ガイド部材は、長方形又は正方形の周囲１５によって画成された中央のガイド穴１４を備えており、この穴は、テストされる集積回路パッケージと同じサイズ及び形状を有している。ガイド穴は、一般のラム１７（第２Ａ図）に支持された集積回路パッケージ１６の移動を案内し５ラムが集積回路パッケージ１６をテスト器具１ｏに当てた時にリード２０が接点ストリップ２１に接触するようになる。ラムは中央のオリ°フィス１８を備え、これを通して真空へ移動できると共に、テストが完了した時にテスト器具から取り外すことができる１機械的な取付機構ではなくて、真空にょる取付機構を使用することにより、ラム１７がパッケージ１６を器具１０に対して前進したテスト整列位置へ移動させた時にガイド穴１４がパッケージ１６を接点部材１１と正しく整列指せるように水平に移動させることができる。

第２Ａ図及び第２Ｂ図を説明すれば、下部支持部材及び上部ガイド部材は、上部シート部材２２のノツチ２６及び接点ストリップ２１のピン穴２８の位置に対応する領域に複数のテストアクセス穴２７を備えている。上方に延びる複数のピン４６を有したテスト用コネクタ４５が下部支持部材の各穴２７に配置され、これらのピンは接点ストリップのピン穴２８を通して上部ガイド部材の穴２７へと延びている。上部ガイド部材は、テスト用コネクタ４５を器具に容易に取り付けられるように穴２７の両端付近に穴４８のような構成を含むことができる。一実施例において、テスト用のコネクタは、ねじ切りされたロッド及びナツト４７によってテスト器具に取り付けられ、ロッドは穴４８を通して延び、ナラ１−は上部ガイド部材１３の上面にあるくぼみ４８においてロッドにねじ込まれる。テスト装置への電気的な接続は、ピン４９を通して行なわれる。

器具１ｏの一実施例においては、ガイド部材１３は、ガイド穴１４の周囲１５に垂下したリップ１９を備えている。このリップ１９は、穴２４及び２５の付近の領域において接点部材１１の一部分を若干下方に押しやり、これにより、中央穴へと延びている接点ストリップ２１の自由端及び舌状部２５を下方にカーブさせる。舌状部２５が設けられていることにより、下部シート部材がリップ１９によってストレスを受けた時に接点ストリップが下方にカーブされ、下部ブロックの縁１３から生じるストレスの集中は最小とされる。接点ストリップ２１がこのようにカーブすることにより、ラムがパッケージを接点ストリップと接触させる前進したテスト位置へ下げる時に集積回路パッケージ１６のリードが接点ストリップを大きく拭うようにすることができ、ストリップに存在する酸化物を完全に除去し且つリードと接点ストリップとの間に充分な電気的接触を確保することができる。又、接点ストリップがカーブすることにより、パッケージを器具に挿入したり取り外したりする時に接点ストリップに繰返し加えられるストレスを減少することができ、ストリップの作動寿命を延ばすことができる。下部支持部材１２に設けられた複数の上方に延びるポスト５０は、器具１ｏに向かう集積回路パッケージ１６の下方移動の程度を制限する。

又、器具１０は、ラムがテストの終わりに集積回路パッケージを取り外せない場合に（これは、例えば、オリフィス１８を通して送られる真空が下がった場合に生じる）、集積回路パッケージをテスト位置から放出する助けをするようなどポット運動可能な集積回路パッケージの放出機構３２も備えている。

この放出機構３２は、くぼみ２９に配置されており、フレーム３３を備えている。そのピボット部材３４は、外方に、即ち、第２Ｂ図に示すように上方及び下方に延び、支持部材１２のくぼみ３５に嵌合している。このフレームは、ガイド部材１３の出機構のアーム３６は、フレーム３３から突出し、接点部材１１の穴２４によって画成されたテスト位置の下に延びる。アームの端にある球状のスペーサ３７は、集積回路パッケージがラムによって下げられた時にパッケージの底面に接触し、フレーム３３を第２Ａ図で見て時計方向にピボット運動させる。バネ（図示せず）により、放出機構は、第２図に示す位置、即ち、反時計方向に若干回転された位置に偏位される。ラムが下方に移動して集積回路をテストのための位置へもっていく時には、これがバネの力に対抗して放出機構を時計方向に回転させる。

フレームの時計方向の回転により放出機構のレール４０がラム１７の側部支持面４２に向かって回転される。

通常、レールは、この面と接触する直前に停止し、ラムを引っ込める間に、放出機構にか＼るバネの力によってこの面がら離れるように回転され、通常の作動状態のもとでは面４２に接触させる必要がない。

作動中に、テストを開始させるために、ラム１７が集積回路パッケージ１６を該パッケージの容器から引っ込め、オリフィス１８を通して送られる真空によってアームがパッケージを把持できるようにする。ラムはパッケージをテスト器具１ｏに移動し、ガイド部材１３のガイド穴１４に向けて下げる。パッケージがその前進したテスト位置に向けて下げられた時に接点ストリップ２１と整列状態になる正しい向きをとらない場合には、ガイド穴の周囲１５によってパッケージが正しい向きをとるようにされ、ラムの下面を横切って移動される６ラムがパッケージをテスト位置に進ませるにつれて、リード２０が接点ストリップ２１に接触し、これらを更に若干下方にカーブさせ、こ九により、ストリップは、僅かな上向きの偏位力を維持し、ストリップはり−１〜２０と良好な電気的接触状態に維持される。更に、ラムがパッケージを進ませるにつれて、パンケージ接触スペーサ３７の下面が放出アーム３６を下方に押しやり、放出部材３２をピボット運動させ、放出機構のレールがラム１７の保持面４２に向かって回転する。ポスト５０は。

器具１０におけるパッケージの下方移動を制限する。

ラムが集積回路パッケージをテスト位置に進めた後に、テスト装置の他の回路（１図示せず）が回路チップに対して電気的なテストを実行する。電気的な接触は、コネクタ４５及び接点ストリップ２１を介して行なわれる。テストが完了すると、ラムが引っ込められ、即ち、第１Ａ図に示すように上方に移動される。これと同時に、バネが放出フレーム３３を反時計方向に回転し、レール４ｏが而４２を越えることができる０通常の作動状態のもとでは、ラムを通して送られる真空は、ラムが引っ込められる時に集積回路をテスト位置から取り去るに充分なものである。これらの状態のもとでは、アーム３６は集積回路に著しい力を加えることなく短い距離にわたって単にラムに追従する。然し乍ら、回路がテスト器具においてジャミングを生じ、ラムが引っ込む時に回路を外して取り去るのに充分な力が真空によって与えられない場合には、放出機構のアーム３６がその開放（即ち１時計方向に回転した）位置に保たれ、レール４つはラムが引っ込む時に面４２の経路に保たれる。従って、面４２はレール４ｏを押しつけ、これにより、ラムの全ての力を加え、アーム３６を回転させて、集積回路を取り外すようにする。

以上２本発明の１つの解説のための実施例を説明した０本発明は１種々の基本構造を有する別の形態で実施しても本発明の効果の幾つか或いはその全てを実現できることが当業者に明らかであろう。このような全ての変更は請求の範囲に網羅されるものとする。

米国特許によって保証されることが所望される新規な請求の範囲は１次の通りである。

ＦＩＧ、ＩＡＦＩＧ、ＩＢＦＩＧ、　２　Ａ特許庁長官　黒　１）明　雄　殿１、特許出願の表示　ＰＣＴ／ＵＳ８５１０２４３３３、特許出願人名称　アセコ　コーポレーション６、添付書類の目録 ■、削除２、（補正）上記接点支持部材は、フレキシブルなものである請求の範囲第１８項に記載の接点セット。

３、削除４、（補正）上記接点セットは外周を有し、上記接点ストリップ手段は上記接点セットの外周へと延び、上記接点支持シート又は上記接点保持シートの少なくとも一方はその外周において上記接点ストリップ手段の領域にノツチを形成する手段を有し、接点ストリップ手段への電気的接続を特徴とする請求の範囲第１８項に記載の接点セット。

５、上記接点ストリップ手段は、更に、電気コネクタ手段のピンを受け入れるためのピン穴手段を外周の付近に含んでいる請求の範囲第４項に記載の接点セット。

６、削除７、削除８、削除９、削除１０、削除１１、削除１２、（補正）集積回路パッケージのリードとテスト装置との接続を容易にするためのテスト器具において、上記テスト装置はラム手段を具備し、このラム手段は、集積回路パッケージを支持してこれをテストの開始時に上記テスト器具と整列するテスト位置へ進ませそしてテストの終わりに集積回路パッケージを上記テスト器具から引っ込めるものであり、上記テスト器具は、Ａ、接触部材を具備し、この接触部材は。

ｉ、集積回路パッケージを受け入れるように構成された中央穴を有する支持シートと、ｉ、上記支持シートの表面上に配置され、上記支持シートの中央穴の上の領域へと延び、集積回路パッケージがテスト整列状態にある時に該パッケージのリードと接触するような構成にされた複数の接点ストリップ手段と、■、上記接点ストリップ手段の上にあり、集積回路パッケージを受け入れるように構成された中央の穴を有する制限シートと。

■、上記支持シートから外方に延び、上記支持シートの中央穴付近に接点ストリップ手段を支持する舌状部平段とを備えており、この舌状部は、上記集積回路パッケージによって上記接触ストリップ手段に与えられる力に応じて屈曲して上記接点ストリップの疲労を減少することができ、Ｂ、上記接点部材をその前進したテスト位置に支持するための支持手段を更に具備し、この支持手段は、集積回路パッケージを上記接点部材の接点ストリップ手段と接触させる上記前進したテスト整列位置へ案内するガイド手段を含んでいることを特徴とするテスト器具。

１３、上記支持手段は、下部支持部材と上部ガイド部材とを含み、これらの支持部材及びガイド部材はこれらの間に上記接点部材をクランプするものであり、Ａ、上記支持部材は。

ｊ、上記中央穴を上記前進したテスト位置と整列させるように上記接点部材を支持する上面と、ｉｉ、上記ラム手段が集積回路パンケージを上記テスト位置へ進ませる時に上記接点ストリップを下方にたわませるように」二記穴の下に設けられたテスト整列くぼみとを有し。

Ｂ、上記上部ガイド部材は、上記接点部材の中央穴の上にテーパ付きの側壁によって画成されたガイド穴を含み、これら側壁は、上記ラム手段が集積回路パッケージを上記前進したテスト位置へ垂直に移動する時に集積回路パッケージを上記接点ストリップと整列するように水平に押しやる請求の範囲第１２項に記載のテスト器具。

１４、上記接点支持部材及び接点ストリップ手段はフレキシブルなものであり、上記上部ガイド部材は、ここから垂下したリップ手段を上記ガイド穴の周囲に備えていて、上記接点支持部材及び上記接点ストリップを上記くぼみに向かって下方に押しやる請求の範囲第１３項に記載のテスト器具。

１５、上記接点支持部材は、上記接点ストリップ手段の下にあるフレキシブルな接点支持シートと、上記接点ストリップ手段の上にあるフレキシブルな接点保持シートとを備え、これらの接点支持シート及び接点保持シートは、上記中央穴を形成するように組み合わされる穴を有し、上記接点支持シートは、更に、上記中央穴において上記接点ストリップ手段の下に部分的に延びる舌状部手段を備えている請求の範囲第１４項に記載のテスト器具。

１６、上記支持手段は、更に、Ａ、上記支持手段の支持部材にあって、上記テスト用の整列くぼみと連通ずる手段を含んでいる放出用のくぼみ手段と。

Ｂ、放出手段とを備えており、この放出手段は。

１、上記放出くぼみ手段に枢着された放出フレーム手段と、 ■、この放出フレーム手段に接続され、上記テスト用の整列くぼみへと延びている放出アーム手段であって、集積回路パッケージがその前進したテスト位置にある時の下部位置と上部位置との間で上記放出フレーム手段によって移動することのできる放出アーム手段と、 ■、上記放出手段に接続されたカム手段であって、集積回路パッケージがその前進したテスト位置にある時に上記ラム手段に接触するように構成されたカム手段とを備えており。

上記ラム手段はこのカム手段をして上記放出アーム手段をピボット運動させ、これにより、上記ラム手段が上記前進したテスト位置から引っ込む時に上記放出アーム手段を持ち上げて集積回路パッケージを上記前進したテスト位置から押し出すようにする請求の範囲第１３項に記載のテスト器具。

１７、上記支持手段は、更に、テスト装置に対する上記接点ストリップ手段の電気的接触を容易にする手段を有している請求の範囲第１２項に記載のテスト器具。

１８、（新）集積回路パッケージのリードとテスト装置との接続を容易にするための接点セットにおいて。

ａ）集積回路パッケージを受け入れるように構成された中央穴を有する支持シートと、ｂ）上記支持シートの上面に配置され、上記支持シートの中央穴の上の領域へと延びそして集積回路パッケージがテスト整列状態にある時に該パッケージのリードと接触するような構成にされた複数の接点ストリップ手段と、Ｃ）上記接点ストリップ手段の上にあり、集積回路パッケージを受け入れるように構成された中央穴を上記支持シートの中央穴の上に有する制限シートと、ｄ）上記支持シートから支持シートの中央穴へと外方に延び、支持シートの中央穴付近に上記接点ストリップ手段を支持する舌状部手段とを具備し、この舌状部は、上記集積回路ノ（ツケージによって上記接点ストリップ手段に与えられる力に応じて屈曲し、上記接点ストリップの疲労を減少することができることを特徴とする接点セット。

１９、（新）上記舌状部手段は、上記支持シートの一体的な延・　長部である請求の範囲第１８項に記載の接点セット。

２０、（新）上記接点ストリップ手段は、上記舌状部手段のまわりで屈曲するに充分な程上記穴へと延び込み、上記疲労を特徴とする請求の範囲第１８項に記載の接点セット。

国際調査報告

Claims

【特許請求の範囲】

１．集積回路パッケージのリードとテスト装置との接続を容易にするための接点セットにおいて、この接点セットは、中央穴を有する平らな絶縁接点支持部材を具備し、この接点支持部材は、これと同一平面にある複数の接点ストリップ手段をその表面上に支持し、これらの接点ストリップ手段は、上記支持部材の周囲を越えて上記穴へと突出し、集積回路パッケージがテスト整列状態にある時に該パッケージのリードに接触するように構成されたことを特徴とする接点セット。
２．上記接点支持部材は、フレキシブルなものである請求の範囲第１項に記載の接点セット。
３．上記接点支持部材は、上記接点ストリップ手段の下にあるフレキシブルな接点支持シートと、上記接点ストリップ手段の上にあるフレキシブルな接点保持シートとを備え、上記接点ストリップ手段、上記接点支持シート及び上記接点保持シートは、上記中央穴を形成するように組み合わされる穴を有し、上記接点支持シートは、更に、上記中央穴において上記接点ストリップ手段の下に部分的に延びる舌状部手段を備えている請求の範囲第１項に記載の接点セット。
４．上記接点セットは外周を有し、上記接点ストリップ手段は上記接点セットの外周へと延び、上記接点支持シート又は上記接点保持シートの少なくとも一方はその外周において上記接点ストリップ手段の領域にノッチを形成する手段を有し、接点ストリップ手段への電気的接続を容易にする請求の範囲第３項に記載の接点セット。
５．上記接点ストリップ手段は、更に、電気コネクタ手段のピンを受け入れるためのピン穴手段を外周の付近に含んでいる請求の範囲第４項に記載の接点セット。
６．集積回路パッケージのリードとテスト装置との接続を容易にするための接点セットにおいて、この接点セットは、集積回路パッケージを受け入れるためのテスト整列位置を画成する手段を含む平らな絶縁接点支持部材を具備、この接点支持部材は、これと同一平面にある複数の接点ストリップ手段を支持し、これらの接点ストリップ手段は、上記支持部材の表面上を、上記テスト整列位置から、テスト装置へ竜気的に接続する位置まで延びていることを特徴とする接点セット。
７．上記のテスト整列位置を画成する手段は、テストを受ける集積回路パッケージの周囲に実質的に対応する周囲によって画成された穴手段を備え、上記接点ストリップ手段は、上記周囲を越えて上記穴上へと突出し、集積回路パッケージがテスト整列状態にされた時に該パッケージのリードと接触するような構成にされる請求の範囲第６項に記載の接点セット。
８．上記接点支持部材はフレキシブルなものである請求の範囲第７項に記載の接点セット。
９．上記接点支持部材は、上記接点ストリップ手段の下にあるフレキシブルな接点支持シートと、上記接点ストリップ手段の上にあるフレキシブルな接点保持シートとを備え、上記接点ストリップ手段、上記接点支持シート及び上記接点保持シートは、上記中央穴を形成するように組み合わされる穴を有し、上記接点支持シートは、更に、上記中央穴において上記接点ストリップ手段の下に部分的に延びる舌状部手段を備えている請求の範囲第７項に記載の接点セット。
１０．上記接点セットは外周を有し、上記接点ストリップ手段は上記接点セットの外周へと延び、上記接点支持シート又は上記接点保持シートの少なくとも一方はその外周において上記接点ストリップ手段の領域にノッチを形成する手段を有し、接点ストリップ手段への電気的接続を容易にする請求の範囲第９項に記載の接点セット。
１１．上記接点ストリップ手段は、更に、電気コネクタ手段のピンを受け入れるためのピン穴手段を外周の付近に含んでいる請求の範囲第１０項に記載の接点セット。
１２．集積回路パッケージのリードとテスト装置との接続を容易にするためのテスト器具において、上記テスト装置はラム手段を具備し、このラム手段は、集積回路パッケージを支持してこれをテストの開始時に上記テスト器具と整列するテスト位置へ進ませそしてテストの終わりに集積回路パッケージを上記テスト器具から引っ込めるものであり、上記テスト器具は、Ａ．集積回路パッケージの形状に実質的に対応する周囲によって中央穴が画成された平らな絶縁接点支持部材より成る接点部材を具備し、上記接点支持部材は、その表面上でこれと同一平面にある複数の接点ストリップ手段を支持し、これらの接点ストリップ手段は、上記周囲を越えて上記穴上へと突出し、上記ラム手段が集積回路パッケージをその前進したテスト位置へ進めた時に集積回路パッケージのリードと接触する形状とされ、そしてＢ．上記接点部材をその前進したテスト位置に支持するための支持手段を更に具備し、この支持手段は、集積回路パッケージを上記接点部材の接点ストリップ手段と接触させる上品前進したテスト位置へ案内するガイド手段を含んでいることを特徴とするテスト器具。
１３．上記支持手段は、下部支持部材と上部ガイド部材とを含み、これらの支持部材及びガイド部材はこれらの間に上記接点部材をクランプするものであり、Ａ．上記支持部材は、ｉ．上記中央穴を上記前進したテスト位置と整列させるように上記接点部材を支持する上面と、ｉｉ．上記ラム手段が集積回路パッケージを上記テスト位置く進ませる時に上記接点ストリップを下方にたわませるように上記中央穴の下に設けられたテスト整列くぼみとを有し、Ｂ．上記上部ガイド部材は、上記接点部材の中央穴の上にテーパ付きの側壁によって画成されたガイド穴を含み、これら側壁は、上記ラム手段が集積回路パッケージを上記前進したテスト位置へ垂直に移動する時に集積回路パブケージを上記接点ストリップと整列するように水平に押しやる請求の範囲第１２項に記載のテスト器具。
１４．上記接点支持部材及び接点ストリップ手段はフレキシブルなものであり、上記上部ガイド部材は、ここから垂下したリップ手段を上記ガイド穴の周囲に備えていて、上記接点支持部材及び上記接点ストリップを上記くぼみに向かって下方に押しやる請求の範囲第１３項に記載のテスト器具。
１５．上記接点支持部材は、上記接点ストリップ手段の下にあるフレキシブルな接点支持シートと、上記接点ストリップ手段の上にあるフレキシブルな接点保持シートとを備え、これらの接点支持シート及び接点保持シートは、上記中央穴を形成するように組み合わされる穴を有し、上記接点支持シートは、更に、上記中央穴において上記接点ストリップ手段の下に部分的に延びる舌状部手段を備えている請求の範囲第１４項に記載のテスト器具。
１６．上記支持手段は、更に、Ａ．上記支持手段の支持部材にあって、上記テスト用の整列くぼみと連通する手段を含んでいる放出用のくぼみ手段と、Ｂ．放出手段とを備えており、この放出手段は、ｉ．上記放出くぼみ手段に枢着された放出フレーム手段と、ｉｉ．この放出フレーム手段に接続され、上記テスト用の整列くぼみへと延びている放出アーム手段であって、集積回路パッケージがその前進したテスト位置にある時の下部位置と上部位置との間で上記放出フレーム手段によって移動することのできる放出アーム手段と、ｉｉｉｉ．上記放出手段に接続されたカム手段であって、集積回路パッゲージがその前進したテスト位置にある時に上記ラム手段に接触するように構成されたカム手段とを備えており、上記ラム手段はこのカム手段をして上記放出フレーム手段をピボット運動させ、これにより、上記ラム手段が上記前進したテスト位置から引っ込む時に上記放出アーム手段を持ち上げて集積回路パッケージを上記前進したテスト位置から押し出すようにする請求の範囲第１３項に記載のテスト器具。
１７．上記支持手段は、更に、テスト装置に対する上記接点ストリップ手段の電気的接触を容易にする手段を有している請求の範囲第１２項に記載のテスト器具。