JPS6250908B2

JPS6250908B2 -

Info

Publication number: JPS6250908B2
Application number: JP55037552A
Authority: JP
Inventors: Toshiaki Hatsutori
Original assignee: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1980-03-26
Filing date: 1980-03-26
Publication date: 1987-10-27
Also published as: JPS56134361A

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は磁気デイスク装置に関し、特に、磁気
デイスク上に記録されたサーボ情報を利用して磁
気ヘツドの位置を示す位置信号を作成する回路に
関する。磁気ヘツドを目標トラツクに追従させるための
位置サーボ系と、磁気ヘツドを最適な速度で目標
トラツクに近づけるための速度サーボ系とを備え
た磁気デイスク装置は、よく知られている。その
ような磁気デイスク装置では、磁気ヘツドの位置
を示す位置信号および磁気ヘツドの移動速度を示
す速度信号を作成することが必要である。位置信
号は、通常、磁気デイスク上に記録されたサーボ
情報を利用して作成される。サーボ情報の代表的
従来側としては、特公昭47−32012号公報に記載
されたダイビツト・パターン（Dibit Pattern）、
特公昭51−34726号公報に記載されたトライビツ
ト・パターン（Tribit Pattern）およびダイビツ
ト・パターンを改良して開発されたモデイフアイ
ド・ダイビツト・パターン（Modified Dibit
Patterern）などが挙げられる。一方、速度信号は専用の速度センサによつて作
成される場合と、位置信号を微分することによつ
て作成される場合とがある。後者の方法は、高価
な速度センサを必要としないため、前者の方法よ
り好ましい。ところが、位置信号が前述したダイ
ビツト・パターン、トライビツト・パターンある
いはモデイフアイド・ダイビツト・パターンを利
用して作成されたものである場合、その位置信号
を微分することによつて作成された速度信号は、
磁気ヘツド移動速度の絶対値しか示さない。した
がつて、その速度信号を観察しても磁気ヘツドの
移動方向を知ることはできない。特開昭54−119215号公報には、そのような不都
合を解消するための改良されたサーボ情報（以
下、２相サーボ情報と称す）が開示されている。
また、同公報には２相サーボ情報を利用して位置
信号を作成する位置信号作成回路も開示されてい
る。その回路によつて作成された位置信号を微分
すると、磁気ヘツドの移動方向に応じて極性の替
わる本来の意味での速度信号が得られる。ところ
が、その回路を用いる場合には、サーボ・トラツ
クの密度をデータ・トラツクの密度の２倍にする
必要が生じる。そのため、サーボ情報の書き込み
が難かしくなり、データ・トラツクの密度を十分
に高めることができなくなる。さらに、従来の位置信号作成回路で得られる位
置信号には、かなり大きな歪が含まれていた。そ
のため、その位置信号を微分しても十分に正確な
速度信号を得ることはできなかつた。本発明は、このような事情に鑑みてなされたも
のである。それゆえ、本発明の目的は、２相サー
ボ情報を利用するにもかかわらず、データ・トラ
ツクの密度をサーボ・トラツクの密度と等しくす
ることができる磁気デイスク装置用位置信号作成
回路を提供することにある。本発明の他の目的
は、微分することによつて磁気ヘツドの移動方向
に応じて極性が替わる速度信号に変換され得る位
置信号を作成する位置信号作成回路を提供するこ
とにある。本発明の更に他の目的は、歪の少ない
位置信号を作成する位置信号作成回路を提供する
ことにある。以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。第１図は、２相サーボ情報の一例を示もので
ある。図中、符号１０は磁気デイスクを示してい
る。この磁気デイスク１０は矢印１１の方向に回
転している。また、その表面にはたとえば12本の
同心円状サーボ・トラツク１０１〜１１２が設け
られている。各サーボ・トラツク１０１〜１１２
は同じトラツク幅を有しており、デイスク１０の
外周側から内周側に向けて、符号の順に配設され
ている。図示されているように、各トラツク１０
１〜１１２はそれぞれ複数の領域に分割されてい
る。各領域は、各領域中に描かれた矢印の方向に
磁化されている。同一トラツク上の隣接する２つ
の領域は、互いに反対の方向に磁化されている。
したがつて、領域の境界線上には磁化反転が存在
する。説明の都合上、矢印の尾端間に存在する磁
化反転の極性は正であり、矢印の先端間に存在す
る磁化反転の極性は負であるものと定める。４ト
ラツクおきに同じ種類のトラツクが配設されてい
ること、および、同じ種類の磁化反転がトラツク
に沿つて周期的に配設されていることに注意され
たい。すなわち、第１図に示されたサーボ情報
は、一点鎖線で示されたサーボ情報セルＵの繰り
返しによつて形成されている。第１図には、このようなサーボ情報を読み出す
ための磁気ヘツドすなわちサーボ・ヘツド２０が
併せて描かれている。このサーボ・ヘツド２０の
コア幅は、サーボ・トラツク１０１〜１１２のト
ラツク幅のほぼ２倍である。また、サーボ・ヘツ
ド２０は図示せぬキヤリツジに取り付けられてい
て、デイスク１０の半径方向に移動可能である。
なお、このキヤリツジには、たとえばデイスク１
０の裏面と対向するリード／ライト・ヘツド（図
示せず）が取り付けられている。リード／ライ
ト・ヘツドのコア幅は、サーボ・ヘツド２０のコ
ア幅の約半分である。第２図は、第１図に示されたサーボ情報セルＵ
の拡大図である。ただし、サーボ・トラツクの曲
率は無視して描かれている。また、隣接する２つ
のサーボ情報セルU′およびU″の一部が併せて描
かれている。図示されているように、サーボ情報
セルＵは、４本のサーボ・トラツクTi（ｉ＝
０，１，２，３）並びに32個の磁化反転Ｃ^＋ _ｊ、Ｃ
⁻ _ｊ、Ｄ^＋ _ｊ、Ｄ⁻ _ｊ、Ｒ^＋ _ｊｋおよびＲ⁻ _ｊｋ（ｊ＝
０，１，２，
３：ｋ＝０，１）を含んでいる。磁化反転Ｃ^＋ _ｊ、
Ｄ^＋ _ｊおよびＲ^＋ _ｊｋは正の磁化反転であり、磁化反転
Ｃ⁻ _ｊ、Ｄ⁻ _ｊおよびＲ⁻ _ｊｋは負の磁化反転である。
これ
らのサーボ・トラツクおよび磁化反転は、次の規
則に従つて配設されている。規則１トラツクＴ_pはトラツクＴ_p+1に隣接する。規則２磁化反転Ｃ^＋ _ｐ、Ｃ⁻ _ｐ、Ｄ^＋ _ｐおよびＤ⁻ _ｐは、ト
ラツク
Ｔ_p上に存在する。規則３磁化反転Ｒ^＋ _ｊｋおよびＲ⁻ _ｊｋは、トラツクＴ_p+q(
npd4
_）上に存在する。ただし、ｐ＋ｑ（mod₄）は表１
に示された４を法とする加算を表わす。

【表】規則４磁化反転Ｃ^＋ _ｐ、Ｃ⁻ _ｐ、Ｄ^＋ _ｐ、およびＤ⁻ _ｐは、
それぞ
れ磁化反転Ｃ^＋ _ｑ、Ｃ⁻ _ｑ、Ｄ^＋ _ｑおよびＤ⁻ _ｑ（ｑ≠
ｐ）と
同じ半径線上に存在する。規則５磁化反転Ｒ^＋ _ｐｑおよびＲ⁻ _ｐｑは、それぞれ磁化反
転
Ｒ^＋ _ｐｒおよびＲ⁻ _ｐｒ（ｒ≠ｑ）と同じ半径線上に存
在
する。規則６磁化反転Ｒ^＋ _ｐｒおよびＲ⁻ _ｐｒは、それぞれ磁化反
転
Ｒ^＋ _ｑｒおよびＲ⁻ _ｑｒ（ｐ≠ｑ）とは異なる半径線上
に
存在する。さて、第１図および第２図において磁気デイス
ク１０が回転すると、すべての磁化反転は矢印１
１の方向に移動する。正の磁化反転がサーボ・ヘ
ツド２０を横切ると、サーボ・ヘツド２０の出力
信号中に正のパルスが出現する。また、負の磁化
反転がサーボ・ヘツド２０を横切ると、サーボ・
ヘツド２０の出力信号中に負のパルスが出現す
る。第３図ａ〜ｈは、それぞれサーボ・ヘツド２
０の中心が第２図に符号ａ〜ｈで示された８つの
異なる位置に位置付けられているときのサーボ・
ヘツド２０の出力信号の波形を示している。たとえば、サーボ・ヘツド２０の中心が第２図
において符号ｅで示された位置すなわちトラツク
T₁とT₂の境界上に位置付けられているときのサ
ーボ・ヘツド２０の出力信号の波形は第３図ｅに
示されている。このことき、サーボ・ヘツド２０
はトラツクT₁およびT₂と完全に重なり合つてい
る。なぜらな、サーボ・ヘツド２０のコア幅はト
ラツク幅の２倍だからである。時刻t₁において２
つの磁化反転Ｃ^＋ _１およびＣ^＋ _２が同時にサーボ・ヘツ
ド２０を横切ると、第３図ｅに示されたサーボ・
ヘツド２０の出力信号中に正のパルス４１が出現
する。次いで時刻t₂に磁化反転Ｃ⁻ _１およびＣ⁻ _２が負
のパルス５１を発生させる。同様にして、時刻t₃
には磁化反転Ｄ^＋ _１およびＤ^＋ _２が正パルス４２を発生
させ、時刻t₄には磁化反転Ｄ⁻ _１およびＤ⁻ _２が負のパ
ルス５２を発生させる。これらのパルス４１，４
２，５１および５２はすべて２つの同極性の磁化
反転が同時にサーボ・ヘツド２０を横切ることに
よつて発生させられる。したがつて、それらのパ
ルス４１，４２，５１および５２の波高の絶対値
は同一の値である。説明の都合上、以後この値を
“Ｘ”で示す。時刻t₅には磁化反転Ｒ^＋ _０１がサーボ・ヘツド２０
を横切る。その結果、正のパルス４３が発生す
る。次いで、時刻t₆に磁化反転Ｒ⁻ _０１が負のパルス
５３を発生させる。同様にして、時刻t₇には磁化
反転Ｒ^＋ _２０が正のパルス４４を発生させ、時刻t₈に
は磁化反転Ｒ⁻ _２０が負のパルス５４を発生させる。
これらのパルス４３，４４，５３および５４は単
一の磁化反転がサーボ・ヘツド２０を横切ること
によつて発生させられる。したがつて、それらの
パルス４３，４４，５３および５４の波高の絶対
値は同一の値“１／２Ｘ”である。時刻t₉に磁化反転Ｒ^＋ _１０およびＲ^＋ _１１が同時にサ
ー
ボ・ヘツド２０を横切ると、正のパルス４５が発
生する。次いで時刻t₁₀に磁化反転Ｒ⁻ _１０およびＲ⁻ _１１
が負のパルス５５を発生させる。これらのパルス
４５および５５は、２つの同極性の磁化反転が同
時にサーボ・ヘツド２０を横切ることによつて発
生させられる。しかしながら、それらのパルス４
５および５５の波高の絶対値は前述した値“Ｘ”
ではなく、それより若干小さい値“Ｙ”である。
パルス４１，４２，５１および５２の波高の絶対
値“Ｘ”とパルス４５および５５の波高の絶対値
“Ｙ”との間に差が生じる理由は、パルス４１，
４２，５１および５２が発生するときにはトラツ
クT₀およびT₃にも磁化反転が存在するのに対し
パルス４５および５５が発生するときにはトラツ
クT₀およびT₃に磁化反転が存在しないためであ
る。すなわち、サーボ・ヘツド２０の近傍を通過
するトラツクT₀およびT₃上の磁化反転もわずか
ではあるがサーボ・ヘツド２０の出力信号波形に
影響を与えるのである。同様な理由で、時刻t₁₁に磁化反転Ｒ^＋ _３１およびＲ
^＋ _３０がサーボ・ヘツド２０の近傍を通過すると、微
小な正のパルス４６が発生する。また、時刻t₁₂
には磁化反転Ｒ^＋ _３１およびＲ⁻ _３０が微小な負のパル
ス
５６を発生させる。これらのパルスの波高の絶対
値は微小値“Ｚ”である。上述したパルス４１，
４２，４３，４４，４５，４６，５１，５２，５
３，５４，５５および５６は、サーボ・ヘツド２
０が位置ｅにある限り繰り返し発生することに注
意されたい。別の例として、サーボ・ヘツド２０の中心が第
２図に符号ｆで示された位置すなわちトラツク
T₂の中央に位置付けられたときのサーボ・ヘツ
ド２０の出力信号が第３図ｆに示されている。こ
のとき、サーボ・ヘツド２０はトラツクT₂と完
全に重なり合つており、また、トラツクT₁およ
びT₃とは半分だけ重なり合つている。時刻t₁にお
いて３つの磁化反転Ｃ^＋ _１，Ｃ^＋ _２およびＣ^＋ _３が同時
に
サーボ・ヘツド２０を横切ると、第３図ｆに示さ
れたサーボ・ヘツド２０の出力信号中に正のパル
ス４１が出現する。次いで、時刻t₂に３つの磁化
反転Ｃ⁻ _１，Ｃ⁻ _２およびＣ⁻ _３が負のパルス５１を発
生
させる。同様にして、時刻t₃には磁化反転Ｄ^＋ _１，
Ｄ^＋ _２およびＤ^＋ _３が正のパルス４２を発生させ、時刻
t₄には磁化反転Ｄ⁻ _１，Ｄ⁻ _２およびＤ⁻ _３が負のパル
ス
５２を発生させる。これらのパルス４１，４２，
５１および５２はすべて３つの同極性の磁化反転
が同時にサーボ・ヘツド２０を横切ることによつ
て発生させられる。しかしながら、サーボ・ヘツ
ド２０のコア幅は２トラツク分しかないので、そ
れらのパルス４１，４２，５１および５２の波高
の絶対値は同一の値“Ｘ”である。時刻t₅には磁化反転Ｒ^＋ _０１がサーボ・ヘツド２０
を横切る。その結果、正のパルス４３が発生す
る。次いで、時刻t₆に磁化反転Ｒ⁻ _０１が負のパルス
５３を発生させる。これらのパルス４３および５
３は、サーボ・ヘツド２０と半分だけ重なり合つ
たトラツクT₁上の単一の磁化反転によつて発生
させられる。したがつて、それらのパルス４３お
よび５３の波高の絶対値は同一の値“約１／４Ｘ”である。時刻t₇に磁化反転Ｒ^＋ _２０およびＲ^＋ _２１が同時にサ
ー
ボ・ヘツド２０を横切ると、正のパルス４４が発
生する。次いで、時刻t₈に磁化反転Ｒ⁻ _２０およびＲ
⁻ _２１が負のパルス５４を発生させる。同様にして、
時刻t₉には磁化反転Ｒ^＋ _１０およびＲ^＋ _１１が正のパル
ス
４５を発生させ、時刻t₁₀には磁化反転Ｒ⁻ _１０が負の
パルス５５を発生させる。これらのパルス４４，
４５，５４および５５はすべて２つの同極性の磁
化反転が同時にサーボ・ヘツド２０を横切ること
によつて発生させられる。しかしながら、片方の
磁化反転はサーボ・ヘツド２０と半分しか重なり
合つていないトラツク上に存在するため、それら
のパルス４４，４５，５４および５５の波高の絶
対値は同一の値“約３／４Ｘ”である。時刻t₁₁には磁化反転Ｒ^＋ _３０がサーボ・ヘツド２０
を横切る。その結果、正のパルス４６が発生す
る。次いで、時刻t₁₂に磁化反転Ｒ⁻ _３０が負のパルス
５６を発生させる。これらのパルス４６および５
６は、サーボ・ヘツド２０と半分だけ重なり合つ
たトラツクT₃上の単一の磁化反転によつて発生
させられる。したがつて、それらのパルス４６お
よび５６の波高の絶対値は同一の値“約１／４Ｘ”である。上述のパルス４１，４２，４３，４４，４
５，４６，５１，５２，５３，５４，５５および
５６は、サーボ・ヘツド２０が位置ｆにある限
り、繰り返し発生することに注意されたい。同様な原理によつて、サーボ・ヘツド２０の中
心が位置ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｇあるいはｈに位置付
けられたときは、それぞれ第３図ａ，ｂ，ｃ，
ｄ，ｇあるいはｈに示された波形が得られる。第
３図ａ〜ｈを参照すると、パルス４１，４２，５
１および５２の波高の絶対値は、サーボ・ヘツド
２０がどのような位置にあつても一定であること
がわかる。これに対し、パルス４３，４４，４
５，４６，５３，５４，５５および５６の波高の
絶対値は、サーボ・ヘツド２０の位置に応じて周
期的に変化するとに注意されたい。次に、第１図および第２図に示された２相サー
ボ情報を利用して位置信号を作成する位置信号作
成回路について説明する。第４図は、本発明一実
施例の位置信号作成回路の構成を示すブロツク図
である。図示されているように、本実施側の位置
信号作成回路１００は２つの部分すなわちサーボ
情報検出部６０および選択部７０によつて構成さ
れている。サーボ情報検出部６０は、前述したサーボ・ヘ
ツド２０の他に、４つのピーク検出器６１，６
２，６３および６４、同期信号発生器６５、一対
の差動増幅器６６および６７ならびに一対の反転
増幅器６８および６９を含んでいる。サーボ・ヘ
ツド２０の出力端子はピーク検出器６１，６２，
６３および６４ならびに同期信号発生器６５の出
力端子に接続されている。同期信号発生器６５の
４つの出力端子は、それぞれピーク検出器６１，
６２，６３および６４の制御入力端子に接続され
ている。ピーク検出器６１および６２の出力端子
は、それぞれ差動増幅器６６の非反転入力端子お
よび反転入力端子に接続されている。同様に、ピ
ーク検出器６３および６４の出力端子は、それぞ
れ差動増幅器６７の非反転入力端子および反転入
力端子に接続されている。また、差動増幅器６６
および６７の出力端子は、それぞれ反転増幅器６
８および６９の入力端子に接続されている。差動
増幅器６６および６７ならびに反転増幅器６８お
よび６９の出力端子は、サーボ情報検出部６０の
出力端子である。選択部７０は、極性判別器として動作する一対
の比較器７１および７２、３つのアナログ・マル
チプレクサ７３，７４および７５、一対の比較器
７６および７７ならびにオア回路７８を含んでい
る。比較器７１および７２の入力端子は、それぞ
れ差動増幅器６７および６６の出力端子に接続さ
れている。また、比較器７１および７２の出力端
子は、それぞれマルチプレクサ７３および７４の
制御入力端子に接続されている。マルチプレクサ
７３の２つの入力端子は、それぞれ差動増幅器６
６および反転増幅器６８の出力端子に接続されて
いる。同様に、マルチプレクサ７４の２つの入力
端子は、それぞれ差動増幅器６７および反転増幅
器６９の出力端子に接続されている。一方、マル
チプレクサ７５の２つの入力端子は、それぞれマ
ルチプレクサ７３および７４の出力端子に接続さ
れている。マルチプレクサ７４の制御入力端子
は、オア回路７８の出力端子に接続されている。
オア回路７８の２つの入力端子は、それぞれ比較
器７６および７７に接続されている。比較器７６
の非反転入力端子および比較器７７の反転入力端
子は、差動増幅器６６の出力端子に接続されてい
る。一方、比較器７６の反転入力端子および比較
器７７の非反転入力端子には、それぞれ参照電圧
Ｖ_HおよびＶ_Lが印加されている。なお、マルチプ
レクサ７５の出力端子は、選択部７０の出力端子
であり、位置信号作成回路１００の出力端子でも
ある。次に、本実施側の動作を説明する。まず、サー
ボ情報検出部６０の動作を説明する。サーボ・ヘ
ツド２０の出力信号（第３図ａ〜ｈ参照）は、４
つのピーク検出器６１，６２，６３および６４な
らびに同期信号発生器６５に供給される。ピーク
検出器６１，６２，６３および６４は、それぞれ
サーボ・ヘツド２０の出力信号中の正のパルス４
３，４４，４５および４６の波高値を検出し、記
憶する。同期信号発生器６５は、サーボ・ヘツド
２０の出力信号中の正のパルス４１に同期して動
作し、ピーク検出器６１，６２，６３および６４
の動作タイミングを決定する同期信号S₁，S₂，S₃
およびS₄を作成する。ピーク検出器６１，６２，
６３および６４の出力信号Ａ，Ｂ，ＣおよびＤの
レベルとサーボ・ヘツド２０の位置との間の関係
が、第５図Ａ〜Ｄに示されている。図示されてい
るように、信号Ａ，Ｂ，ＣおよびＤのレベルはサ
ーボ・ヘツド２０の位置に応じて周期的に変化す
る。たとえば、ピーク検出器６１の出力信号Ａ
は、サーボ・ヘツド２０が第２図の位置Ｃにある
場合に最大値“Ｙ”をとり、サーボ・ヘツド２０
が第２図の位置ｇにある場合に最小値“Ｚ”をと
る。また、このようなレベルの変化は、４トラツ
クおきに繰り返される。他の信号Ｂ，ＣおよびＤ
の性質は、第５図Ｂ，ＣおよびＤを参照すること
によつて容易に理解されるであろう。信号ＡおよびＢは、差動増幅器６６に供給され
る。差動増幅器６６は、信号Ａのレベルから信号
Ｂのレベルを減算することによつて、第１の位置
信号Ｅを作成する。第５図Ｅに示されているよう
に、第１の位置信号Ｅは、サーボ・ヘツド２０が
位置ｃにあるとき最大値“Ｙ―Ｚ”をとり、位置
ｇにあるとき最小値“―（Ｙ―Ｚ）”をとり、位
置ａあるいはｅにあるとき値“０”をとる。ま
た、そのような変化は４トラツクおきに繰り返さ
れる。一方、信号ＣおよびＤは、差動増幅器６７
に供給される。差動増幅器６７は、信号Ｃのレベ
ルから信号Ｄのレベルを減算することによつて、
第２の位置信号Ｆを作成する。第５図Ｆに示され
ているように、第２の位置信号Ｆは、サーボ・ヘ
ツド２０が位置ｅにあるとき最大値“Ｙ―Ｚ”を
とり、位置ａにあるとき最小値“―（Ｙ―Ｚ）”
をとり、位置ｃあるいはｇにあるとき値“０”を
とる。また、そのような変化は４トラツクおきに
繰り返される。第５図ＥおよびＦから明らかなよ
うに、第１の位置信号Ｅと第２の位置信号Ｆとの
間には、90度の位相差が存在する。第１の位置信号Ｅは反転増幅器６８に供給され
る。反転増幅器６８は第１の位置信号の極性を反
転させることによつて第３の位置信号Ｇを作成す
る。同様に、第２の位置信号Ｆは反転増幅器６９
に供給される。反転増幅器６９は第２の位置信号
Ｆの極性を反転させることによつて第４の位置信
号Ｈを作成する。第５図Ｅ，Ｆ，ＧおよびＨから
明らかなように、４つの位置信号Ｅ，Ｆ，Ｇおよ
びＨの位相は、90度ずつ異なつている。これらの
位置信号Ｅ，Ｆ，ＧおよびＨは選択部７０へ供給
される。次に、選択部７０の動作を説明する。第１の位
置信号Ｅは比較器７２，７６および７７ならびに
マルチプレクサ７３に供給される。また、第２の
位置信号Ｆは比較器７１およびマルチプレクサ７
４に供給される。一方、第３の位置信号Ｇおよび
第４の位置信号Ｈは、それぞれマルチプレクサ７
３および７４に供給される。比較器７１の出力端
子Ｉ（第６図Ｉ参照）は、第２の位置信号Ｆ（第
６図Ｆ参照）の極性が正である期間中は高レベル
となり、負である期間中は低レベルとなる。この
信号Ｉは、制御信号としてマルチプレクサ７３に
供給される。マルチプレクサ７３は、信号Ｉが低
レベルである期間中は第１の位置信号Ｅ（第６図
Ｅ参照）を選択し、高レベルである期間中は第３
の位置信号Ｇ（第６図Ｇ参照）を選択して第５の
位置信号Ｋ（第６図Ｋ参照）を作成する。第５の
位置信号Ｋはマルチプレクサ７５に供給される。
一方比較器７２の出力信号Ｊ（第６図Ｊ参照）
は、第１の位置信号Ｅの極性が正である期間中は
高レベルとなり、負である期間中は低レベルとな
る。この信号Ｊは制御信号としてマルチプレクサ
７４に供給される。マルチプレクサ７４は、信号
Ｊが高レベルである期間中は第２の位置信号Ｆを
選択し、低レベルである期間中は第４の位置信号
Ｈ（第６図Ｈ参照）を選択して第６の位置信号Ｌ
（第６図Ｌ参照）を作成する。第６の位置信号Ｌ
は、マルチプレクサ７５に供給される。比較器７６は、第１の位置信号Ｅのレベルが参
照電圧Ｖ_Hより大であるとき高レベルとなり、そ
れ以上のとき低レベルとなる信号Ｍ（第７図Ｍ参
照）を作成する。また、比較器７７は、第１の位
置信号Ｅのレベルが参照電圧Ｖ_Lより小であると
き高レベルとなり、それ以外のとき低レベルとな
る信号Ｎ（第７図Ｎ参照）を作成する。この信号
Ｎは上述した信号Ｍとともにオア回路７８へ供給
される。したがつて、オア回路の出力端子（第
７図参照）は、第１の位置信号Ｅのレベルが参
照電圧Ｖ_Hより大である場合および参照電圧Ｖ_Lよ
りり小である場合に高レベルとなり、それ以外の
とき低レベルとなる。信号が低レベルである場
合、マルチプレクサ７５は第５の位置信号Ｋを選
択する。逆に、信号が高レベルである場合、マ
ルチプレクサ７５は第６の位置信号Ｌを選択す
る。マルチプレクサ７５の出力信号である第７の
位置信号Ｐ（第７図Ｐ参照）は、位置信号作成回
路１００の出力信号として外部へ送出される。さて、図示せぬ位置サーボ系は、第７の位置信
号Ｐのレベルが零となるように、サーボ・ヘツド
２０を磁気デイスク１０の半径方向に動かす。し
たがつて、サーボ・ヘツド２０の中心は、位置
a′，c′，e′，g′，ａ，ｃ，ｅ，ｇ，a″，c″，e″
，
g″等に位置付けられ得る。サーボ・ヘツド２０
の中心がすべてのトラツク境界上（隣接するサー
ボ・トラツクの境界上）に位置付けられ得ること
に注意されたい。このことは、サーボ・トラツク
の密度とデータ・トラツクの密度が等しいことを
意味している。次に、位置信号作成回路１００で作成された第
７の位置信号Ｐを微分した場合、どのような速度
信号が得られるかについて説明する。まず、サー
ボ・ヘツド２０が第２図において矢印２１で示さ
れた方向に一定の速度で移動している場合を考え
る。第８図Ｐは、その場合の第７の位置信号Ｐの
波形を示している。この信号Ｐを微分すると第７
図Ｖに示された正極性の速度信号が得られる。こ
の速度信号のレベルはサーボ・ヘツド２０の移動
速度に比例している。次に、サーボ・ヘツド２０
が第２図において矢印２２で示された方向に一定
の速度で移動している場合を考える。第８図Ｐ
は、その場合の第７の位置信号Ｐの波形を示して
いる。この信号Ｐを微分すると第８図Ｖに示され
た負極性の速度信号が得られる。この速度信号の
レベルサーボ・ヘツド２０の移動速度に比例して
いる。このように、第７の位置信号Ｐを微分する
ことによつて、サーボ・ヘツド２０の移動方向に
応じて極性の替わる速度信号が得られる。なお、第５の位置信号Ｋあるいは第６の位置信
号Ｌを微分しても、同様な速度信号が得られる
が、その場合精度の高い速度信号を得ることはで
きない。なぜなら、第５の位置信号Ｋおよび第６
の位置信号Ｌは、第７図ＫおよびＬに示されてい
るように、最大値近辺および最小値近辺で大きく
歪んでいるからである。これに対し第７の位置信
号Ｐは第５の位置信号Ｋと第６の位置信号Ｌの歪
の少ない部分を合成して作成されたものであるた
め、第７図Ｐに示されているように、極めて歪が
少ない。したがつて、第７の印置信号Ｐを微分す
ることによつて作成された速度信号は極めて正確
なものとなる。なお、第１図および第２図に示された２相サー
ボ情報の代りに他の２相サーボ情報を利用するこ
とができる。その場合、それに応じたサーボ情報
検出部６０が必要になることは言うまでもない。
また、選択部７０の回路構成を変えることもでき
る。たとえば、第１の位置信号Ｅではなく第３の
位置信号Ｇの極性に応じてマルチプレクサ７４を
制御することができる。同様に、第２の位置信号
Ｆではなく第４の位置信号Ｈの極性に応じてマル
チプレクサ７３を制御することができる。さら
に、３つの２入力マルチプレクサ７３，７４およ
び７５を単一の４入力マルチプレクサに置換する
ことが可能である。その他、本発明は種々の変形
させて実施することが可能である。以上詳述したように、本発明によれば、２相サ
ーボ情報を利用しているにもかかわらず、サー
ボ・トラツクの密度とデータ・トラツクの密度を
等しくすることができる。したがつて、サーボ情
報の書き込みが容易になり、データ・トラツク密
度を向上させることができる。また、本発明によ
れば、微分することによつて磁気ヘツドの移動方
向に応じて極性が替わる速度信号に変換され得る
位置信号が提供される。さらに、本発明によれ
ば、微分することによつて極めて正確な速度信号
に変換され得る位置信号が提供される。

【図面の簡単な説明】

第１図は２相サーボ情報の一例を示す図、第２
図は第１図に示されたサーボ情報セルの拡大図、
第３図はサーボ・ヘツドの出力信号の波形図、第
４図は本発明一実施例の構成を示すブロツク図、
第５図、第６図および第７図は第４図実施例の各
部の動作波形図、第８図および第９図は位置信号
と速度信号の関係を示す波形図である。１０……磁気デイスク、２０……サーボ・ヘツ
ド、６０……サーボ情報検出部、７０……選択
部。

Claims

【特許請求の範囲】

１磁気デイスク上に記録されたサーボ情報を利
用して90度ずつ位相が異なる第１、第２、第３お
よび第４の位置信号を作成するサーボ情報検出部
と、前記第１の位置信号のレベルが所定の範囲内
にある場合には前記第２あるいは第４の位置信号
の極性に応じて前記第１および第３の位置信号の
うちいずれか一方を選択して出力し、前記第１の
位置信号のレベルが前記所定の範囲内にない場合
には前記第１あるいは第３の位置信号の極性に応
じて前記第２および第４の位置信号のうちいずれ
か一方を選択して出力する選択部とを具備するこ
とを特徴とする磁気デイスク装置用位置信号作成
回路。