JPS6250984B2 - - Google Patents
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- JPS6250984B2 JPS6250984B2 JP54032179A JP3217979A JPS6250984B2 JP S6250984 B2 JPS6250984 B2 JP S6250984B2 JP 54032179 A JP54032179 A JP 54032179A JP 3217979 A JP3217979 A JP 3217979A JP S6250984 B2 JPS6250984 B2 JP S6250984B2
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/205—Substrate bias-voltage generators
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/01—Details
- H03K3/011—Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. voltage, temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
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- Automation & Control Theory (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は一つの半導体結晶内に集められた二
つ以上の電界効果トランジスタを持ち、それらの
互に一致する導電型のソース領域とドレン領域が
共通の反対導電型半導体結晶領域によつて包囲さ
れ、一つの発振器としきい値電圧検出器を含む調
整回路を持つ電圧発生器が反対導電型半導体結晶
領域と地電位との間に補助電圧を加えるために設
けられ、この補助電圧は電圧発生器の出力端に設
けられたポンプ回路を通して半導体回路の所定部
分に加えられるようになつている半導体回路に関
するものである。
つ以上の電界効果トランジスタを持ち、それらの
互に一致する導電型のソース領域とドレン領域が
共通の反対導電型半導体結晶領域によつて包囲さ
れ、一つの発振器としきい値電圧検出器を含む調
整回路を持つ電圧発生器が反対導電型半導体結晶
領域と地電位との間に補助電圧を加えるために設
けられ、この補助電圧は電圧発生器の出力端に設
けられたポンプ回路を通して半導体回路の所定部
分に加えられるようになつている半導体回路に関
するものである。
この種の半導体回路の一例は“Electronics”
(1976―9―16),P.42および“1976 IEEE
International Solid―State Circuits
Conference”P.56―57に記載されている。この
半導体回路においてはMOS技術によつて基板に
集積形成されたバイアス電圧発生回路が電界効果
トランジスタの電流伝導領域を包囲する基板と呼
ばれている反対導電型領域に電荷を流し込む。こ
のポンプ作用の調整によりチツプ間のアクセスタ
イムと電力消費の変動がプロセス・パラメータ、
温度および給電電圧の変動に基く効果の低減によ
つて極めて狭い範囲内に制限される。
(1976―9―16),P.42および“1976 IEEE
International Solid―State Circuits
Conference”P.56―57に記載されている。この
半導体回路においてはMOS技術によつて基板に
集積形成されたバイアス電圧発生回路が電界効果
トランジスタの電流伝導領域を包囲する基板と呼
ばれている反対導電型領域に電荷を流し込む。こ
のポンプ作用の調整によりチツプ間のアクセスタ
イムと電力消費の変動がプロセス・パラメータ、
温度および給電電圧の変動に基く効果の低減によ
つて極めて狭い範囲内に制限される。
この公知デバイスのポンプ回路は基板に接続さ
れたMOSダイオードと一つのキヤパシタンスに
よつて与えられ、発電回路の動作中この回路を通
して電荷が基板に注入(ポンピング)される。こ
のキヤパシタンスは増幅器を接続した発振回路に
よつて制御される。しかし基板の充電に基く地電
位に対するバイアス電圧は続く振動曲線の低下時
まで基板の洩れ電流のために低下する。この発明
の目的は公知の基板バイアス電圧発生回路の基本
概念を変更して調整速度を加速しそれによつて基
板バイアス電圧の低下を減小させバイアス電圧の
波打ちを低減させることである。この目的を達成
するためこの発明は直接の信号入力端と反転信号
入力端およびそれに対応する二つの信号出力端の
外自身の起動しきい値電圧を制御するための第三
の入力端を備えた二安定トリガ段を接続してその
二つの信号入力端は発振器の出力信号を直接およ
び反転して受け入れ、第三の入力端は調整回路に
接続され、二つの信号出力端はそれぞれ一つのポ
ンプ回路を通して基板反対導電型領域および地電
位に接続されるようにすることを提案する。
れたMOSダイオードと一つのキヤパシタンスに
よつて与えられ、発電回路の動作中この回路を通
して電荷が基板に注入(ポンピング)される。こ
のキヤパシタンスは増幅器を接続した発振回路に
よつて制御される。しかし基板の充電に基く地電
位に対するバイアス電圧は続く振動曲線の低下時
まで基板の洩れ電流のために低下する。この発明
の目的は公知の基板バイアス電圧発生回路の基本
概念を変更して調整速度を加速しそれによつて基
板バイアス電圧の低下を減小させバイアス電圧の
波打ちを低減させることである。この目的を達成
するためこの発明は直接の信号入力端と反転信号
入力端およびそれに対応する二つの信号出力端の
外自身の起動しきい値電圧を制御するための第三
の入力端を備えた二安定トリガ段を接続してその
二つの信号入力端は発振器の出力信号を直接およ
び反転して受け入れ、第三の入力端は調整回路に
接続され、二つの信号出力端はそれぞれ一つのポ
ンプ回路を通して基板反対導電型領域および地電
位に接続されるようにすることを提案する。
この場合半導体結晶に集積された多くの電界効
果トランジスタの少くとも一部において電流を導
く電極の一つ(多くの場合ソース電極)が地電位
に置かれていることが多いことに注意しなければ
ならない。
果トランジスタの少くとも一部において電流を導
く電極の一つ(多くの場合ソース電極)が地電位
に置かれていることが多いことに注意しなければ
ならない。
この発明による半導体回路は基板バイアス電圧
発生装置を持つ公知の半導体回路と比べて二つの
ポンプ回路に含まれているキヤパシタンスのプツ
シユ・ブル接続によつて反対導電型基板領域(こ
れを以後単に基板と呼ぶ)のバイアス電圧VBBの
所望の補正を実施しバイアス電圧の変動を単一の
ポンプ回路を使用する場合よりも低減させること
ができ、しかもそれに対して、振動回路の周波数
の上昇も回路の消費電力の増大も必要としないと
いう長所がある。
発生装置を持つ公知の半導体回路と比べて二つの
ポンプ回路に含まれているキヤパシタンスのプツ
シユ・ブル接続によつて反対導電型基板領域(こ
れを以後単に基板と呼ぶ)のバイアス電圧VBBの
所望の補正を実施しバイアス電圧の変動を単一の
ポンプ回路を使用する場合よりも低減させること
ができ、しかもそれに対して、振動回路の周波数
の上昇も回路の消費電力の増大も必要としないと
いう長所がある。
以下図面についてこの発明を更に詳細に説明す
る。
る。
第1図はこの発明において使用される基板バイ
アス電圧発生装置のブロツク接続図である。この
装置では発振回路例えばRC発振器Oで発生した
電気振動がそのまま直接に、あるいは反転して二
安定トリガ段FFの両信号入力端に導かれる。こ
れによつてトリガ過程が解放されトリガ段FFの
両信号出力端に矩形信号が現われ、両ポンプ回路
CP1,CP2を通して基板Sまたは地電位端に達
し基板Sを充電する。
アス電圧発生装置のブロツク接続図である。この
装置では発振回路例えばRC発振器Oで発生した
電気振動がそのまま直接に、あるいは反転して二
安定トリガ段FFの両信号入力端に導かれる。こ
れによつてトリガ過程が解放されトリガ段FFの
両信号出力端に矩形信号が現われ、両ポンプ回路
CP1,CP2を通して基板Sまたは地電位端に達
し基板Sを充電する。
二安定トリガ段はRSフリツプ・フロツプとし
て構成することができる。重要なのは二つの信号
入力端RおよびSの外に第三の入力端、即ちトリ
ガ段の起動しきい値電圧の調整あるいはその起
動、停止に対する制御入力端が存在することであ
る。発振器Oの出力端、トリガ段FFの出力端お
よびポンプ回路CP1,CP2の出力端には図に示
すように番号1,2,2′,3,3′がつけられて
いる。これらの出力端における電圧の時間経過は
後で第3図に対応する番号のダイヤグラムで示
す。
て構成することができる。重要なのは二つの信号
入力端RおよびSの外に第三の入力端、即ちトリ
ガ段の起動しきい値電圧の調整あるいはその起
動、停止に対する制御入力端が存在することであ
る。発振器Oの出力端、トリガ段FFの出力端お
よびポンプ回路CP1,CP2の出力端には図に示
すように番号1,2,2′,3,3′がつけられて
いる。これらの出力端における電圧の時間経過は
後で第3図に対応する番号のダイヤグラムで示
す。
トリガ段FFの制御入力端には電子スイツチSr
を通して規準値発生器SWと共に調整回路を構成
するしきい値電圧検出器SDが接続される。検出
器SDは調整段のコンパレータを包含している。
を通して規準値発生器SWと共に調整回路を構成
するしきい値電圧検出器SDが接続される。検出
器SDは調整段のコンパレータを包含している。
両ポンプ回路CP1とCP2は互に等しく共に一
つのキヤパシタンスC1,C2と一つの電界効果
トランジスタM1,M2から構成されている。こ
れらのトランジスタはエンハンスメント型で電気
抵抗として接続されている。キヤパシタンスとし
てはMOS・バラクタ・コンデンサが使用され
る。これは金属層またはドープされたポリシリコ
ン層と半導体表面の反転層およびそれらの間にあ
るSiO2層で構成されたコンデンサである。必要
な電気容量は充分大きなゲート電極を持ち、ソー
スとドレンが互に連結されている空乏型の電界効
果トランジスタによつて与えることも有効であ
る。
つのキヤパシタンスC1,C2と一つの電界効果
トランジスタM1,M2から構成されている。こ
れらのトランジスタはエンハンスメント型で電気
抵抗として接続されている。キヤパシタンスとし
てはMOS・バラクタ・コンデンサが使用され
る。これは金属層またはドープされたポリシリコ
ン層と半導体表面の反転層およびそれらの間にあ
るSiO2層で構成されたコンデンサである。必要
な電気容量は充分大きなゲート電極を持ち、ソー
スとドレンが互に連結されている空乏型の電界効
果トランジスタによつて与えることも有効であ
る。
電界効果トランジスタM1またはM2の制御電
極(ゲート)はそれぞれのトランジスタの電流嚮
導電極特にドレン電極と直接導電的に結合され
る。それぞれのポンプ回路中のキヤパシタンスと
電界効果トランジスタの接続はキヤパシタンスC
1またはC2の一方の電極がトリガ段FFの対応
する信号出力端に結ばれ、他方の電極が対応する
MOS電界効果トランジスタM1またはM2のド
レン電極に結ばれるように選ばれている。これら
の電界効果トランジスタのドレン電極は更にダイ
オードD1またはD2を通して集積回路の基板に
結ばれ、それらのソース電極は地電位に接続され
ている。
極(ゲート)はそれぞれのトランジスタの電流嚮
導電極特にドレン電極と直接導電的に結合され
る。それぞれのポンプ回路中のキヤパシタンスと
電界効果トランジスタの接続はキヤパシタンスC
1またはC2の一方の電極がトリガ段FFの対応
する信号出力端に結ばれ、他方の電極が対応する
MOS電界効果トランジスタM1またはM2のド
レン電極に結ばれるように選ばれている。これら
の電界効果トランジスタのドレン電極は更にダイ
オードD1またはD2を通して集積回路の基板に
結ばれ、それらのソース電極は地電位に接続され
ている。
基板S即ち半導体回路の電界効果トランジスタ
を包囲する反対導電型結晶領域は第1図に等価回
路によつて示され、基板電荷キヤパシタンスCs
とそれに並列の洩れ抵抗Rsを含む。基板バイア
ス電圧発生回路の作用で基板に加えられる地電位
に対する電圧は第3図の最後のダイヤグラムに示
した時間経過を持つ。基板Sと両ポンプ回路CP
1,CP2の出力端との間に置かれているダイオ
ードD1,D2は実際には両トランジスタM1,
M2が基板Sで囲まれている場合これらのトラン
ジスタのドレン領域によつて与えられるもので特
に設ける必要はない。
を包囲する反対導電型結晶領域は第1図に等価回
路によつて示され、基板電荷キヤパシタンスCs
とそれに並列の洩れ抵抗Rsを含む。基板バイア
ス電圧発生回路の作用で基板に加えられる地電位
に対する電圧は第3図の最後のダイヤグラムに示
した時間経過を持つ。基板Sと両ポンプ回路CP
1,CP2の出力端との間に置かれているダイオ
ードD1,D2は実際には両トランジスタM1,
M2が基板Sで囲まれている場合これらのトラン
ジスタのドレン領域によつて与えられるもので特
に設ける必要はない。
両ポンプ回路CP1,CP2のキヤパシタンスC
1,C2からトリガ段FFの両信号出力端2,
2′に導かれる電圧パルスは基板Sに伝えられ、
その際トランジスタM1,M2は正の信号パルス
をしきい値電圧値VTまで切り下げる。基板と地
電位間のバイアス電圧VBBは寄生基板抵抗RSを
流れる洩れ電流JLのため両ポンプ回路CP1,
CP2に移相して与えられた電圧パルスの次の降
下時まで即ち発振器振動の半波時間の間にいくら
か低下する。
1,C2からトリガ段FFの両信号出力端2,
2′に導かれる電圧パルスは基板Sに伝えられ、
その際トランジスタM1,M2は正の信号パルス
をしきい値電圧値VTまで切り下げる。基板と地
電位間のバイアス電圧VBBは寄生基板抵抗RSを
流れる洩れ電流JLのため両ポンプ回路CP1,
CP2に移相して与えられた電圧パルスの次の降
下時まで即ち発振器振動の半波時間の間にいくら
か低下する。
スイツチSrは調整回路の調整ユニツトとして
作用し、それによつてトリガ段FFの制御入力端
への調整回路の作用が停止するとき第3図の最後
のダイヤグラムに示した調整休止期間が現われ
る。
作用し、それによつてトリガ段FFの制御入力端
への調整回路の作用が停止するとき第3図の最後
のダイヤグラムに示した調整休止期間が現われ
る。
図のXは調整休止期間、Yは動作期間である。
第2図に示した基板バイアス電圧発生回路の実
施例はMOS型あるいは一般にMIS型の電界効果
トランジスタを使用して構成されている。これら
の電界効果トランジスタは一部はエンハンスメン
ト型であり一部はデプレーシヨン型である。バイ
アス電圧発生回路のトランジスタは総てnチヤネ
ルであるかあるいは総てpチヤネルである。相手
となる集積回路のトランジスタがnチヤネルであ
るときはバイアス電圧発生回路にもnチヤネルト
ランジスタが使用される。集積回路にpチヤネル
トランジスタだけが使用されているときはそれに
対応してpチヤネルとする。CMOS技術の場合の
ように相手となる集積回路にnチヤネルとpチヤ
ネルの両方が使用されているときはnチヤネルト
ランジスタを使用するバイアス電圧発生回路とp
チヤネルトランジスタを使用するバイアス電圧発
生回路とを設け、それぞれ集積回路中の対応する
型のトランジスタに給電するようにする。
施例はMOS型あるいは一般にMIS型の電界効果
トランジスタを使用して構成されている。これら
の電界効果トランジスタは一部はエンハンスメン
ト型であり一部はデプレーシヨン型である。バイ
アス電圧発生回路のトランジスタは総てnチヤネ
ルであるかあるいは総てpチヤネルである。相手
となる集積回路のトランジスタがnチヤネルであ
るときはバイアス電圧発生回路にもnチヤネルト
ランジスタが使用される。集積回路にpチヤネル
トランジスタだけが使用されているときはそれに
対応してpチヤネルとする。CMOS技術の場合の
ように相手となる集積回路にnチヤネルとpチヤ
ネルの両方が使用されているときはnチヤネルト
ランジスタを使用するバイアス電圧発生回路とp
チヤネルトランジスタを使用するバイアス電圧発
生回路とを設け、それぞれ集積回路中の対応する
型のトランジスタに給電するようにする。
第2図から分るように発振器OはRC帰還結合
のシユミツト・トリガ回路である。帰還結合キヤ
パシタンスとしてはMOSバラクタコンデンサ1
1が地電位とシユミツト・トリガの入力端10の
間に挿入されている。シユミツト・トリガは給電
電圧線VDDと地電位の間に直列に接続されたトラ
ンジスタ12,13,14の外ドレン―ソース区
間がVDDとトランジスタ12,13の共通拡散領
域との間にあるトランジスタ19から構成されて
いる。トランジスタ14はデプレーシヨン型であ
つて負荷素子の役目をする。そのゲートとソース
電極は互に導電的に結合され、トランジスタ19
のゲート電極、トランジスタ18のドレンおよび
ゲート電極との間に結節点15を形成し発振器O
の出力端となる。
のシユミツト・トリガ回路である。帰還結合キヤ
パシタンスとしてはMOSバラクタコンデンサ1
1が地電位とシユミツト・トリガの入力端10の
間に挿入されている。シユミツト・トリガは給電
電圧線VDDと地電位の間に直列に接続されたトラ
ンジスタ12,13,14の外ドレン―ソース区
間がVDDとトランジスタ12,13の共通拡散領
域との間にあるトランジスタ19から構成されて
いる。トランジスタ14はデプレーシヨン型であ
つて負荷素子の役目をする。そのゲートとソース
電極は互に導電的に結合され、トランジスタ19
のゲート電極、トランジスタ18のドレンおよび
ゲート電極との間に結節点15を形成し発振器O
の出力端となる。
トランジスタ12と13のゲート電極は互に結
合されてシユミツト・トリガの入力端10に接続
されている。トリガの入力端10と出力端15の
間は更にデプレーシヨン型トランジスタ17,1
8のソース・ドレン区間の直列接続によつてバイ
パスされている。この直列接続は前に述べたキヤ
パシタンス11と共に発振回路の帰還結合路を構
成する。従つてトランジスタ17と18は抵抗と
して接続され、トランジスタ18のゲートとドレ
ン端子は結節点15に接続され、そのソース端子
はトランジスタ17のドレン端子に、トランジス
タ17とゲートとドレンはシユミツト・トリガの
入力端10に結ばれている。トランジスタ14,
17および18がデプレーシヨン型であるのに対
してトランジスタ12,13および19にはエン
ハンスメント型のものが使われている。
合されてシユミツト・トリガの入力端10に接続
されている。トリガの入力端10と出力端15の
間は更にデプレーシヨン型トランジスタ17,1
8のソース・ドレン区間の直列接続によつてバイ
パスされている。この直列接続は前に述べたキヤ
パシタンス11と共に発振回路の帰還結合路を構
成する。従つてトランジスタ17と18は抵抗と
して接続され、トランジスタ18のゲートとドレ
ン端子は結節点15に接続され、そのソース端子
はトランジスタ17のドレン端子に、トランジス
タ17とゲートとドレンはシユミツト・トリガの
入力端10に結ばれている。トランジスタ14,
17および18がデプレーシヨン型であるのに対
してトランジスタ12,13および19にはエン
ハンスメント型のものが使われている。
従来公知のシユミツト・トリガ発振回路と異り
この実施例においては二つの互に逆向きに接続さ
れたデプレーシヨン型トランジスタが帰還結合路
に設けられている。これによつてオツシレータ信
号が1:1の開閉比を持つようになり、その結果
ポンプ過程の間に等長の休止時間を持つ対称的の
ポンプ信号が得られ、基板バイアス電圧発生回路
の有効性が著しく改善される。発振器出力端15
は二安定トリガ段の第一信号入力端および地電位
と給電電位VDDの間に置かれたインバータINの
信号入力端に結ばれている。このインバータは抵
抗として使用されるデプレーシヨン型電界効果ト
ランジスタ20とそれに直列接続のエンハンスメ
ント型電界効果トランジスタ21から構成され、
その出力端は両電界効果トランジスタ20,21
のソース・ドレン区間の間の接続点でありトリガ
段FFの第二信号入力端に結ばれている。
この実施例においては二つの互に逆向きに接続さ
れたデプレーシヨン型トランジスタが帰還結合路
に設けられている。これによつてオツシレータ信
号が1:1の開閉比を持つようになり、その結果
ポンプ過程の間に等長の休止時間を持つ対称的の
ポンプ信号が得られ、基板バイアス電圧発生回路
の有効性が著しく改善される。発振器出力端15
は二安定トリガ段の第一信号入力端および地電位
と給電電位VDDの間に置かれたインバータINの
信号入力端に結ばれている。このインバータは抵
抗として使用されるデプレーシヨン型電界効果ト
ランジスタ20とそれに直列接続のエンハンスメ
ント型電界効果トランジスタ21から構成され、
その出力端は両電界効果トランジスタ20,21
のソース・ドレン区間の間の接続点でありトリガ
段FFの第二信号入力端に結ばれている。
調整回路に対する規準値設定部SWとしては地
電位と給電電圧VDDの間に置かれた固定抵抗Ra
とRbから成る分圧器が使用され、これは例えば
半導体表面を覆うSiO2層にとりつけられたポリ
シリコン導体路として実現される。抵抗RaとRb
の間の分圧点は地電位に対して参照電圧Vrefを
与える。この電圧はしきい値電圧検出器SDの入
力端を構成する電界効果トランジスタ22のゲー
トに加えられる。
電位と給電電圧VDDの間に置かれた固定抵抗Ra
とRbから成る分圧器が使用され、これは例えば
半導体表面を覆うSiO2層にとりつけられたポリ
シリコン導体路として実現される。抵抗RaとRb
の間の分圧点は地電位に対して参照電圧Vrefを
与える。この電圧はしきい値電圧検出器SDの入
力端を構成する電界効果トランジスタ22のゲー
トに加えられる。
しきい値電圧検出器SDは二つのエンハンスメ
ント型電界効果トランジスタ22,23のソー
ス・ドレン区間の直列接続とエンハンスメント型
電界効果トランジスタ24およびデプレーシヨン
型電界効果トランジスタ25のソース・ドレン区
間の直列接続とによつて構成され、電界効果トラ
ンジスタ25と電界効果トランジスタ23とはそ
れぞれ負荷素子として第2図に示すように接続さ
れている。
ント型電界効果トランジスタ22,23のソー
ス・ドレン区間の直列接続とエンハンスメント型
電界効果トランジスタ24およびデプレーシヨン
型電界効果トランジスタ25のソース・ドレン区
間の直列接続とによつて構成され、電界効果トラ
ンジスタ25と電界効果トランジスタ23とはそ
れぞれ負荷素子として第2図に示すように接続さ
れている。
これらの直列接続はインバータ段の機能を果た
し、給電電圧VDDと地電位の間の電位差をバイパ
スする。電界効果トランジスタ22と23を含む
インバータの出力端、即ちこれらのトランジスタ
の間の接続点はトランジスタ24のゲートに結ば
れ、電界効果トランジスタ24と25を含むイン
バータの出力端、即ちこれらのトランジスタの間
の接続点はスイツチSrとなつているエンハンス
メント型トランジスタM7のゲートに結ばれてい
る。
し、給電電圧VDDと地電位の間の電位差をバイパ
スする。電界効果トランジスタ22と23を含む
インバータの出力端、即ちこれらのトランジスタ
の間の接続点はトランジスタ24のゲートに結ば
れ、電界効果トランジスタ24と25を含むイン
バータの出力端、即ちこれらのトランジスタの間
の接続点はスイツチSrとなつているエンハンス
メント型トランジスタM7のゲートに結ばれてい
る。
二安定トリガ段FFは二つの平行枝線から成
り、一方からは電圧VDDが印加され、他方はトラ
ンジスタM7のドレン領域の結節点5+に終つて
いる。これら二つの枝線はそれぞれ三つの電界効
果トランジスタとポンプ回路CP1又はCP2に対
する一つの接続端子を持つ。更にこれらの枝線は
フリツプ・フロツプ動作にとつて重要な交叉結合
を持つている。
り、一方からは電圧VDDが印加され、他方はトラ
ンジスタM7のドレン領域の結節点5+に終つて
いる。これら二つの枝線はそれぞれ三つの電界効
果トランジスタとポンプ回路CP1又はCP2に対
する一つの接続端子を持つ。更にこれらの枝線は
フリツプ・フロツプ動作にとつて重要な交叉結合
を持つている。
トランジスタM7はスイツチングトランジスタ
M3,M4,M5,M6のソース領域を地電位に
接続してトリガ段FFを励起しまた給電電圧を基
板Sに導くためのものである。
M3,M4,M5,M6のソース領域を地電位に
接続してトリガ段FFを励起しまた給電電圧を基
板Sに導くためのものである。
トリガ段の第一の枝線は電界効果トランジスタ
M3とM4のソース・ドレン区間の並列接続を含
む。これらのトランジスタは共にエンハンスメン
ト型であつてソースは結節点5+に、ドレンはデ
プレーシヨン型のトランジスタ26のソースに結
ばれている。このトランジスタ26のドレンは給
電電圧VDDに接続され、ゲートはインバータIN
の出力端に接続される。トランジスタ26と両ト
ランジスタM3,M4の間にはポンプ回路CP1
の接続端3′+がある。
M3とM4のソース・ドレン区間の並列接続を含
む。これらのトランジスタは共にエンハンスメン
ト型であつてソースは結節点5+に、ドレンはデ
プレーシヨン型のトランジスタ26のソースに結
ばれている。このトランジスタ26のドレンは給
電電圧VDDに接続され、ゲートはインバータIN
の出力端に接続される。トランジスタ26と両ト
ランジスタM3,M4の間にはポンプ回路CP1
の接続端3′+がある。
トリガ段の第二の枝線は電界効果トランジスタ
M5とM6のソース・ドレン区間の並列接続を含
む。これらのトランジスタもエンハンスメント型
であり、ソースは結節点5+に、ドレンはデプレ
ーシヨン型トランジスタ27のソースに結ばれて
いる。トランジスタ27のドレンは電圧VDDに接
続されそのゲートは発振器Oの出力端に接続され
ている。トランジスタ27と両トランジスタM
5,M6の間にポンプ回路CP1の接続点3+が
ある。
M5とM6のソース・ドレン区間の並列接続を含
む。これらのトランジスタもエンハンスメント型
であり、ソースは結節点5+に、ドレンはデプレ
ーシヨン型トランジスタ27のソースに結ばれて
いる。トランジスタ27のドレンは電圧VDDに接
続されそのゲートは発振器Oの出力端に接続され
ている。トランジスタ27と両トランジスタM
5,M6の間にポンプ回路CP1の接続点3+が
ある。
フリツプ・フロツプ作用を達成するためトリガ
段FFの両枝線のトランジスタM4とM5のゲー
トはそれぞれ他方の枝線の両エンハンスメント型
トランジスタの並列接続とデプレーシヨン型トラ
ンジスタの間にある接続点に結ばれている。これ
らの接続点は同時にポンプ回路CP1,CP2が接
続されているトリガ段FFの出力端3+,3′+を
構成している。
段FFの両枝線のトランジスタM4とM5のゲー
トはそれぞれ他方の枝線の両エンハンスメント型
トランジスタの並列接続とデプレーシヨン型トラ
ンジスタの間にある接続点に結ばれている。これ
らの接続点は同時にポンプ回路CP1,CP2が接
続されているトリガ段FFの出力端3+,3′+を
構成している。
しきい値電圧VTが基板の洩れ電流JLのために
規準電圧値Vref以下となるとトランジスタM7
が投入されそれによつてトランジスタM3,M
4,M5およびM6が励起される。これに反して
しきい値電圧VTが規準電圧値Vref以上になると
トランジスタM7が遮断され地電位と基板の間の
電圧VBBはスイツチM7が再投入されるまで基板
洩れ電流のため変化する。
規準電圧値Vref以下となるとトランジスタM7
が投入されそれによつてトランジスタM3,M
4,M5およびM6が励起される。これに反して
しきい値電圧VTが規準電圧値Vref以上になると
トランジスタM7が遮断され地電位と基板の間の
電圧VBBはスイツチM7が再投入されるまで基板
洩れ電流のため変化する。
基板バイアス電圧発生装置を調整するための調
整ユニツトとして二安定トリガ段FFを使用する
ことにより発振器O自体を調整ユニツトとして使
用する場合よりも迅速な調整が可能となる。従来
の装置では基板バイアス電圧発生装置が発振器を
介して調整されたため調整作用は緩慢であつた。
更にこの発明による基板バイアス電圧発生装置の
構成はMOS―IC技術による製作および本来の集
積回路と共に共通のシリコンチツプ上にまとめる
ことを可能にする。
整ユニツトとして二安定トリガ段FFを使用する
ことにより発振器O自体を調整ユニツトとして使
用する場合よりも迅速な調整が可能となる。従来
の装置では基板バイアス電圧発生装置が発振器を
介して調整されたため調整作用は緩慢であつた。
更にこの発明による基板バイアス電圧発生装置の
構成はMOS―IC技術による製作および本来の集
積回路と共に共通のシリコンチツプ上にまとめる
ことを可能にする。
第1図、第2図に示された回路の各点における
パルスの時間経過は第3図に時間tを横軸に、地
電位に対するパルス電圧の大きさを縦軸にとつた
パルス―時間ダイヤグラムによつて示されてい
る。第一のダイヤグラムは発振器Oの出力端15
に現われる電圧に対するものであり、第二と第三
のダイヤグラムはトリガ段FFの信号出力端2+
と2′+に現われる電圧に対するものである。T
は発振器Oの発生パルスの周期である。第四と第
五のダイヤグラムはポンプ回路CP1およびCP2
の出力端の電圧を表わし、最後のダイヤグラムは
スイツチSrの作用を考慮した基板バイアス電圧
VBBの経過を表わす。図から分るようにバイアス
電圧VBBはバイアス電圧発生回路の休止中低下
し、再起動後規定値に戻る。
パルスの時間経過は第3図に時間tを横軸に、地
電位に対するパルス電圧の大きさを縦軸にとつた
パルス―時間ダイヤグラムによつて示されてい
る。第一のダイヤグラムは発振器Oの出力端15
に現われる電圧に対するものであり、第二と第三
のダイヤグラムはトリガ段FFの信号出力端2+
と2′+に現われる電圧に対するものである。T
は発振器Oの発生パルスの周期である。第四と第
五のダイヤグラムはポンプ回路CP1およびCP2
の出力端の電圧を表わし、最後のダイヤグラムは
スイツチSrの作用を考慮した基板バイアス電圧
VBBの経過を表わす。図から分るようにバイアス
電圧VBBはバイアス電圧発生回路の休止中低下
し、再起動後規定値に戻る。
第1図はこの発明の実施例のブロツク接続図、
第2図はその詳細な回路図、第3図はこの実施例
の種々の点に現われるパルス電圧の時間経過を示
すダイヤグラムである。第1図においてOは発振
器、FFは二安定トリガ段、CP1とCP2はポン
プ回路、Sは基板を表わす。
第2図はその詳細な回路図、第3図はこの実施例
の種々の点に現われるパルス電圧の時間経過を示
すダイヤグラムである。第1図においてOは発振
器、FFは二安定トリガ段、CP1とCP2はポン
プ回路、Sは基板を表わす。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ソース領域とドレン領域の導電型が互に一致
する二つ以上の電界効果トランジスタが一つの半
導体結晶内に集められ、それらの領域は共通に反
対導電型の半導体結晶領域によつて包囲され、一
つの発振器としきい値電圧検出器を持つ調整回路
とを含む電圧発生器がこの反対導電型半導体結晶
領域と地電位の間の補助電圧発生用として設けら
れ、この補助電圧が発電機の出力側に設けられた
ポンプ回路を通して半導体回路の所定部分に加え
られるものにおいて、二つの並列枝線のそれぞれ
が二つの同規格FET,M3,M4;M5,M6
の並列接続に一つの別のFET26;27が直列
に接続されたものであり、各枝線の並列接続
FETの一つM4;M5の制御電極が他方の枝線
の接続点3+;3′+に接続されている二安定ト
リガ段(フリツプフロツプFF)が使用され、こ
の二安定トリガ段が直接の信号入力端2と反転信
号入力端2′およびそれらに対応する二つの信号
出力端3,3′の外に起動しきい値電圧制御用の
第三入力端5を備え、その両信号入力端が発振器
の出力信号を直接および反転して受取り、第三入
力端5は電子スイツチを介して基準発生器SWと
しきい値電圧検出器SDから成る調整回路に接続
されるのに対して両信号出力端3,3′はそれぞ
れ一つのポンプ回路CP1,CP2を通して反対導電
型半導体結晶領域と地電位に接続され、これらの
ポンプ回路がプツシユ・プル動作で補助電圧VBB
を調整すること、一つの主電圧が動作電位VDDに
置かれ他方の主電極が自身のゲート電極と発振器
の出力端15に結ばれている負荷FET14が発
振器O内に設けられていること、発振器の出力端
15が一方ではそれぞれダイオードとして接続さ
れた一対のFET17,18を通してコンデンサ
11の一つの極に結ばれると同時に他方では第二
のFET対12,13を通して接地されているこ
とを特徴とする一つの半導体結晶内に集積された
少なくとも二つの電界効果トランジスタを含む半
導体回路。 2 二つのポンプ回路が互に等しいものであつて
それぞれに一つのポンプキヤパシタンスと一つの
電界効果トランジスタ特にエンハンスメント型の
ものが設けられ、ポンプキヤパシタンスの一方の
接続端子は二安定トリガ段の対応する信号出力端
に接続され他方の接続端子は対応する電界効果ト
ランジスタのドレンに接続されていること、両電
果効果トランジスタの制御電極が対応するトラン
ジスタのドレン領域と導電的に結合されているこ
と、両トランジスタのドレン領域がそれぞれ一つ
のダイオードを通して反対導電型半導体結晶領域
に接続されているのに対してそれらのソース領域
は地電位に置かれていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の半導体回路。 3 三つの電界効果トランジスタ12,13,1
4の直列接続が給電電圧VDDと地電位の間に挿入
され、その中地電位に近い二つの電界効果トラン
ジスタ12,13はエンハンスメント型であつて
それらの制御電極が共通に一つのバラクタダイオ
ードによつて与えられるキヤパシタンス11の一
方の極に接続され、このキヤパシタンスの他方の
極は地電位に置かれていること、互に逆向きに接
続されて抵抗として作用する二つの電界効果トラ
ンジスタ17,18の直列接続がキヤパシタンス
11の地電位から遠い方の極と始めの三つの直列
接続電界効果トランジスタ12,13,14中の
地電位から最も遠いもの14とそれに近い二つの
電界効果トランジスタ12,13の結節点15と
の間に挿入されていること、地電位に近い二つの
電界効果トランジスタ12,13の間にある接続
点と給電電圧VDDを持つ一つの点とが更に別の電
界効果トランジスタ19によつて橋絡され、この
トランジスタの制御電極は三トランジスタ直列接
続の結節点15と結ばれていることを特徴とする
特許請求の範囲第1項又は第2項記載の半導体回
路。 4 しきい値電圧検出器内においてそれぞれ二つ
の電界効果トランジスタの直列接続から成る二つ
の分枝がそれぞれ地電位端と給電電圧VDD端とに
結ばれていること、第一の直列接続では地電位に
近いトランジスタ22がその制御電極を通して基
準値賦与部からの参照電圧Rrefを加えられ地電
位から遠いトランジスタ23は抵抗として接続さ
れていること、第二の直列接続では地電位に近い
トランジスタ24の制御電極が第一直列接続の二
つのトランジスタ22,23の間の接続点を通し
て直接制御され更に地電位から遠い電界効果トラ
ンジスタ25が抵抗として接続されていること、
第一直列接続を通して電圧印加されるトランジス
タ24と抵抗として接続されたトランジスタ25
の間にある接続点がしきい値電圧検出器のスイツ
チSr制御用出力端となつていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに
記載の半導体回路。 5 インバータINが二つの電界トランジスタ2
0,21の直列接続によつて構成されているこ
と、この直列接続が地電位と給電電圧VDDの間に
置かれていること、直列接続の地電位に近いトラ
ンジスタ21の制御電極が発振器0の出力端15
を通して制御されること、地電位から遠いトラン
ジスタ20が抵抗として接続されていること、二
つのトランジスタの間の接続点がインバータIN
の出力端となつていることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の半導体回路。 6 第二のトランジスタ直列接続24,25を通
してスイツチSrとして作用する電界効果トラン
ジスタM7が電圧を印加され、このトランジスタ
のソースは地電位に、そのドレンは二安定トリガ
段FFの結節点5+に接続されていることを特徴
とする特許請求の範囲第4項記載の半導体回路。 7 スイツチとして作用する電界効果トランジス
タM7のドレン電極が二安定トリガ段の第三入力
端を構成する分岐点5+に接続されていること、
この分岐点から二つの互に等しく共に電界効果ト
ランジスタの組合せである交叉結合枝線が出発し
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃
至第6項のいずれかに記載の半導体回路。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2812378A DE2812378C2 (de) | 1978-03-21 | 1978-03-21 | Substratvorspannungsgenerator für integrierte MIS-Schaltkreise |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54133083A JPS54133083A (en) | 1979-10-16 |
| JPS6250984B2 true JPS6250984B2 (ja) | 1987-10-28 |
Family
ID=6035091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3217979A Granted JPS54133083A (en) | 1978-03-21 | 1979-03-19 | Semiconductor circuit |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4266151A (ja) |
| JP (1) | JPS54133083A (ja) |
| DE (1) | DE2812378C2 (ja) |
| FR (1) | FR2420877A1 (ja) |
| GB (1) | GB2020502B (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5559756A (en) | 1978-10-30 | 1980-05-06 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
| JPS6033314B2 (ja) * | 1979-11-22 | 1985-08-02 | 富士通株式会社 | 基板バイアス電圧発生回路 |
| JPS56117390A (en) | 1980-02-16 | 1981-09-14 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory device |
| DE3009303A1 (de) * | 1980-03-11 | 1981-09-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Monolithisch integrierte digitale halbleiterschaltung |
| US4336466A (en) * | 1980-06-30 | 1982-06-22 | Inmos Corporation | Substrate bias generator |
| JPS57199335A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-07 | Toshiba Corp | Generating circuit for substrate bias |
| US4553047A (en) * | 1983-01-06 | 1985-11-12 | International Business Machines Corporation | Regulator for substrate voltage generator |
| JPS6132457A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-15 | Seiko Epson Corp | 基板電圧発生回路 |
| JPH07113863B2 (ja) * | 1985-06-29 | 1995-12-06 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
| JPS6266656A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-26 | Toshiba Corp | 基板電位生成回路 |
| JP3561060B2 (ja) * | 1995-12-08 | 2004-09-02 | 三菱電機株式会社 | 負電圧発生回路 |
| JP3019805B2 (ja) * | 1997-06-19 | 2000-03-13 | 日本電気株式会社 | Cmos論理回路 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3805095A (en) * | 1972-12-29 | 1974-04-16 | Ibm | Fet threshold compensating bias circuit |
| US4004164A (en) * | 1975-12-18 | 1977-01-18 | International Business Machines Corporation | Compensating current source |
| US4115710A (en) * | 1976-12-27 | 1978-09-19 | Texas Instruments Incorporated | Substrate bias for MOS integrated circuit |
| JPS53130990A (en) * | 1977-04-20 | 1978-11-15 | Toshiba Corp | Integrated circuit device |
| JPS5482056A (en) * | 1977-12-13 | 1979-06-29 | Nec Corp | Substrate bias voltage generator circuit |
-
1978
- 1978-03-21 DE DE2812378A patent/DE2812378C2/de not_active Expired
-
1979
- 1979-03-15 US US06/020,857 patent/US4266151A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-03-19 JP JP3217979A patent/JPS54133083A/ja active Granted
- 1979-03-20 GB GB7909754A patent/GB2020502B/en not_active Expired
- 1979-03-20 FR FR7906979A patent/FR2420877A1/fr active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2420877A1 (fr) | 1979-10-19 |
| FR2420877B1 (ja) | 1984-11-23 |
| GB2020502A (en) | 1979-11-14 |
| US4266151A (en) | 1981-05-05 |
| JPS54133083A (en) | 1979-10-16 |
| DE2812378C2 (de) | 1982-04-29 |
| GB2020502B (en) | 1982-04-28 |
| DE2812378A1 (de) | 1979-09-27 |
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