JPS625193A - 放射形断層撮影装置 - Google Patents
放射形断層撮影装置Info
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- JPS625193A JPS625193A JP14398785A JP14398785A JPS625193A JP S625193 A JPS625193 A JP S625193A JP 14398785 A JP14398785 A JP 14398785A JP 14398785 A JP14398785 A JP 14398785A JP S625193 A JPS625193 A JP S625193A
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- ray detector
- detector
- rotary plate
- gamma ray
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 5
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 claims abstract description 31
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000013480 data collection Methods 0.000 abstract description 5
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 10
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000013481 data capture Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はシンチレーションカメラと画像データ処理装置
と回転板装置とを備えてなり、その回転板上に設けられ
た前記シンチレーションカメラのγ線検出器を、ラジオ
アイソトープを投与した被検体の周囲に回転させながら
適宜箇所でデータを取り込み、その取り込まれたエミッ
ションデータに基づき画像再構成して断層像を得る放射
形断層撮影装置に関するものである。
と回転板装置とを備えてなり、その回転板上に設けられ
た前記シンチレーションカメラのγ線検出器を、ラジオ
アイソトープを投与した被検体の周囲に回転させながら
適宜箇所でデータを取り込み、その取り込まれたエミッ
ションデータに基づき画像再構成して断層像を得る放射
形断層撮影装置に関するものである。
この種の装置（エミツションＣＴ装置（ＥＣＴ）ともい
う）において、被検体深部のラジオアイソトープ（以下
、ＲＩという）から発生したγ線は。
う）において、被検体深部のラジオアイソトープ（以下
、ＲＩという）から発生したγ線は。
その検出器へ達するまでに被検体内部で吸収されるため
、断層像中心部の画像再構成値が真値よりも低くなって
しまう。
、断層像中心部の画像再構成値が真値よりも低くなって
しまう。
このため従来から、取り込まれたエミッションデータに
対して吸収補正を行った上で画像再構成するようにして
いるが、従来の吸収補正は被検体各部の吸収係数の仮定
値に基づいて行っているため正確に行うことができない
。
対して吸収補正を行った上で画像再構成するようにして
いるが、従来の吸収補正は被検体各部の吸収係数の仮定
値に基づいて行っているため正確に行うことができない
。
そこで、一旦トランスミッシ目ンデータを収集し、その
データから実際の吸収係数を求やた後、エミッションデ
ータを収集し、吸収補正を行って画像再構成する装置が
考えられた。すなわち第４図及び第５図に示すように１
回転板装置１で駆動される環状の回転板１ａ上に設けら
れたシンチレーションカメラのγ線検出器２と被検体３
を挟んで対向する前記回転板１ａ上の位置にフラッドソ
ース（板体状に形成され、その板面各部から均一強度の
γ線が放射されるようになされたγ線源）４を着脱自在
に配設してなるものである。なお被検体３は、第５図か
ら分かるに、その体軸方向を回転体１ａの回転中心軸ｘ
−Ｘ方向に向けて位置付けされている。
データから実際の吸収係数を求やた後、エミッションデ
ータを収集し、吸収補正を行って画像再構成する装置が
考えられた。すなわち第４図及び第５図に示すように１
回転板装置１で駆動される環状の回転板１ａ上に設けら
れたシンチレーションカメラのγ線検出器２と被検体３
を挟んで対向する前記回転板１ａ上の位置にフラッドソ
ース（板体状に形成され、その板面各部から均一強度の
γ線が放射されるようになされたγ線源）４を着脱自在
に配設してなるものである。なお被検体３は、第５図か
ら分かるに、その体軸方向を回転体１ａの回転中心軸ｘ
−Ｘ方向に向けて位置付けされている。
このような装置においては、まず通常のエミッションデ
ータの収集時と同様に回転板１ａを例えば図中矢印イ方
向に回転させながら、フラッドソース４から放射されて
被検体３を透過したγ線５を前記検出器２で検出してト
ランスミッションデータを収集する。その後、前記７ラ
ツドソース４を回転板１ａから取り外すと共に被検体３
にはＲＩを投与し、回転板１ａを回転させながら上記Ｒ
Ｉからのγ線を前記検出器２で検出してエミッションデ
ータを収集する。そしてこのエミッションデータに対し
、前記トランスミッションデータから実際に求められた
吸収係数を用いて吸収補正を行い。
ータの収集時と同様に回転板１ａを例えば図中矢印イ方
向に回転させながら、フラッドソース４から放射されて
被検体３を透過したγ線５を前記検出器２で検出してト
ランスミッションデータを収集する。その後、前記７ラ
ツドソース４を回転板１ａから取り外すと共に被検体３
にはＲＩを投与し、回転板１ａを回転させながら上記Ｒ
Ｉからのγ線を前記検出器２で検出してエミッションデ
ータを収集する。そしてこのエミッションデータに対し
、前記トランスミッションデータから実際に求められた
吸収係数を用いて吸収補正を行い。
画像再構成していた。
上述装置によれば、フラッドソース４を用いて収集した
トランスミッションデータから吸収係数を実際に求め、
これにより吸収補正しているので正確な吸収補正を行う
ことができるが、トランスミッションデータ及びエミッ
ションデータの収集に２回の回転板装置１の駆動繰作を
必要とすると共に、その中間時においてフラッドソース
４の取外し作業及びＲＩ投与を行うのでデータ収集に多
大な手間と時間を要し、操作性が低い上に被検体に与え
る負担が大きいという問題点があった。
トランスミッションデータから吸収係数を実際に求め、
これにより吸収補正しているので正確な吸収補正を行う
ことができるが、トランスミッションデータ及びエミッ
ションデータの収集に２回の回転板装置１の駆動繰作を
必要とすると共に、その中間時においてフラッドソース
４の取外し作業及びＲＩ投与を行うのでデータ収集に多
大な手間と時間を要し、操作性が低い上に被検体に与え
る負担が大きいという問題点があった。
本発明は上記のような問題点を解消するためになされた
もので、正確な吸収補正ができる上にデータ収集が簡単
かつ短時間にでき、操作性の向上と被検体に与える負担
の軽減を計ることができる放射形断層撮影装置を提供す
ることを目的とする。
もので、正確な吸収補正ができる上にデータ収集が簡単
かつ短時間にでき、操作性の向上と被検体に与える負担
の軽減を計ることができる放射形断層撮影装置を提供す
ることを目的とする。
本発明装置は、シンチレーションカメラのγ線検出器か
ら所定の回転角離れた回転板上の位置に第２γ線検出器
を設けると共に、この第２γ線検出器と被検体を挟んで
対向する回転板上の位置にフラッドソースを配設してな
り、トランスミッションデータは前記２つのγ線検出器
からのデータの差を演算して得ることで上記目的を達成
するようにしたものである。
ら所定の回転角離れた回転板上の位置に第２γ線検出器
を設けると共に、この第２γ線検出器と被検体を挟んで
対向する回転板上の位置にフラッドソースを配設してな
り、トランスミッションデータは前記２つのγ線検出器
からのデータの差を演算して得ることで上記目的を達成
するようにしたものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明による放射形断層撮影装置の一実施例の
要部を示す正面図、第２図は同じく側面図で、両図にお
いて１．ｌａ、３及びｘ−Ｘは各々第４図及び第５図と
同様である。２及び４も同様にシンチレーションカメラ
のγ線検出器（以下、第１γ線検出器という）及びフラ
ッドソースを示すが、本発明では後述するようにそれら
の配設位置関係が第４図及び第５図と異なる。
要部を示す正面図、第２図は同じく側面図で、両図にお
いて１．ｌａ、３及びｘ−Ｘは各々第４図及び第５図と
同様である。２及び４も同様にシンチレーションカメラ
のγ線検出器（以下、第１γ線検出器という）及びフラ
ッドソースを示すが、本発明では後述するようにそれら
の配設位置関係が第４図及び第５図と異なる。
１１は上記第１γ線検出器２とは別個に設けられたγ線
検出器（第２γ線検出器）で、上記第１γ線検出器２か
ら所定の回転角、ここでは回転板１ａの回転方向（矢印
イ方向）に９０°離れた回転板ｌａ上の位置に配設され
ている。そして前記フラッドソース４はこの第２γ線検
出器１１と被検体３を挟んで対向する回転板ｌａ上の位
置に配設されてなるものである。
検出器（第２γ線検出器）で、上記第１γ線検出器２か
ら所定の回転角、ここでは回転板１ａの回転方向（矢印
イ方向）に９０°離れた回転板ｌａ上の位置に配設され
ている。そして前記フラッドソース４はこの第２γ線検
出器１１と被検体３を挟んで対向する回転板ｌａ上の位
置に配設されてなるものである。
このような構成において、データ収集は次のように行わ
れる。すなわち、回転板１ａを例えば第１図中矢印イ方
向に回転させながら適宜箇所、ここでは図示第２γ線検
出器１１の位置を基準（Ｏｏ）として、０°、９０°、
１８０°及び２７０°の４箇所の回転角部分で各検出器
２，１１によりγ線を検出することにより行われる。こ
の場合、第１γ線検出器２は被検体３内のＲＩからのγ
線のみを検出、すなわちエミッションデータのみを取り
込むことになる。
れる。すなわち、回転板１ａを例えば第１図中矢印イ方
向に回転させながら適宜箇所、ここでは図示第２γ線検
出器１１の位置を基準（Ｏｏ）として、０°、９０°、
１８０°及び２７０°の４箇所の回転角部分で各検出器
２，１１によりγ線を検出することにより行われる。こ
の場合、第１γ線検出器２は被検体３内のＲＩからのγ
線のみを検出、すなわちエミッションデータのみを取り
込むことになる。
また、第２γ線検出器１１は被検体３内のＲＩからのγ
線とフラッドソース４から放射されて被検体３を透過し
たγ線との双方のγ線１２を検出、すなわちエミッショ
ンデータとトランスミッションデータとの和データを取
り込むことになる。したがってその和データと、前記第
１γ線検出器２で取り込まれたエミッションデータとの
差を演算すれば正確なトランスミッションデータが得ら
れることになり、第４図及び第５図に示す装置で求めた
と同等の吸収係数が求められる。
線とフラッドソース４から放射されて被検体３を透過し
たγ線との双方のγ線１２を検出、すなわちエミッショ
ンデータとトランスミッションデータとの和データを取
り込むことになる。したがってその和データと、前記第
１γ線検出器２で取り込まれたエミッションデータとの
差を演算すれば正確なトランスミッションデータが得ら
れることになり、第４図及び第５図に示す装置で求めた
と同等の吸収係数が求められる。
以下これについて第３図に基づき説明する。第３図は上
述本発明装置の要部の一例を示すブロック図で、図中２
及び１１は各々第１図及び第２図と同様である。２１は
第１γ線検出器２で取り込まれたエミッションデータを
格納する第１イメージメモリ、２２は第２γ線検出器１
１で取り込まれたエミッションデータとトランスミッシ
ョンデータとの和データを格納する第２イメージメモリ
である。
述本発明装置の要部の一例を示すブロック図で、図中２
及び１１は各々第１図及び第２図と同様である。２１は
第１γ線検出器２で取り込まれたエミッションデータを
格納する第１イメージメモリ、２２は第２γ線検出器１
１で取り込まれたエミッションデータとトランスミッシ
ョンデータとの和データを格納する第２イメージメモリ
である。
これらのイメージメモリ２１．２２は各々データ取込箇
所及びその数に応じて０°、９０°、 １８０’及び２
７０゜の４セクシヨンに区分され、上記γ線検出器２゜
１１で取り込まれたデータは各々該当セクションに順次
格納される。ここで、イメージメモリ２１と２２のセク
ションの配列が図中上方から前者は２７０°。
所及びその数に応じて０°、９０°、 １８０’及び２
７０゜の４セクシヨンに区分され、上記γ線検出器２゜
１１で取り込まれたデータは各々該当セクションに順次
格納される。ここで、イメージメモリ２１と２２のセク
ションの配列が図中上方から前者は２７０°。
００．９０°、１８０°であるのに対して後者はＯ’、
９０°。
９０°。
１８０°、２７０°となっているのは、第１図に示した
ように第１γ線検出器２が第２γ線検出器１１を基準と
して回転板１ａの回転方向とは反対方向に９０’離して
設けられているからである。
ように第１γ線検出器２が第２γ線検出器１１を基準と
して回転板１ａの回転方向とは反対方向に９０’離して
設けられているからである。
第１〜第４減算器２３〜２６は、上記イメージメモリ２
１．２２に格納されたデータに対し、同一取込箇所（回
転角部分）毎に減算して差データを得るもので、得られ
た差データ、すなわちトランスミッションデータは第３
イメージメモリ２７の該当セクションに格納される。画
像データ処理装置２８は上記第３イメージメモリ２７に
格納されたトランスミッションデータから吸収係数を求
め、前記第１イメージメモリ２１に格納されたエミッシ
ョンデータに対して吸収補正を行った後、画像再構成演
算を行う。
１．２２に格納されたデータに対し、同一取込箇所（回
転角部分）毎に減算して差データを得るもので、得られ
た差データ、すなわちトランスミッションデータは第３
イメージメモリ２７の該当セクションに格納される。画
像データ処理装置２８は上記第３イメージメモリ２７に
格納されたトランスミッションデータから吸収係数を求
め、前記第１イメージメモリ２１に格納されたエミッシ
ョンデータに対して吸収補正を行った後、画像再構成演
算を行う。
上述構成によれば、第２γ線検出器１１で取り込まれた
エミッションデータとトランスミッションデータとの和
データと第１γ線検出器２で取り込まれたエミッション
データとの差を演算してトランスミッションデータを得
、これにより吸収係数を求めるようにしたので、第４図
及び第５図に示す装置で求めたと同様の吸収係数が求め
られ、正確な吸収補正ができる。しかも１回の回転板装
置１の駆動操作（手間）で上記エミッションデータ及び
トランスミッションデータが得られるのでデータ収集が
簡単かつ短時間にできる。
エミッションデータとトランスミッションデータとの和
データと第１γ線検出器２で取り込まれたエミッション
データとの差を演算してトランスミッションデータを得
、これにより吸収係数を求めるようにしたので、第４図
及び第５図に示す装置で求めたと同様の吸収係数が求め
られ、正確な吸収補正ができる。しかも１回の回転板装
置１の駆動操作（手間）で上記エミッションデータ及び
トランスミッションデータが得られるのでデータ収集が
簡単かつ短時間にできる。
なお上述実施例では、データの取り込みを各々９０°ず
つ離れた４箇所で行う場合について述べたが、これのみ
に限定されることはない。データ取込箇所を増減する場
合には、それに応じて各イメージメモリ２１．２２．２
７のセクション及び減算器２３〜２６の数を、各々増減
すればよい。
つ離れた４箇所で行う場合について述べたが、これのみ
に限定されることはない。データ取込箇所を増減する場
合には、それに応じて各イメージメモリ２１．２２．２
７のセクション及び減算器２３〜２６の数を、各々増減
すればよい。
以上述べたように本発明によれば、正確な吸収補正がで
きる上にデータ収集が簡単かつ短時間にでき、操作性の
向上と被検体に与える負担の軽減を計ることができると
いう効果がある。
きる上にデータ収集が簡単かつ短時間にでき、操作性の
向上と被検体に与える負担の軽減を計ることができると
いう効果がある。
第１図は本発明装置の一実施例の要部を示す正面図、第
２図は同じく側面図、第３図は同じくブロック図、第４
図は従来装置の要部を示す正面図、第５図は同じく側面
図である。 １・・・回転板装置、１ａ・・・回転板、２・・・シン
チレーションカメラのγ線検出器（第１γ線検出器）、
３・・・被検体、４・・・フラッドソース、１１・・・
第２γ線検出器、２１．２２．２７・・・イメージメモ
リ、２３〜２６・・・減算器、２８・・・画像データ処
理装置。 特許出願人 株式会社日立メデイコ代理人 弁理士
秋 本 正 実第１図 Ｂ００ 第２１１ 第５図 ／ａ ／
２図は同じく側面図、第３図は同じくブロック図、第４
図は従来装置の要部を示す正面図、第５図は同じく側面
図である。 １・・・回転板装置、１ａ・・・回転板、２・・・シン
チレーションカメラのγ線検出器（第１γ線検出器）、
３・・・被検体、４・・・フラッドソース、１１・・・
第２γ線検出器、２１．２２．２７・・・イメージメモ
リ、２３〜２６・・・減算器、２８・・・画像データ処
理装置。 特許出願人 株式会社日立メデイコ代理人 弁理士
秋 本 正 実第１図 Ｂ００ 第２１１ 第５図 ／ａ ／
Claims (1)
- シンチレーションカメラと画像データ処理装置と回転板
装置とを備えてなり、その回転板上に設けられた前記シ
ンチレーションカメラのγ線検出器を、ラジオアイソト
ープを投与した被検体の周囲に回転させながら適宜箇所
でデータを取り込み、その取り込まれたエミッションデ
ータに対し、フラッドソースを用いて得たトランスミッ
ションデータにより吸収補正を行い、画像再構成して断
層像を得る放射形断層撮影装置において、前記シンチレ
ーションカメラのγ線検出器から所定の回転角離れた前
記回転板上の位置に第２γ線検出器を設けると共に、こ
の第２γ線検出器と前記被検体を挟んで対向する前記回
転板上の位置に前記フラッドソースを配設してなり、前
記トランスミッションデータは前記２つのγ線検出器か
らのデータの差を演算して得ることを特徴とする放射形
断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14398785A JPS625193A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | 放射形断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14398785A JPS625193A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | 放射形断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS625193A true JPS625193A (ja) | 1987-01-12 |
Family
ID=15351669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14398785A Pending JPS625193A (ja) | 1985-07-02 | 1985-07-02 | 放射形断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS625193A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6281505B1 (en) | 1991-05-23 | 2001-08-28 | Adac Laboratories | Adjustable dual-detector image data acquisition system |
| USRE37474E1 (en) | 1991-05-23 | 2001-12-18 | Adac Laboratories | Adjustable dual-detector image data acquisition system |
| USRE38560E1 (en) | 1991-05-23 | 2004-08-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Adjustable dual-detector image data acquisition system |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6130786A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-13 | Koichi Ogawa | エミツシヨンｃｔ装置 |
-
1985
- 1985-07-02 JP JP14398785A patent/JPS625193A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6130786A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-13 | Koichi Ogawa | エミツシヨンｃｔ装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6281505B1 (en) | 1991-05-23 | 2001-08-28 | Adac Laboratories | Adjustable dual-detector image data acquisition system |
| USRE37474E1 (en) | 1991-05-23 | 2001-12-18 | Adac Laboratories | Adjustable dual-detector image data acquisition system |
| USRE38560E1 (en) | 1991-05-23 | 2004-08-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Adjustable dual-detector image data acquisition system |
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