JPS626104A - Dimension measuring instrument by light - Google Patents
Dimension measuring instrument by lightInfo
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- JPS626104A JPS626104A JP5134585A JP5134585A JPS626104A JP S626104 A JPS626104 A JP S626104A JP 5134585 A JP5134585 A JP 5134585A JP 5134585 A JP5134585 A JP 5134585A JP S626104 A JPS626104 A JP S626104A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
この発明は、被測定物に平行走査光を照射し、被測定物
によって生ずる影を光検出器で検出することにより、被
測定物の寸法を測定するようにした光による寸法測定装
置についてのものである。Detailed Description of the Invention (a) Technical Field of the Invention This invention measures the dimensions of a measured object by irradiating the measured object with parallel scanning light and detecting the shadow caused by the measured object with a photodetector. This invention concerns a light-based dimension measuring device that measures .
(b) 従来技術と問題点
このような場合の従来装置の構成図の一例を第2図に示
す。(b) Prior art and problems An example of a configuration diagram of a conventional device in such a case is shown in FIG.
第2図の1は平行走査光、2は被測定物、3は集光レン
ズ、4は光検出器である。In FIG. 2, 1 is a parallel scanning beam, 2 is an object to be measured, 3 is a condenser lens, and 4 is a photodetector.
平行走査光1を被測定物2に当てると、被測定物2によ
って影5ができる。When the parallel scanning light 1 is applied to the object 2 to be measured, a shadow 5 is formed by the object 2 to be measured.
光検出器4は平行走査光1を検出し、検出電圧Vを発生
ずる。この場合、平行走査光1が集光レンズ3に当たっ
ている部分からは検出電圧Vが出るが、影5による部分
には平行走査光lが当たらないので、検出電圧Vは0で
ある。A photodetector 4 detects the parallel scanning light 1 and generates a detection voltage V. In this case, the detection voltage V is output from the part where the parallel scanning light 1 hits the condenser lens 3, but the detection voltage V is 0 because the parallel scanning light 1 does not hit the part due to the shadow 5.
第2図の従来装置は被測定物2による影5の寸法6を検
出電圧Vが発生する寸法7に置換して測定するものであ
る。The conventional apparatus shown in FIG. 2 performs measurements by replacing the dimension 6 of the shadow 5 caused by the object to be measured 2 with the dimension 7 at which the detection voltage V is generated.
次に、第2図の検出電圧Vの拡大図を第3図に示す。Next, FIG. 3 shows an enlarged view of the detected voltage V in FIG. 2.
第3図のVlとV2は第1図の集光レンズ3による光検
出器4の検出電圧である。Vl and V2 in FIG. 3 are voltages detected by the photodetector 4 by the condenser lens 3 in FIG. 1.
第3図から明らかなように、検出電圧v1と検出電圧v
2の端部はテーパ伏になっており、寸法7〉寸法9〉寸
法8の関係になっている。As is clear from FIG. 3, the detection voltage v1 and the detection voltage v
The ends of 2 are tapered down, and have a relationship of dimensions 7>dimensions 9>dimensions 8.
寸法8は光検出器4の検出電圧Vが0のところの寸法で
あり、寸法9は寸法7と寸法8の中間部分の寸法である
。Dimension 8 is the dimension when the detection voltage V of the photodetector 4 is 0, and dimension 9 is the dimension at the intermediate portion between dimension 7 and dimension 8.
寸法7は第2図の影5の寸法6に対し、寸法7〉寸法6
の関係になっている。Dimension 7 is dimension 6 of shadow 5 in Figure 2, dimension 7> dimension 6
There is a relationship between
したがって、寸法7〜9のなかでは、寸法9が実際の寸
法6に一番近いことがわかる。このことは、特願昭50
−40140号の明細書にも記社されている。Therefore, it can be seen that among dimensions 7 to 9, dimension 9 is closest to actual dimension 6. This is a special request made in the 1970s.
It is also included in the specification of No.-40140.
これらは、平行走査光1がある径をもっているために起
こる現象である。These phenomena occur because the parallel scanning light 1 has a certain diameter.
さらに、平行走査光lのビーム径は水平位置により変化
することがあり、平行走査光1の光パワーや光検出器4
の検出感度はエージングなどで変化するので、検出電圧
Vも変化するようになる。Furthermore, the beam diameter of the parallel scanning light 1 may change depending on the horizontal position, and the optical power of the parallel scanning light 1 and the photodetector 4 may vary depending on the horizontal position.
Since the detection sensitivity of V changes due to aging, etc., the detection voltage V also changes.
したがって、被測定物2の寸法6を光検出器4の検出電
圧Vから求めようとすると、測定誤差になることがある
。Therefore, when trying to determine the dimension 6 of the object to be measured 2 from the detection voltage V of the photodetector 4, a measurement error may occur.
(c) 発明の目的
この発明は、172図の光検出器4に補助回路を追加す
ることにより、第2図の従来HKによる測定誤差が少な
くなるようにすることを目的とする。(c) Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to reduce the measurement error caused by the conventional HK shown in FIG. 2 by adding an auxiliary circuit to the photodetector 4 shown in FIG. 172.
(d) 発明の実施例 まず、この発明による実施例の構成図を第1図に示す。(d) Examples of the invention First, a block diagram of an embodiment according to the present invention is shown in FIG.
第1図の11は分割器、12と13はサンプルホールド
回路、14は加算器、15はコンパレータである。In FIG. 1, 11 is a divider, 12 and 13 are sample and hold circuits, 14 is an adder, and 15 is a comparator.
分割器11は、光検出器4の検出電圧Vを半分に分割す
る。The divider 11 divides the detection voltage V of the photodetector 4 in half.
サンプルホールド回路12は、端子17からのホールド
信号により、分割器11の出力をサンプルホールドする
。The sample and hold circuit 12 samples and holds the output of the divider 11 using a hold signal from a terminal 17.
サンプルホールド回路13は、端子18からのホールド
信号により、分割器11の出力をサンプルホールドする
。The sample and hold circuit 13 samples and holds the output of the divider 11 using a hold signal from the terminal 18 .
加算器14は、サンプルホールド回路12の出力とサン
プルホールド回路13の出力を加算する。Adder 14 adds the output of sample and hold circuit 12 and the output of sample and hold circuit 13.
コンパレータ15は、加算器14の出力と光検出器4の
検出電圧Vを人力とし、検出電圧Vの値が下がり加算器
14の出力以下になると出力する。The comparator 15 uses the output of the adder 14 and the detection voltage V of the photodetector 4 as human power, and outputs it when the value of the detection voltage V decreases and becomes equal to or less than the output of the adder 14.
次に、第1図の作用をttE4図を参照しながら説明す
る。Next, the operation of FIG. 1 will be explained with reference to FIG. ttE4.
最初に平行走査光1による光検出器4の検出電圧Vを分
割器11に入力する。First, the voltage V detected by the photodetector 4 due to the parallel scanning light 1 is input to the divider 11 .
検出電圧Vは、被測定物2がない状態で平行走査光lが
集光レンズ3により集光され光検出器4に入射する場合
に得られる。The detection voltage V is obtained when the parallel scanning light l is focused by the condenser lens 3 and enters the photodetector 4 without the object to be measured 2 .
この検出電圧Vは分割器11で半分にされ、サンプルホ
ールド回路12に入る。This detected voltage V is halved by a divider 11 and input to a sample and hold circuit 12.
端子17からのホールド信号は、光検出器4が検出電圧
Vを検出しているときにサンプルホールド回路12に加
えられる。The hold signal from the terminal 17 is applied to the sample and hold circuit 12 while the photodetector 4 is detecting the detection voltage V.
したがって、サンプルホールド回路12は検出電圧Vの
半分の値をホールドする。Therefore, the sample and hold circuit 12 holds the value of half of the detection voltage V.
m4図の検出電圧V・は、被測定物2の影5などのよう
に、平行走査光1が遮られた場合の光検出器4の出力な
ので、理論上はゼロである。しかし、実際には光検出器
4に使用している部品の温度ドリフトなどで、第4図の
ような検出電圧V・が出てくる。The detection voltage V· in the m4 diagram is the output of the photodetector 4 when the parallel scanning light 1 is blocked, such as by a shadow 5 of the object to be measured 2, so it is theoretically zero. However, in reality, due to temperature drift of components used in the photodetector 4, a detection voltage V. as shown in FIG. 4 occurs.
この検出電圧V・は分割器11で半分にされ、サンプル
ホールド回路13に入る。This detected voltage V. is halved by a divider 11 and enters a sample and hold circuit 13.
端子18からのホールド信号は、光検出器4が検出電圧
V・を検出しているときにサンプルホールド回路13に
加えられる。A hold signal from terminal 18 is applied to sample and hold circuit 13 while photodetector 4 is detecting detection voltage V.
したが、で、サンプルホールド回路13は検出電圧V、
の半分の値をホールドする。However, the sample hold circuit 13 detects the detection voltage V,
Hold half the value.
第3図では検出電圧v1が半分になる寸法0を被測定物
2の寸法6にしたが、同じ手段を第4図に当てはめてみ
ると、次のようになる。In FIG. 3, the dimension 0 at which the detection voltage v1 is halved is set to the dimension 6 of the object to be measured 2, but when the same means is applied to FIG. 4, the following results are obtained.
第4図では、第1図の平行走査光lが被測定物2で遮ら
れている場合でも、検出電圧V・があるので、ITa図
のV/2に相当する電圧Vcを次式%式%
したがって、サンプルホールド回路12の出力とサンプ
ルホールド回路13の出力を加算する加T1.器14の
出力が、式(1)から電圧Vcに相当することになる。In FIG. 4, even when the parallel scanning light l in FIG. % Therefore, the addition T1. which adds the output of the sample hold circuit 12 and the output of the sample hold circuit 13 is required. The output of the device 14 corresponds to the voltage Vc from equation (1).
プンパレータ15には光検出W4の出力である電圧Vと
加算器14の出力が入力され、コンパレータ15からは
第4図の電圧VCの範囲の出力が出るようになる。The voltage V, which is the output of the photodetector W4, and the output of the adder 14 are input to the comparator 15, and the comparator 15 outputs an output in the voltage range VC shown in FIG.
すなわち、第1図の実施例は第4図の寸法10を検出す
るためのものである。That is, the embodiment of FIG. 1 is for detecting the dimension 10 of FIG. 4.
(e) 発明の効果
この発明によれば、光検出器4に補助回路を加え、被測
定物2の影5の部分による検出電圧V。(e) Effects of the Invention According to the present invention, an auxiliary circuit is added to the photodetector 4, and the detected voltage V is determined by the shadow 5 of the object to be measured 2.
を考慮して寸法を求めるようにしているので、測定誤差
の少ない寸法測定V#置を提供することができる。Since the dimensions are determined in consideration of the above, it is possible to provide a dimension measurement V# position with less measurement error.
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図は従来
装置の構成図、
第3図はm2図の検出電圧Vの拡大図、第4図はm1図
の作用説明図。
l・・・・・・平行走査光、2・・・・・・被測定物、
3・・・・・・集光レンズ、4・・・・・・光検出器、
5・・・・・・影、6〜lO・・・・・・寸法、11・
・・・・・分割器、12・・・・・・す/プルホールド
回路、13・・・・・・サンプルホールド回路、14・
・・・−m g器、15・・・・・・コンパレータ。
代理人 弁理士 小 俣 欽 同
第2図
第 3 図
第 4 図FIG. 1 is a block diagram of an embodiment according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a conventional device, FIG. 3 is an enlarged view of the detected voltage V in the m2 diagram, and FIG. 4 is an explanatory diagram of the action of the m1 diagram. 1...Parallel scanning light, 2...Object to be measured,
3...Condensing lens, 4...Photodetector,
5...Shadow, 6~lO...Dimensions, 11.
...Divider, 12...S/Pull-hold circuit, 13...Sample-hold circuit, 14.
...-mg device, 15... comparator. Agent Patent Attorney Kin Omata Figure 2 Figure 3 Figure 4
Claims (1)
って生ずる影を光検出器で検出することにより前記被測
定物の寸法を測定するようにした光による寸法測定装置
において、 前記光検出器出力のピーク値を半分にする分割器と、 前記被測定物の影以外の部分による前記分割器の出力を
ホールドする第1のサンプルホールド回路と、 前記平行走査光が遮られた場合の前記分割器の出力をホ
ールドする第2のサンプルホールド回路と、 第1のサンプルホールド回路出力と第2のサンプルホー
ルド回路出力を加算する加算器と、前記ピーク値と前記
加算器の出力を入力とするコンパレータとを備え、 前記コンパレータの出力が出る位置から前記被測定物の
寸法を測定することを特徴とする光による寸法測定装置
。[Claims] 1. Dimensions by light, in which the dimensions of the object to be measured are measured by irradiating parallel scanning light onto the object to be measured and detecting the shadow caused by the object with a photodetector. The measuring device includes: a divider that halves the peak value of the output of the photodetector; a first sample hold circuit that holds the output of the divider due to a portion other than the shadow of the object to be measured; and the parallel scanning light. a second sample-and-hold circuit that holds the output of the divider when the signal is interrupted; an adder that adds the output of the first sample-and-hold circuit and the output of the second sample-and-hold circuit; and the peak value and the sum. 1. A dimension measuring device using light, comprising: a comparator that receives the output of the comparator as an input, and measures the dimension of the object from a position where the output of the comparator is output.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5134585A JPS626104A (en) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | Dimension measuring instrument by light |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5134585A JPS626104A (en) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | Dimension measuring instrument by light |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS626104A true JPS626104A (en) | 1987-01-13 |
Family
ID=12884337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5134585A Pending JPS626104A (en) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | Dimension measuring instrument by light |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS626104A (en) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5048952A (en) * | 1973-08-31 | 1975-05-01 | ||
| JPS54128361A (en) * | 1978-03-28 | 1979-10-04 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
| JPS5562301A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-10 | Toshiba Corp | Optical detecting device |
-
1985
- 1985-03-14 JP JP5134585A patent/JPS626104A/en active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5048952A (en) * | 1973-08-31 | 1975-05-01 | ||
| JPS54128361A (en) * | 1978-03-28 | 1979-10-04 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
| JPS5562301A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-10 | Toshiba Corp | Optical detecting device |
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