JPS626332A - ソフトウエアの品質評価方式 - Google Patents
ソフトウエアの品質評価方式Info
- Publication number
- JPS626332A JPS626332A JP60144717A JP14471785A JPS626332A JP S626332 A JPS626332 A JP S626332A JP 60144717 A JP60144717 A JP 60144717A JP 14471785 A JP14471785 A JP 14471785A JP S626332 A JPS626332 A JP S626332A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- work
- quality
- bugs
- software
- testing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はソフトウェアの品質評価方式に係り、特にコン
ピュータ・ソフトウェアに好適なテストで摘出されるバ
グの内容に関する。
ピュータ・ソフトウェアに好適なテストで摘出されるバ
グの内容に関する。
従来のバグの内容に関する文献は、（１）「アプリケー
ションプログラム開発での品質管理事例」八１）信（富
士通）〔日科技連第３回シンポジウム） Ｐ−ａｌ、ｔ
：２）ｒプランニングアンドメジャリングプログラムイ
ンプリメンテイション」エツチレマス（アイビーエム）
フロシーデイングスオプソフトウエアエンジニアリング
エンバイアンメンツ、ランスディン、シャーマニー６゜
１９８０ベージ１０ （ＩＰＬａｎｎｉｔｓｇ ａｎｄ
ｙｎａｔｒｂｒｉｎｇ ｐｒｏｇｒａｍｉｍｐｌｔｍ
ａｎｔａｔｉｏｎＪ Ｈ、Ｒｉｍａｔａ （ＩＢＭ）
ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ ｏｆＪμルー１９８０Ｐ、１
０）Ｋ記載のように設計工程で摘出されるエラー中心に
目標設定の考え方もある。しかしテスト工程で摘出され
るバグに絞って（ドキエメント不良でなくプログラムネ
良主体）、設計工程・作業に対応してテスト工程・作業
も区分されることを前提忙、それらのテスト工程・作業
では対応する設計工程で作込んだバグの割合いが最も多
いとい５基準を設け、それを利用して自動的に品質評価
する点については配慮さ〔発明の目的〕 本発明の目的はバグを作込む設計工程と摘出するテスト
工程について、品質を維持向上させるための適正な工程
・作業分割とそれらの相互関係を追究して、各テスト工
程・作業で摘出されるバグ内容に基くソフトウェアの品
質評価方式を提供することにある。
ションプログラム開発での品質管理事例」八１）信（富
士通）〔日科技連第３回シンポジウム） Ｐ−ａｌ、ｔ
：２）ｒプランニングアンドメジャリングプログラムイ
ンプリメンテイション」エツチレマス（アイビーエム）
フロシーデイングスオプソフトウエアエンジニアリング
エンバイアンメンツ、ランスディン、シャーマニー６゜
１９８０ベージ１０ （ＩＰＬａｎｎｉｔｓｇ ａｎｄ
ｙｎａｔｒｂｒｉｎｇ ｐｒｏｇｒａｍｉｍｐｌｔｍ
ａｎｔａｔｉｏｎＪ Ｈ、Ｒｉｍａｔａ （ＩＢＭ）
ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ ｏｆＪμルー１９８０Ｐ、１
０）Ｋ記載のように設計工程で摘出されるエラー中心に
目標設定の考え方もある。しかしテスト工程で摘出され
るバグに絞って（ドキエメント不良でなくプログラムネ
良主体）、設計工程・作業に対応してテスト工程・作業
も区分されることを前提忙、それらのテスト工程・作業
では対応する設計工程で作込んだバグの割合いが最も多
いとい５基準を設け、それを利用して自動的に品質評価
する点については配慮さ〔発明の目的〕 本発明の目的はバグを作込む設計工程と摘出するテスト
工程について、品質を維持向上させるための適正な工程
・作業分割とそれらの相互関係を追究して、各テスト工
程・作業で摘出されるバグ内容に基くソフトウェアの品
質評価方式を提供することにある。
コーディング完了時点でソフトウェアの品質を評価する
ことは現実的忙は難しく、それ以降のテスト工程でバグ
摘出方法の適正さを判断しながらバグの件数と内容から
品質評価していくことが現実的である。本発明はバグの
内容に関するものだが、ソフトウェアの作り方とテスト
方法の関係を追究し、品質面・効率面で最適なテストを
ねらいとし、合わせて品質評価の自動化を図るも めあ
る。
ことは現実的忙は難しく、それ以降のテスト工程でバグ
摘出方法の適正さを判断しながらバグの件数と内容から
品質評価していくことが現実的である。本発明はバグの
内容に関するものだが、ソフトウェアの作り方とテスト
方法の関係を追究し、品質面・効率面で最適なテストを
ねらいとし、合わせて品質評価の自動化を図るも めあ
る。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第１〜第４図により説明する
。方法・手順により設計工程をＦＳ。
。方法・手順により設計工程をＦＳ。
ＤＳ、Ｆ、Ｃの４つの工程に区分し、それらの工程に対
応したテスト工程としてＳＫ、ＳＤ、ＣＤ、ＪＩｙ）４
つの工程を設定する。設計工程が一般に全体から部分と
いう順で行なわれるのに対し、テスト工程は部分から全
体という順で行なわれることから、それぞれの実施順は
第１図に示すとおりとする。ある製品のテスト完了時点
に全摘出バグ数を、作込設計工程別に分類したものを第
１図の設計工程別の棒グラフとする。摘出テスト工程別
に分類したものを第１図のテスト工程別の棒グラフとす
れば、ＵＤ、ＣＤ、ＳＤ、ＳＫのいずれの工程において
も対応設計工程のバグの割合が最大なので１品質もテス
ト方法も一応問題ないと判定する。この判定はプログラ
ムにより自動的に行なうことができる。第２〜第４図は
それぞれＵＤ、ＣＤ、ＳＤ工程で対応設計工程以外のバ
グの割合が最大となっているので、品質又はテスト方法
に問題があると判定する。
応したテスト工程としてＳＫ、ＳＤ、ＣＤ、ＪＩｙ）４
つの工程を設定する。設計工程が一般に全体から部分と
いう順で行なわれるのに対し、テスト工程は部分から全
体という順で行なわれることから、それぞれの実施順は
第１図に示すとおりとする。ある製品のテスト完了時点
に全摘出バグ数を、作込設計工程別に分類したものを第
１図の設計工程別の棒グラフとする。摘出テスト工程別
に分類したものを第１図のテスト工程別の棒グラフとす
れば、ＵＤ、ＣＤ、ＳＤ、ＳＫのいずれの工程において
も対応設計工程のバグの割合が最大なので１品質もテス
ト方法も一応問題ないと判定する。この判定はプログラ
ムにより自動的に行なうことができる。第２〜第４図は
それぞれＵＤ、ＣＤ、ＳＤ工程で対応設計工程以外のバ
グの割合が最大となっているので、品質又はテスト方法
に問題があると判定する。
なお、各テスト工程において対応設計工程以外のバグの
割合いも経験値から設定できれば（但し、品質の良い製
品の実績データの分析・検証が必要）、その割合い又は
割合いの順位を基準としてプログラムによりさらに精度
の高い評価を行なうことができる。
割合いも経験値から設定できれば（但し、品質の良い製
品の実績データの分析・検証が必要）、その割合い又は
割合いの順位を基準としてプログラムによりさらに精度
の高い評価を行なうことができる。
本実施例によればテスト工程の早い段階で品質又はテス
ト方法の問題を検知し、基準よりバグの多い設計工程の
見直しを行なう等の具体的な対策にも効果がある。
ト方法の問題を検知し、基準よりバグの多い設計工程の
見直しを行なう等の具体的な対策にも効果がある。
本発明によれば、コーディング完了後の机上テハッグも
含めデバッグ拳テストの早い［１９から自動的に品質評
価でき、評価結果が悪い場合はその原因となる設計工程
・作業を指摘できるので、ソフトウェアの定量的評価・
品質向上・効率向上の効果がある。
含めデバッグ拳テストの早い［１９から自動的に品質評
価でき、評価結果が悪い場合はその原因となる設計工程
・作業を指摘できるので、ソフトウェアの定量的評価・
品質向上・効率向上の効果がある。
第１〜第４図は本発明の実施例の作業工程別冷ｌ必
副Ｉ 第５図 第４０
テズトエ第１→ プストエ丁Ｉ→
テストエｆｉ−−−。
テストエｆｉ−−−。
Claims (1)
- １、ソフトウェアの開発工程を仕様の検討からコーディ
ングまでとデバッグ・テストの２つに大きく分けるもの
において、各テスト工程・作業での摘出バグに占める作
込み設計工程・作業の割合いを目標値として経験値等に
より与え、各テスト工程・作業において実績値を与え、
その対応設計工程・作業での作込みバグについて当該テ
スト工程・作業の目標値との比較、他テスト工程・作業
での実績値との比較等により自動的に評価することを特
徴とするソフトウェアの品質評価方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60144717A JPS626332A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | ソフトウエアの品質評価方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60144717A JPS626332A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | ソフトウエアの品質評価方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS626332A true JPS626332A (ja) | 1987-01-13 |
Family
ID=15368660
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60144717A Pending JPS626332A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | ソフトウエアの品質評価方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS626332A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63172122U (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5858346B2 (ja) * | 1982-03-11 | 1983-12-24 | 東川 哲郎 | 置換ベンズアミド化合物の製造方法 |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP60144717A patent/JPS626332A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5858346B2 (ja) * | 1982-03-11 | 1983-12-24 | 東川 哲郎 | 置換ベンズアミド化合物の製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63172122U (ja) * | 1987-04-28 | 1988-11-09 |
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