JPS6263945U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6263945U JPS6263945U JP1985155331U JP15533185U JPS6263945U JP S6263945 U JPS6263945 U JP S6263945U JP 1985155331 U JP1985155331 U JP 1985155331U JP 15533185 U JP15533185 U JP 15533185U JP S6263945 U JPS6263945 U JP S6263945U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- under test
- receiving part
- pin
- test
- Prior art date
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- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の斜視図、第２図は
本ＩＣソケツトの応用例の斜視図である。 １……本ＩＣソケツトのＩＣ受け部、２……本
ＩＣソケツトのピン部、３……本ＩＣソケツト配
線パターン、４……ロードボード、５……多ピン
ソケツト、６……配線、７……本ＩＣソケツト、
８……被試験ＩＣ、９……ダミーピン。
本ＩＣソケツトの応用例の斜視図である。 １……本ＩＣソケツトのＩＣ受け部、２……本
ＩＣソケツトのピン部、３……本ＩＣソケツト配
線パターン、４……ロードボード、５……多ピン
ソケツト、６……配線、７……本ＩＣソケツト、
８……被試験ＩＣ、９……ダミーピン。
Claims (1)
- 半導体ＩＣソケツトにおいて、被試験ＩＣを挿
入する受け部と、該受け部から配線パターンによ
り接続されて、被試験ＩＣよりも多ピンのＩＣソ
ケツトのピン配置に合つたピン部を有する試験治
具搭載用ＩＣソケツト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985155331U JPS6263945U (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985155331U JPS6263945U (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263945U true JPS6263945U (ja) | 1987-04-21 |
Family
ID=31075936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985155331U Pending JPS6263945U (ja) | 1985-10-11 | 1985-10-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6263945U (ja) |
-
1985
- 1985-10-11 JP JP1985155331U patent/JPS6263945U/ja active Pending