JPS6266616A - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents

固体電解コンデンサの製造方法

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JPS6266616A
JPS6266616A JP20524985A JP20524985A JPS6266616A JP S6266616 A JPS6266616 A JP S6266616A JP 20524985 A JP20524985 A JP 20524985A JP 20524985 A JP20524985 A JP 20524985A JP S6266616 A JPS6266616 A JP S6266616A
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友澤 秀喜
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電導性高分子化合物を固体電W?質として用
いた、性能の良好な固体電解コンテン4ノの製造り法に
関するしのである。
[従来の技術] 従来の固体電解二1ンデンサ、例えばアルミニ・クム電
解コンデンリは、エツチング処理した比表面積の大きい
多孔質アルミニ・クム箔の上に誘電体である酸化アルミ
ニウム層を設け、陰極箔との間の電解紙に液状の電解液
を含浸させた構造からなっているが、電解液が液状であ
るために液漏れ刃の問題を引き起こし好ましいしのでは
なく、従って、この7tf導層を固体電解質で代替する
試みがなされている。それらの固体電解コンデンサは、
PAis化被膜金被膜るアルミニウム、タンタルなと?
li膜形成金属に固体電解質を付着した構造を有したち
のであり、この種の固体コンデンサの固体電解?1には
主に硝酸マンガンの熱分解により形成される二酸化マン
ガンが用いられている。しかし、この固体電解質コンデ
ンサは、熱分解の際に要する高熱と発生するNOxガス
の醇化作用などによって、誘電体であるアルミニウム、
タンタルなどの金属酸化被膜の損傷があり、そのため耐
電圧は低下し、漏れ電流が大きくなり、講電特性を劣化
さVるなと極めて大きな欠点があり、また、再化成とい
う工程b4!′I要とされている。
これらの欠点を補うため、高熱を付加t!チに固聚 体電解層を形成する方法として、高に4竹のh機半導体
材料を固体電解質とする方法が試みられている。その例
としては、特開昭52−・79255号公報に記載され
るように、7.7.8.8−テトラシアノキノジメタン
(TCNQ)錯塩を含む電導性有機化合物を固体電解質
の主成分とする固体電解コンデンサが知られている。し
かしながら、この固体電解コンデンυは、TCNQ錯塩
が陽極酸化被膜との付着性に劣り、電聯度も10−3〜
10’S/cmとネト分であるため、コンモレ丈の容f
fi値は小さく、誘Ti損失も大きく、また熱的経時的
な安定性も劣り信頼性が低い。また、TCN Q ta
塩はコストが高いため、固体電解コンデンサ全体の製造
コストが高くつくという問題があった。
近年、Ti導度が高く、誘電体被膜との付着性がよく、
また安価な電導性高分子化合物を固体電解質に用いた固
体電解コンデンサを提供する試みがなされている。この
試みにおいては、誘電体として用いる多孔質金属酸化物
の被膜上にWiす性高分子化合物を付着させる際に、多
孔質金属酸化物の細孔内に電導性高分子化合物を巧みに
導入して安定化させることが、最も重要な課題となって
いる。
一般に、電導性高分子化合物は不溶、不融であり賦形性
、加工性が著しく劣っている。このため殆どの電導性高
分子化合物は、溶融成形や、キャスティング法による成
形などができないため、固体電解質としてのすぐれた性
能を有しながら、多孔賃金111M化物の細孔内に導入
することができず、従って固体電解コンデンサには用い
ることのできない場合が多かった。
[発明が解決しようとする問題点1 本発明の目的は、上述した従来技術の問題点を解決し、
多孔質誘電体の細孔内に固体電解質としての性能のすぐ
れている電導性高分子化合物を容易に導入することがで
き、ざらに誘電体被膜との付rJ性が9好で、しかも製
造コストが低いM m性高分子化合物を固体電WI質と
する固体電解コンデンサの製造方法を提供することにあ
る。
[問題点を解決するための手段] 本発明に従えば、電導性高分子化合物を固体電解質とす
る固体電解コンデンサを製造するに当り、該電導性高分
子化合物をスパッタリング法により多孔質誘電体層に付
着させることを特徴とづるβ1体電解コンデン丈の製造
方法が提供される。
本発明において固体電解!1として用いられる電導性高
分子化合物とは、π電子共役系を右する高分子化合物の
ことであり、電気伝導度が1O−2S/cIR以上の値
を有するものが望ましい。このような電導性高分子化合
物の代表例どしては、ボリアセヂレン、ポリパラフェニ
レン、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリシアノアセ
チレン、ポリイソチアナフテン、ポリジアセチレン、ポ
リアニリン、ポリフタロシアニン及びこれらのポリマー
を構成するモノマーの誘導体の重合体等をあげることが
できる。これらの電導性高分子化合物のうち、好ましい
電導性高分子化合物としては、ポリパラフェニレンをあ
げることができる。
上記の電導性高分子化合物の中には、中性の状態で10
’S/1以上の電気伝導度を有するものもあと れば、電子供与性あるいは電子吸引性のドーパントをド
ープすることによって1O−2S/cIR以上の電気伝
導度を右−4るムのもあり、いずれも固体電解質として
用いることができる。
1者の場合、ドーピングは化学的ドーピング、電気化学
的ドーピングのいずれの方法を採用してもよい。化学的
にドーピングするドーパント沃糸、臭素及び沃化Q素の
如きハロゲン、<II)五弗化砒素、五弗化アンチモン
、四弗化珪素、五J冨化燗、五弗化燐、塩化アルミニウ
ム、臭化アルミニウム及び弗化アルミニウムの如き金属
ハロゲン化物、(III)硫酸、硝酸、フル4口硫酸、
トリフルオロメタン硫酸及びクロロ硫酸の如きプロトン
酸、(TV)三酸化硫黄、二酸化窒県、ジフルオロスル
ホニルバー′A竪シトの如き酸化剤、(V)AgC4+
04、(■)テトラシアノエブレン、テトラシアノキノ
ジメタン、フロラニール、2.3−ジクロル−5,6−
ジシアツバラベンゾキノン、2.3−ジブロム−5,6
−ジシアツバラベンゾキノン、(■)Li、Na、にの
如きアルカリ金属等を用いることができる。一方、電気
化学的にドーピングするドーバン[−としては、(I)
PFii 、Sb Fi 、As Fe 、Sb Cρ
iの如きVa族の元素のハロゲン化物アニオン、BFi
の如き1lia族の元素のハ[]ゲン化物アニオン、■
−(Ii )、Br−、C,O−の如きハロゲンアニオ
ン、090イの如さ過塩素酸アニオン等の陰イオン・ド
ーパント及び(TI)Li”、Na”、に+。
Rh+、Cs“の如さアルカリ金属イオン、一般式RM
+1−1  またはRM  ”  (式中、[くは4−
x      X        3  1CからC1
oのアルキル基、)[ニル、八〇)[ニル、アル:〜ル
フェニル等のアリール阜、Mは’N、P、As、M1は
O又はS、×は0又は1を表す。)′r−示されるテト
ラアルキルアンモニウムイオン、デトラアルキル小スホ
ニウムイオン、テトラアルキルアンモニウムイオン、ト
リフルー髪ルA4ソニウム、トリアルキルスル小ニウム
イオン等の陽イオン・ドーパント等をあげることができ
るが、必ずしもこれらに限定されるものではない。
ドーパントは、電導性高分子化合物を多孔質誘電体層上
にスパッタリングによって成膜した後にドーピングする
方法が一般的であるが、1−i)。
Na+等の金属陽イオンをドーパントとする場合等には
、予めこれらの金属陽イオンをドーピングした電導性高
分子化合物をスパッタリングすることら可能であり、従
来公知のドーピング方法はいずれら用いることができる
。電導性高分子化合物としてボリバラフTニレンを用い
る場合は、電子受容性化合物、電子供り性化合物、陰イ
オン・ドーパント、及び陽イオン・ドーパントによるド
ーピングはいずれも可能であるが、好ましくは空気中で
安定である電子受容性化合物及び陰イオン・ドーパント
によるドーピングである。
本発明において用いられる多孔′d誘電体の種類には特
に限定はないが、例えばアルミニウム、クンタル、ニオ
ブ等の金属の酸化物を好適に使用することができる。
本発明において、多孔質誘電体層にスパッタリング法に
よってTi導性高分子化合物を付着さUるために用いら
れるスパッタリング装置としては、DC2極スパッタリ
ング方式、RF 2 Kスパッタリング方式、3極プラ
ズマスパッタリングh式、41ルプラズマスパッタリン
グ方式、ACスパッタリング方式、バイアススパッタリ
ング6式、リアクツイブスパッタリング方式、イオンビ
ームスパッタリング方式、DCマグネトロンスパッタリ
ング方式、R「マグネトロンスパッタリング方式、同軸
マグネトロンスパッタリング方式等のスパッタリング方
式を用いた装置があげられるが、特にこれらに限定され
るものではない。これらのスパッタリング法のうち、薄
膜の生産性が高く好ましいものはマグネトロンスパッタ
リング方式である。
本発明において電導性高分子化合物をターゲットとして
装置i ?jる137人としては、例えば銅板Fに電導
性高分子化合物のパウダーを加圧成型する方法、銅板上
にエボ1シ系接着剤やテフロン等の接着剤を用いて接着
する方法等があげられるが、特にこれらに限定されるも
のでは(、−い。
本発明に用いられるスパッタリング法は、一般に ■ 適切な条付下で化合物、合金等のような複雑な組成
のターゲットを用いて同じ組成の膜が得られる。
■ 被膜すべき物体の面積、形状に対する制約が少ない
。
■ 基板とターゲットの相対的位置関係にυ1約がなく
、どのような方向にb成膜できる。
■ 膜厚1.II御が容易である。
■ 基板入射スパッタ原子の運動エネルV−が高いので
、膜の基板への付る力が人さい。
などの特長を右している。これを本発明固体電解コンデ
ン昏すの製造方法に用いることにより、電導度が高く、
誘電体被膜との(Jn性がよく、また高周波特性がよく
安価な電導性高分子化合物を固体電解質として用いるこ
とができる。
[弁明の効果] 本発明の方法によって¥J造される固体電解]ンfンリ
は、従来の無機酸化物本4休ヤ)右1半導体を用いた固
体電解]ンデンリに比して、容♀、誘電損失、杼時安定
竹において著しくすぐれた性能をイjしている。
また、本発明の方法によって製造される固体電解コンデ
ンサは、従来公知の固体電解コンアン1ノに比較して、
以下のような利点を有している。
■ 高温に加熱することなく多孔ri誘電体層上に電導
性高分子化合物を形成できるので、陽極の酸化被膜のに
1傷がなく、補修のための陽極酸化(再化成)を行う必
要もない。そのため、定格電圧を従来の数倍に上げるこ
とができ、同容量、同定格電圧のコンデンサを得るのに
、従来のものに比較して形状を小型化できる。
■ ffi導fi高分子化合物と誘電体被膜との付着性
が良好であるため、漏れ電流が小さい。
■ ^耐圧のコンデンVをfi製することができ十分に
高いため、グラファイト等の13ffilを設ける必要
がなく、そのための工程を簡略化することができる。
■ 周波数特性が良い。
■ 製造コストが低い。
[実施例] 以下、実施例、及び比較例をあげて本発明を更に工T細
に説明する。
なお、各個の固体電解コンデンサの特性値は表に示した
。
実施例 1 厚さ100μmのアルミニウム箔(純度99.99%)
をgiI4iとし、直流及び交流の交互使用により、箔
の表面を電気化学的にエツチングして平均細孔径2μ瓦
で、比表面積が12m2/gの多孔質アルミニウム箔と
した。次いで、このエツチング処理したアルミニウム箔
を111Mアンモニウムの液中に浸漬し、液中で電気化
学的にアルミニウム箔の上に誘電体の薄層を形成した。
ベンゼンをルイス酸(AJ (J 3 )及び酸化剤(
Cu CJ 2 )の存在下で攪拌(フリーアル・クラ
フッ反応による重合)し、次いで、低分子団成分及び不
純物を洗浄後、真空乾燥しポリパラフェニレンの褐色粉
末を得た。この粉末をエポキシ系接着剤を用いて銅板上
に接着プレス成型しターゲットとした。このターゲット
を、プラナ−型RFマグネトロンスパッタリング装向の
ペルジャー内に取り付け、上記の如くして得た誘電体層
を有するアルミニウム箔を基板として設置した。スパッ
タ出力を1’47cm2〜3訂α2、アルゴン圧力を5
x 10  torr 〜2 x 10’torr(7
)範囲で設定し、rate(付着速度)を10〜100
人/■inとしてスパッタリングを行った。この結采、
基板上に付着力の強いポリパラフェニレンの薄膜を得た
。
このポリパラフェニレンの1111をBF3ガスに曝し
てドーピングを行った。この時のポリパラフェニレンの
電気伝導度は2S/1であった。陰極にアルミニウム箔
を用いてゴムで14止して固体電解コンデンサを作製し
た。
実施例 2 実施例1で得たポリパラフェニレンの褐色粉末にli+
をドーピングした。この時の電気伝導+ffは1S/C
IRであった。この予めドーピングしたポリパラフェニ
レンをエポキシ系接4剤を用いて銅板上に接着プレス成
へ1!ジターゲツトとし、実施例1と同様のアルミニウ
ム箔を基板どした以外は、実/[1と同様にスパッタリ
ングを行って固体電解コンデンサを作製した。
比較例 実施例1と同じ誘電体層を右するアルミニウム箔を使用
し、従来の二酸化マンガンを固体電解質とし、陰極をア
ルミニウム箔とした固体電解コンデンサを作製した。
表

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  電導性高分子化合物を固体電解質とする固体電解コン
    デンサを製造するに当り、該電導性高分子化合物をスパ
    ッタリング法により多孔質誘電体層に付着させることを
    特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
JP20524985A 1985-09-19 1985-09-19 固体電解コンデンサの製造方法 Expired - Lifetime JPH0650708B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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