JPS626703U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の実施例を示すブロツク図、
第２図はこの考案の実施例における光源の例を示
すブロツク図、第３図は高周波掃引信号発生器か
ら発生され光変調器を制御する周波数掃引信号の
信号波形図、第４図は周波数掃引信号の周波数特
性を示す図、第５図はこの考案で用いる遅延回路
の周波数対遅延時間特性を示す図、第６図は第３
図に示す電気信号を遅延回路に入力したときの出
力波形図、第７図は従来の光フアイバ故障点検出
装置のブロツク図、第８図はパルス発生器が発生
した基準パルスと故障点からの反射光とを時間的
に比較し、その時間差Ｔを検出することを示す図
である。 １１：パルス発生器、１２：光送信部、１３：
方向性光結合器、１４：被試験光フアイバ、１５
：光フアイバの故障点、１６：受光器、１７：時
間計測手段、１８：表示装置、２１：鋸歯状波発
生器、２２：高周波掃引信号発生器、２３：光変
調器、２４：光発生器、２５：遅延回路。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 光試験光フアイバに所定の周波数掃引特性に
   周波数変調させたパルス波状のコーヒレント光を
   与える光源と、 Ｂ 被試験光フアイバの故障点から反射して戻さ
   れたコーヒレント光を受光する受光器と、 Ｃ この受光器から得られる電気信号が与えられ
   、上記光源における周波数成分を同時に集積して
   出力する周波数に依存した遅延特性を持つ遅延回
   路と、 Ｄ 上記光源からコーヒレント光が出射された時
   点と、上記遅延回路からパルスが得られる時点と
   の間の時間を計測する時間計測手段と、 から成る光フアイバ故障点検出装置。