JPS628061A - 交流計測装置 - Google Patents
交流計測装置Info
- Publication number
- JPS628061A JPS628061A JP14750185A JP14750185A JPS628061A JP S628061 A JPS628061 A JP S628061A JP 14750185 A JP14750185 A JP 14750185A JP 14750185 A JP14750185 A JP 14750185A JP S628061 A JPS628061 A JP S628061A
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- current
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は閉鎖型配電盤等に使用される交流計測装置に
関するものである。
関するものである。
従来、この種の交流計測装置として第2図に示すものが
あった。図において、(1)は電流/電圧変換回路、(
2)はサンプルホールド回路(3)へのアナログ入力を
切換えるマルチプレクサ、(3)はA/D変換回路(4
)へのアナログ入力信号を保持するサンプルホールド回
路、(4)はアナログ信号をディジタル信号に変換する
A/D変換回路、(5)はA/D変換回路(4)のディ
ジタル出力信号(サンプルデータ)がサイクリックにd
込まれるサンプルメモリ、(6)はマイクロコンピュー
タ(7)がサンプルメモリ(5) ヲ □アクセ
スしていない期間を検出し、その期間にA :/D
変換回路(4)のディジタル出力信号をサンプルメモリ
(5)にサイクリックに書込むための記憶制御回路、(
7)はサンプルメモリ(5)のデータを読みとって演算
処理したり、演算処理結果を計測値として゛出力させる
等、全体の制御を行なう演算制御手段、タトエばマイク
ロコンピュータである。
あった。図において、(1)は電流/電圧変換回路、(
2)はサンプルホールド回路(3)へのアナログ入力を
切換えるマルチプレクサ、(3)はA/D変換回路(4
)へのアナログ入力信号を保持するサンプルホールド回
路、(4)はアナログ信号をディジタル信号に変換する
A/D変換回路、(5)はA/D変換回路(4)のディ
ジタル出力信号(サンプルデータ)がサイクリックにd
込まれるサンプルメモリ、(6)はマイクロコンピュー
タ(7)がサンプルメモリ(5) ヲ □アクセ
スしていない期間を検出し、その期間にA :/D
変換回路(4)のディジタル出力信号をサンプルメモリ
(5)にサイクリックに書込むための記憶制御回路、(
7)はサンプルメモリ(5)のデータを読みとって演算
処理したり、演算処理結果を計測値として゛出力させる
等、全体の制御を行なう演算制御手段、タトエばマイク
ロコンピュータである。
第8図のような入力信号の場合、この入力信9号の周期
(T1)の1/10〜1/100の周期を電流、電圧の
それぞれのサンプリング周期(Ts)とし、電流と電圧
を交互にサンプリングし、サンプルメモリ(5)に第4
図に示すようにサイクリックに格納するようになってい
る。
(T1)の1/10〜1/100の周期を電流、電圧の
それぞれのサンプリング周期(Ts)とし、電流と電圧
を交互にサンプリングし、サンプルメモリ(5)に第4
図に示すようにサイクリックに格納するようになってい
る。
つぎにと記構酸の動作について説明する。
第2図において、交流電圧信号eはマルチプレクサ(2
)とサンプルホールド(3)を経てA/D変換回路(4
)に入力されろ。A/D変換回路(4)ではアナログ信
号に対応するディジタル信号を出力する。ディジタル信
号は記憶制御回路(6)によりサンプルメモリ(5)に
第4図に示すよう1ζサイクリツクに書込まれる。交流
電流信号1は電流/電圧変換回路(1)で電圧値に変換
され、以後はと配交流電圧信号eの場合と同様にサンプ
ルメモリ(5)に格納される。
)とサンプルホールド(3)を経てA/D変換回路(4
)に入力されろ。A/D変換回路(4)ではアナログ信
号に対応するディジタル信号を出力する。ディジタル信
号は記憶制御回路(6)によりサンプルメモリ(5)に
第4図に示すよう1ζサイクリツクに書込まれる。交流
電流信号1は電流/電圧変換回路(1)で電圧値に変換
され、以後はと配交流電圧信号eの場合と同様にサンプ
ルメモリ(5)に格納される。
マイクロコンピュータ(7)ではサンプルメモリ(5)
に格納されているサンプルデータ(et、6g、・・・
en。
に格納されているサンプルデータ(et、6g、・・・
en。
iz、i、・・・in)を読みとり、あらかじめ設定さ
れている入力信号の周期(T1)の単位で計測出力用の
演算処理を行なう。
れている入力信号の周期(T1)の単位で計測出力用の
演算処理を行なう。
出力データ用の処理は、第5図のフローチャートに示す
ように、入力信号の1周期を単位として以下の処理を行
なう。初期設定(0=0 )を処理ステップ参ηで行な
い、判断ステップ匈でC=0か否かを判断し、C=1な
ら処理ステップ輪でAブロックにセットし、0=0なら
処理ステップ(財)でBブロックにセットする。電圧お
よび電流の出力処理をする(処理ステップ曽)。平均電
力値(W)の算出は、W=<Σea−iN)/nの計算
を行ない、N=1 無効電力(WAR)については、電圧と電流の位相を9
0’ずらせて平均電力と同様の処理を行なう(処理ステ
ップ曽)。
ように、入力信号の1周期を単位として以下の処理を行
なう。初期設定(0=0 )を処理ステップ参ηで行な
い、判断ステップ匈でC=0か否かを判断し、C=1な
ら処理ステップ輪でAブロックにセットし、0=0なら
処理ステップ(財)でBブロックにセットする。電圧お
よび電流の出力処理をする(処理ステップ曽)。平均電
力値(W)の算出は、W=<Σea−iN)/nの計算
を行ない、N=1 無効電力(WAR)については、電圧と電流の位相を9
0’ずらせて平均電力と同様の処理を行なう(処理ステ
ップ曽)。
力率(PF)はPF=W/バー+MARの計算をする(
処理ステップv))。電力量(WH)および無効電力量
(VARH)についてはそれぞれWおよびTARの値を
積分する(処理ステップ員)。ついで、マイクロコンピ
ュータ(7)は、上記計測出力データ用の処理の後に、
実際のデータ出力の処理を行なう(処理ステップ曽)。
処理ステップv))。電力量(WH)および無効電力量
(VARH)についてはそれぞれWおよびTARの値を
積分する(処理ステップ員)。ついで、マイクロコンピ
ュータ(7)は、上記計測出力データ用の処理の後に、
実際のデータ出力の処理を行なう(処理ステップ曽)。
従来の交流計測装置は以上のように構成されているので
、電流と電圧のサンプリング位相が異なり、電力、無効
電力の算出について誤差が大きいという問題があった。
、電流と電圧のサンプリング位相が異なり、電力、無効
電力の算出について誤差が大きいという問題があった。
この発明はと記のような問題点を解消するためになされ
たもので、計測精度の向上を図り得る交流計測装置を得
ることを目的とする。
たもので、計測精度の向上を図り得る交流計測装置を得
ることを目的とする。
この発明に係る交流計測装置は、サンプルホールド回路
を電流用と電圧用とに個別的に設け、同一タイミングで
両人力をサンプリングするように構成したものである。
を電流用と電圧用とに個別的に設け、同一タイミングで
両人力をサンプリングするように構成したものである。
この発明における2個のサンプルホールド回路は、同一
タイミングで動作し、電流と電圧をサンプリングホール
ドし、次段のA/D変換回路に出力する。
タイミングで動作し、電流と電圧をサンプリングホール
ドし、次段のA/D変換回路に出力する。
第1図はこの発明に係る交流計測装置の一例を示すもの
で、第2図のものと同一部所には同一符号を付して説明
を省略する。
で、第2図のものと同一部所には同一符号を付して説明
を省略する。
同図において、(2a)は多相交流の電圧入力を相選択
して後述するサンプルホールド回路に切換え入力すせる
電圧用のマルチプレクサ、 (2b)は多相交流の電流
入力を相選択して後述するサンプルホールド回路に切換
え入力させる電流用のマルチプレクサ、 (2o)はサ
ンプルホールド回路からの出力 □をA/D変換回
路(4)に切換え入力させるマルチプレクサである。(
8a)、 (8b)は同一タイミングで制御されるサン
プルホールド回路で、サンプルホー □ルド回路(
8a)は電圧用としてと記マルチプレクサ □(2
a)に接続され、他方のサンプルホールド回路(8b)
は電流用として上記マルチプレクサ(2b)に接続され
ている。
して後述するサンプルホールド回路に切換え入力すせる
電圧用のマルチプレクサ、 (2b)は多相交流の電流
入力を相選択して後述するサンプルホールド回路に切換
え入力させる電流用のマルチプレクサ、 (2o)はサ
ンプルホールド回路からの出力 □をA/D変換回
路(4)に切換え入力させるマルチプレクサである。(
8a)、 (8b)は同一タイミングで制御されるサン
プルホールド回路で、サンプルホー □ルド回路(
8a)は電圧用としてと記マルチプレクサ □(2
a)に接続され、他方のサンプルホールド回路(8b)
は電流用として上記マルチプレクサ(2b)に接続され
ている。
つぎに、上記構成の動作について説明する。
サンプルメモリ(5)に格納されたサンプリングデータ
の演算処理については、従来のものと同様であるので、
その説明を省略し、以下においてはサンプリングのタイ
ミングとその効果について述べろ。第1図において、多
相交流、の電圧入力J、 efl。
の演算処理については、従来のものと同様であるので、
その説明を省略し、以下においてはサンプリングのタイ
ミングとその効果について述べろ。第1図において、多
相交流、の電圧入力J、 efl。
C8および電流入力11. il、 igのうち電圧入
力はマルチプレクサ(2a)に入力され、電流入力は電
流/電圧変換回路(1)で電圧信号に変換されてマルチ
プレクサ(2b)に入力される。マルチプレクサ(!a
)。
力はマルチプレクサ(2a)に入力され、電流入力は電
流/電圧変換回路(1)で電圧信号に変換されてマルチ
プレクサ(2b)に入力される。マルチプレクサ(!a
)。
(2b)では多相交流の相選択の切換えを行なう。サン
プルホールド回路(8a)、 (8b)はそれぞれマル
チプレクサ(2a)、 (2b)からの出力をサンプリ
ング/ホールドしてA/D変換する信号を選択するため
のマルチプレクサ(2o)に出力する。マルチプレクサ
(2a)、 (2b)とサンプルホールド回路(8a)
、 (8b)は同一タイミングで制御され、マルチプレ
クサ(2c)を経由してA/D変換回路(4)でA/D
変換される各相の電圧と電流は同一タイミングのサンプ
リングデータである。
プルホールド回路(8a)、 (8b)はそれぞれマル
チプレクサ(2a)、 (2b)からの出力をサンプリ
ング/ホールドしてA/D変換する信号を選択するため
のマルチプレクサ(2o)に出力する。マルチプレクサ
(2a)、 (2b)とサンプルホールド回路(8a)
、 (8b)は同一タイミングで制御され、マルチプレ
クサ(2c)を経由してA/D変換回路(4)でA/D
変換される各相の電圧と電流は同一タイミングのサンプ
リングデータである。
従来のものでは、電圧と電流を1サンプリング間隔(θ
)だけずれた状態でサンプリングし、電力計算において
は、上記間隔(θ)を無視できるものとして演算処理(
eKn X土Kn )をしていた。電圧と電流の位相差
がα(力率=asa)である場合、正弦波の電流、電圧
の計測において、電力の演算誤差は力率がμsαからC
05(α−θ)に変化したの力率が1に近ければ誤差は
小さいが、力率の低下により誤差が大きくなることがわ
かる。これに対し、上記この発明の構成では、電圧と電
流を同一のタイミングでサンプリングするので、と記θ
=Oとなり、演算との誤差はなくなる。
)だけずれた状態でサンプリングし、電力計算において
は、上記間隔(θ)を無視できるものとして演算処理(
eKn X土Kn )をしていた。電圧と電流の位相差
がα(力率=asa)である場合、正弦波の電流、電圧
の計測において、電力の演算誤差は力率がμsαからC
05(α−θ)に変化したの力率が1に近ければ誤差は
小さいが、力率の低下により誤差が大きくなることがわ
かる。これに対し、上記この発明の構成では、電圧と電
流を同一のタイミングでサンプリングするので、と記θ
=Oとなり、演算との誤差はなくなる。
なお、と記実施例では、マルチプレクサ(20)を使用
してA/D変換回路(4)を1個にしたが、マルチプレ
クサ(20)を省略してA/D変換回路(4)を2個使
用する構成にしてもよい。また、上記の例では多相交流
で説明したが、単相交流であってもよいO サンプリング周波数については説明を省略したが、交流
入力の周波数の変動によりサンプリング周波数を制御す
る回路を付加することも可能である。
してA/D変換回路(4)を1個にしたが、マルチプレ
クサ(20)を省略してA/D変換回路(4)を2個使
用する構成にしてもよい。また、上記の例では多相交流
で説明したが、単相交流であってもよいO サンプリング周波数については説明を省略したが、交流
入力の周波数の変動によりサンプリング周波数を制御す
る回路を付加することも可能である。
以上のようにこの発明によれば、電圧とこれに対応する
電流の各サンプリングを同一タイミングで行なうように
構成したので、電力および無効電力の演算誤差をなくす
ことができ、精度の高い交流計測装置を得ることができ
る。
電流の各サンプリングを同一タイミングで行なうように
構成したので、電力および無効電力の演算誤差をなくす
ことができ、精度の高い交流計測装置を得ることができ
る。
第1図はこの発明の一実施例による交流計測装置の構成
を示すブロック図、第2図は従来の交流計測装置の構成
を示すブロック図、第8図は入力信号波形図、第4図は
サンプルメモリに格納されろサンプルデータの構成図、
第5図はマイクロコンピュータの処理の概要を示すフロ
ーチャートである。 (1)−・・電流/電圧変換回路、(2a)、 (2b
)、 (2c)−マルチプレクサ、(8a)、 (8b
)−・・サンプルホールド回路、(4)・−A/D変換
回路、(5)・・・サンプルメモリ、(6)・・・記憶
制御回路、(7)・・・演算制御手段。 なお、図中、同一符号は同一もしくは相当部分を示す。
を示すブロック図、第2図は従来の交流計測装置の構成
を示すブロック図、第8図は入力信号波形図、第4図は
サンプルメモリに格納されろサンプルデータの構成図、
第5図はマイクロコンピュータの処理の概要を示すフロ
ーチャートである。 (1)−・・電流/電圧変換回路、(2a)、 (2b
)、 (2c)−マルチプレクサ、(8a)、 (8b
)−・・サンプルホールド回路、(4)・−A/D変換
回路、(5)・・・サンプルメモリ、(6)・・・記憶
制御回路、(7)・・・演算制御手段。 なお、図中、同一符号は同一もしくは相当部分を示す。
Claims (2)
- (1)交流電流を交流電圧に変換する電流/電圧変換回
路と、同一タイミングでサンプルおよびホールドが制御
される電流用と電圧用の2つのサンプルホールド回路と
、サンプルホールド回路からの出力をA/D変換するA
/D変換回路と、A/D変換回路の出力信号を順次格納
するサンプルメモリと、サンプルメモリの読出しおよび
書込みを制御する記憶制御回路と、サンプルメモリのデ
ータを読出し、演算処理をして電力、無効電力、電力量
、無効電力量、平均値もしくは実効値の電流、電圧およ
び力率の一部もしくは全てを出力する演算制御手段とを
備えた交流計測装置。 - (2)サンプルホールド回路の前段に、複数の交流アナ
ログ電圧、電流の中から1つの電圧、電流を順次選択出
力するアナログマルチプレクサを設けてなる特許請求の
範囲第1項記載の交流計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14750185A JPS628061A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 交流計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14750185A JPS628061A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 交流計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS628061A true JPS628061A (ja) | 1987-01-16 |
Family
ID=15431795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14750185A Pending JPS628061A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 交流計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628061A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58204664A (ja) * | 1982-05-24 | 1983-11-29 | Secom Co Ltd | 異常通報装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819068A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 加入者線路の保護試験方式 |
| JPS58139074A (ja) * | 1982-02-12 | 1983-08-18 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 交流計測装置 |
| JPS61281973A (ja) * | 1985-06-07 | 1986-12-12 | Takemoto Denki Keiki Kk | デ−タ収集装置 |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP14750185A patent/JPS628061A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819068A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-03 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 加入者線路の保護試験方式 |
| JPS58139074A (ja) * | 1982-02-12 | 1983-08-18 | Meidensha Electric Mfg Co Ltd | 交流計測装置 |
| JPS61281973A (ja) * | 1985-06-07 | 1986-12-12 | Takemoto Denki Keiki Kk | デ−タ収集装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58204664A (ja) * | 1982-05-24 | 1983-11-29 | Secom Co Ltd | 異常通報装置 |
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