JPS6280634A - カメラの測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の利用分野） 本発明は、カメラに使用される露出制御用の測光装置の
改良に関する。

（発明の背景） 従来、−眼レフカメラの測光装置は、例えばファインダ
光学系のコンデンサレンズに形成したマイクロビームス
プリッタ等の光分割部材によって光電変換部へ光束を導
くもの、あるいは、ペンタプリズムの光束射出面に設け
られる２次結像レンズを介して光束な光電変換部に導く
ものなどが既に提案されている。

しかしながら、上記ようなものは、いづれもファインダ
視野での光量分布の阻害、ピント板上のスプリットイメ
ージプリズムによる測光感度分布の変化といった問題点
や、又、感度分布調整に多くの工数が必要であるといっ
た欠点を有していた。

第５，６及び７図は、従来技術の例を示す一眼レフカメ
ラの断面図であり、同部分は同符号によって示す。

第５図において、撮影レンズ１を透過した被写体光（光
軸を一点鎖線２で示す）は、ミラー３により上方に反射
され、ピント板４、光分割、部材５、コンデンサレンズ
６、ペンタプリズム７を経て接眼レンズ８に至り、前記
光分割部材５で分けられた光束は光電変換部９に入射さ
れる。１０はフィルム面である。この方式においては、
接眼レンズ８より被写体を見たとき、光分割部材５によ
る光の分割のために、接眼レンズ８に至る光の一部が欠
けて見え、ファインダ中央部に輪郭のはつきりした陰影
が生ずるといった弊害がある。

第６図においては、撮影レンズ１を透過した被写体光が
ミラー３で反射され、ピント板４を経てペンタプリズム
７により方向転換され、接眼レンズ８に至っている。又
、ペンタプリズム７の光射出面に設けられる２次結像レ
ンズ１１により、ピント板４の中央部が光電変換部９に
結像を与えるようにされる。この方式においては、第５
図図示例と異なり、ファインダ中央部に陰影が生ずるこ
とはないが、ピント板４の中央部を光電変換部９の中央
に結像させる調整手段のために多くの工数が必要となる
。さらに、ピント板４を通過した後の光束を測光するの
で、ピント板４のスプリットイメージプリズム４′等に
より、測光感度分布が影響されるといった欠点や、又、
ピント板４を自在に交換することができないといった問
題点がある。

又、第７図は、ミラーボックスの底部に測光装置の光電
変換部１２と焦点検出装置の光電変換部１３とがそれぞ
れ配置された例を示すものであり、主ミラー１４の中央
部には半透過部１５が形成され、後方に光分割用ミラー
１６が設けられる。光分割用ミラー１６には、被写体側
の半透過面１７とフィルム面１０側の全反射面１８とが
形成される。被写体からの光束は撮影レンズ１を通過し
赴後、主ミラー１４によって２方向に分割され、一方の
光束はピント板４の方向に反射され、撮影視野の観察用
に供せられる。主ミラー１４を透過した他方の光束の一
部は、被写体側の半透過面１７で反射されて測光装置の
光電変換部１２に入射され、残りの光束フ は、賃イルム面１０側の全反射面１８により反射されて
、焦点検出装置の光電変換部１３に入射される。

測光装置の光電変換部１２を上記のように配置すれば、
ファインダ内において、測光範囲だけが不自然に暗くな
るとか、或いはピント板４のスプリットイメージプリズ
ム４′によって測光感度分布が影響を受けるということ
はない。

しかしながら、ミラーボックスの底部に測光装置の光電
変換部１２と焦点検出装置の光電変換部１３との収納空
間を確保することは困難であり、さらに、光分割用ミラ
ー１６に半透過面１７と全反射面１８とを形成するため
に、光分割用ミラー１６が大型になるといった問題点が
ある。

（発明の目的） 本発明の目的は、上述した問題点を解決し、光電変換手
段の配置を容易に行うことができ、コストを安くし、し
かもファインダの見えを向上させると共に、測光感度分
布を安定させることができるカメラの測光装置を提供す
ることである。

（発明の特徴） 上記目的を達成するために、本発明は、撮影レンズを通
して焦点検出装置の光電変換部に入射する光の光路中に
、該光路の光の一部な光電変換し、残りの光を通過させ
る光電変換手段を挿入し、以て、焦点検出装置に向かう
光束から露出制御のための測光を行うようにしたことを
特徴とする。

（発明の実施例） 第１図は、本発明の一実施例を示す一眼レフカメラの断
面図である。

ボデー１９の上方には、ピント板２０、ペンタプリズム
２１、接眼レンズ２２が配置され、ファインダ光学系が
構成される。

ボデー１９の内部には、主ミラー２３及びサブミラー２
４が退避可能に設置されるミラーボックス内空間２５が
形成され、主ミラー２３の中央には半透過部２６が設け
られる。２７はシャッタ、２８はフィルム面を示す。

ミラーボックス内空間２５の下方には、ミラーボックス
底部２９により囲まれる空所３０が形成され、露出制御
用の測光装置３１、視野マスク３２、フィールドレンズ
３３、ミラー３４、像分離プリズム３５、絞り３７、再
結像レンズ３８、ミラー３９及び焦点検出装置の光電変
換部であるＣＣＤセンサ４０が配置される。

測光装置３１は、光電変換部（後述）の他に干渉フィル
タ及びガラス基板（後述）を含むもので、光電変換部が
撮影レンズ（図示セス）　ｆ）予定結僧面近傍に位置す
るように設置される。

そして、再結像レンズ３８は、前記視野マス２３２０通
過光をＣＣＤセンサ４０上に結像するように配置される
。ＣＣＤセンサ４０は、例えば４ｏｍ素、２ラインを有
するものが使用される。４１は自動絞り地板、４２は自
動絞りレバーである。一点鎖線で示される４３．４４及
び４５は光軸である。

尚、測光装置３１については、第２図及び第３図により
後述する。

第１図において、撮影レンズ（図示せず）を透過した光
（光軸４３）は、主ミラー２３によりファインダ光学系
への反射光（光軸４４）と測光及び焦点検出系への透過
光（光軸４５）とに分割される。前記の透過光はさらに
、サブミラー２４により反射され、測光装置３１に導か
れる。

測光装置３１に導かれた光の一部は、後述する光電変換
部により露出制御用の電力に変換される。

又、視野マスク３２を通過した光は、フィールドレンズ
３３及びミラー３４により像分離プリズム３５に入射さ
れ、像分離プリズム３５により二つの像に分離される。

像分離プリズム３５には、異なった傾斜部３５　ａ　、
　３５　ｂが形成され、且つフィールドレンズ３３によ
り、撮影レンズ（図示せず）の射出瞳上に投影されてい
るので、像分離プリズム３５で分離された二つの像は、
撮影レンズの射出瞳上でそれぞれ異なる領域を通過した
光束が再結像レンズ３８及びミラー３９を介してＣＯＤ
センナ４ｏに入射される。したがって、フィールドレン
ズ３３よりＣＣＤセンサ４０にいたる光学系は、公知の
位相差検出方式の焦点検出系として作用し、視野マスク
３２の僧門の光量分布の位相差を検出することにより、
撮影レンズのデフォーカス量が演算される。

第２図は、測光装置３１の正面図、第３図は同じく測光
装置３１の詳細部を示す斜視図である。

測光装置３１は、ガラス基板４６の表裏に、干渉フィル
タ４７、光電変換部４８が配、置されて構成される。破
線で示す４９は、視野マスク３２（第１図）の開口部で
ある。

光電変換部４８は、線状に配置されるアモルファスシリ
コン受光素子５０．５１，５２、透光部５３　、５４　
、５５及ヒアモルファスシリコン受光素子５０．５１．
５２をそれぞれ接続する接続部５６．５７とから構成さ
れ、接続部５６．５７は、接続端子５８．５９により、
対数圧縮回路（後述）に接続される。

アモルファスシリコン受光素子５０．５１゜５２は、線
状に形成されるアモルファスシリコン層６０，６１．６
２と、上下に積層配置される上部電極６３．６４．６５
及び下部電極６６゜６７．６８とから構成される。

第４図は、第２図及び第３図に示す光電変換部４８と接
続される回路図の一例を示すものである。

光電変換部４８の接続端子５８は、基準電圧を有する電
源ｖｃ及び演算増幅器６９の非反転入力端と接続され、
接続端子５９は反転入力端と接続される。前記演算増幅
器６９の出力端と反転入力端との間には対数圧縮ダイオ
ード７０をもつ帰還回路が接続され、対数圧縮ダイオー
ド７０と演算増幅器６９とにより対数圧縮回路が形成さ
れる。

演算増幅器６９の出力端は可変抵抗７１を介して演算増
幅器７２０反転入力端と接続される。

前記反転入力端は、抵抗７３をもつ帰還回路に接続され
ると共に、可変抵抗７４を介してアース接続される。演
算増幅器７２の非反転入力端には電源■が接続される。

演算増幅器７２及び抵抗７１．７３．７４が反転増幅回
路を構成する。

演算増幅器７２の出力端は、フィルムの感度情報ｌ５Ｏ
１撮影レンズの開放絞り情報Ａｙｏ及び開放絞り補正情
報Ａｙ＋２がそれぞれ入力する演算制御回路７５に入力
可能に接続される。

前記演算制御回路７５は絞り制御装置７６及びシャッタ
速度制御装置７７とを制御するように接続される。

第１図、第２図、第３図及び第４図によって、以下、動
作を説明する。

側光装置３１を通過する光の一部がアモルファスシリコ
ン受光素子５０．５１．５２によって受光されると、光
電変換されて電流が発生される。この発生電流は１、対
数圧縮回路により受光量の対数に比例する電流に対数圧
縮され、反転増幅回路により反転増幅されて、演算制御
回路７５に入力される。

演算制御回路７５においては、前記反転増幅回路の情報
と、フィルムの感度情報ＩＳＯ，開放絞り情報Ａｖｏ及
び開放絞り補正情報Ａｙｃとにより、撮影レンズの絞り
値とシャッタ速度とが演算決定され、絞り制御装置７６
及びシャッタ速度制御装置７７とが制御される。

第１図、第２図及び第３図に示す実施例においては、ポ
デー１９のミラーボックス底部２９により形成される空
所３ｏに焦点検出装置の光学系を収容し、サブミラー２
４から前記焦点検出装置の光学系へ導かれる光路中に、
ガラス基板４６、感度補正用干渉フィルタ４７及び光電
変換部４８により一体に構成される測光装置３１を設け
るようにしたので、測光装置３１用の干渉フィルタを新
たに設ける必要がない。

そして、測光装置３１用の２次結像レンズや光分割部材
といった測光用結像光学系が必要でなく、さらに、サブ
ミラー２４を測光と焦点検出用とに共用でき、コストを
安くすることができる。

又、前記の２次結像レンズ又は光分割部材の省略は、測
光用結像光学系と測光用受光素子との位置合わせも不要
となるので、従来多（の工数を必要とする測光感度分布
の調整手段をほとんどなくすことができる。

そして、主ミラー２３により撮影レンズからの光束が分
割されるので、ファインダ視野の部分的な光量落ちが生
じることがな（、又、スプリットイメージプリズムが測
光感度分布に全く影響することがないので、ピント板２
０を自由　（に交換することができる。

さらに、又、ガラス基板４６の光射出側に線状のアモル
ファスシリコン受光素子５０．５１゜５２をすだれ状に
配置し、光入射側に測光及び焦点検出用の干渉フィルタ
４７を設け、分光感度が補正されるようにしたので、単
一のガラス基板４６が使用でき、又、測光装置３１の受
光面積を大きくして効率を良くすることができる。

（発明と実施例の対応） 光電変換部４８が本発明の光電変換手段に相当し、ＣＣ
Ｄセンサ４０が焦点検出装置の光電　４変換部に相当す
る。

（変形例） 図示実施例においては、線状のアモルファスシリコン受
光素子５０．５１．５２を使用したが、他の材質による
受光素子を使用してもよく、又、線状ではなく、粒状の
受光素子を点在させるようにしてもよい。又、測光装置
３１以外の構造も図示実施例には限定されない。

：発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、撮影レンズを通
して焦点検出装置の光電変換部に入射する光の光路中に
、該光路の光の一部を光電変換し、残りめ光を通過させ
る光電変換手段を挿入し、以て、焦点検出装置に向かう
光束から露出制御のための測光を行うようにしたから、
光電変換手段の配置を容易に行うことができ、コストを
安くし、しかもファインダの見えを向上させると共に、
測光感度分布を安定させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を備えた一眼レフカメラの断
面図、第２図は本発明の一実施例を示す正面図、第３図
は本発明の一実施例の詳細を示す斜視図、第４図は本発
明に係る光電変換部に接続される回路の回路図、第５図
は従来形の一例を示す断面図、第６図は従来形の他の例
を示す断面図、第７図は従来形の別の例を示す断面図で
ある。 １９・・・ボデー、２３・・・主ミラー、２４・・・丈
プミラー、２５・・・ミラーボックス内空間、２６・・
・半透過部、２９・・・ミラーボックス底部、３０・・
・空所、３１・・・測光装置、３２・・・視野マスク、
３３・・・フィールドレンズ、３４・・・ミラー、３５
・−・像分離プリズム、３８・・・再結像レンズ、３９
・・−ミラー、４０・・・ＣＣＤセンサ、４３゜４４．
４５・・・光軸、４６−・・ガラス基板、４７・・・干
渉フィルタ、４８・・・光電変換部、４９・・・開口部
、５０，５１．５２−・・アモルファスシリコン受光素
子、５３，５４．５５・・・透光部、５８．５９・・・
接続端子、６０，６１．６２・・・アモルファスシリコ
ン層、６３，６４．６５・・・上部電極、６６．６７．
６８・・・下部電極。 特許出願人　　　キャノン株式会社 代　埋　人　　　　中　　　村　　　　稔第１図 第４図 １５０ＡＶＯＡＶ１１゜ 第５図 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、撮影レンズの予定結像面近傍に配置された光電変換
   手段を有するカメラの測光装置において、撮影レンズを
   通して焦点検出装置の光電変換部に入射する光の光路中
   に、該光路の光の一部を光電変換し、残りの光を通過さ
   せる前記光電変換手段を挿入したことを特徴とするカメ
   ラの測光装置。