JPS6285473A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents

太陽電池の製造方法

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JPS6285473A
JPS6285473A JP60225662A JP22566285A JPS6285473A JP S6285473 A JPS6285473 A JP S6285473A JP 60225662 A JP60225662 A JP 60225662A JP 22566285 A JP22566285 A JP 22566285A JP S6285473 A JPS6285473 A JP S6285473A
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JP
Japan
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compound semiconductor
solar cell
substrate
single crystal
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JP60225662A
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JPH0545072B2 (ja
Inventor
Akimi Iida
飯田 昭参
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Agency of Industrial Science and Technology
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
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    • Y02E60/50Fuel cells

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、ガラス、金属、セラミックス、プラスチック
ス等による基板の上に単結晶膜を生成した太陽電池およ
びその製造方法に関するものである。
[従来の技術] 程度のかなりの厚みを要し、しかも、結晶裁断の際の切
りしろとして高価な材料を無駄にする等の経済的、資源
的欠点があった。
[発明が解決しようとする問題点] そこで、本発明の目的は、上述した従来の欠点を除去し
、高価な単結晶基板を用いることなく、ガラス基板、金
属板、セラミックスあるいは温度条件が許せばプラスチ
ック基板等、任意材料の基板を用いて所望の化合物の単
結晶膜を成長させて構成した高性能、低コスト、省資源
の太陽電池およびその製造方法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明太陽電池は単
結晶基板ではない基板を有し、太陽電池で太陽光を受光
するように構成したことを特徴とする。
本発明製造方法は単結晶基板ではない基板上に、太陽電
池の接合を含む活性層を作るための化合物半導体層を堆
積させる工程と、化合物半導体層上に化合物半導体を構
成する成分の単体金属層を堆積させる工程と、単体金属
層で覆われた化合物半導体層をその融点を含む範囲の温
度に加熱してから常温にまで冷却して単体金属層と基板
との(通常は多結晶膜)を堆積させ、その上に堆積化る
化合物半導体の堆積層の上を蔽っている単体金属成分層
は太陽電池の片側電極として構成したり、あるいはかか
る単体金属成分層を除去して、更にその生成された単結
晶膜上に化合物半導体をエピタキシー成長させることに
より高品質単結晶膜を成長させて種々の太陽電池すなわ
ち、ヘテロ接合+ P−”接合、ショットキー接合等を
もつ太陽電池を構成してもよい。
[作用] 本発明によれば、単結晶基板ではない任意所望の基板、
すなわち従来極めて困難とされていた、ガラス金属、セ
ラミックス、プラスチックス等の任意所望の材料の基板
上に単結晶半導体膜を生成以下に、図面を参照して本発
明の詳細な説明する。
第1図(A)および(B)は本発明により製造したヘテ
ロ接合太陽電池の実施例を示し、ここで、 1は透明ガ
ラス基板、7は基板1上に配置したIn2O3、5n0
2等のネサ膜、7′はネサ膜7に取付けた電極、3はネ
サ膜7上に堆積させたInP 、 GaAs等の化合物
半導体層、5はこの化合物半導体層3を覆うIn 、 
Ga等の単体金属被覆層を示す。5′は層5の上より取
出した電極を示す。
起電力は電極5′ と7′ との間から取出す。化合物
半導体層3がInPの場合には電極5はInを用い、化
合物半導体層3がGaAsの場合には電極5はFIG 
aを用いる・化合物半導体層3としてI″Pを用し゛物
半導体層3のInPは再結晶化し同時に電極5のIn中
に昇温時に含まれたPがInと共に再結晶してできたI
nP単結晶面上に接触するようになり、いわゆるInP
の液相成長が起こり、電極7のネサ膜と電極5のInに
挟まれたInP単結晶膜が生成される。
上述の化合物半導体層3および単体金属層5の蒸着によ
る形成並びに単結晶化処理の一連工程における基板1の
温度変化と経過時間との関係の一例を第3図に示す。ま
ず、基板1の温度を270°Cに保ちながら、いずれも
純度6nineのインジウムInと赤燐Pとをそれぞれ
収容した別個の蒸着源ルツボからネサ膜?上に分子線蒸
着すなわち超高真温度を下げて燐Pの蒸発を停止し、I
n用ルツボからのインジウムInのみの蒸着を続行して
厚さ約187zmのIn被膜5を化合物膜3上に積層す
る。かかる積層3,5の形成は、第3図に示したタイム
チャートにおける区間b−cにおいて基板1の温度を2
70°Cに保ったまま行う。引続いて、基板1の温度を
、一旦、区間c−fにて順次に低下させた後に、区間f
−hにおいて、基板1の温度を約1000℃まで急速に
上昇させた後、自然放熱冷却により常温に降下させる。
化合物1nPの融点は1060℃であるから、かかる1
000  ℃までの温度急上昇の過程において化合物I
nPが再結晶し、その結晶粒が肥大化するとともに、い
ずれの結晶粒も基板lの面に平行な(111)面が優位
配向となる。その再結晶= ;に際して、予め蒸着したInP化合物の不純物が極゛
1 1めて少なければ、結晶粒界を形成する不純物も極い燐
Pは解離して脱出しようとするが、表面をIn被膜によ
って蔽われているために脱出し得す、一部の燐Pがイン
ジウムIn中に溶は込む。ついで、上述したように基板
温度が再結晶温度約1000°Cに達した後に、直ちに
自然放熱により室温まで低下させると、その自然冷却過
程において前述の再結晶過程で生成した単結晶乃至単結
晶に近い(111)面優先配向の状態にある下地のIn
P化合物膜3の上に、上述のようにして燐Pが溶は込ん
でいるインジウムInの融液が接触して液相エピタキシ
ャル成長が行われるかあるいは再結晶と液相成長が同時
に起るものと考えられる。ここで注意すべきは、もし再
結晶温度1000℃に長時間保持しておれ(111)面
優先配向を有するInP化合物膜が種単結晶膜となって
、その上にInP化合物の液相エピタキシャル成長が行
われることにより、単結晶化の改善促進がなされるもの
と考えられる。
さらに電力取出用電極5′および7′をそれぞれ層5お
よび7に取付けることにより、ヘテロ接合太陽電池が構
成される。太陽光はガラス基板1の側から照射する。ネ
サ膜7がInPよりも広い禁制帯幅を持っていればその
窓効果によりさらに高い効率が得られることは言うまで
もない。
本発明pn接合太陽電池の一例を第2図(A)および(
B)に示す。ここで、1は透明ガラス基板、2は基板1
上に配置され、化合物半導体層3に接触するオーム性電
極から成る櫛形または格子状型間にはpまたはn形半導
体単結晶膜4を配置する。なお、層3がn形半導体層の
場合、単結晶膜4としてp形半導体層が形成されるよう
に単体金属被覆層5の生成時に、この層5中にp形ドー
パント、例えば” +Mg+ Be等を膜4に近い側の
層5内に混入しておく。今、層3としてInPを用いた
場合、例えば化合物半導体層3の厚さは約1〜57上m
程度とし、その上に上述したpn接合形成のためのドー
パントを混入した層をIn層またはInP層にドーパン
ト混入により構成する。しかる後、この積層をInPの
融点付近まで短時間加熱し、その後自然放冷により常温
に戻す。第1図で説明したときの原理と全く同様にn(
p)形半導体単結晶膜3とp(n)形半導体単結晶膜4
がガラス基板1およ層をその融点以上(例えばInでは
約200°C)τワイピングオークするかエツチングで
除去した後、その生成単結晶層3の面上に所望単結晶の
エピタキシャル成長を行いながらpn接合、ヘテロ接合
、あるいはショットキー接合等を構成して単結晶膜太陽
電池を作製することができる。
なお、上述の積層の生成および構成は、蒸着方法、スパ
ッタ方法、CVD方法等により行い、再結晶化および液
相成長は真空中あるいはAr、  N2等の不活性ガス
中で行う。
更に、太陽光受光側に反射防止膜を設けて太陽電池効率
向上を図ることができることはいうまでもない。
[発明の効果] 電池を低コストかつ省資源に貢献しながら製造すること
が可能となり、太陽電池の発展普及に太き。
〈寄与する。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)およびCB)は本発明方法により製造した
ヘテロ接合太陽電池の一実施例を示す、それぞれ、上面
図および断面図、 第2図(A)およびCB)は本発明方法により製造した
pn接合太陽電池の構成−例を示す、それぞれ、上面図
および断面図、 第3図は本発明単結晶半導体膜生成過程実施例における
基板温度変化の一例を示すタイムチャートである。 1・・・基板、 指定代理人 工業技術院電子技術総合研究所長経過詩間
 (背量) 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)単結晶基板ではない基板を有し、該基板上に太陽電
    池の接合を含む活性層として単結晶化合物半導体層を配
    置し、該化合物半導体層上に前記化合物半導体を構成す
    る成分の単体金属の層を配置し、前記化合物半導体層お
    よび前記単体金属層に電極を取り付け、前記基板の側で
    太陽光を受光するように構成したことを特徴とする太陽
    電池。 2)特許請求の範囲第1項記載の太陽電池において、前
    記太陽電池活性層接合部分にネサ膜を用いたことを特徴
    とする太陽電池。 3)特許請求の範囲第1項記載の太陽電池において、前
    記電極は櫛形または格子状電極であることを特徴とする
    太陽電池。 4)単結晶基板ではない基板上に、太陽電池の接合を含
    む活性層を作るための化合物半導体層を堆積させる工程
    と、該化合物半導体層上に当該化合物半導体を構成する
    成分の単体金属層を堆積させる工程と、該単体金属層で
    覆われた前記化合物半導体層をその融点を含む範囲の温
    度に加熱してから常温にまで冷却して前記単体金属層と
    基板との間に前記化合物半導体の単結晶層を形成する工
    程とを具えたことを特徴とする太陽電池の製造方法。 5)単結晶基板ではない基板上に、太陽電池の接合を含
    む活性層を作るための化合物半導体層を堆積させる工程
    と、該化合物半導体層上に当該化合物半導体を構成する
    成分の単体金属層を堆積させる工程と、該単体金属層で
    覆われた前記化合物半導体層をその融点を含む範囲の温
    度に加熱してから常温にまで冷却して前記単体金属層と
    基板との間に前記化合物半導体の単結晶層を形成する工
    程と、前記単体金属層が除去された単結晶化合物半導体
    層の露出面上に当該単結晶のエピタキシャル成長を行い
    ながら接合を作る工程とを具えたことを特徴とする太陽
    電池の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1246261A3 (en) * 2001-03-27 2004-04-21 Nagoya Institute of Technoloy Space solar cell

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5075382A (ja) * 1973-11-05 1975-06-20
JPS5117033A (en) * 1974-07-31 1976-02-10 Masuyuki Naruse Nenshokino nenshoantei oyobi kakibutono reikyakuhoho
JPS5169994A (ja) * 1974-11-08 1976-06-17 Western Electric Co

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