JPS6285809A - パタ−ン認識用照明装置 - Google Patents

パタ−ン認識用照明装置

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JPS6285809A
JPS6285809A JP22718985A JP22718985A JPS6285809A JP S6285809 A JPS6285809 A JP S6285809A JP 22718985 A JP22718985 A JP 22718985A JP 22718985 A JP22718985 A JP 22718985A JP S6285809 A JPS6285809 A JP S6285809A
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JP
Japan
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light
field light
chip
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film
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JP22718985A
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JPH0418246B2 (ja
Inventor
Kazunori Morinaga
和慶 森永
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、表面に凹凸パターンを有する、組み立て工
程中の半導体集積回路素子等の・対象物表面を、撮影の
ために照明するパターン認識照明装置に関する。
[従来の技術] 第3図11従来から使用されているパターン認識照明装
置を示す縦断面図で1図において(1)は対象物である
半導体集積回路素子チップ、(2)はこのチップ(1)
の中心の垂線、(3)はこの垂線より15°傾けて配設
された光源用ランプ、(4)はチップ(1)とランプ(
3)間に配設された拡散透過板であるすりガラス板、(
5)は、このすりガラス板(4)を保持、固定しランプ
(3)を囲むランプハウス、(6)は垂線(2)に対し
ランプ(3)と対称に15″傾けて配設されたカメラ装
c、 (7)はチップ(1)に当てられ反射しカメラ装
置(6)に向かう反射光、(8)は主にこの反射光(7
)が通過する反射光域、(9)はチップ(1)の表面で
正反射された光が反射光(7)の成分となる明視野光、
(10)は主にこの明視野光(9)が通過する明視野光
域、(11)はチップ(1)の表面で乱反射された光の
一部が反射光(7)の成分となる暗視野光、(12)は
主にその暗視野光(11)が通過する暗視野光域である
次にその動作について説明する。ランプ(3)から発せ
られた光はすりガラス板(4)に当たり拡散される。こ
の拡散された光の一部はチップ(1)の表面へ明視野光
(9)と暗視野光(11)として向かう。
チップ(1)の表面は第4図で示すように微細な凹凸面
を有しているので、その平坦な部分に対しては明視野光
(9)の正反射された光が、傾斜のある部分に対しては
暗視野光(11)の乱反射された光がカメラ装置(6)
に向かう。これら2種類の光によってチップ(り表面の
明るさはカメラ装置(6)側から見た時均−になり、カ
メラ装置(6)には均一の明るさのチップ(1)の画像
が得られる。
[発明が解決しようとする問題点コ 従来の装置は以上の様に構成されているので、明視野光
域(10)中の光量と暗視野光域中の光量との割合、即
ち明視野光・暗視野光成分比が一定であるため、表面の
凹凸状態の異なるチップ(1)に対してはカメラ装置f
! (6)に向かう反射光(7)の均一度が異なってく
る。即ち所定の凹凸面をもったチップに対し、均一の明
るさのチップ画像が得られても、それと異なった凹凸面
をもったチップ表面からは均一な明るさの画像が得られ
ず1例えばカメラ装置(6)からの画像信号を2値化処
理した場合、チップ画像の一部が欠ける等の問題点を有
していた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので1表面の凹凸状態の異なるチップ等の対象物の
表面からも均一な明るさを得ることができるパターン認
識用照明装置を得ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段] この発明にかかるパターン認識用照明装置は、すりガラ
ス板等の拡散透過板上に明視野光成分と暗視野光成分と
の比を調整するための遮光体を設けたものである。
[作 用] この発明においては、拡散透過板上に設けた遮光膜、半
遮光膜等の遮光体により、例えば暗視野光の一部を遮光
、明視野光を減光するなどして。
対象物の表面状態が異なっても均一な反射光が得られる
よう調整される。
[実施例] 以下この発明の実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示す縦断面図、第2図は
それの拡散透過板部を示す下面図である。
図において(2)〜(12)は従来装置と同様のもので
あり、(13)は、拡散透過板であるすりガラス板(4
)に貼り付けたリング状遮光膜、(14)はこのリング
状遮光膜(13)の内側のすりガラス板(4)に貼りつ
けた半遮光膜、(15)は、対象物である従来装置にお
いて均一な反射光を得たチップ(1)とは異なった凹凸
状態の表面をもつ品種の異なるチップである。
次にその動作を説明する。ランプ(3)から発せられた
光はすりガラス板(4)に当たり拡散透過する。この光
がチップ(15)に向かうが、その内リング状遮光膜(
13)の貼布された個所からチップ(15)に向かう光
はなく、その分晴視野光(11)は減少する。又、半遮
光膜(14)によって明視野光(9)が減少する。この
ことはリング状遮光膜(13)の外径又は半遮光膜(1
4)の光透過度を変えることによって明視野光(9)と
暗視野光(11)の成分比が変わることを示している。
従ってカメラ装置(6)でとらえた品種の異なるチップ
(15)の画像を均一とし、カメラ装置(6)でとらえ
た品種の異なるチップ(15)の画像を均一の明るさと
することができる。
なお上記実施例ではすりガラス板(4)にリング状遮光
膜とそれの内側に半遮光膜を貼り付けたものを示したが
、被対象物の表面凹凸状態によっては、リング状遮光膜
とそれの外側に半遮光膜を貼り付けるようにしてもよい
[発明の効果コ 以上のように、この発明によれば拡散透過板上に調整用
遮光体を設けるようにしたため、対象物の表面状態に応
じて明視野光と暗視野光との成分比を変えることにより
1品種の異なる対象物からも均一な明るさの反射光を得
ることが、単に遮光膜を貼付する等の極めて簡単かつ安
価な手段によって可能となるパターン認識用照明装置が
得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す縦断面図、第2図は
それの拡散透過板部を示す下面図、第3図は従来のパタ
ーン認識用照明装置を示す縦断面図、第4図は対象物で
ある集積回路素子チップの表面凹凸状態を示す断面図で
ある。 図において(1)は集積回路素子チップ(対象物)、(
3)は光源用ランプ、(4)はすりガラス板(拡散透過
板)、(6)はカメラ装置、(7)は反射光、(8)は
反射光域、(9)は明視野光、 (10)は明視野光域
、(11)は暗視野光、(12)は暗視野光域、(13
)はリング状遮光膜(遮光体)、(14)は半遮光膜(
遮光体)、(15)はチップ(])とは異なる品種のチ
ップ(対象物)である。 図中同一符号は同−或は相当部分を示す。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)表面に凹凸パターンの有する対象物の表面に光源
    から拡散透過板を介した光を照射し、それからの反射波
    をカメラ装置で撮影するようにしたパターン認識用照明
    装置において、上記拡散透過板上に、上記対象物の表面
    から反射され上記カメラ装置に向かう反射光中、正反射
    される明視野光成分と乱反射される暗視野光成分との比
    を調整する遮光体を設けたことを特徴とするパターン認
    識用照明装置。
  2. (2)上記遮光体は、上記拡散透過板の外周部の暗視野
    光の一部を遮光する円形リング状透光膜と、その内側中
    央部の明視野光を減光させる半遮光膜とからなるもので
    ある特許請求の範囲第1項記載のパターン認識用照明装
    置。
  3. (3)上記遮光体は、上記拡散透過板の外周部の暗視野
    光の一部を遮光する円形リング状遮光部と、その外側の
    暗視野光の残部を減光させる半遮光膜とからなるもので
    ある特許請求の範囲第1項記載のパターン認識用照明装
    置。
JP22718985A 1985-10-11 1985-10-11 パタ−ン認識用照明装置 Granted JPS6285809A (ja)

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JP22718985A JPS6285809A (ja) 1985-10-11 1985-10-11 パタ−ン認識用照明装置

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JP22718985A JPS6285809A (ja) 1985-10-11 1985-10-11 パタ−ン認識用照明装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6285809A true JPS6285809A (ja) 1987-04-20
JPH0418246B2 JPH0418246B2 (ja) 1992-03-27

Family

ID=16856883

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JP22718985A Granted JPS6285809A (ja) 1985-10-11 1985-10-11 パタ−ン認識用照明装置

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JP (1) JPS6285809A (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5735703A (en) * 1980-08-13 1982-02-26 Fujitsu Ltd Film surface inspecting method
JPS5767844A (en) * 1980-10-15 1982-04-24 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Surface inspecting device
JPS59149006U (ja) * 1983-03-24 1984-10-05 株式会社東芝 検出装置
JPS59200908A (ja) * 1983-04-28 1984-11-14 Hitachi Ltd ウエハの照明方法およびその装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5735703A (en) * 1980-08-13 1982-02-26 Fujitsu Ltd Film surface inspecting method
JPS5767844A (en) * 1980-10-15 1982-04-24 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Surface inspecting device
JPS59149006U (ja) * 1983-03-24 1984-10-05 株式会社東芝 検出装置
JPS59200908A (ja) * 1983-04-28 1984-11-14 Hitachi Ltd ウエハの照明方法およびその装置

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JPH0418246B2 (ja) 1992-03-27

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