JPS6287815A - 光学トランスジユ−サ素子及び該素子を具える変位測定装置 - Google Patents
光学トランスジユ−サ素子及び該素子を具える変位測定装置Info
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- G—PHYSICS
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/22—Analogue/digital converters pattern-reading type
- H03M1/24—Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip
- H03M1/28—Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding
- H03M1/30—Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding incremental
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物体に接続され、該物体の変位を光信号に変換
する光学トランスジューサ素子であって、該素子の変位
方向に複数個の第1暗細条と第2明細条が交互に設けら
れた平坦本体を具えている光学トランスジューサ素子に
関するものである。本発明は斯かる素子が設けられた物
体の直線変位又は角変位を測定する装置にも関するもの
である。
する光学トランスジューサ素子であって、該素子の変位
方向に複数個の第1暗細条と第2明細条が交互に設けら
れた平坦本体を具えている光学トランスジューサ素子に
関するものである。本発明は斯かる素子が設けられた物
体の直線変位又は角変位を測定する装置にも関するもの
である。
ここでは“変位”は広い意味に解釈する必要があり、物
体の直線変位と、物体の特定の軸線を中心とする回転の
両方を意味するものと理解されたい。物体の位置とは基
準点に対するこの物体の変位量であり、物体の移動速度
は変位量の時間に関する導関数であるため、このトラン
スジューサ素子を物体の位置又は速度の決定に用いるこ
ともできる。
体の直線変位と、物体の特定の軸線を中心とする回転の
両方を意味するものと理解されたい。物体の位置とは基
準点に対するこの物体の変位量であり、物体の移動速度
は変位量の時間に関する導関数であるため、このトラン
スジューサ素子を物体の位置又は速度の決定に用いるこ
ともできる。
欧州特許出願第0096448号には物体の角変位を測
定する装置が開示されておりそのトランスジューサ素子
は放射状に延在する光反射細条が設けられた透明円板で
ある。この円板は光源と光検出装置との間に配置される
。この光検出装置は1列に配列した多数の検出器を具え
ている。物体、例えば工作機械の一部の変位又は自動製
造機械のマニピュレータ又は測定装置の移動はトランス
ジューサ素子の細条パターンを検出装置の対応する細条
パターン上に結像することにより測定することができる
。この検出装置の個々の検出器が検出装置に対する物体
の変位又は位置に応じて電気パルスを発生し、これらパ
ルスを電子的に処理して測定信号を形成することができ
る。
定する装置が開示されておりそのトランスジューサ素子
は放射状に延在する光反射細条が設けられた透明円板で
ある。この円板は光源と光検出装置との間に配置される
。この光検出装置は1列に配列した多数の検出器を具え
ている。物体、例えば工作機械の一部の変位又は自動製
造機械のマニピュレータ又は測定装置の移動はトランス
ジューサ素子の細条パターンを検出装置の対応する細条
パターン上に結像することにより測定することができる
。この検出装置の個々の検出器が検出装置に対する物体
の変位又は位置に応じて電気パルスを発生し、これらパ
ルスを電子的に処理して測定信号を形成することができ
る。
例えば0.005°の所望の分解能並びに測定装置の例
えば0.001°の所望の再現性をt’4るためには、
トランスジューサ素子は細条の幅、即ち移動方向に対し
直角の方向の寸法並びにこれら細条の位置に関し極めて
厳しい要件を満足する必要がある。
えば0.001°の所望の再現性をt’4るためには、
トランスジューサ素子は細条の幅、即ち移動方向に対し
直角の方向の寸法並びにこれら細条の位置に関し極めて
厳しい要件を満足する必要がある。
ゴニオメータの角変位測定用に現在使用されているトラ
ンスジューサ素子の特定の例では、細条の幅は約318
μmで、細条の位置精度は1μmのオーダである。細条
は例えばガラス円板上のクロム細条で構成される。この
円板状トランスジューサ素子(“角位置エンコーダとも
称されている)は集積回路の製造に使用されているよう
な既知のリソグラフィー技術を用いる特別の装置で製造
する必要がある。従って、既知の角位置エンコーダ円板
はかなり高価なものとなる。
ンスジューサ素子の特定の例では、細条の幅は約318
μmで、細条の位置精度は1μmのオーダである。細条
は例えばガラス円板上のクロム細条で構成される。この
円板状トランスジューサ素子(“角位置エンコーダとも
称されている)は集積回路の製造に使用されているよう
な既知のリソグラフィー技術を用いる特別の装置で製造
する必要がある。従って、既知の角位置エンコーダ円板
はかなり高価なものとなる。
もっと安価で、好ましくはもっと高精度の角変位並びに
直線変位測定用トランスジューサ素子の必要性が増大し
てきている。本発明の第1の特徴によれば、上記の両要
件を満足する新タイプのトランスジューサ素子が提供さ
れる。本発明トランスジューサ素子においては、前記第
1暗細条の各細条を、該細条の長さ方向に交互に配置さ
れ且つ互いに異なる第1及び第2レベルに位置する格子
細条と中間格子細条を具える位相格子で構成し、これら
格子細条と中間格子細条は同一の透過率又は反射率を示
すものとし、前記レベルの差は光ビームの一部がこの位
相格子に入射したときに形成ささる0次のサブビームと
一次のサブビームとの間に180 °の位相差が生ず
るようにすると共に格子細条の幅は中間格子細条の幅に
略々等しくしてこの位相格子がトランスジューサ素子か
ら発する光ビーム内に暗帯を導入するよう構成したこと
を特徴とする。
直線変位測定用トランスジューサ素子の必要性が増大し
てきている。本発明の第1の特徴によれば、上記の両要
件を満足する新タイプのトランスジューサ素子が提供さ
れる。本発明トランスジューサ素子においては、前記第
1暗細条の各細条を、該細条の長さ方向に交互に配置さ
れ且つ互いに異なる第1及び第2レベルに位置する格子
細条と中間格子細条を具える位相格子で構成し、これら
格子細条と中間格子細条は同一の透過率又は反射率を示
すものとし、前記レベルの差は光ビームの一部がこの位
相格子に入射したときに形成ささる0次のサブビームと
一次のサブビームとの間に180 °の位相差が生ず
るようにすると共に格子細条の幅は中間格子細条の幅に
略々等しくしてこの位相格子がトランスジューサ素子か
ら発する光ビーム内に暗帯を導入するよう構成したこと
を特徴とする。
このトランスジューサ素子の位相構造はマスク素子から
簡単に多数複製することができる利点を有する。角度ト
ランスジューサ素子のマスクは、“コンパクトディスク
”又は”CD”及び“レーデビジョンディスク”の名称
で一般に知られている、オーディオ又はビデオプログラ
ムを含む光記録担体のマスクディスクの製造に使用され
ている装置を用いて極めて高精度に作製することができ
る。
簡単に多数複製することができる利点を有する。角度ト
ランスジューサ素子のマスクは、“コンパクトディスク
”又は”CD”及び“レーデビジョンディスク”の名称
で一般に知られている、オーディオ又はビデオプログラ
ムを含む光記録担体のマスクディスクの製造に使用され
ている装置を用いて極めて高精度に作製することができ
る。
“’CD”又は“レーザビジョン”技術は直線トランス
ジューサ素子、即ち直線変位を測定するトランスジュー
サ素子の製造にも用いることができる。
ジューサ素子、即ち直線変位を測定するトランスジュー
サ素子の製造にも用いることができる。
このようにして本発明による角度又は直線トランスジュ
ーサ素子を既知のトランスジューサ素子のコストの10
分の1程度のコストで得ることができる。
ーサ素子を既知のトランスジューサ素子のコストの10
分の1程度のコストで得ることができる。
上述の位相格子パラメータの選択の結果として、位相格
子に入射した光は回折されて検出装置に到達し得ないた
め、検出装置から見て位相格子は黒細条として作用し、
トランスジューサ素子の細条構造は黒−白又は振幅構造
として観察される。
子に入射した光は回折されて検出装置に到達し得ないた
め、検出装置から見て位相格子は黒細条として作用し、
トランスジューサ素子の細条構造は黒−白又は振幅構造
として観察される。
本発明トランスジューサ素子は、完全に透明にすること
ができる。この場合には格子細条と中間長、n2はトラ
ンスジューサ素子の基板の屈折率、n、は位相格子を被
覆する媒体の屈折率である。
ができる。この場合には格子細条と中間長、n2はトラ
ンスジューサ素子の基板の屈折率、n、は位相格子を被
覆する媒体の屈折率である。
トランスジューサ素子は光反射形にするのが好適である
。斯かる素子においては、格子細条と中間格子細条との
レベル差を約λ/4・nにし、ここでnは位相格子を被
覆する媒体の屈折率である。
。斯かる素子においては、格子細条と中間格子細条との
レベル差を約λ/4・nにし、ここでnは位相格子を被
覆する媒体の屈折率である。
格子細条は連続細条にするのが好ましい。
しかし、格子細条は中間格子細条と同一のレベルにある
中間区域により格子細条の方向に互いに分離され且つ中
間格子細条とは異なるレベルに位置する複数の区域を具
えるものとすることもできる。
中間区域により格子細条の方向に互いに分離され且つ中
間格子細条とは異なるレベルに位置する複数の区域を具
えるものとすることもできる。
本発明トランスジューサ素子の好適例では、位相格子に
透明被覆を設ける。この被覆は格子構造をかき傷ような
機械的損傷やほこりから保護するものである。
透明被覆を設ける。この被覆は格子構造をかき傷ような
機械的損傷やほこりから保護するものである。
保護被覆を有する反射型トランスジューサ素子において
は、保護被覆はこの素子の透明基板で構成するのが好適
である。この場合、このトランスジューサ素子は極めて
簡単な構造になると共に、位相格子が機械的損傷やほこ
りから完全に保護される。その理由は、光ビームが位相
構造に向かうときも位相構造から戻るときも基板を横切
るためである。
は、保護被覆はこの素子の透明基板で構成するのが好適
である。この場合、このトランスジューサ素子は極めて
簡単な構造になると共に、位相格子が機械的損傷やほこ
りから完全に保護される。その理由は、光ビームが位相
構造に向かうときも位相構造から戻るときも基板を横切
るためである。
本発明は光源と光検出装置を具え、物体の変位を測定す
る装置にも関するものである。本発明測定装置において
は、上述のトランスジューサ素子を光源と光検出装置の
間の光路内に配置し、且つ光制限アパーチャをトランス
ジューサ素子と光検出装置との間に配置し、この開口に
より第2明細条から発する光を光検出装置に透過させる
が位相格子で回折された光は通さないように構成する。
る装置にも関するものである。本発明測定装置において
は、上述のトランスジューサ素子を光源と光検出装置の
間の光路内に配置し、且つ光制限アパーチャをトランス
ジューサ素子と光検出装置との間に配置し、この開口に
より第2明細条から発する光を光検出装置に透過させる
が位相格子で回折された光は通さないように構成する。
この光制限アパーチャはトランスジューサ素子と光検出
装置との間に配置されたレンズ系のトランスジューサ素
子の最も近くにあるレンズのアパーチャとするのが好適
であり、このアパーチャは位相格子の幾何学形状と相ま
って、これら格子が黒−白細条として観察されるように
する。
装置との間に配置されたレンズ系のトランスジューサ素
子の最も近くにあるレンズのアパーチャとするのが好適
であり、このアパーチャは位相格子の幾何学形状と相ま
って、これら格子が黒−白細条として観察されるように
する。
光検出装置はりニアホトダイオードのアレーを具えるマ
ルチホトセルで構成し、これらダイオードをこれらダイ
オードに発生される信号を処理する回路に電子スイッチ
により順次接続するようにするのが好適である。斯かる
マルチホトセルは米国特許第3973II9号明細書に
開示されている。
ルチホトセルで構成し、これらダイオードをこれらダイ
オードに発生される信号を処理する回路に電子スイッチ
により順次接続するようにするのが好適である。斯かる
マルチホトセルは米国特許第3973II9号明細書に
開示されている。
角変位測定用装置においては、トランスジューサ素子の
放射状細条パターンと光検出装置の細条パターンとを互
いに合致させるために特別の手段を講する必要がある。
放射状細条パターンと光検出装置の細条パターンとを互
いに合致させるために特別の手段を講する必要がある。
光検出装置が一直線に配置された複数個の検出器を具え
る場合には、屈折及び/又は反射表面を具える光学系を
トランスジューサ素子と光検出装置との間に配置してト
ランスジューサ素子の放射状細条パターンを直線細条パ
ターンに変換することができる。斯かる光学系の種々の
例が欧州特許出願第0.096.448号に開示されて
いる。
る場合には、屈折及び/又は反射表面を具える光学系を
トランスジューサ素子と光検出装置との間に配置してト
ランスジューサ素子の放射状細条パターンを直線細条パ
ターンに変換することができる。斯かる光学系の種々の
例が欧州特許出願第0.096.448号に開示されて
いる。
しかし、本発明変位測定装置の好適例では、マルチホト
セルのホトダイオードをホトセルの位置に形成されるト
ランスジューサ素子の細条パターンの像の彎曲と一致す
る曲線に沿って配置する。
セルのホトダイオードをホトセルの位置に形成されるト
ランスジューサ素子の細条パターンの像の彎曲と一致す
る曲線に沿って配置する。
本発明トランスジューサ素子を彎曲又は放射状マルチホ
トセルと組合せて成る角変位測定装置も既知の装置より
相当低コストで製造することができ、その上一層高い測
定精度を示す。
トセルと組合せて成る角変位測定装置も既知の装置より
相当低コストで製造することができ、その上一層高い測
定精度を示す。
図面につき本発明を説明する。
第1aおよび1b図は、中心Mを有し角度トランスジュ
ーサ素子を構成する円形ディスクlを示しており、この
ディスクは回転量を測定すべき物体(図示せず)に連結
される。このディスクはゴニオメータ、すなわちマニピ
スレークの一部を構成でき、これにより、分析すべき物
質の試料を例えば測定光ビームに対し特定の角度で配置
する。ゴニオメータは例えばスペクトロメータ或いはX
線で動作する顕微鏡に用いられている。このディスクは
工作機械における角度トランスジューサの一部をも構成
しろる。このディスク1には、反射細条3と非反射細条
性4とが交互に且つそれぞれ等間隔に配置されたパター
ン2が設けられている。
ーサ素子を構成する円形ディスクlを示しており、この
ディスクは回転量を測定すべき物体(図示せず)に連結
される。このディスクはゴニオメータ、すなわちマニピ
スレークの一部を構成でき、これにより、分析すべき物
質の試料を例えば測定光ビームに対し特定の角度で配置
する。ゴニオメータは例えばスペクトロメータ或いはX
線で動作する顕微鏡に用いられている。このディスクは
工作機械における角度トランスジューサの一部をも構成
しろる。このディスク1には、反射細条3と非反射細条
性4とが交互に且つそれぞれ等間隔に配置されたパター
ン2が設けられている。
このディスクには、光源5、例えば発光ダイオード(L
ED)或いはダイオードレーザから生ぜしめられるビー
ム6が照射される。この光源5は視野レンズ7の熊手面
内に配置し、これによりビーム6が視野レンズから平行
ビームとして生じるようにする。この視野レンズを通っ
たビームは反射素子9によりディスク1に向けて反射さ
れる。ディスク1から反射された光は反射素子9、視野
レンズ7、半透明鏡12および対物レンズ13を経て光
検出装置、例えばマルチホトセル14に照射される。
ED)或いはダイオードレーザから生ぜしめられるビー
ム6が照射される。この光源5は視野レンズ7の熊手面
内に配置し、これによりビーム6が視野レンズから平行
ビームとして生じるようにする。この視野レンズを通っ
たビームは反射素子9によりディスク1に向けて反射さ
れる。ディスク1から反射された光は反射素子9、視野
レンズ7、半透明鏡12および対物レンズ13を経て光
検出装置、例えばマルチホトセル14に照射される。
第2図は、マルチホトセル14の正面図と、信号処理回
路のブロック図とを示す。ホトセル14は、比較的少数
の群に配置したかなり多数のホトダイオード15のよう
な光感知素子を有する。従って、各群は多数のホトダイ
オードを有する。光が照射される細条パターン2の周期
当りのホトダイオードの個数は、光信号を最も忠実に電
気的に再生する為にできるだけ多くする必要がある。一
方、全円周に亘って720本の細条3と720本の細条
4とを有する細条パターン2はできるだけ大きな領域に
亘って走査されるようにする必要がある。
路のブロック図とを示す。ホトセル14は、比較的少数
の群に配置したかなり多数のホトダイオード15のよう
な光感知素子を有する。従って、各群は多数のホトダイ
オードを有する。光が照射される細条パターン2の周期
当りのホトダイオードの個数は、光信号を最も忠実に電
気的に再生する為にできるだけ多くする必要がある。一
方、全円周に亘って720本の細条3と720本の細条
4とを有する細条パターン2はできるだけ大きな領域に
亘って走査されるようにする必要がある。
マルチホトセル14の一例では、ホトダイオードの個数
を220 とし、各ホトダイオードの長さを1゜3 m
mとした。各ホトダイオードの幅は約10μmとした。
を220 とし、各ホトダイオードの長さを1゜3 m
mとした。各ホトダイオードの幅は約10μmとした。
細条パターン2の周期当りのホトダイオードの個数を1
0とし、視野が22周期を覆うようにする。各組が順次
の10個のホトダイオードより成るこれらの組の対応す
るホトダイオードをt月旦接続する。このことは、各群
が22個のホトダイオードより成る10個の群が存在す
ることを意味する。
0とし、視野が22周期を覆うようにする。各組が順次
の10個のホトダイオードより成るこれらの組の対応す
るホトダイオードをt月旦接続する。このことは、各群
が22個のホトダイオードより成る10個の群が存在す
ることを意味する。
このマルチホトセル14によれば、ホトダイオードの順
次の5つの群を動作させることにより1:1の黒白比を
有する固定細条構造をシミュレートしうる。5つの群の
組を1群づつ移動させると移動細条パターンが生じる。
次の5つの群を動作させることにより1:1の黒白比を
有する固定細条構造をシミュレートしうる。5つの群の
組を1群づつ移動させると移動細条パターンが生じる。
第2図にブロック線図で示す処理回路では、クロックパ
ルス発生器20によって生ぜしめられたクロックパルス
21が分周器22および23に供給される。
ルス発生器20によって生ぜしめられたクロックパルス
21が分周器22および23に供給される。
分周器22はリングカウンタ25を駆動するパルス24
を生じる。マルチホトセル14はリングカウンタ25に
より動作せしめられ、測定信号26を生じる。分周器2
3は(通常分局器22から生じる制御パルス24とは異
なる繰返し周波数とした)パルス27を生ぜしめ、基準
信号を形成する。測定信号26とこの基準パルス21と
はバッファカウンタ28において互いに比較される。こ
のバッファカウンタ28の出力パスは例えばインジケー
タに供給される。
を生じる。マルチホトセル14はリングカウンタ25に
より動作せしめられ、測定信号26を生じる。分周器2
3は(通常分局器22から生じる制御パルス24とは異
なる繰返し周波数とした)パルス27を生ぜしめ、基準
信号を形成する。測定信号26とこの基準パルス21と
はバッファカウンタ28において互いに比較される。こ
のバッファカウンタ28の出力パスは例えばインジケー
タに供給される。
リングカウンタ25はマルチホトセル14のホトダイオ
ードの順次の群を動作せしめ、これによりホトセル14
の表面上に一定速度で移動する細条パターンが生ずる。
ードの順次の群を動作せしめ、これによりホトセル14
の表面上に一定速度で移動する細条パターンが生ずる。
この細条パターンの周期は細条パターン2をホトセル1
4上に投影したものの周期に等しい。パターン2がホト
セル14に対して静止している場合、測定信号の周波数
は一定となる。ホトセル14上の細条パターン2の投影
像がリングカウンタ25により動作せしめられた見かけ
の細条パターンと同じ方向に移動する場合には、測定信
号26の周波数は減少し、一方逆方向に移動する場合に
は測定信号26の周波数は増大する。このようにして細
条パターン2の変位の方向および量、従って物体の変位
の方向および量を決定しうる。
4上に投影したものの周期に等しい。パターン2がホト
セル14に対して静止している場合、測定信号の周波数
は一定となる。ホトセル14上の細条パターン2の投影
像がリングカウンタ25により動作せしめられた見かけ
の細条パターンと同じ方向に移動する場合には、測定信
号26の周波数は減少し、一方逆方向に移動する場合に
は測定信号26の周波数は増大する。このようにして細
条パターン2の変位の方向および量、従って物体の変位
の方向および量を決定しうる。
測定信号26とリングカウンタ25のリセット信号との
間の位相差を測定することにより、細条パターン2の1
周期の範囲内でこの細条パターン2に対するマルチホト
セル14の位置を決定しうる。リングカウンタ25は、
測定を開始する度にリセットし、カウンタ28が所定の
初期状態から計数し始めるのを保証するようにする必要
がある。
間の位相差を測定することにより、細条パターン2の1
周期の範囲内でこの細条パターン2に対するマルチホト
セル14の位置を決定しうる。リングカウンタ25は、
測定を開始する度にリセットし、カウンタ28が所定の
初期状態から計数し始めるのを保証するようにする必要
がある。
しかし、リングカウンタ25を各周期後毎にリセットす
れば、回路は一層簡単且つ信頼的となる。
れば、回路は一層簡単且つ信頼的となる。
リセット信号はパルス24をカウンタ29で分周するこ
とによりflられる。このリセットパルスの周波数は測
定信号26の公称周波数に等しく選択する。
とによりflられる。このリセットパルスの周波数は測
定信号26の公称周波数に等しく選択する。
本例による角変位測定装置においては、ディスク1と視
野レンズ7との間の光路間に光学素子を配置し、放射状
細条のパターン2がマルチホトセル14上に平行細条パ
ターンとして結像されるようにする。第1aおよびlb
図に示すように、これらの素子には円柱レンズ10およ
び円錐状の反射素子9を含めことができる。これらの素
予め動作は欧州特許出願第0.096.448号明細書
に記載されており、この欧州特許出願明細書には、放射
状細条のパターンを線形細条のパターンに変換する他の
光学系も記載されている。
野レンズ7との間の光路間に光学素子を配置し、放射状
細条のパターン2がマルチホトセル14上に平行細条パ
ターンとして結像されるようにする。第1aおよびlb
図に示すように、これらの素子には円柱レンズ10およ
び円錐状の反射素子9を含めことができる。これらの素
予め動作は欧州特許出願第0.096.448号明細書
に記載されており、この欧州特許出願明細書には、放射
状細条のパターンを線形細条のパターンに変換する他の
光学系も記載されている。
またマルチホトセルの代わりに、光透過性の細条と光非
透過性の細条とを交互に配置した線形パターンと、この
後ろに配置した1個の検出器との組合せを用いることも
できる。
透過性の細条とを交互に配置した線形パターンと、この
後ろに配置した1個の検出器との組合せを用いることも
できる。
本発明によれば、角度トランスジューサ素子のス) I
Jツブ4を位相格子で構成する。第3図は斯かるトラン
スジューサ素子の一部を示す平面図であり、第4図は第
3図のA−A ’線上で切った格子の断面図である。位
相格子4は多数の格子溝30で構成する。これらの格子
溝30はディスクの半径方向rに中間細条31と交互1
巳配置する。格子溝30の幅b1 は中間細条31の幅
b2と等しくし、従って格子周期pの172に等しくす
る。格子周期は1μmのオーダとし、特定例ではこれを
1.2μmに等しくする。従って、本例では幅b1の長
さは0.6 μmとする。
Jツブ4を位相格子で構成する。第3図は斯かるトラン
スジューサ素子の一部を示す平面図であり、第4図は第
3図のA−A ’線上で切った格子の断面図である。位
相格子4は多数の格子溝30で構成する。これらの格子
溝30はディスクの半径方向rに中間細条31と交互1
巳配置する。格子溝30の幅b1 は中間細条31の幅
b2と等しくし、従って格子周期pの172に等しくす
る。格子周期は1μmのオーダとし、特定例ではこれを
1.2μmに等しくする。従って、本例では幅b1の長
さは0.6 μmとする。
ディスク1に入射するビーム6はビーム成分、即ち1つ
の格子4の幅に等しい幅を有する主ビームを含むものと
想定することができる。ビーム6の波長は格子溝の幅b
1と同程度のものとするため、格子4は入射主ビームを
非回折0次ビームと、複数の回折−次及び高次サブビー
ムとに分割する。 □−次ビームが回折される角度はs
in β:λ/pによって与えられるため、例えば90
0 nmのような当面の波長の場合に角度βは数10°
となる。第1a図では視野レンズ7の開口数を成る特定
な値として、大きな角度で回折される一層サブビーム及
び高次サブビームが視野レンズを通過せず、従って検出
系14に到達できないようにする。
の格子4の幅に等しい幅を有する主ビームを含むものと
想定することができる。ビーム6の波長は格子溝の幅b
1と同程度のものとするため、格子4は入射主ビームを
非回折0次ビームと、複数の回折−次及び高次サブビー
ムとに分割する。 □−次ビームが回折される角度はs
in β:λ/pによって与えられるため、例えば90
0 nmのような当面の波長の場合に角度βは数10°
となる。第1a図では視野レンズ7の開口数を成る特定
な値として、大きな角度で回折される一層サブビーム及
び高次サブビームが視野レンズを通過せず、従って検出
系14に到達できないようにする。
位相格子4に主ビームが垂直に入射する場合に、この主
ビームの方向に反射される0次サブビームは対物レンズ
を通過することができる。幅b1とb2は等しいため、
0次サブビームは格子溝30からと、中間細条31から
の等量の光を包含する。さらに格子溝30から出る光成
分に対する光路長は中間細条31から出る光成分に対す
る光路長とは172波長異なり、換言するに、これら2
つの光成分間には180 °の位相差があるので、こ
れらの光成分は互いに相殺し合う。このことは検出装置
が位相格子4から光を受光せず、即ち位相格子が吸光細
条と見なされることを意味する。反射性の細条3に入射
する主ビームは回折れさないため、これらの細条は光を
検出装置の方へと反射する。従って、本発明による角度
トランスジューサ素子はガラス板上に光反射性の細条を
具えている従来のトランスジューサと同様に作動する。
ビームの方向に反射される0次サブビームは対物レンズ
を通過することができる。幅b1とb2は等しいため、
0次サブビームは格子溝30からと、中間細条31から
の等量の光を包含する。さらに格子溝30から出る光成
分に対する光路長は中間細条31から出る光成分に対す
る光路長とは172波長異なり、換言するに、これら2
つの光成分間には180 °の位相差があるので、こ
れらの光成分は互いに相殺し合う。このことは検出装置
が位相格子4から光を受光せず、即ち位相格子が吸光細
条と見なされることを意味する。反射性の細条3に入射
する主ビームは回折れさないため、これらの細条は光を
検出装置の方へと反射する。従って、本発明による角度
トランスジューサ素子はガラス板上に光反射性の細条を
具えている従来のトランスジューサと同様に作動する。
しかし、本発明によるトランスジューサ素子は従来のデ
ィスクよりも遥かに廉価に、しかもずっと高精度に製造
することができる。
ィスクよりも遥かに廉価に、しかもずっと高精度に製造
することができる。
前記172波長の光路長の差は、位相格子4及び中間細
条3が空気に接する反射性のトランスジューサ素子の場
合には格子溝30の深さを174波長とすることによっ
て得ることができる。
条3が空気に接する反射性のトランスジューサ素子の場
合には格子溝30の深さを174波長とすることによっ
て得ることができる。
トランスジューサ素子には機械的な損傷から格子構造を
保護するために第41!Dに示すような透明被膜33を
被着するのが好適である。この保護被膜の屈折率をnと
する場合には、格子溝の深さを約λ/4n とする必要
がある。
保護するために第41!Dに示すような透明被膜33を
被着するのが好適である。この保護被膜の屈折率をnと
する場合には、格子溝の深さを約λ/4n とする必要
がある。
特に好適な例では、反射性のトランスジューサ素子を保
護被膜として作用する透明基板(第4図の34)をもっ
て構成する。第5図は第4図の例と同様に断面図をもっ
て示すトランスジューサ素子の他の例を示す。この第5
図では入射光を矢印6にて示し、また反射光を矢印6′
にて示しである。
護被膜として作用する透明基板(第4図の34)をもっ
て構成する。第5図は第4図の例と同様に断面図をもっ
て示すトランスジューサ素子の他の例を示す。この第5
図では入射光を矢印6にて示し、また反射光を矢印6′
にて示しである。
さらに、この第5図に示すトランスジューサ素子の裏側
には薄層36を設けて、位相構造が裏側から破損されな
いようにすることができる。層36には測定光が通過し
ないので、この層には光学上の特定な要件を課する必要
がない。層36はトランスジーサ素子又はラッカー被膜
に付着した箔とすることができる。
には薄層36を設けて、位相構造が裏側から破損されな
いようにすることができる。層36には測定光が通過し
ないので、この層には光学上の特定な要件を課する必要
がない。層36はトランスジーサ素子又はラッカー被膜
に付着した箔とすることができる。
反射性のトランスジューサ素子を使用することの利点は
、変位測定装置をコンパクトにすることができ、しかも
トランスジューサ素子及び用途によっては素子9及び1
0以外のすべての素子を第1a図の1つのハウジング1
6内に収納させることができると云うことにある。
、変位測定装置をコンパクトにすることができ、しかも
トランスジューサ素子及び用途によっては素子9及び1
0以外のすべての素子を第1a図の1つのハウジング1
6内に収納させることができると云うことにある。
本発明によるトランスジューサ素子は光透過性のものと
することもできる。格子溝30から出る光成分と中間細
条31から出る光成分との位相差を180 °の所望
値とするには、格子構造が空気に接する場合に格子溝の
深さdをλ/2・(n、−1)にほぼ等しくする必要が
ある。なおここにn−ま基板の屈折率である。格子構造
に屈折率がrj2の透明保護層を被覆する場合には、格
子溝の深さを d= λ/2(n、−12) に等しくする。
することもできる。格子溝30から出る光成分と中間細
条31から出る光成分との位相差を180 °の所望
値とするには、格子構造が空気に接する場合に格子溝の
深さdをλ/2・(n、−1)にほぼ等しくする必要が
ある。なおここにn−ま基板の屈折率である。格子構造
に屈折率がrj2の透明保護層を被覆する場合には、格
子溝の深さを d= λ/2(n、−12) に等しくする。
第6図は光反射式のトランスジューサ素子を具えている
角度変位測定装置を示す。光源5及び視野レンズ7は素
子1の片側例えば素子1の下側に配置し、反射性の円錐
面9、円筒レンズ10、第2視野レンズ37、対物レン
ズ13及び光検出装置は素子1の反射側に配置する。
角度変位測定装置を示す。光源5及び視野レンズ7は素
子1の片側例えば素子1の下側に配置し、反射性の円錐
面9、円筒レンズ10、第2視野レンズ37、対物レン
ズ13及び光検出装置は素子1の反射側に配置する。
角度トランスジューサ素子の作動説明を簡単にするため
に、格子溝30の壁は真直ぐなものとする。
に、格子溝30の壁は真直ぐなものとする。
しかし、実際には格子溝の壁は一般に傾斜している。こ
の場合、格子溝の底部の最適深さdは、λ 反射性の素子に対して前述したーの値及び透過性の素子
の光に対して前述した□の値よ2(n、−n2) りも大きくする。このような溝の影響を計算するには、
オーディオプログラム(コンパクトディスク)又はビデ
オプログラムを含んでいる光学記録担体の情報ピット又
はヒルについて開示されている米国特許第4.230.
915号明細書に記載されているような厳密なベクトル
回折理論を用いる。斯かる米国特許明細書に記載されて
いるようなベクトル回折理論によれば、0次サブビーム
と一層サブビームとの間の位相差が180 °となる
ようにピットの深さ又はヒルの高さを選定する場合に最
適な読取信号が得られる。これと同じ要件は本発明によ
るトランスジューサ素子の格子構造により光を最適に相
殺する場合にも成立する。
の場合、格子溝の底部の最適深さdは、λ 反射性の素子に対して前述したーの値及び透過性の素子
の光に対して前述した□の値よ2(n、−n2) りも大きくする。このような溝の影響を計算するには、
オーディオプログラム(コンパクトディスク)又はビデ
オプログラムを含んでいる光学記録担体の情報ピット又
はヒルについて開示されている米国特許第4.230.
915号明細書に記載されているような厳密なベクトル
回折理論を用いる。斯かる米国特許明細書に記載されて
いるようなベクトル回折理論によれば、0次サブビーム
と一層サブビームとの間の位相差が180 °となる
ようにピットの深さ又はヒルの高さを選定する場合に最
適な読取信号が得られる。これと同じ要件は本発明によ
るトランスジューサ素子の格子構造により光を最適に相
殺する場合にも成立する。
条溝に代え、位相格子4の格子細条30はディスクの表
面上のリブを具えることができる。
面上のリブを具えることができる。
本発明による角度トランスジューサ素子は円形ディスク
上に堆積した感光層を小さい光スポットで1回走査する
ことにより比較的安価に作製できる。このスポットはデ
ィスク上を同心円に従って移動させ、このスポットの放
射を周期的にスイッチオン及びスイッチオフして、露光
された環状セグメントおよび露光されない環状セグメン
トが交互に存在しかつ順次のトラックの対応セグメント
が同一半径方向位置を有する同心トラックのパターンを
形成する。ディスク全体を走査した後、露光パターンを
既知の態様で深さ又は高さのプロフィルに変換する。こ
のように作製したディスク即ちマスクから、既知の複製
技術を用いて著しく多数の複製を製作することができる
。“コンパクト・ディスク”又は“レーザ・ビジョン”
技術から既知のマスクリング及び複製技術を用いた場合
、所望パターンを極めて高い精度で形成することができ
る。
上に堆積した感光層を小さい光スポットで1回走査する
ことにより比較的安価に作製できる。このスポットはデ
ィスク上を同心円に従って移動させ、このスポットの放
射を周期的にスイッチオン及びスイッチオフして、露光
された環状セグメントおよび露光されない環状セグメン
トが交互に存在しかつ順次のトラックの対応セグメント
が同一半径方向位置を有する同心トラックのパターンを
形成する。ディスク全体を走査した後、露光パターンを
既知の態様で深さ又は高さのプロフィルに変換する。こ
のように作製したディスク即ちマスクから、既知の複製
技術を用いて著しく多数の複製を製作することができる
。“コンパクト・ディスク”又は“レーザ・ビジョン”
技術から既知のマスクリング及び複製技術を用いた場合
、所望パターンを極めて高い精度で形成することができ
る。
本発明によるトランスジューサ素子の格子細条30は連
続した条溝又はリブを具える必要はなく、代案として格
子細条30の方向、即ち第7図に示す如く、ディスクの
接線方向tにおいて中間区域38と交互に存在する一連
のピット又は凸部37を具えることかできる。第7図は
かかるトランスジューサディスクの平面図の一部を示す
。ピットまたは凸部37の深さ又は高さは格子細条又は
格子リブ30の深さ又は高さにつき先に特定したのと同
一要件を満たすようにする必要がある。接線方向tにお
ける区域36の長さは中間区域38の長さに等しい。
続した条溝又はリブを具える必要はなく、代案として格
子細条30の方向、即ち第7図に示す如く、ディスクの
接線方向tにおいて中間区域38と交互に存在する一連
のピット又は凸部37を具えることかできる。第7図は
かかるトランスジューサディスクの平面図の一部を示す
。ピットまたは凸部37の深さ又は高さは格子細条又は
格子リブ30の深さ又は高さにつき先に特定したのと同
一要件を満たすようにする必要がある。接線方向tにお
ける区域36の長さは中間区域38の長さに等しい。
格子条溝又はリブをピット又は凸M537に分割した結
果、格子4に入射するビームは半径方向だけでなく接線
方向においても結像光学系(7,13)の第1瞳の外側
へ回折されるので、このビームの放射は検出装置I4に
到達できない。
果、格子4に入射するビームは半径方向だけでなく接線
方向においても結像光学系(7,13)の第1瞳の外側
へ回折されるので、このビームの放射は検出装置I4に
到達できない。
第7図に示したトランスジューサ素子は連続した格子条
溝またはリブを具えるトランスジューサ素子について述
べたのと同様な態様で製造し、その際、格子細条自体の
形成中に放射スポットを高い周波数でスイッチオン及び
スイッチオフすることだけが異なる。
溝またはリブを具えるトランスジューサ素子について述
べたのと同様な態様で製造し、その際、格子細条自体の
形成中に放射スポットを高い周波数でスイッチオン及び
スイッチオフすることだけが異なる。
本発明による角度トランスジューサ素子の実施例は74
2個の格子4及び742個の中間細条を具える。接線方
向におけるトラック構造の周期は635μmであり、細
条3及び格子4は同じ幅を有する。
2個の格子4及び742個の中間細条を具える。接線方
向におけるトラック構造の周期は635μmであり、細
条3及び格子4は同じ幅を有する。
格子4は10mmの長さく第3図の1)を有し、かつこ
れらの格子は同一中心に対し約50mmの半径上に放射
状に配設する。格子内では格子の周期pは1.2μmで
あり、格子細条の幅及び中間細条の幅は600nmであ
る。条溝30の深さdはポリメチルメタクリレート(P
MMA)又はポリカーボネート(PC)から成る基板3
5で構成した保護被膜の屈折率n=1.5に対し約15
0nmでる。このトランスジューサは900nmの波長
の発光ダイオードと共に1吏用する。接線方向における
位相格子4の位置精度(′よ約1100nである。この
トランスジューサを、検出装置としてマルチホトセルを
含む角変位測定装置において使用した場合、約0.3秒
又は0.00旧。
れらの格子は同一中心に対し約50mmの半径上に放射
状に配設する。格子内では格子の周期pは1.2μmで
あり、格子細条の幅及び中間細条の幅は600nmであ
る。条溝30の深さdはポリメチルメタクリレート(P
MMA)又はポリカーボネート(PC)から成る基板3
5で構成した保護被膜の屈折率n=1.5に対し約15
0nmでる。このトランスジューサは900nmの波長
の発光ダイオードと共に1吏用する。接線方向における
位相格子4の位置精度(′よ約1100nである。この
トランスジューサを、検出装置としてマルチホトセルを
含む角変位測定装置において使用した場合、約0.3秒
又は0.00旧。
の測定精度を得ることができる。
本発明は上述した角度トランスジューサ素子を提供する
だけでなく、直線トランスジューサ素子をも提供する。
だけでなく、直線トランスジューサ素子をも提供する。
後者のトランスジューサ素子は、位相格子が、円形ディ
スク上のセグメントに代えて、矩形板上にこの矩形板の
長手方向を横切って延在する直線細条を具える点におい
てだけ角度トランスジューサ素子と相違する。直線トラ
ンスジューサ素子もコンパクトディスク・マスクリング
及び複製技術により高精度で大量の素子を安価に製造で
き、その場合装置はトランスジューサ素子の細長い形状
のためいくらかの適応処置を必要とする。
スク上のセグメントに代えて、矩形板上にこの矩形板の
長手方向を横切って延在する直線細条を具える点におい
てだけ角度トランスジューサ素子と相違する。直線トラ
ンスジューサ素子もコンパクトディスク・マスクリング
及び複製技術により高精度で大量の素子を安価に製造で
き、その場合装置はトランスジューサ素子の細長い形状
のためいくらかの適応処置を必要とする。
第8図はトランスジューサ素子40の一部の平面図であ
る。位相格子を41で示し、反射又は透過中間細条を4
2で示す。43は格子条溝またはリブであり、中間格子
細条を44で示す。直線トランスジューサ素子は第4.
5及び7図を参照して角度トランスジューサ素子につき
説明したのと同一態様で構成できる。
る。位相格子を41で示し、反射又は透過中間細条を4
2で示す。43は格子条溝またはリブであり、中間格子
細条を44で示す。直線トランスジューサ素子は第4.
5及び7図を参照して角度トランスジューサ素子につき
説明したのと同一態様で構成できる。
第9図は前記トランスジューサ素子を具える直線変位測
定装置を路線図で示す。この図において参照数字45は
視野レンズ46の焦点面に配置した光源を示し、従って
照射ビームは平行ビーム6となる。このトランスジュー
サ素子40によって反射された光は半透明ミラー47に
より対物レンズ48を介し光検出装置、例えば、マルチ
ホトセル14上に投射される。
定装置を路線図で示す。この図において参照数字45は
視野レンズ46の焦点面に配置した光源を示し、従って
照射ビームは平行ビーム6となる。このトランスジュー
サ素子40によって反射された光は半透明ミラー47に
より対物レンズ48を介し光検出装置、例えば、マルチ
ホトセル14上に投射される。
格子条溝またはリブ43は再びピット又は凸部を具える
ことができる。
ことができる。
精度及び価格につき極めて好適な角変位測定装置は、本
発明による角度トランスジューサ素子と、このトランス
ジューサ素子上の位相格子の中心を通る曲線に適合した
曲線に沿って配設したホトダイオードを具える本件出願
人の発明に係るマルチホトセルとを組合わせた角変位測
定装置である。
発明による角度トランスジューサ素子と、このトランス
ジューサ素子上の位相格子の中心を通る曲線に適合した
曲線に沿って配設したホトダイオードを具える本件出願
人の発明に係るマルチホトセルとを組合わせた角変位測
定装置である。
その場合、正確に整列させる必要がある素子9及び10
を除去できる。第10図は角変位測定装置の路線図を示
す。この図における参照数字は第1a図におけるものに
対応するので、第1a図を参照すればその作用効果は明
らかである。
を除去できる。第10図は角変位測定装置の路線図を示
す。この図における参照数字は第1a図におけるものに
対応するので、第1a図を参照すればその作用効果は明
らかである。
第1aおよびび1b図はそれぞれ、本発明により反射性
のトランスジューサ素子を用いた角変位測定装置を示す
側面図ふよび平面図、 第2図は、この角変位測定装置に用いた電子処理回路を
示すブロック線図、 第3図は、本発明による角度トランスジューサ素子の一
部を示す平面図、 第4図は、第1実施例におけるこの角度トランスジュー
サ素子の位相格子を示す断面図、第5図は、第2実施例
におけるこの角度トランスジューサ素子の位相格子を示
す断面図、第6図は、光透過性の角度トランスジューサ
素子を有する妬変位測定装置を示す側面図、第7図は、
他の実施例における角度トランスジューサ素子の一部を
示す平面図、 第8図は、直線変位を測定する本発明によるトランスジ
ューサ素子の一部を示す平面図、第9図は、第8図に示
すようなトランスジューサ素子を有する直線変位測定装
置を示す側面図、第10図は、角変位測定装置の他の例
を示す側面図である。 ■・・・ディスク 2・・・細条パターン3・・
・反射細条 4・・・非反射細条(位相格子)5
・・・光源 6・・・ビーム7・・・視野レ
ンズ 9・・・反射素子10・・・円柱レンズ
12・・・半透明鏡13・・・対物レンズ 14
・・・マルチホトセル15・・・ホトダイオード 20
・・・クロックパルス発生器21・・・クロックパルス
22.23・・・分周器24・・・制御ハルス
25・・・リングカウンタ16・・・測定信号
27・・・基準パルス28・・・バッファカウンタ 29・・・カウンタ 30・・・格子溝31・・
・中間ストリップ 33・・・透明保護被膜34・・・
透明基板 35・・・透明基板36・・・保護層
37・・・第2視野38中間区域
40・・・トランスジューサ素子41・・・位相格子
42・・・反射又は透過中間細条43・・・格子
条溝又はリブ 44・・・中間格子細条 45・・・光源46・・・
視野レンズ 47・・・半透明ミラー48・・・対
物レンズ
のトランスジューサ素子を用いた角変位測定装置を示す
側面図ふよび平面図、 第2図は、この角変位測定装置に用いた電子処理回路を
示すブロック線図、 第3図は、本発明による角度トランスジューサ素子の一
部を示す平面図、 第4図は、第1実施例におけるこの角度トランスジュー
サ素子の位相格子を示す断面図、第5図は、第2実施例
におけるこの角度トランスジューサ素子の位相格子を示
す断面図、第6図は、光透過性の角度トランスジューサ
素子を有する妬変位測定装置を示す側面図、第7図は、
他の実施例における角度トランスジューサ素子の一部を
示す平面図、 第8図は、直線変位を測定する本発明によるトランスジ
ューサ素子の一部を示す平面図、第9図は、第8図に示
すようなトランスジューサ素子を有する直線変位測定装
置を示す側面図、第10図は、角変位測定装置の他の例
を示す側面図である。 ■・・・ディスク 2・・・細条パターン3・・
・反射細条 4・・・非反射細条(位相格子)5
・・・光源 6・・・ビーム7・・・視野レ
ンズ 9・・・反射素子10・・・円柱レンズ
12・・・半透明鏡13・・・対物レンズ 14
・・・マルチホトセル15・・・ホトダイオード 20
・・・クロックパルス発生器21・・・クロックパルス
22.23・・・分周器24・・・制御ハルス
25・・・リングカウンタ16・・・測定信号
27・・・基準パルス28・・・バッファカウンタ 29・・・カウンタ 30・・・格子溝31・・
・中間ストリップ 33・・・透明保護被膜34・・・
透明基板 35・・・透明基板36・・・保護層
37・・・第2視野38中間区域
40・・・トランスジューサ素子41・・・位相格子
42・・・反射又は透過中間細条43・・・格子
条溝又はリブ 44・・・中間格子細条 45・・・光源46・・・
視野レンズ 47・・・半透明ミラー48・・・対
物レンズ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、物体に接続され、該物体の変位を光信号に変換する
光学トランスジューサ素子であって、該素子の変位方向
に複数個の第1暗細条と第2明細条が交互に設けられた
平坦本体を具えている光学トランスジューサ素子におい
て、前記第1暗細条の各細条を、該細条の長さ方向に交
互に配置され且つ互いに異なる第1及び第2レベルに位
置する格子細条と中間格子細条を具える位相格子で構成
し、これら格子細条と中間格子細条は同一の透過率又は
反射率を示すものとし、前記レベルの差は光ビームの一
部がこの位相格子に入射したときに形成される0次のサ
ブビームと一次のサブビームとの間に180°の位相差
が生ずるようにすると共に格子細条の幅は中間格子細条
の幅に略々等しくしてこの位相格子がトランスジューサ
素子から発する光ビーム内に暗帯を導入するよう構成し
たことを特徴とする。 2、光反射形である特許請求の範囲第1項記載の光学ト
ランスジューサ素子において、格子細条と中間格子細条
とのレベルの差は略々λ/4・n(ここで、λは使用す
る光の波長及びnは位相格子を被覆する媒体の屈折率)
にしてあることを特徴とする光学トランスジューサ素子
。 3、特許請求の範囲第1又は2項記載の光学トランスジ
ューサ素子において、格子細条は連続細条であることを
特徴とする光学トランスジューサ素子。 4、特許請求の範囲第1又は2項記載の光学トランスジ
ューサ素子において、格子細条は中間格子細条と同一の
レベルにある中間区域により格子細条の方向に互いに分
離され且つ中間格子細条と異なるレベルに位置する複数
個の区域を具えていることを特徴とする光学トランスジ
ューサ素子。 5、特許請求の範囲第2、3又は4項記載の光学トラン
スジューサ素子において、位相格子構造に透明保護被覆
を設けてあることを特徴とする光学トランスジューサ素
子。 6、光反射位相格子構造を有する特許請求の範囲第5項
記載の光学トランスジューサ素子において、透明保護被
覆はトランスジューサ素子の透明基板で構成してあるこ
とを特徴とする光学トランスジューサ素子。 7、特許請求の範囲第1〜6項の何れかに記載の光学ト
ランスジューサ素子において、円板状の基板の円周方向
に同一幅の中間セクタと交互に位置する同一幅のセクタ
内に位相格子を形成してあることを特徴とする光学トラ
ンスジューサ素子。 8、光源と光検出装置とを具え、物体の変位を測定する
装置において、特許請求の範囲第1〜7項の何れかに記
載の光学トランスジューサ素子を光源と光検出装置との
間の光路内に配置すると共に、光制限アパーチャをトラ
ンスジューサ素子と光検出装置との間に介挿し、このア
パーチャにより第2明細条から発する光を光検出装置に
透過させるが位相格子により回折された光を通さないよ
うに構成したことを特徴とする変位測定装置。 9、光検出装置がリニアホトダイオードのアレーを含む
マルチホトセルを具え、これらダイオードをこれらダイ
オードに発生される信号を処理する電子回路に電子スイ
ッチにより順次接続するようにした角変位測定用の特許
請求の範囲第8項記載の装置において、マルチホトセル
のホトダイオードをホトセルの位置に形成されるトラン
スジューサの細条パターンの像の彎曲と一致する曲線に
沿って配置してあることを特徴とする変位測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8502679A NL8502679A (nl) | 1985-10-01 | 1985-10-01 | Optisch omzetelement en verplaatsingsmeter voorzien van dit element. |
| NL8502679 | 1985-10-01 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6287815A true JPS6287815A (ja) | 1987-04-22 |
Family
ID=19846649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61231341A Pending JPS6287815A (ja) | 1985-10-01 | 1986-10-01 | 光学トランスジユ−サ素子及び該素子を具える変位測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4746792A (ja) |
| EP (1) | EP0220757B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6287815A (ja) |
| DE (1) | DE3669919D1 (ja) |
| NL (1) | NL8502679A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9149971B2 (en) | 2011-10-21 | 2015-10-06 | Nissei Asb Machine Co., Ltd. | Molded product delivery apparatus and blow molding machine |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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- 1986-09-29 EP EP86201668A patent/EP0220757B1/en not_active Expired
- 1986-09-29 DE DE8686201668T patent/DE3669919D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-10-01 JP JP61231341A patent/JPS6287815A/ja active Pending
- 1986-10-01 US US06/914,050 patent/US4746792A/en not_active Expired - Fee Related
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