JPS6287839A - 細長い物品の品質の測定方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、一般的には、多数のガラス繊維により作られ
たストランド中の破損繊維を検出し、数えるための装置
に関し、特に、長時間にわたり、またはストランドの長
い長さにわたって破損！！雄を数えることにより、破損
繊維の数に関する正確で統計的に意味のある測定を行な
って、それをストランドの品質表示に用い、また製造工
程の制御に用いるためのカウント装置に関する。

［従来の技術］ ガラス繊維ストランドは、通常、ガラス繊維ブシュに形
成された孔から多数の個々の繊維を引き出し、それらの
ｌＩ雑に適当な結合剤をコーティングし、これらのｍＨ
を集めてストランドにすることによって形成される。こ
れらのストランドは、１つまたはそれ以上のコレット上
に集積されて、形成パッケージ（ｆｏｒｍｉｎａ　ｐａ
ｃｋａａｅ　）が作られる。

この工程は注意深く監視されて、高速引出し工程中の繊
維の直径および完全性が維持される。繊維の破損に応答
して工程を停止せしめるための監視装置には、さまざま
なものがある。このようにして形成され集積されたスト
ランドは、多くの目的に使用される。例えば、ストラン
ドは形成パッケージから引出され、織物を織るのに用い
られる糸を作るためにより合わされる。より合わされた
ストランドは、作成束からボビン上に再び巻かれ、後に
その糸は織機などへ供給される。この糸のあるものは、
たて糸巻上に再び巻かれて、織物の製造に用いられる。

この糸巻上の糸は、織られる織物内のたて糸として使用
されるのである。これらの糸は、高品質の織物を作るた
めには、たて糸巻上に注意深く、正確に制御された引張
力をもって巻かれなければならない。

！ＩｔＩｆＩからストランドを作る工程、またはストラ
ンドから糸を作る工程において、撚りおよび巻きの作業
はそれらの表面に多くの破損繊維を生ビしめる。これら
の破損繊維はストランドまたは糸から外方へ、ストラン
ドの軸と実質的に直角をなして突出する傾向があり、こ
れらから織られた織物の品質に悪影響を及ぼすだけでな
く、そのような糸を使用するｉ′Ｉａの動作にも影響を
及ぼす。例えば、プリント回路板の製造に用いられる布
に現われるそのような破損ｍＨは、回路板内に小さい不
規則性を生じ、それによってプリント回路自体に短絡を
生じることがある。

破損繊維はまた、ガラス繊維ストランドの繊維以外への
応用においても問題を生じる。例えば、ガラス繊維スト
ランドは昆虫よけの網の製造にしばしば用いられるが、
その場合ストランドには樹脂のコーティングを行ない、
コーティングしたストランドはオリフィスを通過させて
余分な樹脂を除去し、コーティング製品の直径を制限す
る。そのようなストランド上の破＠繊維は、オリフィス
内に蓄積されて最終的にはオリフィスを閉塞せしめ、そ
れによって網の品質を劣化させる。

ストランド内のＩＩＩＩｌｔの破損は、ストランドをよ
ったり、巻き代えたり、その他の機械的操作を加えたり
することによって起こるので、破損ｍｔｉａの吊は、ス
トランドを扱う装置が適正に動作しているかどうかを承
り指標となりうる。しかし、さらに重要なのは、ａＩＮ
の破損が、繊維製造工程の品質を示していることであり
、従って、発生する破損の間が繊維製造工程の諸パラメ
ータの制御に用いられうろことである。この工程には、
ブシュのオリフィス部分における温度、ガラスの温度、
融成物中の諸材料、などを含め約３０ないし４０個の変
数が存在する。これらのパラメータの変化は、繊維に極
めて鋭敏な変化を起こすことがあり、それはストランド
に生じる破損機の変化として現われる。

従って、ストランド内の繊維破損を正確に測定して、製
造工程およびガラスの機械的操作の双方を監視すること
により、繊維の製造業者および繊維製品の製造業者が顧
客に対して品質の保証された製品を供給しうるようにす
ることが所望される。

しかし、ストランド内の１ｉＡＨ破損は極めて不規則的
な性質を示すことがわかっており、ストランドの単位長
あたりのｍＨＦａ損数は、単一ボビン上において大きく
変動するだけでなく、同−作成束から引出して形成され
たいくつかのボビン間においても、また同−ｌＩ雑ガラ
ス融成物から引出して形成された作成束間においても大
きい変動がある。

この破損の不規則性のために、ストランド上的類い長さ
について行なわれた特定の測定の結果が、例えばボビン
上のストランドの破損の平均値にいくらかでも近いかど
うかを、確実に知ることは極めて困難である。そのわけ
は、その平均値がいくらになるかを決定することさえ極
めて困難であるからである。従って、これまでは、繊維
破損の測定から、製造工程または繊維操作の変化が破損
に対して意味ある影響を及ぼすかどうか、あるいは、あ
る測定結果が不規則的分布から予想される正常な変動内
に単純に入っているのかどうか、を決定することは不可
能であった。可能であったのは、従来の装置によってス
トランドの選択された長さ内の繊維破損数を得ることで
あったが、そのような測定はあまり価値がなかった。そ
のわけは、それらの装δが極端に低速動作のものである
ために、意味のある平均値が得られず、意味のある平均
値と実際に比較できる統計的に意味のある読みが得られ
なかったからである。従って、ＩＩＮ破損が問題である
ことはわかっており、またガラス繊維ストランドおよび
糸の品質を測定するためのさまざまな装置が従来提供さ
れてはいるが、従来の技術は、統計的に正確な繊維破損
数の平均値を与え、それによってガラス繊維ストランド
のこの点における品質の正確な測定値を顧客に提供しう
る装置を実現してはいない。

米国特許第３．７２９．６３５号および第４゜１８４．
７６９号には、光学的センサを用いて糸の欠陥を検出す
る従来技術の装置の例が開示されている。双方の特許に
おいて、糸はセンサを通過せしめられ、センサの出力は
糸の太さに応じて変動する。米国特許１３，７２９，６
３５号においては、単位時間中に所定数より多くの変動
、すなわち、欠陥が生じた場合には、たて糸巻でありう
る巻取装置が停止せしめられて、糸の視覚的検査が行な
われる。同様にして、米国特許第４，１８４．７６９号
の装置は、所定数の欠陥を検出した時に欠損信号を発生
する。この種の装置は、糸またはストランドの太さを連
続的に測定するようになっており、誤差を最小化するた
めに、これらの装置に対する送光器は注意深く調整され
た電諒によって駆動されるようにしなければならない。

そのために、そのような装置のあるものにおいては、高
価なビームスプリッタを用いた帰還制御が行なわれる。

さらに、アナログ出力信号が糸の太さに比例すること、
および、本質的に直流出力が発生されるような極めてゆ
るやかに変化する条件にも装置が応答すること、が保証
される精度を得るためには、高価な光学装置と複雑な回
路とが必要となる。これらの測定装置は高価であるばか
りでなく、通常極めて低速であり、毎分約８０メートル
のストランドしか測定できない。この低速性のために、
ボビンがほどかれる時ボビン内の選択された諸点におい
てのみサンプルを取り、ボビン内の３または４点におい
て測定を行なうのがふつうである。繊維破損の不規則性
のために、このような測定はストランドの品質について
の正確な情報を与えるものではなく、ボビンの外側の層
を単に視覚的に検査した結果を大きく改善するものでは
ない。

［発明の目的と構成］ 従って、本発明は、ガラス繊維ストランドの破損繊維を
決定し、破Ｍ繊維の位置、およびストランドの一定長内
におけるそれらの頻度を正確に測定する方法を提供する
ことを目的とする。

本発明のもう１つの目的は、不規則的欠陥を有する運動
ストランドまたは部材内に検出された欠陥を処理し、そ
れらの欠陥の位置を決定し、欠陥の数および位置を記録
し、かつ／または、単位長あたりの欠陥数の平均値を得
ることである。

本発明のもう１つの目的は、ガラス繊維スｌ−ランド内
の繊維破損のようなトランジェント効果の、正確で信頼
性のある高速度測定を行なうための、改良された光学装
置および回路を提供することである。

本発明のもう１つの目的は、ガラス繊維ストランド内の
破損繊維を検出し、長時間にわたって破損繊維のカウン
トを与えるための光学的検出器および回路を提供し、そ
れによって繊維欠陥の正確で、統計的に意味のある測定
結果を得ることである。

本発明のもう１つの目的は、ガラスｌｌｆｔストランド
内の破損ｌＩＮの量の、統計的に正確で信頼性のある決
定を行ないうる、複合的な光学的測定装置を提供するこ
とである。

本発明のもう１つの目的は、東向のガラス繊維ストラン
ドの相対障を正確に決定して、正確な製造工程制御を行
ない、また、信頼性のある聞決定を可能ならしめること
である。

本発明のさらにもう１つの目的は、ストランド内のｍＭ
破損を、ストランド自体の測定を要することなく、破損
Ｉ！雑の端部のみによって測定しうる光学的装置を提供
し、この光学的装置からの出力をディジタル処理しうる
ようにすることである。

本発明の好ましい形式においては、測定されるべきスト
ランドの径路の近くに、少なくとも１つの光学的検出器
が配設される。このストランドは検出器を通過して案内
されるが、その際ストランド自体は検出器の光路内を通
らず、その十分近くを通過するようにし、ストランドの
表面から突出した破損ｍＨが検出器の光路内を通過する
ようにする。好ましくは、光学的検出器は発光器と光検
出器とを有し、破損１１１１１がそれらの間に画定され
た光路内を通過して、検出器からの出力パルスを発生せ
しめるようにする。これらのパルスの振幅は、繊維が光
ビームの幅全体を横切って延長しているものとすると、
ｔａｇの直径に比例する。

光検出器の出力は、増幅器を経て帰還回路へ供給される
ことにより光源への電流を調整し、それによって光ビー
ムの強度を調整して、破損ｍＨの端部が存在しない時の
光ビーム強度を所定レベルに保持する。増幅器の出力は
またはスレッショルド検出器へも供給され、スレッショ
ルド検出器の出力はカウンタへ供給される。繊維が光路
内を通過する時、それは光ビームを遮るので光検出器の
出力が変化し、出力パルスを生じる。出力パルスの振幅
は繊維の太さに比例し、出力パルスの幅は１！紺が光ビ
ーム内を通過する速度に比例する。もし、この出力パル
スが十分な振幅をもっていれば、スレッショルド検出器
はカウンタヘイベントパルスを供給する。スレッショル
ド検出器の出力とカウンタとの間には、パルス整形のた
めの適当なバッファを配設してカウントの正確さを保証
するようにする。

周期的に、カウンタの内容はラッチ回路ヘシフトされ、
カウンタはリセットされて、カラン１〜が再開され、ラ
ッチの内容は適当な記憶場所へ供給されて後に処理され
る。

多数の糸をたて糸巻上に巻く場合などには、それぞれの
糸に対して１つずつ、多数の検出器およびカウンタが配
設され、それぞれの対応ラッチ回路内のデータを、例え
ばマイクロプロセッサまたはコンピュータ内の対応する
記憶場所へ転送するための多重化回路が設けられる。

検出器はトランジェントパルスのみを測定するので、本
発明の装置は極めて高速度で動作することができ、４５
７．２ｍ／分（５００ヤ一ド／分）またはそれ以上の速
度でストランドを測定しうる。

さらに、ストランドの全長について測定し、破損［１［
数の周期的な読取りを行なうことができる。

例えば、読取りはストランドの９１４．４ｍ（１０００
ヤード）ごとに行うことができ、カウントおよびラッチ
回路はこのデータを記憶し、後に、単一ボビンにおける
７３．１５２７ａ（８万ヤード）というような良い長さ
について出力が平均される。

多くの測定が行なわれるほど、ストランドの単位長あた
りの繊維破損数の平均値の計算は正確性、信頼性を増し
、従って例えば、それぞれの作成束から再巻回したボビ
ン内の破損数を測定すれば、相異なる作成束から得られ
たストランド内比較するための統計的に信頼性のある基
礎が得られる。

本発明の好ましい形式においては、光検出器の出力に対
しスレッショルド検出器をただ１つのみ用いるが、ある
場合には、一連のスレッショルド装置を配設して、その
それぞれを相異なるレベルに設定し、それによって、そ
れぞれが所定寸法の１ａａｔに比例した出力を発生する
ようにすることが所望される。すなわち、例えば、もし
８つのスレッショルド検出器を使用すれば、８種類の相
異なる寸法範囲の繊維を検出しで、これらの繊維をさら
に解析することが可能になる。

本発明の装置は比較的に経済的な装置であるが、高度の
統計的正確性および信頼性を有する１１Ｍ測定を行なう
ことができるので、この装置は、製造されつつあるスト
ランドの監視、および製造工程の変化の影響の検出に使
用されうる。すなわち、例えば、もし第１ストランドが
第１組の条件下で製造されたものとずれば、本発明の装
置は、そのストランド内に含まれる開繊維の単位長あた
りの破損数の統計的に正確な平均値を与える。その後、
製造パラメータの１つが変化してから製造された第２ス
トランドを測定することもでき、この第２ストランドに
ついての統計的に正確な１ａＮ破損平均値を得ることが
できる。これら２つの測定は信頼性を有するので、工程
パラメータの変化の影響を高い信頼性をもって決定する
ことができ、従って、製造工程の極めて効果的な制御が
可能になる。

本発明の、前述の、およびその他の開目的、諸特徴、お
よび諸利点は、添付図面を参照しつつ行なわれる実施例
についての以下の詳細な説明によって、さらに明らかに
される。

［実施例］ 以下、本発明について詳細に考察する。第１図には、市
販の光学的検出器であるオプトエレクトロニック・モジ
ュール１０が示されている。モジュール１０は、台１６
上に間隔を置いて支持され測定溝１８を画定する、１対
の直立脚１２および１４を有する。発光ダイオード（Ｌ
ＥＤ）のような適当な光源（図示されていない）が一方
の直立脚、例えば脚１２内に取イ」けられ、ホトトラン
ジスタのような適当な光検出器（図示されていない）が
他方の脚、例えば脚１４内に取付けられている。

このＬＥｒ）と光検出器とは溝１８を横切る光路を画定
し、光ビームが遮られると光検出器の出力に応答して出
力パルスを発生する回路％＆置（後述される）が備えら
れている。破損繊維の存在を監視されるべぎストランド
または糸２０は、モジュール１０の検出温１８上を通過
するように配置される。第２図に示されているように、
ストランドの径路は好ましくは満１８の中央上に、モジ
ュール１０の頂部と同じ高さになるように位置往しめら
れ、ストランド自体は光ビームを遮らず、第２図に示さ
れている繊維２２のような、ストランドから突出した破
ＲＭＡ雑がビーム内を通って検出されるようになってい
る。前述のように、ストランド２０は、所望の太さおよ
び強度特性を有する単一ストランドを形成するように撚
り合わされた多数のＩＭＭから成る。多数の繊維の撚り
合わせを含むこのようなストランドの製造において、ま
たは、例えば、ストランドのボビンへ、さらにたて糸巻
への転送の際に行なわれる巻回および再巻回作業中にお
いて、いくらかの繊維は破損する。この破損は、巻回ま
たは撚り作業中の過度の機械的応力によるものであるか
、または製造工程中の問題から起こるａｍの欠陥構造に
よるものである。いずれの場合においても、このような
破損繊維の存在はストランドの品質を劣化させるので、
それらを検出し、ストランドの単位長あたりの破損繊維
数を高度の正確性および信頼性をもって測定して、それ
らが材料の全体的品質に及ぼす影響を決定することが強
く所望される。単位長あたりの破損繊維数は！ｌ維その
ものの品質を示し、製造パラメータの変化または誤差を
反映するものであるから、そのような１１１ＩＩの正確
な検出は工程制御のための重要因子となる。

破損繊維の端部は、破損が起こった時にはストランドの
軸に対してほぼ直角にストランドから突出する傾向があ
るので、ストランドが検出′ｆｉ１８内を通過する必要
はなく、第２図に示されているようにストランドは検出
モジュールの外側に位置せしめうろことがわかった。試
験の結果、検出器１０の頂部とストランド２ｏとの間の
距１１１ｄはＯないし１Ｍであるべきことがわかった。

ストランドは、好ましくは、検出器の上流に配置された
なめらかな案内棒２４によって支持し、振動などを原因
とする横方向移動によってストランド自体が光ビームの
径路内に入ることのないようにする。

この案内棒は、溝１８内へ達するはずの破損繊維片を堆
積せしめて光検出器の出力に影響を及ぼす傾向があるの
で、案内棒は検出計ジュールから少なくとも５ｃＩＩｌ
離すことが望ましい。

破損ＩＩ維の端部２２は、ストランド２０から外向きに
任意の半径方向に突出しうるので、全ての破損繊維が光
ビーム中を通過して検出されるわけではない。しかし、
検出器は４［の大部分について検出を行ない、破損端部
はストランド内長さに沿って不規則的に分布するものの
、ストランドの長い長さについていえば、破損端部はス
トランドの周の回りに一様に分布する傾向があるので、
モジュール１ｏによって得られる読みは破損ｔＪ＆ｍ端
部の総数に正比例する。従って、スＩ・ランドの品質を
決定し、また製造工程の変化またはストランドの取扱い
の変化が破損に与える影響を決定するために用いられる
正確なカウントは、本発明の装置によって与えられる。

モジュール１０は極めて高速度の装置であり、高速度で
光路内を通過する繊維を測定しうる。第３図に示されて
いるように、繊維端部２２は、光源２８と光検出１ｉＳ
３０との間の径路内において光ビーム２６を遮る。、繊
維２２が光ビーム中を通過すると、検出器の出力に第４
図に示されているようなパルス３４が発生し、そのパル
ス幅は繊維の速瓜により、パルス振幅は繊維の直径によ
る。

第４図には、検出器３０からの出力のオシロスコープ表
示波形である。この検出器は、光源２８の強度によって
決定されるレベルの出力３２を常態において発生し、パ
ルス３４は直径 ０．０４０６＃１１　（０，００１６インチ）の繊維が
光ビーム２６内を通過することによって発生したもので
ある。負パルス３４の前後に小さい正ビーク３６が発生
するが、これらのピークは繊維が光ビーム２６に近づく
時と、それが離れる時の各位置２２Δおよび２２Ｂにお
ける、繊維の表面からの反射光によって発生する。

第４図にはまた、小さい直径の繊維によって発生するパ
ルス３８および３９も示されている。パルス３８は直径
０．００８４４６ｍ （０，０００３３２５インチ）の１！雑によって発生し
、パルス３９は直径０．００６９８５ａｎ（０，０００
２７５インチ）の繊維によって発生したものである。振
幅の小さいパルスは、光ビームを鉛直方向に完全に日か
ない繊維端部によっても発生する。

第５図には、光ビーム２６を通過する繊維によって発生
するパルスに応答する回路および装置が示されている。

オプトエレクトロニック・モジュール１０は、適当なボ
ビン４０から供給されるストランド２ｏに関連している
。このストランドは前述のようにしてモジュールを通過
し、モジュールに支持された光検出器３ｏは線路４２上
に出力信号を発生する。この信号は演算増幅器４４を経
て供給されるが、増幅器４４の出力は第４図に示されて
いるパルス３４のようなパルスの列となる。

破損Ｖ＆雑の存在を示ずこれらのパルスは、線路４６を
経てスレッショルド検出器４８に供給されるが、このス
レッショルド検出器は所定レベルに設定されているので
、このレベルを超えるパルスのみが検出器の出力線路５
０上にイベントパルスを発生せしめる。このようにして
、スレッショルド検出器４８は、破損繊維数の誤った読
みを与える雑音などを消去する。出力線路５０上のイベ
ントパルスは適当なカウンタ５２へ供給され、このカウ
ンタはモジュール１０によって検出された繊維端部の数
をカウントする。

光ビーム２６の強度は、ある期間が経過すると低下する
のがわかっているので、この低下を補償するために帰還
ループが備えられている。この低下の１つの理由は、ス
トランド２０が通常保護用の結合剤でコーティングされ
ていることによる。

ストランドの処理中に、ある聞の結合剤が支持棒２４に
よるなどして擦り落とされ、それがモジュール１ｏの光
学装置上に堆積して光ビームの強度を低下させるのであ
る。これを補償するための帰還ループは、全体が５４に
示されている積分回路から成り、増幅器５６と並列キＶ
バシタ５８とを含む。この積分回路の出力は、線路６０
を経て駆動増幅器６２へ供給され、増幅器６２は検出器
内の光源へ電力を供給する。光ビームの強度が低下する
と、駆動増幅器６２の出力は積分回路５４によって増加
せしめられ、光源の出力も大きくなるので、光ビーム強
度は所定値を回復することになる。積分回路の代わりに
低域フィルタを帰還ループ内に用いることもできるが、
好ましくはない。

第５図にブロック図で示されている繊維検出回路は、第
６図にさらに詳細に示されており、第６図においては、
光源２８はモジュール１０の１１［１１２内に取付けら
れたＬＥＤとして示され、検出溝１８を横切る光ビーム
２６を発生する。この光ビ−ムはホトトランジスタ３０
のような光検出器に入射する。このホトトランジスタは
、接地されたエミッタと、出力線路４２に接続されたコ
レクタとを有する。線路４２は分圧抵抗６４を含み、こ
の図の場合は、演算増幅器４４の負入力６５に接続され
ている。また、この入力には、接続点６６を経て可変バ
イアス抵抗６８が接続されており、これによって繊ｕ端
部が存在しない場合における増幅器４４の常態出力が決
定される。この常態出力レベルは、前述のように第４図
の３２に示されている。帰還抵抗７ｏは、増幅器４４の
出力４６から入力６５へ接続されている。

出力線路４６は、限流抵抗７４を経てスレッショルド検
出器４８の負入力に接続され、検出器４８の出力は、線
路５０および抵抗７６を経てカウンタ５２に接続されて
いる。スレッショルド検出器４８の正入力は、バイアス
抵抗７８を経て負のバイアス電圧源に接続されており、
抵抗７８の大きさは、この検出器が導通状態になって線
路５０上に出力パルスを発生するためのスレッショルド
を決定する。

演算増幅器４４から線路４６上へ発生する信号はまた積
分回路５４へ６供給される。この回路は演算増幅器５６
とキャパシタ５８とを含む。この積分回路の出力は、線
路６０を経て駆動トランジスタ６２のベースに印加され
る。このトランジスタのコレクタは抵抗８ｏを経てバイ
アス電圧源に接続されており、エミッタは抵抗８２およ
び線路８４を経てＬＥＤ２８に接続されてＬＥＤ装置へ
駆動電流を供給する。このようにして、検出器３０から
の出力電流の一部は、演算増幅器４４および積分回路５
４を経て帰還され駆動トランジスタ６２の導電性を調整
する。積分回路５４は、光ビーム内を通過する破損繊維
によって発生せしめられるパルス３４の効果を平滑化し
、ＬＥＤへの駆動電流を安定化する。検出器からの常態
電流３２（第４図）は、例えばＬＥＤの老化によって、
またはモジュール１０の光学装置上への塵埃、結合剤、
等の堆積によって、徐々に減少するので、可変抵抗６８
を経てｍｓ器４４に印加されるバイアスは、線路４６上
に現われる増幅器の出力を変化させることになる。この
変化は、積分回路５４の出力を変化させて駆動トランジ
スタ６２を通る電流を増加ｕしめ、ＬＥＤの出力を所定
の強度レベルに回復させる。このようにして、積分回路
５４および駆動トランジスタ６２は、繊維が存在してい
ない時のビーム２６の強度を一定に保持する。

もし所望ならば、線路８４に接続されたＬＥＤの入力へ
線路９４を経て接続されている演算増幅器９２を含むレ
ベル検出器９０を備えて、ＬＥＤへ供給される電流を検
出する。増幅器９２の出力は警報ランプ９６に接続され
ており、このランプは、ＬＥＤへの電流レベルが増幅器
９２の第２人力に接続されているバイアス抵抗９８によ
って設定される所定値を超えると、指示を与える。

以上に説明した第６図の回路は、所定振幅を超えたイベ
ントパルス３４が発生する毎に線路５０上に出力信号を
発生し、あらかじめ選択された直径を超えた繊維端部の
カウントを与える。もし所望ならば、スレッショルド回
路１００および１゜２によって示されるような複数の同
様なスレッショルド回路を配設することができる。これ
らの回路は、線路４６からそれぞれの限流抵抗１０４お
よび１０６を経て入力を得、対応する出力線路１０８　
ｄ′３よび１１０上に出力を発生する。それぞれのスレ
ッショルド検出器が応答するパルス振幅は、それぞれの
バイアス抵抗１１２および１１４によって決定される。

スレッショルド検出器４８．１００．１０２に対するバ
イアス抵抗７８，１１２゜１１４を適正に調節すれば、
これらの回路は選択された繊維寸法に対応したイベント
パルスを発生して、その出力パルスをそれぞれのカウン
タへ供給しつるので、単一検出器１０によって測定され
た繊維の直径の分布が得られる。

第６図には、単一ストランド２０内の破損繊維の存在を
測定するための、単一オプトエレクトロニック・モジュ
ール１０の回路が示されている。

モジュール１０およびその回路は、単一検出装置を構成
する。第５図に示されているように、複数のこのような
装置を備え、そのそれぞれが異なるボビンから供給され
る異なったストランドを測定するようにできる。すなわ
ち、例えば、モジュール１０はストランド２０の測定を
行ない、第２オプトエレクトロニツク・モジュール１２
０とその関連回路とはボどン１２４から供給される第２
ストランド１２２を測定し、第３オプｊ・エレクトロニ
ック・モジュール１３０は第３ボビン１３４から供給さ
れる第３ストランド１３２を測定し、以下同様にして、
第ｎ番目のオプトエレクトロニック・モジュールである
モジュール１４０はボビン１４４から供給される対応ス
トランド１４２を測定するようにする。それぞれのモジ
ュール１２０゜１３０．１４０は、全体がそれぞれ１２
６，１３６．１４６によって示されている対応検出回路
に接続されているが、これらの回路はそれぞれ第６図に
示されている検出回路と同様の回路であり、それぞれが
対応する出力線路１２８．１３８．１４８上に出力イベ
ントパルス列を発生する。これらの出力線路のそれぞれ
に発生するイベントパルス列は、対応ストランド１２２
，１３２．１４２上の破損ｍＮ数を表わす。

前述のように、線路５０上の出力パルス列は対応カウン
タ５２へ供給される。同様にして、線路１２８．１３８
，１４８上の出力は、それぞれ対応カウンタ１５０．１
５２．１５４へ供給されて、対応検出装置から供給され
る不規則なイベントパルス列器続的カウントを与える。

出力線路５０，１２８，１３８．１４８は対応カウンタ
５２，１５０，１５２．１５４に直接接続されているよ
うに図示されているが、ある場合には、これらの線路内
に適当な緩衝増幅器（図示されていない）を挿入し、パ
ルスを整形してからそれぞれのカウンタに供給する。

それぞれのカウンタ内のデータは、データ線路１５６．
１５８，１６０，１６２を経て対応ラッチ回路１６４，
１６６．１６８，１７０へ供給される。適当なコンピュ
ータ１７２０）例えば）１ｅｗｌｅｔｔ−Ｐａｃｋａｒ
ｄのＭｏｄｅｌ　ＨＰ２１８　、の制御により、データ
線路１７３およびインタフェース回路１７４を経て、ラ
ッチ回路が周期的に始動せしめられて、その時それぞれ
のカウンタ内にあるイベントカウントデータをラッチす
る。信号がラッチされた後、線路１７８を経てリセット
信号がそれぞれのカウンタ５２，１５０，１５２．１５
４に印加され、カウンタ内容がラッチされた後のカウン
タをゼロにリセットする。その後、制御コンピュータか
ら線路１８０上へカウント有効化信号が供給されて、そ
れぞれのカウンタを再始動させる。

カウンタ内のデータがラッチされた侵、コンピュータ１
７２はインタフェース１７４およびデータ線路１８１を
経てデコーダ１８２を始動せしめ、デコーダ１８２は、
それぞれのラッチを順次選択して、その内容であるデー
タをデータ線路１８４、インタフェース１７４、および
データ線路１７３を経てコンピュータ１７２へ転送する
。このようにしてカウンタから得られたデータはコンピ
ュータにおいて、例えば適当なディスク記憶装置１８６
内に、個々の検出装置へ供給されたストランドの長さに
関するデータと共に記憶される。ストランドの良さのデ
ータは、ボビンｆｆ１ｆｉｉにより、または他の任意の
通常の方法により、ストランド長カウンタ１８８を経て
得られる。このデータは、線路１９０を経てコンピュー
タ１７２へ供給されてコンピュータをして、データのラ
ッチ周期を決定せしめ、最終的には、監視されているス
トランドの単位長あたりの破損１１１Ｎのカウント数、
または検出されたそれぞれの破損繊維間のヤード数を決
定せしめる。例えば、カウンタ５２は、１ビツトの（フ
リップ７０ツブ）２進カウンタとすることができ、コン
ピュータのサイクル時間は十分短くして、２つの破１ａ
！１ｉｆｔが１サイクル中に存在する可能性をなくすこ
とができる。あるカウンタによって破損繊維が検出され
ると、ヤード数カウンタ１８８内に累算されたヤード数
は、そのカウンタに関連するデータとして記録され、記
憶される。

その後のイベントも同様にして、カウンタ１８８によっ
て記録される。もし所望ならば、コンピュータによって
１９られた情報は、プリンタ１９２によって印刷するこ
とができ、あるいはモデム１９４を経て遠隔位置へ供給
して記憶させ、さらに処理することもできる。ヤード数
カウンタ１８８は任意の通常のカウンタでよく、ストラ
ンドの運動、またはストランドを運動させる駆動キャプ
スタンの回転を検出しうるちのであればよい。それぞれ
のストランドに対して個々のカウンタを配設してもよく
、あるいは、１つのカウンタを用いて単一の読みを生ぜ
しめ、これを用いて全てのストランドに対する計算を行
なってもよい。

高速度の検出器と高速度のディジタル回路とを用いるこ
とにより、本発明の装置は、比較的長時間にわたって破
損ｌ１Ｍ数の正確なカウントを得ることができるので、
ストランドの単位長内における平均破損数の高度に正確
な測定値を得ることができる。繊維破損の不規則性のた
めに、ストランド間における品質の１０％の差を正確性
および信頼性をもって検出するためには、ガラス繊維ス
トランドの７７７ＫＭ（８５万ヤード）中の破損繊維数
をカウントすることが必要である。もし、装置の分解能
を増大せしめて、品質の５％の差を高度の信頼性をもっ
て検出しうるようにしたければ、ストランドの３１０９
／ｆ！Ｒ（３４０万ヤード）を測定することが必要にな
る。この分解能をさらに増大させて２ストランド間の品
質の１％の差を検出するためには、ストランドの９５３
７０／ｋ（１０４３０万ヤード）を測定することが必要
になる。

このような測定は従来技術の装置では、実際上不可能で
ある。そのわけは、それらの装置はあまりにも低速度で
、上述の量のストランドを測定しえないからである。し
かし、本発明の装置によれば、わずか１％の繊維破損量
の変化を生じるような極めてわずかな繊維紐製造工程の
変化でも容易に、かつ正確に検出でき、それによってガ
ラス繊維ストランドの製造および処理の遥かにすぐれた
制御を行なうことができる。

以上においては、本発明の装置を破損ストランド検出器
として説明してきたが、本発明の装置は多ストランドか
ら形成された糸の品質の決定にも同様に用いうろことは
明らかである。さらに、第６図に関連して説明したよう
に、本装置によれば、対応カウンタに追加のスレッショ
ルド検出器を備えることによって、測定されつつあるそ
れぞれのストランドにおける破損繊維の直径の分布を得
ることも可能である。これらの追加カウンタの出力は、
対応ラッチ回路にも、またコンピュータにも供給されて
、第５図に関連して説明したように、選択を受け、また
記憶される。

本装置のもう１つの用途は、ストランドが検出器を通過
する時に落とされる結合剤の吊の検出および測定を行な
うことである。ＬＥＤ２８への駆ａ電流のレベル変化を
測定して、この電流が所定値を超えた時警報信号を発生
するスレッショルド検出３９０はまた、所定の強度変化
が生じるのに要した時間の長さを測定し、それによって
、その時間内にストランドから剥落した結合剤の間の測
度を与える。

本発明の検出装置はまた、ストランドを周期的に検出溝
内へ入れて光ビーム２６内を通過させることによって、
ストランド寸法の測定にも用いうる。ストランド自体の
この運動によって発生する出力パルスの振幅は、ストラ
ンドの直径を決定するために使用できる。さらに、もし
所望ならば、１対のこのような検出器を互いに直角に配
設し、２方向におけるストランドの直径を測定し、スト
ランドの扁平度、すなわち縦横比を決定することもでき
る。

正確な測定値を得るためには、カウンタ５２゜１５０．
１５２，１５４内のデータを固定増分ごとにラッチする
。これらの増分は時間によって定めることができ、例え
ば、１分毎に１回ラッチする。あるいは、測定されつつ
あるストランドの所定長によって増分を定めることもで
き、例えば、４５７ｍ（５００ヤード）毎に１回ラッチ
する。

好ましい増分はカウンタ１８８から得られるヤード数カ
ウントによって与えられる。これを用いれば、たとえス
トランドがカウントの中央において停止することがあっ
ても正確な測定値が得られる。

このような状況においては、コンピュータは単にストラ
ンドの再出発を持ち、正しいヤード数カウントが得られ
てから、パルスカウンタ５２，１５０．１５２．１５４
の内容をラッチし、正確なデ−タを確保する。

本発明の詳細な説明するために、以上においてはｆ）Ｆ
ましいオプトエレクトロニック検出装置の説明を行なっ
た。しかし、この方法は超音波装置などの伯の検出器を
用いても実施することができる。

そのわけは、この方法に含まれるのはヤード数力　４゜
ラントおよび検出された欠陥数の累算であり、特許請求
の範囲に記載されている方法におけるそれらのデータの
累算およびその他の段階は、収集されたデータの処理を
含んでいるからである。

以上においては、本発明を、ボビンからたて糸巻上へ巻
き代えられつつあるストランドに関して説明したが、本
発明の装置は、ガラス繊維ス］〜ランドまたは糸の処理
における他の場面においても使用できることは明らかで
ある。例えば、単一ストランドに対して２つの検出装置
を、一方はある処理段階の前に、他方は後に、例えばボ
ビン上への巻回の前と後とに、配置して、その特定処理
段階によって発生する破損を検出し、ストランドに用い
られた結合剤の有効性を決定する。

最後に、以上においては本発明を実施例について説明し
たが、特許請求の範囲に示されている本発明の真の精神
および範囲を逸脱することなく、ざまざまな変形Ｊ３よ
び改変が可能であることは明らかである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、破損ｍ紺の端部を検出するように配置された
オプトエレクトロニック・モジュールの斜視図、 第２図は、第１図の２−２線におけるモジュールの拡大
断面図、 第３図は、第１図のモジュールの光遮断状態の説明図、 第４図は、さまざまな直径の破損繊維に対する、第１図
のモジュールからの出力を示すオシロスコープ波形図、 第５図は、本発明の装置の回路のブロック図、第６図は
、繊維検出回路の部分ブロック概略図である。 ［符号の説明］ １０．１２０，１３０，１４０−・・、ｔブトエレクト
ロニック・モジュール、 ２０．１２２，１３２．１４２・・・ストランド、２２
・・・破損ａｊ＆Ｈ端部 ２４・・・案内棒 ２６・・・光ビーム ２８・・・光源 ３０・・・光検出器 ３４．３８．３９・・・パルス ４４・・・演算増幅器 ４８．１００．１０２・・・スレッショルド検出器５２
．１５０，１５２，１５４・・・カウンタ５４・・・積
分回路 ６２・・・駆動増幅器 ９０・・・レベル検出器 １６４．１６６．１６８．１７０・・・ラッチ回路１７
２・・・コンピュータ １８６・・・ディスク記憶装置 １８８・・・ヤード数カウンタ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）外方へ突出する繊維端部のような不規則的な欠陥
   を有する細長い物品の品質を高度の信頼性および正確性
   をもつて測定する方法であつて、測定されるべき物品を
   ある径路に沿つて高速度で運動せしめる段階と、検出源
   を含む検出器を前記径路の近くに配置して、該検出器を
   、前記物品が前記検出源を始動させないだけ十分に前記
   径路から離すと同時に、前記不規則的欠陥が前記検出源
   を通過してこれを始動させ対応するイベントパルスを発
   生させるだけ十分に前記径路に接近させておく段階と、
   イベントパルスカウンタにより記録される前記イベント
   パルスのそれぞれに対するヤード数カウントを累算する
   段階と、該ヤード数カウントを第１記憶場所に転送し、
   かつ前記イベントパルスカウンタをリセットする段階と
   、前記第１記憶場所から第２の処理記憶場所へそれぞれ
   の記憶されたヤード数カウントを転送する段階と、を含
   む、細長い物品の品質の測定方法。 （２）特許請求の範囲第１項において、前記検出器がオ
   プトエレクトロニック検出器であり、前記検出源が光ビ
   ームおよび光検出器であつて、前記物品が該検出源を始
   動させないように、かつ前記不規則的欠陥が該光ビーム
   を遮ることによつて該光検出器を始動せしめ対応するイ
   ベントパルスを発生せしめるように配置されている前記
   光ビームおよび光検出器である、細長い物品の品質の測
   定方法。 （３）特許請求の範囲第１項において、前記処理記憶場
   所に記憶された前記ヤード数カウントがそこで処理され
   ることにより、それぞれの検出されたイベントパルスの
   ヤード数位置が得られるようになつている、細長い物品
   の品質の測定方法。 （４）特許請求の範囲第１項において、前記処理記憶場
   所に記憶された前記ヤード数カウントがそこで処理され
   ることにより、前記物品の単位長あたりに検出されたイ
   ベントパルス数の平均値が得られるようになつている、
   細長い物品の品質の測定方法。 （５）特許請求の範囲第２項において、前記処理記憶場
   所に記憶された前記ヤード数カウントが処理されること
   により、それぞれの検出されたイベントパルスのヤード
   数位置が得られるようになつている、細長い物品の品質
   の測定方法。 （６）特許請求の範囲第２項において、前記処理記憶場
   所に記憶された前記ヤード数カウントがそこで処理され
   ることにより、前記物品の単位長あたりに検出されたイ
   ベントパルス数の平均値が得られるようになつている、
   細長い物品の品質の測定方法。 （７）特許請求の範囲第１項において、前記イベントパ
   ルスの前記カウントが前記物品の十分な長さにわたつて
   累算され、かつ転送されることにより、単位長あたりの
   イベント数の統計的に意味のある平均値が決定され、そ
   れによつて不規則的に発生するイベントから正確で信頼
   性のある品質の測定値が得られるようになつている、細
   長い物品の品質の測定方法。 （８）特許請求の範囲第７項において、前記イベントパ
   ルスの前記カウントが前記物品の ９１４．４Ｋｍ（１００万ヤード）程度の長さにわたつ
   て累算され、かつ転送されることにより、品質の約１０
   ％の差が測定されうるようになつている、細長い物品の
   品質の測定方法。 （９）特許請求の範囲第７項において、前記イベントパ
   ルスの前記カウントが前記物品の９１４４０Ｋｍ（１億
   ヤード）程度の長さにわたつて累算され、かつ転送され
   ることにより、品質の約１％の差が測定されうるように
   なつている、細長い物品の品質の測定方法。 （１０）特許請求の範囲第７項において、前記イベント
   パルスの振幅が検出された欠陥の選択された特性に応じ
   て変化するようになつており、前記イベントパルスのカ
   ウントを累算する段階が該イベントパルスをパルス振幅
   によつて分別する段階と、その後該分別されたイベント
   パルス数を対応する複数のレベルカウンタ内に累算する
   段階とを含み、それによつて該レベルカウンタ内のカウ
   ントが前記選択された特性の変化を表わすようになつて
   いる、細長い物品の品質の測定方法。 （１１）特許請求の範囲第２項において、前記イベント
   パルスの前記カウントが前記物品の十分な長さにわたつ
   て累算され、かつ転送されることにより、単位長あたり
   のイベント数の統計的に意味のある平均値が決定され、
   それによつて不規則的に発生するイベントから正確で信
   頼性のある品質の測定値が得られるようになつている、
   細長い物品の品質の測定方法。 （１２）特許請求の範囲第１１項において、前記イベン
   トパルスの前記カウントが前記物品の ９１４．４Ｋｍ（１００万ヤード）程度の長さにわたつ
   て累算され、かつ転送されることにより、品質の約１０
   ％の差が測定されうるようになつている、細長い物品の
   品質の測定方法。 （１３）特許請求の範囲第１１項において、前記イベン
   トパルスの前記カウントが前記物品の９１４４０Ｋｍ（
   １億ヤード）程度の長さにわたつて累算され、かつ転送
   されることにより、品質の約１％の差が測定されうるよ
   うになつている、細長い物品の品質の測定方法。 （１４）特許請求の範囲第１１項において、前記イベン
   トパルスの振幅が検出された欠陥の選択された特性に応
   じて変化するようになつており、前記イベントパルスの
   カウントを累算する段階が該イベントパルスをパルス振
   幅によつて分別する段階と、その後該分別されたイベン
   トパルス数を対応する複数のレベルカウンタ内に累算す
   る段階とを含み、それによつて該レベルカウンタ内のカ
   ウントが前記選択された特性の変化を表わすようになつ
   ている、細長い物品の品質の測定方法。 （１５）特許請求の範囲第２項において、前記光ビーム
   の強度を検出して該光ビームを調整することにより該検
   出された強度を所定レベルに保持する段階をさらに含む
   、細長い物品の品質の測定方法。 （１６）特許請求の範囲第２項において、前記光ビーム
   の強度を検出し所望の光検出器作動出力と実際の光検出
   器作動出力との間の差を帰還回路内において電気的に積
   分することによつて前記光ビームを調整し該積分された
   差をゼロに減少せしめる段階をさらに含む、細長い物品
   の品質の測定方法。 （１７）特許請求の範囲第１６項において、前記オプト
   エレクトロニック検出器に供給される電流を監視して前
   記光ビームの強度変化の割合を測定する段階をさらに含
   む、細長い物品の品質の測定方法。 （１８）特許請求の範囲第１項において、複数の前記物
   品を同時に間隔を置いた径路に沿つて運動せしめる段階
   と、それぞれの該物品の径路の近くに対応する検出器を
   配置して対応するイベントパルス出力を発生せしめる段
   階と、それぞれの該物品に関連する別個のイベントパル
   スカウンタにより記録されるそれぞれの該イベントパル
   スに対するヤード数カウントを別個に累算する段落と、
   それぞれの該ヤード数カウントを対応する第１記憶場所
   へ転送し、そのヤード数カウントに関連する前記イベン
   トパルスカウンタをリセットする段階と、前記対応する
   第１記憶場所から前記カウントを別個に処理記憶場所へ
   転送する段階と、をさらに含む、細長い物品の品質の測
   定方法。 （１９）特許請求の範囲第２項において、複数の前記物
   品を同時に間隔を置いた径路に沿つて運動せしめる段階
   と、それぞれの該物品の径路の近くに対応するオプトエ
   レクトロニック検出器を配置して対応するイベントパル
   ス出力を発生せしめる段階と、それぞれの該物品に関連
   する別個のイベントパルスカウンタにより記録されるそ
   れぞれの該イベントパルスに対するヤード数カウントを
   別個に累算する段階と、それぞれの該ヤード数カウント
   を対応する第１記憶場所へ転送し、そのヤード数カウン
   トに関連する前記イベントパルスカウンタをリセットす
   る段階と、前記対応する第１記憶場所から前記カウント
   を別個に処理記憶場所へ転送する段階と、をさらに含む
   、細長い物品の品質の測定方法。 （２０）特許請求の範囲第１８項において、前記処理記
   憶場所内に記憶されたそれぞれの前記物品に対する前記
   ヤード数カウントがそこで処理されて、それぞれの該物
   品に対し検出されたそれぞれのイベントパルスのヤード
   数位置が得られるようになつている、細長い物品の品質
   の測定方法。 （２１）特許請求の範囲第１８項において、前記処理記
   憶場所内に記憶されたそれぞれの前記物品に対する前記
   ヤード数カウントが処理されて、それぞれの該物品の単
   位長あたりに検出されたそれぞれのイベントパルス数の
   平均値が得られるようになつている、細長い物品の品質
   の測定方法。 （２２）特許請求の範囲第１９項において、前記処理記
   憶場所内に記憶されたそれぞれの前記物品に対する前記
   ヤード数カウントがそこで処理されて、それぞれの該物
   品に対し検出されたそれぞれのイベントパルスのヤード
   数位置が得られるようになつている、細長い物品の品質
   の測定方法。 （２３）特許請求の範囲第１９項において、前記処理記
   憶場所内に記憶されたそれぞれの前記物品に対する前記
   ヤード数カウントが処理されて、それぞれの該物品の単
   位長あたりに検出されたそれぞれのイベントパルス数の
   平均値が得られるようになつている、細長い物品の品質
   の測定方法。 （２４）突出する繊維端部のような不規則的な欠陥を有
   する細長い物品の品質を高度の信頼性および正確性をも
   つて測定するための検出装置であつて、光源および光受
   信器を有し光ビームを画定するオプトエレクトロニック
   検出器と、測定されるべき物品を該検出器を通る物品径
   路に沿つて案内する装置であつて該物品径路が該検出器
   から十分離れていることにより該物品が該光ビームを遮
   らないようになつていると同時に該物品径路が該検出器
   に十分接近していることにより該物品から突出する繊維
   端部のような不規則的欠陥は該光ビームを遮るようにな
   つている前記物品案内装置と、前記光受信器に接続され
   前記光ビームが遮られる毎にイベントパルスを発生する
   ようになつている回路装置であつて、該光受信器に接続
   された増幅装置と、所定スレッショルドを有し記憶装置
   の入力に接続され該スレッショルドを超えた入力を受け
   るとイベントパルスを発生するようになつているレベル
   検出装置と、を含む前記回路装置と、前記増幅装置に接
   続された積分器であつて前記光源の光を自動的に調整し
   て前記光受信器からの電気的出力を所定量に保持する積
   分出力を発生するようになつている前記積分器と、を備
   えた、細長い物品の品質を測定するための検出装置。 （２５）特許請求の範囲第２４項において、前記物品が
   複数のガラス繊維から形成されたガラス繊維ストランド
   であり、前記不規則的欠陥が該ストランド内の破損繊維
   によつて構成されたものである、細長い物品の品質を測
   定するための検出装置。 （２６）特許請求の範囲第２４項において、前記検出回
   路内の前記増幅装置が検出された前記破損繊維の直径に
   比例した振幅を有するパルスを発生するようになつてお
   り、該検出回路がさらに、前記増幅装置の出力に接続さ
   れた複数のスレッショルド回路であつてそれぞれの該ス
   レッショルド回路が選択された振幅の増幅装置出力に応
   答して対応するイベントパルスを発生するように整定さ
   れている前記複数のスレッショルド回路と、それぞれの
   該スレッショルド回路に接続され繊維直径によつて区分
   された前記破損繊維のカウントを行なう別個の第１カウ
   ンタ装置と、を含む、細長い物品の品質を測定するため
   の検出装置。 （２７）特許請求の範囲第２４項において、前記検出回
   路がさらに、前記増幅器と前記光源との間に接続され前
   記光受信器からの電気的出力を所定量に保持するための
   帰還装置を含む、細長い物品の品質を測定するための検
   出装置。 （２８）特許請求の範囲第２７項において、前記光源へ
   供給される電流のレベルに応答する強度レベル検出装置
   をさらに備えており、それによつて前記検出器上への異
   物堆積による前記光ビームの劣化を監視しうるようにな
   つている、細長い物品の品質を測定するための検出装置
   。 （２９）特許請求の範囲第２７項において、前記ストラ
   ンドが結合剤によつてコーティングされており、該結合
   剤が前記破損繊維の測定中に部分的に剥落して前記検出
   器上に異物として堆積する、細長い物品の品質を測定す
   るための検出装置。 （３０）特許請求の範囲第２４項において、複数のオプ
   トエレクトロニック検出器と、それぞれの該検出器に対
   し１ストランドずつ存在する複数のストランドを該検出
   器を通過せしめて案内する装置と、それぞれの該検出器
   に備えられ対応するイベントパルスをカウントするよう
   になつている第１カウンタと、それぞれの該第１カウン
   タに１つのラッチ装置が接続されている複数のラッチ装
   置と、該ラッチ装置を周期的に始動せしめて該ラッチ装
   置の内容をプロセッサへ順次転送するための装置と、を
   さらに含む、細長い物品の品質を測定するための検出装
   置。 （３１）突出する繊維端部のような不規則的な欠陥を有
   する細長い物品の品質を高度の信頼性および正確性をも
   つて一定するための検出装置であつて、光源および光受
   信器を有し光ビームを画定するオプトエレクトロニック
   検出器と、測定されるべき物品を該検出器を通る物品径
   路に沿つて案内する装置であつて該物品径路が該検出器
   から十分離れていることにより該物品が該光ビームを遮
   らないようになつていると同時に該物品径路が該検出器
   に十分接近していることにより該物品から突出する繊維
   端部のような不規則的欠陥は該光ビームを遮るようにな
   つている前記物品案内装置と、前記光受信器に接続され
   前記光ビームが遮られる毎にイベントパルスを発生する
   ようになつている回路装置であつて、該光受信器に接続
   された増幅装置と、所定スレッショルドを有し記憶装置
   の入力に接続され該スレッショルドを超えた入力を受け
   るとイベントパルスを発生するようになつているレベル
   検出装置と、を含む前記回路装置と、前記増幅装置に接
   続された積分器であつて前記光源の光を自動的に調整し
   て前記光受信器からの電気的出力を所定量に保持する積
   分出力を発生するようになつている前記積分器と、前記
   光検出装置に接続され前記イベントパルスをカウントす
   るようになつている第１カウンタ装置と、該第１カウン
   タ装置に接続されたラッチ装置と、該ラッチ装置を周期
   的に始動させて該第１カウンタ装置の内容を一時的に記
   憶せしめ、その後該カウンタをリセットし、また該ラッ
   チ装置の内容をプロセッサへ転送する装置と、前記不規
   則的欠陥のある測定単位に基づくカウントを得て、該測
   定単位に基づくカウントを前記プロセッサへ転送し、測
   定単位あたりのイベント数を決定することによつて前記
   物品の品質を決定するための第２カウンタ装置と、を備
   えた、細長い物品の品質を測定するための検出装置。 （３２）特許請求の範囲第３１項において、前記プロセ
   ッサが極めて多数の前記測定単位にわたつての前記カウ
   ントを累算するための記憶装置を含んでいることによつ
   て、統計的に意味のある測定単位あたりの平均イベント
   数を決定しそれによつて品質の正確で信頼性のある測定
   値を得ることのできる十分なカウント数を累算しうるよ
   うになつている、細長い物品の品質を測定するための検
   出器（３３）特許請求の範囲第３１項において、前記第
   ２カウンタ装置が時間の単位を測定するようになつてい
   る、細長い物品の品質を測定するための検出装置。 （３４）特許請求の範囲第３１項において、前記第２カ
   ウンタ装置が前記検出器を通過するストランドの長さを
   測定するようになつており、前記測定単位あたりのイベ
   ント数が該ストランドの単位長あたりの破損繊維数の測
   定値である、細長い物品の品質を測定するための検出装
   置。 （３５）特許請求の範囲第３１項において、前記ラッチ
   装置を周期的に始動せしめる前記装置が前記第２カウン
   タ装置に応答することにより前記第１カウンタから単位
   長あたりのイベントカウントを得るようになつている、
   細長い物品の品質を測定するための検出装置。 （３６）特許請求の範囲第３５項において、前記記憶装
   置が９１４．４Ｋｍ（１００万ヤード）程度のストラン
   ド長にわたり前記ストランドの単位長あたりのイベント
   カウントを累算することによつて品質の約１０％の差を
   分析しうる、細長い物品の品質を測定するための検出装
   置。 （３１）特許請求の範囲第３５項において、前記記憶装
   置が９１４４０Ｋｍ（１億ヤード）程度のストランド長
   にわたり前記ストランドの単位長あたりのイベントカウ
   ントを累算することによつて品質の約１％の差を分析し
   うる、細長い物品の品質を測定するための検出装置。 （３８）外方へ突出する繊維端部のような不規則的な欠
   陥を有する細長い物品の品質を高度の信頼性および正確
   性をもつて測定する方法であつて、測定されるべき物品
   をある径路に沿つて高速度で運動せしめる段階と、検出
   源を含む検出器を前記径路の近くに配置して、該検出器
   を、前記物品が前記検出器を始動させないだけ十分に前
   記径路から離すと同時に、前記不規則的欠陥が前記検出
   源を通過してこれを始動させ対応するイベントパルスを
   発生させるだけ十分に前記径路に接近させておく段階と
   、イベントパルスカウンタにより記録されるそれぞれの
   該イベントパルスに対するカウントを累算する段階と、
   記録された該イベントパルスカウントを選択された間隔
   で第１記憶場所へ転送し、かつ前記イベントパルスカウ
   ンタをリセットする段階と、それぞれの該記憶されたイ
   ベントパルスカウントを該第１記憶場所から第２の処理
   記憶場所へ転送する段階と、を含む、細長い物品の品質
   の測定方法。 （３９）特許請求の範囲第３８項において、前記処理記
   憶場所に記憶された前記パルスカウントがそこで処理さ
   れることにより、単位時間あたり、または前記物品の単
   位長あたりのイベントパルス数の平均値が得られるよう
   になつている、細長い物品の品質の測定方法。