JPS6296828A - 反射量測定装置 - Google Patents

反射量測定装置

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JPS6296828A
JPS6296828A JP23705185A JP23705185A JPS6296828A JP S6296828 A JPS6296828 A JP S6296828A JP 23705185 A JP23705185 A JP 23705185A JP 23705185 A JP23705185 A JP 23705185A JP S6296828 A JPS6296828 A JP S6296828A
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JP
Japan
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light
sample
reflection
light receiving
light source
Prior art date
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Pending
Application number
JP23705185A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsunao Sekiwa
三直 関和
Tetsuo Hamada
浜田 哲男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UNION GIKEN KK
Original Assignee
UNION GIKEN KK
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Publication date
Application filed by UNION GIKEN KK filed Critical UNION GIKEN KK
Priority to JP23705185A priority Critical patent/JPS6296828A/ja
Publication of JPS6296828A publication Critical patent/JPS6296828A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は反射量測定装置に関し、ざらに詳細にいえば
、サンプルの反射率、色彩等の測定のためのデータとし
ての反射量を正確に測定することができる新規な反I=
l徂測定装置に関する。
〈従来の技術〉 従来から反射量測定装置としては、1個の光源と、1個
の受光部とを有し、サンプルを上記光源、および受光部
に対して予め設定された相対位置関係となるようセット
して、光源によりサンプルを照射し、サンプルからの光
を受光部により受光することにより、サンプルの反射量
を測定する構成のものが提供されていた。
このような構成の反射量測定装置においては、サンプル
が設定基準面に対して傾いた場合に、第4図中の実線で
示すように、受光部により受光される反射量が変化する
ことが知られており、このようなサンプルの傾斜に起因
する測定誤差を抑制するために、サンプルを設定基準面
とほぼ等しい状態とするようにサンプルセット位置のず
れを解消すべく種々の対策が施されている。
〈発明が解決しようとする問題点〉 上記の構成の反射量測定装置であれば、静止した状態で
サンプルの反射量測定を行なう場合には、かなり正確な
反射量の測定を行なうことができるのであるが、サンプ
ル自体の形状等のばらつきにも拘わらずセット位置を正
確に設定しようとすれば、設定のための手間、時間が多
く必要となり、迅速な反射量の測定を行なうことができ
ないという問題がある。
また、移動中のサンプルの測定を行なう場合には、セッ
ト位置設定のために特別の作業を行なうことは殆どでき
ず、しかも、移動中のサンプルが、光源、および受光部
に対して正確な相対位置関係になるように保持されてい
ることは殆ど期待することができないのであるから、正
確な反射量の測定を行なうことができないという問題が
ある。
〈発明の目的〉 この発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、
光源、および受光部に対する相対位置関係が変化しても
正確な反射量の測定を行なうことができる反射量測定装
置を提供することを目的としている。
く問題点を解決するための手段〉 上記の目的を達成するための、この発明の反射量測定装
置は、サンプル測定基準面に対して実質的に垂直な位置
に配設される受光部と、サンプル測定基準面の所定範囲
を均一に照射し、しかも受光部およびサンプル測定基準
面を結ぶ垂直な軸に対して対称に配設される一対の光源
とを具僅するものである。
但し、上記光源からの光が平行光であり、しかも受光部
が収束系であってもよい。
く作用〉 上記の構成の反射量測定装置であれば、一対の光源によ
りサンプルの所定範囲を照射し、サンプルからの反射光
を受光部により受光し、サンプルの反射率、色彩等に対
応する測定出力を得ることができる。
さらに詳細に説明すると、第2図に示すように、サンプ
ルがサンプル測定基準面に対して角度θだけ傾斜した場
合には、傾斜角度θに応じて、第4図の実線で示すよう
に、一方の光源からの光の反射率が変化する(相対反射
率R(θ)(θ−〇の場合の反射率を1とした場合の各
角度θにおける反射率の比)に対応して変化する)ので
あるが、他方の光源からみれば、サンプルが逆方向に傾
斜したことになるので、他方の光源からの光の反射率は
、上記一方の光源からの光の反射率とほぼ対称に変化す
る。したがって、各光源からの光の反射量を加算して得
られる受光部の測定出力としては、サンプルのセット位
置をサンプル測定基準面に設定し、かつ、いずれか一方
の光源で照射した場合における出力の2倍の出力を得る
ことができ、この測定出力を必要に応じて2で除算すれ
ば、正確な反射量の測定出力を得ることができる。
〈実施例〉 以下、実施例を示す添付図面によって詳細に説明する。
第1図はこの発明の反!F[測定装置を示す概略図であ
り、水平なサンプル測定基準面(A)に対して実質的に
垂直な位置に受光部(1)が配設されているとともに、
受光部(1)とサンプル測定基準面(A)とを結ぶ垂直
な軸(y)を挟んだ対称位置に、等価的な一対の光源(
2)(2)が配設されている。
上記光源(2] (21による照射光は平行光であり、
しかもサンプル測定基準面(A)の所定範囲(a)  
(基準照射面)を均一に照射することができる。また、
受光部(1)は、基準照射面からの反射光のみを受光す
べくセットされており、しかも反射光を収束させて受光
する収束系に構成されている。
以上の構成であれば、一対の光源(2)(2)によりサ
ンプル(S)の所定範囲(a)を照射し、該範囲(a)
からの反射光を受光部(1)により受光してサンプル(
S)の反射率、色彩等に対応する測定出力を得ることが
できる。
叩ら、第2図に示すようにサンプル(S)がサンプル測
定基準面(A)に対して角度θだけ傾斜すると、傾斜角
度θに応じて 一方の光源(2)からの光の反射率が変
化し、他方の光源(2)からの光の反射率は、上記一方
の光源(2)からの光の反射率とほぼ対称に変化するの
で、各光源(2)(2)からの光の反射量を加算して得
られる受光部(月の測定出力としては、サンプル(S)
のセット位置をサンプル測定基準面(A)に設定し、か
つ、いずれか一方の光源で照射した場合における出力の
2倍の出力を1qることができ、必要に応じて2で除算
すれば、正確な反射量の測定出力を得ることができる。
特に、光源(2)(2)の照射光を平行光とし、かつ受
光部(1)を収束系としているので、サンプル(S)の
上下位置の変化に対する影響を排除することができる。
なお、上記の構成の反射量測定装置は、種々の方向に傾
斜するサンプル(S)の測定に適用できるが、第2図に
示したように、双方の光源(2)(2)を含む垂直平面
と並列に傾斜するサンプル(S)の測定に特に有効であ
る。また、受光部(1)に対して余り大きくない角度θ
で対向する対称的な粗面、例えば微視的な凸状斜面、凹
状斜面、湾曲斜面等を有するサンプル(S)(第3図(
a)〜(d)参照)についての反射量の測定にも適用す
ることができる。
また、サンプル(S)の上下方向のセット位置が安定し
ている場合には、光源(2)(2]を分散系で構成して
もよく、このほかこの発明の要旨を変更しない範囲で種
々の設計変更を施すことができる。
く試験例1〉 サンプルとして、複写紙(ゼロックス用紙し:富士ゼロ
ックス株式会社製)を使用し、サンプルの傾斜角度θを
、+5°〜−5°の範囲で変化させた場合における反射
量を測定した。その測定結果を第4図に示す。
但し、投光角は、α=45°、β=45°、γ=O°受
光角は、α=O°、β=O°、γ=O。
に設定しである(α、β、γについては、立体座標を示
す第5図を参照)。また、同図中において、各光源別の
受光出力を実線で、各光源からの受光出力を加算し、2
で除算した測定出力を破線で示している。さらに反射光
は波長600nmで測定した。
この結果から明らかなように、一方の光源についての相
対反射率R(θ)は、1.1388がらo、 8624
までほぼ直線的に変化している。ここに、他方の光源に
ついての相対反射率をR(−θ)とし、一方の光源によ
る出力と他方の光源による出力とを加算して得られる相
対反射率をRとすると、R= (R(θ)+R(−θ)
)/2 であるから、各傾斜角度毎の相対反射率Rを上式により
算出すると、傾斜角度θ=±5°の範囲においては、R
= 0.99985〜1.0007の範囲となる。
このことは、傾斜角度θ=5°における相対反射率Rに
ついてみれば、光源が1個の場合には、R= 1.13
86であったものが、この発明の測定装置によれば、R
= 1.0005に減少したことになる。
つまり、サンプルの傾斜の影響は、(1−1,0005
)/(1−1,1386)= 1/277に減少したこ
とになるので、サンプルの傾斜による測定誤差を無視す
ることができることが明らかである。
〈発明の効果〉 以上のように、この発明の反射量測定装置によれば、光
源、および受光部に対するサンプルの相対位置関係が変
化しても正確な反射量の測定を行なうことができるので
、サンプルをセットするための手間、時間を削減し、迅
速な反射量の測定を行なうことができるとともに、移動
中のサンプルの測定も容易かつ正確に行なうことができ
るという特有の効果を秦する。
【図面の簡単な説明】
第1図は反射量測定装置の概略図、 第2図はサンプルを傾けた場合を示す概略図、第3図は
測定面の要部拡大断面図、 第4図はサンプル回転角度と相対反射率との関係を示す
グラフ図、 第5図は光源、および受光部の立体座標図。 (1)・・・受光部    (2)・・・光源(A)・
・・サンプル測定基準面 (S)・・・サンプル 特許出願人  株式会社ユニオン技研 第4図 サンプル回転角度

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、サンプル測定基準面に対して実質的に 垂直な位置に配設される受光部と、サン プル測定基準面の所定範囲を均一に照射 し、しかも受光部およびサンプル測定基 準面を結ぶ垂直な軸に対して対称に配設 される一対の光源とを具備することを特 徴とする反射量測定装置。 2、光源からの光が平行光であり、しかも 受光部が収束系である上記特許請求の範 囲第1項記載の反射量測定装置。
JP23705185A 1985-10-23 1985-10-23 反射量測定装置 Pending JPS6296828A (ja)

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JP23705185A JPS6296828A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 反射量測定装置

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JP23705185A JPS6296828A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 反射量測定装置

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JPS6296828A true JPS6296828A (ja) 1987-05-06

Family

ID=17009681

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JP23705185A Pending JPS6296828A (ja) 1985-10-23 1985-10-23 反射量測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014016243A (ja) * 2012-07-09 2014-01-30 Muto Kogyo Kk 分光光度計診断システム及び方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6013229A (ja) * 1983-07-01 1985-01-23 Suga Shikenki Kk 工業用測色計

Patent Citations (1)

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JPS6013229A (ja) * 1983-07-01 1985-01-23 Suga Shikenki Kk 工業用測色計

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JP2014016243A (ja) * 2012-07-09 2014-01-30 Muto Kogyo Kk 分光光度計診断システム及び方法

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