JPS6296848A - 反射量測定装置 - Google Patents
反射量測定装置Info
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- JPS6296848A JPS6296848A JP23705085A JP23705085A JPS6296848A JP S6296848 A JPS6296848 A JP S6296848A JP 23705085 A JP23705085 A JP 23705085A JP 23705085 A JP23705085 A JP 23705085A JP S6296848 A JPS6296848 A JP S6296848A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 102100036683 Growth arrest-specific protein 1 Human genes 0.000 description 1
- 101710135446 Growth arrest-specific protein 1 Proteins 0.000 description 1
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は反射量測定装置に関し、ざらに詳細にいえば
、サンプルの反射率、色彩等の測定のためのデータとし
ての反射量を正確に測定することができる新規な反射量
測定装置に関する。
、サンプルの反射率、色彩等の測定のためのデータとし
ての反射量を正確に測定することができる新規な反射量
測定装置に関する。
〈従来の技術〉
従来から反射量測定装置としては、１個の光源と、１個
の受光部とを有し、サンプルを上記光源、および受光部
に対して予め設定された相対位置関係となるようセット
して、光源によりサンプルを照射し、サンプルからの光
を受光部により受光することにより、サンプルの反射量
を測定する構成のものが提供されていた。
の受光部とを有し、サンプルを上記光源、および受光部
に対して予め設定された相対位置関係となるようセット
して、光源によりサンプルを照射し、サンプルからの光
を受光部により受光することにより、サンプルの反射量
を測定する構成のものが提供されていた。
このような構成の反射量測定装置においては、サンプル
が設定基準面に対して傾いた場合に、第４図から第６図
中の実線で示すように、受光部により受光される反射量
が変化することが知られており、このようなサンプルの
傾斜に起因する測定誤差を抑制するために、サンプルを
設定基準面とほぼ等しい状態とするようにサンプルセッ
ト位置のずれを解消すべく種々の対策が施されている。
が設定基準面に対して傾いた場合に、第４図から第６図
中の実線で示すように、受光部により受光される反射量
が変化することが知られており、このようなサンプルの
傾斜に起因する測定誤差を抑制するために、サンプルを
設定基準面とほぼ等しい状態とするようにサンプルセッ
ト位置のずれを解消すべく種々の対策が施されている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
上記の構成の反射量測定装置であれば、静止した状態で
サンプルの反射損測定を行なう場合には、かなり正確な
反射量の測定を行なうことができるのであるが、サンプ
ル自体の形状等のばらつきにも拘わらずセット位置を正
確に設定しようとすれば、設定のための手間、時間が多
く必要となり、迅速な反９Ａｔｊ＝の測定を行なうこと
ができないという問題がある。
サンプルの反射損測定を行なう場合には、かなり正確な
反射量の測定を行なうことができるのであるが、サンプ
ル自体の形状等のばらつきにも拘わらずセット位置を正
確に設定しようとすれば、設定のための手間、時間が多
く必要となり、迅速な反９Ａｔｊ＝の測定を行なうこと
ができないという問題がある。
また、移動中のサンプルの測定を行なう場合には、セッ
ト位置設定のために特別の作業を行なうことは殆どでき
ず、しかも、移動中のサンプルが、光源、および受光部
に対して正確な相対位置関係になるように保持されてい
ることは殆ど期待することができないのであるから、正
確な反射量の測定を行なうことができないという問題が
ある。
ト位置設定のために特別の作業を行なうことは殆どでき
ず、しかも、移動中のサンプルが、光源、および受光部
に対して正確な相対位置関係になるように保持されてい
ることは殆ど期待することができないのであるから、正
確な反射量の測定を行なうことができないという問題が
ある。
〈発明の目的〉
この発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、
光源、および受光部に対する相対位置関係が変化しても
正確な反射量の測定を行なうことができる反射量測定装
置を提供することを目的としている。
光源、および受光部に対する相対位置関係が変化しても
正確な反射量の測定を行なうことができる反射量測定装
置を提供することを目的としている。
〈問題点を解決するための手段〉
上記の目的を達成するための、この発明の反射量測定装
置は、サンプル測定基準面に対して実質的に垂直な位置
に配設され、サンプル測定基準面の所定範囲を均一に照
射する光源と、光源、およびサンプル測定基準面を結ぶ
垂直な軸に対して対称に配設される一対の受光部と、一
対の受光部の出力を加算する加算手段とを具備するもの
である。
置は、サンプル測定基準面に対して実質的に垂直な位置
に配設され、サンプル測定基準面の所定範囲を均一に照
射する光源と、光源、およびサンプル測定基準面を結ぶ
垂直な軸に対して対称に配設される一対の受光部と、一
対の受光部の出力を加算する加算手段とを具備するもの
である。
但し、上記光源からの光が平行光であり、しかも受光部
が収束系であってもよい。
が収束系であってもよい。
く作用〉
上記の構成の反射量測定装置であれば、光源によりサン
プルの所定範囲を照射し、サンプルからの反射光を一対
の受光部により受光し、この一対の受光部の出力を加算
手段により加算することにより、サンプルの反射率、色
彩等に対応する測定出力を得ることができる。
プルの所定範囲を照射し、サンプルからの反射光を一対
の受光部により受光し、この一対の受光部の出力を加算
手段により加算することにより、サンプルの反射率、色
彩等に対応する測定出力を得ることができる。
ざらに詳細に説明すると、第２図に示すように、サンプ
ルがサンプル測定基準面に対して角度θだけ傾斜した場
合には、傾斜角度θに応じて、第４図から第６図中の実
線で示すように、一方の受光部の出力が変化する（相対
反射率Ｒ（θ） （θ＝Ｏの場合の反射率を１とした場
合の各角度θにおける反射率の比）に対応して変化する
）のであるが、他方の受光部に対してはサンプルが逆方
向に傾斜したことになるので、他方の受光部の出力は上
記受光部の出力とほぼ対称に変化する。したがって、両
受光部の出力を加算手段により加算すれば、サンプルの
セット位置をサンプル測定基準面に設定した場合の受光
部からの出力の２倍の測定出力を得ることができ、必要
に応じて２で除算すれば、正確な反射量の測定出力を得
ることができる。
ルがサンプル測定基準面に対して角度θだけ傾斜した場
合には、傾斜角度θに応じて、第４図から第６図中の実
線で示すように、一方の受光部の出力が変化する（相対
反射率Ｒ（θ） （θ＝Ｏの場合の反射率を１とした場
合の各角度θにおける反射率の比）に対応して変化する
）のであるが、他方の受光部に対してはサンプルが逆方
向に傾斜したことになるので、他方の受光部の出力は上
記受光部の出力とほぼ対称に変化する。したがって、両
受光部の出力を加算手段により加算すれば、サンプルの
セット位置をサンプル測定基準面に設定した場合の受光
部からの出力の２倍の測定出力を得ることができ、必要
に応じて２で除算すれば、正確な反射量の測定出力を得
ることができる。
〈実施例〉
以下、実施例を示す添付図面によって詳細に説明する。
第１図はこの発明の反射量測定装置を示す概略図であり
、水平なサンプル測定基準面（Ａ）に対して実質的に垂
直な位置に光源（１）が配設されているとともに、光源
（１）とサンプル測定基準面（Ａ）とを結ぶ垂直な軸（
Ｖ）を挟んだ対称位置に、等価的な一対の受光部（２）
（２］が配設されており、上記一対の受光部（２）（２
）に対して、その出力を電気的、または光学的に加算す
る加算手段（３）が接続されている。
、水平なサンプル測定基準面（Ａ）に対して実質的に垂
直な位置に光源（１）が配設されているとともに、光源
（１）とサンプル測定基準面（Ａ）とを結ぶ垂直な軸（
Ｖ）を挟んだ対称位置に、等価的な一対の受光部（２）
（２］が配設されており、上記一対の受光部（２）（２
）に対して、その出力を電気的、または光学的に加算す
る加算手段（３）が接続されている。
上記光源（１）の照射光は平行光であり、しかもサンプ
ル測定基準面（Ａ）の所定範囲（ａ）（基準照射面）を
均一に照射することができる。また、受光部（２）（２
）は、基準照射面からの反射光のみを受光すべくセット
されており、しかも反射光を収束させて受光する収束系
に構成されている。
ル測定基準面（Ａ）の所定範囲（ａ）（基準照射面）を
均一に照射することができる。また、受光部（２）（２
）は、基準照射面からの反射光のみを受光すべくセット
されており、しかも反射光を収束させて受光する収束系
に構成されている。
以上の構成であれば、光源（１）によりサンプル（Ｓ）
の所定範囲（ａ）を照射し、該範囲（ａ）からの反射光
を一対の受光部（２）（２）により受光し、一対の受光
部（２）（２）の出力を加算手段（３）により加算する
ことにより、サンプル（Ｓ）の反射率、色彩等に対応す
る測定出力を得ることができる。
の所定範囲（ａ）を照射し、該範囲（ａ）からの反射光
を一対の受光部（２）（２）により受光し、一対の受光
部（２）（２）の出力を加算手段（３）により加算する
ことにより、サンプル（Ｓ）の反射率、色彩等に対応す
る測定出力を得ることができる。
即ち、第２図に示すようにサンプル（Ｓ）がサンプル測
定基準面（Ａ）に対して角度θだけ傾斜すると、傾斜角
度θに応じて、一方の受光部（２）の出力が変化し、他
方の受光部（２）の出力は上記受光部（２）の出力とほ
ぼ対称に変化するので、両受光部（２）（２］の出力を
加算手段（３）により加算すれば、サンプル（Ｓ）のセ
ット位置をサンプル測定基準面（Ａ）に設定した場合の
受光部（２＋（２）からの出力の２倍の測定出力を得る
ことができ、必要に応じて２で除算すれば、正確な反射
量の測定出力を得ることができる。
定基準面（Ａ）に対して角度θだけ傾斜すると、傾斜角
度θに応じて、一方の受光部（２）の出力が変化し、他
方の受光部（２）の出力は上記受光部（２）の出力とほ
ぼ対称に変化するので、両受光部（２）（２］の出力を
加算手段（３）により加算すれば、サンプル（Ｓ）のセ
ット位置をサンプル測定基準面（Ａ）に設定した場合の
受光部（２＋（２）からの出力の２倍の測定出力を得る
ことができ、必要に応じて２で除算すれば、正確な反射
量の測定出力を得ることができる。
特に、光源（１）の照射光を平行光とし、かつ受光部（
２］ （２）を収束系としているので、サンプル（Ｓ）
の上下位置の変化に対する影響を排除することができる
。
２］ （２）を収束系としているので、サンプル（Ｓ）
の上下位置の変化に対する影響を排除することができる
。
なお、上記の構成の反射量測定装置は、種々の方向に傾
斜するサンプル（Ｓ）の測定に適用することができるが
、第２図に示したように、双方の受光部（２）（２）を
含む垂直平面と並列に傾斜するサンプル（Ｓ）の測定に
特に有効である。また、光？！！（１）に対して余り大
きくない角度θで対向する対称的な粗面、例えば微視的
な凸状斜面、凹状斜面、湾曲斜面等を有するサンプル（
Ｓ）（第３図（ａ）〜（ｄ）参照）についての反射量の
測定にも適用することができる。
斜するサンプル（Ｓ）の測定に適用することができるが
、第２図に示したように、双方の受光部（２）（２）を
含む垂直平面と並列に傾斜するサンプル（Ｓ）の測定に
特に有効である。また、光？！！（１）に対して余り大
きくない角度θで対向する対称的な粗面、例えば微視的
な凸状斜面、凹状斜面、湾曲斜面等を有するサンプル（
Ｓ）（第３図（ａ）〜（ｄ）参照）についての反射量の
測定にも適用することができる。
また、サンプル（Ｓ）の上下方向のセット位置が安定し
ている場合には、光源（１）を分散系で構成してもよく
、このほかこの発明の要旨を変更しない範囲で種々の設
計変更を施すことができる。
ている場合には、光源（１）を分散系で構成してもよく
、このほかこの発明の要旨を変更しない範囲で種々の設
計変更を施すことができる。
く試験例１〉
サンプルとして、複写紙（ゼロックス用紙Ｌ：富士ゼロ
ックス株式会社製）を使用し、サンプルの傾斜角度θを
、＋５°〜−５°の範囲で変化させた場合における反射
量を測定した。その測定結果を第４図に示す。
ックス株式会社製）を使用し、サンプルの傾斜角度θを
、＋５°〜−５°の範囲で変化させた場合における反射
量を測定した。その測定結果を第４図に示す。
但し、投光角はα＝Ｏ°、β＝ｏ’ 、ｒ＝ｏ”受光角
はα＝４５°、β＝４５°、γ＝Ｏ°に設定しである（
α、β、γについては、立体座標を示す第７図を参照）
。また、同図中において、各受光部の出力を実線で、両
受光部の加算出力を２で除算した値を破線で示している
。ざらに反射光は波長６００ｎｍで測定した。
はα＝４５°、β＝４５°、γ＝Ｏ°に設定しである（
α、β、γについては、立体座標を示す第７図を参照）
。また、同図中において、各受光部の出力を実線で、両
受光部の加算出力を２で除算した値を破線で示している
。ざらに反射光は波長６００ｎｍで測定した。
この結果から明らかなように、一方の受光部の相対反射
率Ｒ（θ）は、１．０７７８から０．９１３８までほぼ
直線的に変化している。ここに、他方の受光部の相対反
射率をＲ（−θ）とし、一方の受光部の出力と他方の受
光部の出力を加算して得られる相対反射率をＲとすると
、 Ｒ＝ （Ｒ（θ）十Ｒ（−〇））／２ であるから、例えばサンプルをθ＝５°に傾斜させた場
合には、 Ｒ＝ （１，０７７８＋０．９１３８ ＞ ／２＝ ０
．９９５８ となる。つまり、傾斜角度θ＝５°における測定誤差に
ついてみれば、受光部が１個の場合には７．８％（（１
，０７７８−１）Ｘ １００）であるのに対して、この
発明の測定装置によれば、０．４２％（（１−０，９９
５８）Ｘ １００）であり、誤差を１／１８．６に削減
できることが明らかである。
率Ｒ（θ）は、１．０７７８から０．９１３８までほぼ
直線的に変化している。ここに、他方の受光部の相対反
射率をＲ（−θ）とし、一方の受光部の出力と他方の受
光部の出力を加算して得られる相対反射率をＲとすると
、 Ｒ＝ （Ｒ（θ）十Ｒ（−〇））／２ であるから、例えばサンプルをθ＝５°に傾斜させた場
合には、 Ｒ＝ （１，０７７８＋０．９１３８ ＞ ／２＝ ０
．９９５８ となる。つまり、傾斜角度θ＝５°における測定誤差に
ついてみれば、受光部が１個の場合には７．８％（（１
，０７７８−１）Ｘ １００）であるのに対して、この
発明の測定装置によれば、０．４２％（（１−０，９９
５８）Ｘ １００）であり、誤差を１／１８．６に削減
できることが明らかである。
く試験例２〉
サンプルとして、タイル反射率標準板（ＧＡＳ−１：Ｇ
ＡＲＤＮＥＲ製）を使用し、サンプルの傾斜角度θを、
＋５°〜−５°の範囲で変化させた場合における反則量
を測定した。その測定結果を第５図に示す。
ＡＲＤＮＥＲ製）を使用し、サンプルの傾斜角度θを、
＋５°〜−５°の範囲で変化させた場合における反則量
を測定した。その測定結果を第５図に示す。
但し、投光角、受光角については、実施例１と同一条件
であり、反射光は波長６００ｎｍで測定した。
であり、反射光は波長６００ｎｍで測定した。
この結果から明らかなように、受光部の相対反射率Ｒ（
θ）、Ｒ（−〇）は、１．０３７８から０、９４２８ま
でほぼ直線的に変化している。ここに、傾斜角度θ＝５
°の場合、 Ｒ＝ （１，０３７８＋ ０．９４２８ ） ／２＝
０．９９０３ であり、傾斜角度θ＝５°における測定誤差が、受光部
が１個の場合には３．８％（（１，０３７８−１）Ｘ１
００）でおるのに対して、この発明の測定装置によれば
、０．９７％（（１−０，９９０３） Ｘ １００）で
あり、誤差を１／ ３．９に削減できることが明らかで
ある。
θ）、Ｒ（−〇）は、１．０３７８から０、９４２８ま
でほぼ直線的に変化している。ここに、傾斜角度θ＝５
°の場合、 Ｒ＝ （１，０３７８＋ ０．９４２８ ） ／２＝
０．９９０３ であり、傾斜角度θ＝５°における測定誤差が、受光部
が１個の場合には３．８％（（１，０３７８−１）Ｘ１
００）でおるのに対して、この発明の測定装置によれば
、０．９７％（（１−０，９９０３） Ｘ １００）で
あり、誤差を１／ ３．９に削減できることが明らかで
ある。
く試験例３〉
サンプルとして、色紙（５，５Ｙ９／６：日本色研色紙
製）を使用し、サンプルの傾斜角度θを＋５゜〜−５°
の範囲で変化させた場合における反射量を各波長別に測
定した。その測定結果を第６図に示す。
製）を使用し、サンプルの傾斜角度θを＋５゜〜−５°
の範囲で変化させた場合における反射量を各波長別に測
定した。その測定結果を第６図に示す。
但し、投光角、受光角については、実施例１と同一条件
であり、反射光は波長４００ｎｍ、５００ｎｍ、６００
ｎｍ 、 ７００ｎｍ 、 ８００ｎｍで測定した。ま
た、破線で示す加算出力については、波長６０００ｍの
場合である。
であり、反射光は波長４００ｎｍ、５００ｎｍ、６００
ｎｍ 、 ７００ｎｍ 、 ８００ｎｍで測定した。ま
た、破線で示す加算出力については、波長６０００ｍの
場合である。
この結果から明らかなように、波長６００ｎｍの場合に
おいては、受光部の相対反射率Ｒ（θ）、Ｒ（−θ）は
、１．０４７６から０．９３８８までほぼ直線的に変化
している。ここに、傾斜角度θ＝５°の場合、 Ｒ＝ （１，０４７６＋ ０．９３８８ ） ／２＝
０．９９３２ であり、傾斜角度θ＝５°における測定誤差が、受光部
が１個の場合には４．８％（（１，０４７６−１）Ｘ１
００）であるのに対して、この発明の測定装置によれば
、０．６８％（（１−０，９９３２Ｘ１００）であり、
誤差を１／ ７．１に削減できることが明らかである。
おいては、受光部の相対反射率Ｒ（θ）、Ｒ（−θ）は
、１．０４７６から０．９３８８までほぼ直線的に変化
している。ここに、傾斜角度θ＝５°の場合、 Ｒ＝ （１，０４７６＋ ０．９３８８ ） ／２＝
０．９９３２ であり、傾斜角度θ＝５°における測定誤差が、受光部
が１個の場合には４．８％（（１，０４７６−１）Ｘ１
００）であるのに対して、この発明の測定装置によれば
、０．６８％（（１−０，９９３２Ｘ１００）であり、
誤差を１／ ７．１に削減できることが明らかである。
ざらに、他の波長の場合においても、受光部の相対反射
率Ｒ（θ）、Ｒ（−〇）は、はぼ直線的に変化しており
、測定波長に拘らず測定誤差を大幅に削減できることが
推察される。
率Ｒ（θ）、Ｒ（−〇）は、はぼ直線的に変化しており
、測定波長に拘らず測定誤差を大幅に削減できることが
推察される。
〈発明の効果〉
以上のように、この発明の反射量測定装置によれば、光
源、および受光部に対するサンプルの相対位置関係が変
化しても正確な反＠量の測定を行なうことができるので
、サンプルをセットするための手間、時間を削減し、迅
速な反射量の測定を行なうことができるとともに、移動
中のサンプルの測定も容易かつ正確に行なうことができ
るという特有の効果を奏する。
源、および受光部に対するサンプルの相対位置関係が変
化しても正確な反＠量の測定を行なうことができるので
、サンプルをセットするための手間、時間を削減し、迅
速な反射量の測定を行なうことができるとともに、移動
中のサンプルの測定も容易かつ正確に行なうことができ
るという特有の効果を奏する。
第１図は反射量測定装置の概略図、
第２図はサンプルを傾けた場合を示す概略図、第３図は
測定面の要部拡大断面図、 第４図〜第６図はサンプル回転角度と相対反射率との関
係を示すグラフ図、 第７図は光源、および受光部の立体座標。 （１）・・・光源 （２）・・・受光部 （３
）・・・加算手段（Ａ）・・・サンプ゛ル測定基準面 （Ｓ）・・・サンプル 第４図 サンプル回転角度 第５図。 サンプル回転角度 第６図 サンプル回転角度
測定面の要部拡大断面図、 第４図〜第６図はサンプル回転角度と相対反射率との関
係を示すグラフ図、 第７図は光源、および受光部の立体座標。 （１）・・・光源 （２）・・・受光部 （３
）・・・加算手段（Ａ）・・・サンプ゛ル測定基準面 （Ｓ）・・・サンプル 第４図 サンプル回転角度 第５図。 サンプル回転角度 第６図 サンプル回転角度
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、サンプル測定基準面に対して実質的に 垂直な位置に配設され、サンプル測定基 準面の所定範囲を均一に照射する光源と、 光源、およびサンプル測定基準面を結ぶ 垂直な軸に対して対称に配設される一対 の受光部と、一対の受光部の出力を加算 する加算手段とを具備することを特徴と する反射量測定装置。 ２、光源からの光が平行光であり、しかも 受光部が収束系である上記特許請求の範 囲第１項記載の反射量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60237050A JPH0692934B2 (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 反射量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60237050A JPH0692934B2 (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 反射量測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6296848A true JPS6296848A (ja) | 1987-05-06 |
| JPH0692934B2 JPH0692934B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=17009664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60237050A Expired - Lifetime JPH0692934B2 (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 反射量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0692934B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04213663A (ja) * | 1990-08-03 | 1992-08-04 | Inax Corp | 薄板状建材の張付工法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4828290A (ja) * | 1971-08-12 | 1973-04-14 | ||
| JPS49120692A (ja) * | 1973-03-16 | 1974-11-18 | ||
| JPS5198583U (ja) * | 1975-02-05 | 1976-08-07 | ||
| JPS6073323A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Toshiba Corp | 光検出装置 |
-
1985
- 1985-10-23 JP JP60237050A patent/JPH0692934B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4828290A (ja) * | 1971-08-12 | 1973-04-14 | ||
| JPS49120692A (ja) * | 1973-03-16 | 1974-11-18 | ||
| JPS5198583U (ja) * | 1975-02-05 | 1976-08-07 | ||
| JPS6073323A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Toshiba Corp | 光検出装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04213663A (ja) * | 1990-08-03 | 1992-08-04 | Inax Corp | 薄板状建材の張付工法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0692934B2 (ja) | 1994-11-16 |
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