JPS6298355A - 写真印画現像条件管理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発１ｊ１は、写真焼付装置により焼付した印画紙を
現像する印画用現像機の現像条件管理方法に関する。

（従来の挟術） 写真焼付装置により適ｉ１Ｅな焼付条件で焼付された印
画紙は、各印画紙にヌ・３応した適１［な現像条件で現
像することにより始めて１ｌｌｉｉ真の優れた写真印画
となる。従って、適ＩＬな現像条件を常に得るように゛
１定し省・理を行う心象がある。

従来は、この現像条件の管理を以ド図面を参照して説明
するような方法で行っていた。

ユーザ側の印画用現像機で現像処理するためのコントロ
ールストリップス（これを現像したちのをυ、ド、被検
印画と称する）と、写真メーカ笠で１三確に管理された
現像条件ドで作製され、かつ、ユーザ側の印画用現像機
の現像条件を′ｒ１定するために用いられるリフアレン
スストリラプス（これを現像したものを以ド、）１（型
印画と称する）とを用いる。尚、これらコントロールス
トリップス及。

びリフアレンスストリラプスは写真メーカ笠においてｉ
Ｅ確に管理された焼付条件ドで焼付されている。

先ず、このコントロールストリップスをユーザ側の印画
用現像機で現像して被検印画８１を作製する。この作製
された被検印画８！及び基準印画８３は第２図に示した
ように各々８段階のステップ濃度をもったシアン（Ｃ）
、マゼンタ（Ｍ）　及びイエロ（Ｙ）の発色部７８．７
７及び７８と、ｒｓＴＡＩＮ」と記された未露光部７９
と、ｒＤ−ＭＡＸＪ　と記された最品濃爪部８０とを共
に有している。

この被検印画８１及び基準印画８３を用いる写真印画現
像条件の管理は、これら被検印画８１及び基準印画８３
の所定の個所の写真濃度をそれぞれ測定して、被検印画
８１の写３’４濃度がノ、（べ１１印画８３の写真濃度
に対して規格４ｒｌｔ以［二のズレが生じているか否か
を判Ａ！することにより行う０通常は、Ｃ，Ｍ及びＹ　
）ＩＱ、１７）ｆｆｉｌ１７６．７７　及ヒフ８（７）
　３　段１１　（低ＣＩＷ部）　７Ｅｔａ、７７ａ及び
７８ａと、５段１１（高濃度部）７６ｂ、？７ｂ及び７
８ｂと、未露光部７９との反射濃度を測定し、各ｃ１バ
において適正な現像が行えるように、各種の現像条件、
例えば現像液の温度及びｐ　Ｈ４ｆｔ、現像時間笠の条
件を管理する。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら従来は、１−述したような現像条件情理の
ため行うりｊ真印画笠の反射濃度の側止には専用の個別
の、’Ｘ７．’価な濃度計を用いて行っていた。

ところで、この発明の発明者は写真濃度のΔ１１定を、
特別の専用の高ｈｌｆｉな濃度、■を用いずに行う方法
を種々検討したところ、従来提案されたカラー写真焼付
装置（以Ｆ、巾に写真焼付装置と称する）を利用するこ
とによって、この装置の光源、イメージセンサ、露光制
御Ｊ１部１のノ、（本構成をそのまま共通に使用して写
真印画の反射ｃ１バを測定出来ることを発見した。

この’１４：焼付装置としては、例えばこの７１１１１
′ｉのｌｆｊ願人により提案され第３図（Ａ）に示すよ
うな写真焼イ・１装置がある。

第３図（Ａ）において、２１は写真焼付用の光源を、２
３は補正フィルタをそれぞれ示す。２５は写真焼付装置
のテーブルを示し、このテーブル２５は開口部２７と、
この開口部２７の周辺に設けた位置決め用ビン２９とを
ＪＬえている。

３１はネガフィルム載ｎ川のネガキャリアを示し１位置
決め用ビン２９を　合させるだめの（＆　ｉＩ′ｌ決め
用穴３３が形成されている。このネガキャリア３１は１
通常は写ｆ（焼イ・１の原画として用いるネガフィルム
のサイズに応じて数種類用意されていて、所望に応じて
テーブル２５にに若脱［１在に取り付け１１１米るよう
になっている。

又、このネガキャリア３１のＬ−１方、にはレンズユニ
ット３５と、ブラックシャッタ３７と、印画紙３９をセ
ットするイーゼルとが設けられている。又、レンズユニ
ット３５の近傍には、ネガキャリア３１に向けたイメー
ジセンサ４３を内蔵した画像情報検出装置４１が設けら
れている。さらに、このイメージセンサ４３の１ｉ？１
方にはネガフィルムの画像をイメージセンサ４３にに結
像するためのレンズ４５が設けられている。

ここで、イメージセンサ４３は例えば第３図（Ｂ）に示
すようなＣＣＤ　（Ｃｈａｒｇｅ　Ｃｏｕｐｌｅｄ　Ｄ
ｅｖｉｃｅ　）から成る面走査式の°０次元イメージセ
ンサであり、画像を光学的に撮像するｌｊ！像部４７と
、撮像部４７から転送されて来た電６；ｊを保持するた
めの保持部４９と、保持部４９で保持された電荷を出力
するための出力レジスタ５１とで構成されている。さら
に１図示せずもこの二次元イメージセンサの撮像部には
その各画ぶに対応してモザイクフィルタが密Ｉｉ貼イ・
１されていて、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）及びＢ（＋’ｆ）の
光を測光出来る。このイメージセンサ４３によれば画像
情報を画素１１ｆに分；ｌ；’ｌ　して検出出来るから
、従来のＬ　Ａ　Ｔ　Ｄ　（Ｌａ−ｒｇｅへｔｅａ　！
ｒａｎｓｍｉｔｔａｎｃｅ　Ｄｅｎｓｉｔｙ）　’１ｉ
ＷＪｅＩＪｌ”１ｌｌｌ光と比較して画面全体のｍ部に
わたって正確な測光が出来る。

又、画像検出装置４１にはイメージセンサを駆動して画
像情報を得るため第３図（Ｃ）に示すような処理回路５
３が１没けられている。５４は駆り１回路を示し、駆動
値すＳ、、Ｓ、及びＳｌを制御することにより撮像部４
７に結像された画像情報を光電変換し２出力レジスタ５
１からアナｄグの画像値１）Ｓｌとして直タク的に出力
出来る。この信号−Ｓ　、は所産のサンプリング周期で
サンプルホールド回路５５によりボールドされ、そのホ
ールト′ス〆１はＡ／Ｄ変換器５６でティジクル信すＳ
５に変換され、次に、対数変換回路５７に人力されて濃
度信号Ｓ６に変換される。この濃度信号−５６は−）込
１１ノ制御回路５８を介してメモリ５９にｉＩ：込まれ
る。尚、駆動回路５４により二次元イメージセンサを駆
動して画像情ｆυを　・定速度で＋ｂ”を取り、この速
度に１６シてメモリ５９の所定位Ｐｉに順番に濃度信４
５Ｓ６を１１；込むため。

γ動回路５４からは１１（速制御回路５８に読取り速度
４ｉ号Ｓｌが入力される。

又９処理回路５３は第４図に示す露光制御部６９に接続
されている。第４図において、６７は中央前頁処理装置
（以１−’、ＣＰＵと称する４１合もある）を示す。又
、６９は第　メモリを示し、適１１と思われる焼Ｈ５＋
ヂ１か記ｊＱされている。７１は第“、メモリを示し、
適ｊ１売光早を１：１算するための′グＪ°を焼イ・Ｉ
ズログラＩ・や焼＋１粂ヂ１の１・）さ換えが行なえる
プログラム等が格納されでいて、ヤーホー　ドア３０人
力に１心して各挿プロゲラｔ、がｌｌｆび出され’１ｊ
真焼１・１装置の作業内簀をνＪ換出来る。７５は出力
装置であり　例えばディスプレイ、文字プリンタ及びｉ
服ｒ段雰で構成されていて１例えば”Ｊ′、ＩＬ　ｃ度
１ｆ＋了をディスプレイや文字プリンタに出力１１１来
る。７３は＋−ポートであり、′す′３゛ｌ焼旧装・；
ν１の作業内冠の変更（モート切換）１゛す′真焼イ・
１榮ｆ１の変更、及び’／７真Ｃ瓜ｈｆｉ了を出力装ｙ
１に出力Ｊ−ること塚を指示出来る。

１、述したようなすＪ′工゛ｔ′焼（・Ｉ装置のネガキ
ャリア３１に、ネガフィル１、を・代置しで゛す゛頁焼
イ・１ゼ１業を開始する。光源２１から発しネガフィル
Ｌ、を透過した光はレンスユニント３５をｄり印画紙３
９に投影され、又、ネガフィルＬ、を透過した光の一部
は画像検出装置４１のレンズ４５によりイメージセンサ
４３１．にネガフィル１、の画像か結像される。この画
像は画素１＋７にかつＲ，Ｇ及びＢの先回に光電変換さ
れ続いて処３１１１回路５３によりｅ度信号（透ｉｌ！
Ｓｅ度）に変換される。この膿Ｉｆｆ信号は露光制御Ｊ
１１部６１の第一メモリ７１に格納された露光ｊＩｊ＋
ｊｌ算プロゲラｔ・に従ってｒ＝ｒ＋　頁処理され、ネ
ガフィルＩ・の濃度に１６じ各色につきそれぞれ適１１
；な露光ｊ１１が算出される。

ここで、今、印画紙３９を露光しているＲ、Ｇ及ＵＢの
春光の露光ｊ１１が、この算出された各光の適１１、露
光Ｉ１１に”Ｋ：　Ｌ　くなると、ＣＰｔＪ６７からの
信号に応じて適時容色の？＋Ｉｉ　ｉｆ−フィルタ２３
を、続いてブランクシャンク３７を光路中に１置人して
露光を終ｒする。このように、この゛す°工゛↓焼イ・
１装置によれば印画紙３９を１１．シいｙＩｉ尤Ｉ１１
で焼１１出来る。

ところで、すＪ′真焼イ・１装置のネガキャリア３１は
テーブル２５に；に、ｊ　ｔ、て７１′脱１゛１イ１の
構Ｗとなっている。そこでネカｔヤリアの代りに光案内
り段を設ければ、この光案内「没により＋１７真焼伺川
の、ｔｉ＋２１を光源２１とは反夕、ｊ側のテーブル面
に導き、写真印画の反Ｉｔ　ＣＩＤのＡ１１１定がｉｆ
能となる。

従って、この発明の目的は、従来のＨ＋、、：真焼旧装
♂１の光源と、受光器と、露光制御部とを用いて、簡易
に、かつ、１１゛硲に印画の反射濃度のＡｌｌ　：＋ｉ
ｒを１１って、この反射ｅ度にノ１（づいて印画用現像
機についての現像条件のＦｌｌ定を行うことが出来る　
Ｔｒ、’ｙ（印画現像条ヂ１！ｎ理方法を提供すること
にある。

（問題点を解決するためのｒＩＲ） この目的の達成を図るため、この発明によれば、被検印
画の反射濃度と、ノ、（べずｅ度とを比較して適１１：
な写１゛を印画現像条件を情理するに当り。

ネガフィルノー、の画像情報を画、もｈｊに分１１ｊシ
て検出するイメージセンサを珪える写３′４焼１１装置
を用い、 この′す゛真焼１・ｊ装；νｊに、この′す゛３’Ｊ焼
旧装置′；の光源からの光をネガフィルＩ、・Ｉｌｉ：
相゛１′１位２；を）犬んでこの光ごｉＩとは反、２ｉ
側にＩりいでネカフィルノ、・代置相当位；νｊを照ｌ
！ＩＩする光案内「没を取イ１け。

このネカフィルｔ、載置相当（）７置に萌述の被検印画
を載置して、この被検印内からの反！Ｈｅ　＋ａを＋ｉ
ｉｌ述のイメージセンサにより検出することを特徴とす
る。

この発明の実施に当り、ノ１（準濃度を基べれ印画の反
財濃度とし、この反射ｅ度は前述のネ刀フィルｌ−載置
相当位置にこの）、（準印画を載置して測定するのが好
適である。

この発明の実施に当り、）、（準ｅ度をＪｕｌ：　！２
　ｅ　Ｉ負とするのが好適である。

（作用） このような写真印画現像条件設定力法によれば、１貝焼
付のために通常用いている、光源と。

イメージセンサと、露光制御部との基本構成をそのまま
利用して印画の反射ｅｌｌＶをＡｌ１４’ｉＮし、その
反り（ｃ度情報に）、（づいて、写真印画現像条ヂ１の
利足及び管理を行うこ、とになる。

従って、別途にｃｌＬｔｔを川、へする必要がない。

ざらに、イメージセンサにより焼４・１面の反ｑ（濃度
を画素ｆ７ｊに分；ｆｉｌ　してＡＩＩＩ光出来るから
、焼伺面に複数の異なるＡ１１Ｉ定領域を設けても、各
領域の濃度を・度にかつそれぞれ独＼°ｆして１１１る
ことが出来る。

（実施例） 以ド１図面を参照して、この発明の実施例につき説明す
る。尚、これらの図はこの発明が理解用χる稈１バにａ
ｌｌｌＩ′！的に示しであるにすぎず、各構成成分のＮ
Ｊ’法、形状及び配置関係は図示に限定されるものでは
ない。又、これら図において回−の構成成分については
回　の符ｔ）を１・１して示す、又。

従来と回　の構成成分については回　の符号を＋１して
示す。

光案内１段の説明 先ず、第３図にノｉミした”Ｊ：　ＪＸ焼旧装♂Ｉに、
没けられた光源２１の光を、光５；ｔ　２　＋とは反夕
・ｌ側の受光器４１側に案内してネガフィルＬ、・装置
相当位置を照明するための光案内１１段を有した装置、
印画１１　足用キーヤリアと称する装置の構造につき説
明する。

第５図（Ａ）及び（Ｂ）は印画１ｕｌｌ定川ヤヤリア９
１の第　実施例を説明するための斜視図及び断面図であ
る。

両図において９３は台板を示し、この台板９３を例えば
、写真焼付装置で用いるネガキャリア３１の台板と回し
大きさで四角形状に形成する。

この台板９３には、第３図に示した写真焼付装置のテー
ブル２５に設けであるネガキャリア位置決め用ビン２９
に嵌合させてこの印画測定用キャリア９１をテーブル２
５にｆｆｉ　載するための、位置決め用穴３３が設けで
ある。

又１台板９３の中央部には写真印画（図示せず）笠を載
置するための領域９５（以ド、載置領域９５とする）を
、没ける。この・載置領域９５はネガキャリア３１のネ
ガフィルＬ、を載置する位置にほぼ対応する位置としで
ある。この載置領域９５の近傍に、例えばこの載置領域
８５を挾む相対向するイぜｔ置に　夕・１の光案内丁１
段９７を設ける。これら光案内ｒ段９７は台板９３の裏
面ｖ１ｑの光源２１（第３図谷間）からの光を載置領域
９５の斜め１−、方に導きそこから載置領域９５を照明
するように構成する。

又１台板８３の表面中央部には、′グ真印画を位置決め
固定するためのフレー１．９９をヒンジＬ段１０！を用
いて装ｒｉする。フレーム９９は側光領域を限定するマ
スクとして使用しても良い。

この場合１台板８３の光案内［１段９９を設ける位置に
四角形状の開１１部１０３を設ける。この間１１部１０
３は、台板８３の天面からの光の集光効率を高めるた゛
め、台板８３の表面から裏面に行くに従い開１１面Ｊｊ
’ｔが＋ｎｎ次人きくなるように構成する。

又、開口部１０３の周囲の台板９３の表面に、この間１
１部！０３をｍうように１反射箱＋０５を設ける。

この反り（箱１０５の内部には、台板９３の開！’部１
０３を経て人身１する光の光路１−でかつこの光を反射
させて載置「１域９５をその反ｌ（光で照ＩＪＩを開用
出来る位置に反■（面、例えば反射鏡＋０７を設け、さ
らに反身（箱１０５の壁には反射鏡１０７かもの反射光
が通過出来る照射窓１０８を設ける。

”Ｊｊ、頁現像条ヂ１憤理方法 以ド、この発明の写真現像粂ヂロ古理方法につき説明す
る。

先ず、従来と同様にコントロールストリップスを、ユー
ザで使用している印画用現像機により現像して被検印画
８１を作製する。さらに従来と同様に写真メーカ°９か
ら供給された現像済みノ、−へ＋１印画８３を川、低す
る。

続いて１例えばＣ，Ｍ及びＹの各色の低Ｃ爪部７６ａ、
？？ａ及び７８８′と、回じ〈高ｅ度１７８ｂ、？７ｂ
及び７８ｂと、未露光部７９に対応する部分を指定領域
部分だけｙＪり取り、それらを必要に応じて・枚の台紙
１−の所定の位♂１に貼４・１けて、第６図（Ａ）に示
すような、しつの領域を４ｉする被検印画８５を？’）
る６被検用画８１からの各領域の！、ＩＪ取り作業は、
例えばコントローストリンゲスに指定領域を示すカント
マークを設けておくことで、現像された被検印画８１の
指定領域部分を印画用現像機に＋１属している！、ＩＪ
断機構により１１動的にνＪ断することも出来る。又、
捺印機構により被検印画８１の裏面に識別のための捺印
も・行えるので１゛ｉ動的に切断しても谷濃度に対応す
る領域を間違いなく識別することが１１１来る。

１−述した被検印画８１のフォーマットは１１視チエツ
クに都合の艮いようにしたものである。始めから指定領
域部分が並ぶように作製される［１動δ１１定川フオー
マツトにしておけば、！／Ｊ取りＭ［合せ作業の必要は
なくなる。

方、第３図に示した写真焼イ・１装置のネ刀ヤヤリア３
１の代りに、印画ａｌｌｌ　夏用キャリア９１を写ｒ（
焼料装置の所定の位置に搭載する。第１図は印画Ａｌｌ
定川キ用リアを従来の写１′【焼イ・１装置に搭載した
状態を示す断面図である。

尚、搭載した印画−ＩＩＩ、５川キヤリア９１に対して
’＋７真焼イ１装置の゛１次元イメージセンサ４３は帛
に・定の位置関係となるから、イメージセンサ４３の各
画素は各画素が対向する印画４１１１定川キヤリア９１
の個別領域の濃度情報を常に検１ｋｌすることが出来る
。

従って、被検印画及び〕、（へｌｉ印画を印画Ａ一定川
用ャリア８１に載♂１する際一定位置に載置すれば、例
えば被検印画８５のＲｅ爪領領域ｅｌｒ！Ｌ情報は処理
回路５３のメモリ５９の所定（：ｆ置に常に格納するこ
とが出来る。このように特定パターンのＣ旧情ｆｌｌ！
を特定メモリ位置に格納出来るようにしておけば、写真
印画現像条件の管理のためのデータ処理が迅速に行える
。

従って、印画側＞ｊｌ用キャリア９１の所定の位置に例
えば先ず被検印画８５を載置する。この時、テーブル２
５０開１１部２７を通過していた光源２１からの光は台
板９３の開［１部１０３へ入射する部分の光のみが台板
９３の表ｖ１ηへ案内され、他の部分は台板９３により
遮断されることになる。この開”　Ｗ　Ｉ　０３に入っ
た光は、反射箱＋０５の内部を通り反ｑ（鏡１０７によ
り反射されて台板９３の先番（２１とは反対側の面に載
置された被検印画８５を斜め［一方から照射する。この
被検印画８５０反射光は、写真焼付時のネガフィル１、
の透過光の処理と同様に、画像栓用装置４Ｉのレンズ４
５により　゛１次元イメージセンサ４３の撮像部４７に
結像される。この際、゛０次元イメージセンサ４３は面
走査式のセンサであるから第５図（Ｃ）に示すように被
検印画８５の画面は多数の整列画素８７に分；Ｉ、１さ
れる。そして１画面全体の各画素８７１−を走査線りに
従って走査して各画；ドのＲ，Ｇ及びＢの光を側光出来
る。この際、第３図（Ｃ）に示した処理回路５３により
、被検印画８５の各画素のＲｌＧ及びＢの各反射儂旧情
＋Ｕはメモリ５９の所定の位置に占込１１ノ制御回路５
８を介して、Ｉ；込まれる。従って、各色のｆＦＣＩＤ
部７６Ｆ３．７？ａ、７８ａ、７８ｂ、？７ｂ及び７８
ｂと、未露光部７９とに夕、１応する領域のそれぞれの
測光を一１負に行うことが出来、さらに、それぞれの領
域から１１ｔたｅ旧情報はメモリ５９の所産の位置に格
納される。メモリ５９に格納された反射Ｃ旧情ｆ［Ｊは
、従来写ｆ【焼イ・１時の透過ｃ１バｆ〆１を出力した
と同様に、露光制御部のキーポーＦ’７３からの出力指
示に応じて出力装置７５例えば表示器笠に出力する。

続いて、被検印画８５の代りに、゛す゛真メーカ了から
供給されている）、（べ１１印ｐｌ＋１８３を被検印画
８５と同様に加にした）、（べ１１印画を印画測定用キ
ャリア９１の所定の（位置に載置し、〕１（へれ印画８
３の反射ｅ度を測定して、その反射濃度＋ｆ＋を出力す
る。

次に、被検印画８５のしつの７１域のそれぞれの反射ｃ
度イｆ１と）、’：　’ｌ”印画８３のしつの領域の反
ｑ（濃度（（１とをそれぞれ対ｌ心する領域ｆ＋ｊに比
較して、現像条件の良否の判定を行う。この結果、／、
（Ｑｎ印画８３の反射濃度イ（１に対して被検印画８５
の反射ｅ度イ白が規格イ１１内であれば、現在の現像条
件は適正な条件であると云える。

又、被検印画８５の各領域のＲ，Ｇ及びＢの何れかのｃ
爪イ〆（が規格イド１以ｌ−にすれていた場合は、現像
処理条件のなんらかのパラメータが異常であることがわ
かるから、適！、ＩＪな処置１例えば、写真メーカから
の「Ｉｎｒｉ　ｉｌ　５に従って現像液を交換するとか
、現像時間を変更するとかの現像条件の更新が心霊とな
る。

尚、写真焼土１装置の露光制御部６１の第′、メモリ７
！内にｆめ現像条ヂ１管理のためのプロゲラＬ、を１！
）込んでおいて、このプログラドに従って、反射濃度イ
ｆｔの比較等を「１動的に行うことも出来る。以ド、そ
の　例を説明する キーボード７３か、ら現像条件管理モードを指定する。

このｐ、ＣＰＵ８７を介して第ｔメモリ７１内の現像条
ヂ１管理プロゲラｔ、がスタートする。続いて、印画測
定用キャリアに被検印画８５を載置する。次にキーボー
ド７３よりＡ１１定開始信号を入力すると、この信号に
応し画像情報検出装置４１のイメージセンサ４３に結像
されている被検印画８５からの画像情報はイメージセン
サ４３で画Ｊ　８７　ｆｉＪに、かつ、Ｒ，Ｇ及びＢの
各光電に光電変換された後、処理回路５３で反射濃度（
１に変換される。この濃度イｆｉはメモリ５９の所定位
置に格納される０次に、）、（／（Ｉｉ　ｃＩｒ！Ｌヲ
）Ｋ　準印画８３ノ反射ｅ　Ｉｆｆ　４（ｉとするか、
又は、写ｊ°（メーカ笠から提示されている推奨濃度と
するかの指示をキーボード７３から人力する。推ンｃ１
バを／、Ｑ　’ｌｌｉ　濃度とする場合は、Ｙ・め第　
メモリに格納されている推１２濃度と、被検印画の反射
濃度とを用いて現像条ｆ１の良否閂足をする（　；、’
Ｆ　Ｉｎは後述する）。

又、基準濃度を基へ１１印画をｆｉｌｌｌ　ｄして得る
反射濃度４ｆｔとする場合は　被検印画８５と回様な操
作を行ってノ１（べｉ印画８３の反射ｅ度を４１１定し
て、）、（準印画８３の各色の各ｅ１バ部分の反射ｅ度
ｉｆｆをメモリ５９の所定位置に１げ１次に格納する。

次に、測定した反り（ｃ度イｆ１を活用するため出力モ
ードを決定する。ここでｅＩｆｆ　（ｒｉをそのまま出
力する場合は、メモリ５９から被検印画８５の濃度４（
ｊとノ、（べ１１印画８３の濃！バ１「１（又は第・メ
モリ６９内に格納されている推１２ｅ度値）とを厘１次
読出して、出力装置７５に出力する。

又、被検印画８５の濃度イｆ１と基型印画８３の濃度値
（又は推９！：ｅ度１ｆ（）とのＸ′を計算して、さら
に、その濃度差が規格値以内かどうかを比較する場合は
、先ず、ノ１（準印画８３と被検印画８５との同色の同
じ濃度部分（例えばＣの低ｅ度領域７６ａ）のｃ度イｆ
１をそれぞれメモリ５９から読み出し１両名の濃度差を
算出する。或は、被検印画８５のｅｌＰＬ値と第・メモ
リ６８内のｍｌ：！２儂Ｉｆｆ　イｆ：との儂１ハ差を
算出する。

続いて、このｅｌｌｌ差と、Ｙ・め第一メモリ６８に格
納されたｅ度差の規格ｆｉｆ’ｔとの比較を各色各濃１
バ部分につき順次行い、規格値以１．の濃度差が生した
場合は出力（（ｉにその旨を示す印字を付加して出力す
る。

尚、被検印画と同様に〕、（べｉ印画８３も同　＋ｉｉ
「１ｉ　Ｉ：に載置し、イメージセンサ４３により）、
（べＩ：印画及び被検印画の反射ｃ１バを同時に検出し
、画素８７　％のｉｅ　１ｍ　４ぽ１をメモリ５９の所
定位置に格納することも出来る。

尚、写真焼料装置に設けられているイメージセンサ４３
は一次元のＣＣＵイメージセンサに限定されるものでは
なく、ＭＯＳ　（Ｍｅｔａｌ　０ｘｉｄｅ　Ｓｅｍ１ｃ
。

ｎｄｕｄｔｏｒ　）の−次元イメージセンサ笠でも良い
。

又、ＣＣＤ又はＭＯＳ笠で構成したラインセンサを用い
、このラインセンサと写真印画等とを相ｔ、を的に移動
させて一次元の読取りを行っても良い。

光案内ｒ一段の他の実施例 第７図（Ａ）及び（Ｂ）はこの発明に用いた印画測定用
キャリアの第゛、実施例を説明するための３１視図及び
・部分を省略して示した側面図である。

この場合、光案内１段９７を光ファイバ東ＩＩ＋で構成
し、・数置領域９５の近傍の相対向する一ケ所に設けた
ものである。各々の光ファイバ東１１１は、台板８３を
貫通して設けてあり、その・端は領域９５に対向して他
の・端は光源２１に対向して設ける。

さらに、この光ファイバ東１１１の光源２１に対向させ
た・端を斜にν」断することにより光源２Ｉに対する光
ファイバ東Ｉ１１の断＋（＋百Ｊ１を人さくして、集光
効率を’ｊｌ、’７’、めるようにしである（第７図（
Ｂ））。

第８図はこの発明に用いた印画ａｌｌｔ川キャ用アの第
二実施例を説１１するための斜視図である。

この場合、光案内ｒ１３）１３７を、台板９３を貫通し
て設けた光ファイバ東１１１　と、この光ファイバ東１
目の写真印画と対向する・端に１没けた例えば光゛７：
レンズから成る集光ｒｌ、１１１３とで構成したもので
ある。尚、この光ファイバ東ＩＩ＋の集光ｒ段＋１３の
、没けてない・端を光＆ｊ２＋に対向して１没ける。

この光案内１段９７の構造によれば、光源２１の光は、
光ファイノへ東１１１により導かれた後、集光ｒ。

１９１＋３により絞られて収束光となって印画を！にＩ
Ｊする。

尚、７ｊＳ−及び第三実施例ノ（に台板９３には、位置
決め用穴３３と、ヒンジ「段！０１を介してフレート９
８とが第・実施例と同様に設けである。

又、これらの印画測定用キャリアの写真焼付装置への取
付は及び使用方法は第・実施例と同様に行なうことが出
来る。

１−述した印画ｆｌ＋１定川キャリアの各実施例で述べ
た、台板９３に設ける光案内り段９７の数及びその位置
は、これらの実施例に限定されるものではな（、’Ｉｆ
、真印画の大きさ及び’＋７頁印両全！にｉ射する光の
心象光晴に応じて変更することが出来る。

尚、ｌ述した実施例では光案内１段をネガキャリア３１
と交換して用いる印画ＡＩＩＩ定用キャリア９１とした
。しかし、この発明はこれに限定されるものではなく１
例えば台板９３の大きさを、ネガキャリア３Ｉのロワー
マスク（図示せず）と同じ大きさとしてもＬ（〈、この
場合は、写３°（焼イ・１装置からロワーマスクを取外
して、そ、の位置に印画測定用キャリアをロワーマスク
の代りに載置することでこの実施例と同様な効果がｆ’
Ｊられる。

又、光案内１段は、光源の光をネガフィルム載置相当位
置を挟んで光源とは反対側に導き、ネガフィルム載置相
当位置をイメージセンサ側から照明出来るよう構成した
光案内１段であれば良い。

さらに、画像情報検出装置の位置及び画像情報読取り方
法は実施例に限定されるものではなく。

例えば写真焼４−ｊ川レンズの光軸１−に配置されたハ
ーフミラ−を介し、Ｒ，Ｇ及びＢを各色毎に独ガしたイ
メージセンサで検出しても良い。

（発明の効果） に述した説明からも明らかなように、この発明の写真印
画現像条件管理方法によれば、写真焼付装置のネガキャ
リアを、光案内［段を有した印画４１１″）Ｊｌ川用ャ
リアと交換して用いて、ｌ＋、：真焼料装置の光源の光
をこの光Ｅ１とは反夕、１側の印画ｌ１ｌｌ定川午ヤリ
アｌ―に・載置された写真印画に導き、この写）（印画
からの反１１１）Ｊ　ｅ　ｌバをり写真焼付装置の光源
と、イメージセンサと、内光制御部とをそのまま利用し
て４１４足し１定出来るから、その反射濃度にノ、（づ
き′グ頁印画現像条件の管理が行える。

又、光案内１０段を４ｉする印画♂情定用ｔヤリアは、
”ｆ　ｒ（焼イ・１装置のネガキャリアを取りはずした
位置に筒中に着脱出来るため、容易に、′す°頁焼付装
置を簡易反ｑ（濃度計として切換えて利用出来る。

これがため、別途にｅ　度、ｉ＋を購入して川、へする
心霊がない。

又、イメージセンサにより写真印画の反射濃度を画、Ｘ
、Ｈに分：１Ｊシて検出出来るから、′す′真印画の画
面仝休の細部にわたってｉｎ確な反射濃度の測定が行゛
える。さらに、　・画面内に異なる複数の測光領域を設
けても、　・度のＡｌ１定で複数の領域のそれぞれの濃
度を検出することがｌｔｉ来るから、測定時間をｙυく
することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の写真印画現像条件管理方法の説明に
供する線図、 第２図は写真印画現Ｈ＋ｆ１管理のために用いるコント
ロールストリンゲスの平面図、 第３図（Ａ）〜（Ｃ）この発明の写真印画現像条件管理
方法の説明に供する線図。 第４図は露光；１ｊ制御部ブロンク図、第５図（Ａ）及
び（Ｂ）は光案内１１段をイｉする印画測定用キャリア
の第パ支施例を示す斜視図及び断面図、 第６図（Ａ）及び（Ｂ）はこの発明の写頁印画現像条件
管理方法の説１！１に供する線図、第７図（Ａ）及びＣ
Ｂ）は印画測定用キャリアの第一実施例を説明するため
の斜視図及び安部側面図、 第８図は印画測定用キャリアの７ＦＳＥ実施例を説明す
るための斜視図である。 ２１・・・光源、　　　　　　　３１・・・ネガキャリ
ア４１・・・受尤湯、　　　　　　４３・・・イメージ
センサ４５・・・レンズ、　　　　　　５３・・・処理
回路６１・・・露光制Ｗ部、　　８１．８５・・・被検
印画８３・・・）５　／Ｆ！印画、　　　　８７・・・
画素３１・・・印画４１１定川ヤヤリア ９５・・・印画載置領域、　　９７・・・光案内Ｐ段。 特許出願人　　冨ト写頁フィルム株式会社代理人　処理
［人　垣　　孝　　′ ２ｆ・光、Ｊ、　　　　　　　　５３　’幻理団吟ｌ／
　：　　ａ（ｉｎ’！Ｑ　市ンＸ装置　　　　　６ｆ　
：　　６１　％り律ｐ音ｐｄ３４メーシ゛てン”ｔ　　
　　　　（／（：　印、シン貫”１走用ヘヤリア４５シ
ンス゛　　　　　　　　　’／７＝光掌内十繰８１゛板
不家ｆ：Ｔｒ五 ごのイ６θ月め写ＩＪ８→千条司牛叙定はシム４節町図
第１図 Δ 未ｅｔ　シｅ＋ｐ　　コＫＬ　二！、、？ＹＰ第２図 ′！ＩＬ失たイ寸去装置の官堂朗図 第３図 ４７°撮傳部 ｔｑ　：　４１碕（Ｐ ５１　　ガ力レジスタ ５ｆ−３Ｊ：！ＩＡ勤イ育号 Ｓ４　：　画イ城【イ言　１（ この４トロ目り吉愛明ｔ；イ契す３季零図二の？月の盲
に９用ニイ笑夕ｌ帛図 ｑｆ　：　ＥＴ画Ａ１足甲そマリア 會り虱慶を乙用キリアの半−実垢イ月め乙で明の第５図 ８５叡矛貧卯山　　　γ；工案 ／／／　　光ファイバ束

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検印画の反射濃度と、基準濃度とを比較して適
   正な写真印画現像条件を管理するに当り、ネガフィルム
   の画像情報を画素毎に分割して検出するイメージセンサ
   を具える写真焼付装置を用い、 該写真焼付装置に、該写真焼付装置の光源からの光をネ
   ガフィルム載置相当位置を挟んで該光源とは反対側に導
   いてネガフィルム載置相当位置を照明する光案内手段を
   取付け、 該ネガフィルム載置相当位置に前記被検印画を載置して
   該被検印画からの反射濃度を前記イメージセンサにより
   検出することを特徴とする写真印画現像条件管理方法。
2. （２）基準濃度を基準印画の反射濃度とし、該反射濃度
   は前記ネガフィルム載置相当位置に該基準印画を載置し
   て測定することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
   の写真印画現像条件管理方法。
3. （３）基準濃度を推奨濃度とすることを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載の写真印画現像条件管理方法。