JPS629842B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は測量器械に関し、特に角度測定に使用
する符号化円板の偏心誤差を補正する機能を具え
た測量器械に関する。 タキオメータは、角度および距離を測定できる
測量器械であり、セオドライトおよび距離測定装
置に代わる多項目の測定万能な測量器械である。
先ず器械を整準し、ジンバルで水平にされた望遠
鏡で遠方の目標を光学的に指準し、しかる後一度
指準された観測されるべき角度を測定すると共に
本器械と前記目標との間の距離を測定する。この
ような角度の測定は、バーニア技術によつて行え
るし、あるいは後の章のセオドライトにて更に詳
述されるより改良されたデジタル符号化技術によ
つて行われる。従来のタキオメータの主な欠点
は、小さく、軽量且つ高精度なものを得ることが
できなかつた。 本発明の一実施例は正弦波信号を補間（換算変
更）する方法により、角度および２軸レベルアン
グルを移相量信号として符号化している。また、
距離測定部は距離を移相量信号として符号化し、
それにより角度および距離測定値の両方が位相検
出器および累算器によつて復号化されるようにな
つている。プロセツサおよびキーボードにより所
望の測定シーケンスおよび計算が行える。この場
合、２軸レベルセンサによつて検出されるオフレ
ベル状態の補正は勿論のこと、気象補正、球差補
正、光速変化補正が行われる。 以下図面を用いて本発明を詳述する。 3.1 装置構成 第１図は本発明の一実施例による測量器械とし
てのタキオメータの斜視図である。図において、
タキオメータは三脚１０上に装着されており、そ
して整準ねじ１５によつて整準される。これを扱
うには先ず副望遠鏡２０を介して測標（キユーブ
リフレクタ）をみた後、主望遠鏡２５の接眼鏡３
０を介して前記測標を観測する。垂直バーニヤね
じ３５および水平バーニヤねじ４０にてバーニヤ
が形成され、そして垂直ロツクねじ４５および水
平ロツクねじ５０によつて位置的な固定が図られ
る。本器械を動作させるには、副キーボード５５
中の電源スイツチをオンとし、そして主キーボー
ド６０によつて所望の測定シーケンスを選択す
る。そして、測定結果は表示器６５に表示され
る。 第２図は、第１図に示したタキオメータの電気
的なブロツク図である。第１図および第２図を参
照する。距離測定部７５は変調された光ビームを
光軸に沿つてキユーブリフレクタに伝達し、そし
て該リフレクタは前記ビームを反射して器械に戻
す。ここで送信ビームと受信ビームとの間の位相
差は、リフレクタと器械との間の距離に比例して
いる。この位相差は位相検出器８０および累算器
８５によつて測定される。水平角および垂直角は
セオドライト部９０によつて測定される。両角度
はそれぞれ移相量に符号化され、そして前記位相
検出器８０および累算器８５によつて測定され
る。入出力部９５が接続されているプロセツサ１
００によつて、論理フラグは判定され、測定シー
ケンスが制御される。キーボード５５，６０とプ
ロセツサ１００とによつて制御信号が発生され、
そして該プロセツサ１００によつて各種測定シー
ケンスおよび処理計算が選択される。出力は表示
器６５にて表示される。 3.2 キーボード 第３図は、第１図に示したタキオメータのキー
ボードおよび表示器の正面図である。両図におい
て、タキオメータには２つのキーボード６０，５
５および２つの表示器６５，６６がある。副キー
ボード５５は、フイート（FT）又はメートル
（ｍ）に変換された距離および度（DEG）又はグ
ラド（GRAD）に変換された角度の出力表示を選
択するためのスイツチを具えている。“COMP”
スイツチは、２軸レベルセンサによつて検出され
るオフレベル状態に対する距離および角度のプロ
セツサ補正を選択的に行うのに利用される。なお
これについては“3.4レベルセンサ”にて後述す
る。 空気中の温度および圧力の気象変化に基因して
該空気中における光の屈折率は変化し、そのため
光速が変化する。そこで本器械には前記光速の補
正のために100万分の１の補正ができるように
“PPM”ポテンシヨメータのダイヤルが、副キー
ボード５５の下段列にある。また、この
“PPM”ダイヤルの他に主望遠鏡２５の十字線照
明用のスイツチがある。 PPMポテンシヨメータは、第１７図にて後述
する気象補正用の単安定マルチバイブレータ４５
５に接続されている。 再び第２図および第３図において、“DIR”キ
ー（＃６）は、セオドライト部９０における水平
角θに関連して主望遠鏡２５の角度を測るのに利
用される。もし副キーボード５５にあるCOMPス
イツチが付勢されれば、プロセツサ１００により
レベルを越す場合の補償が行われる。“RD”キー
（＃９）は、現在の読みから最後のDIR読みを減
ずることによつて相対的な方向を測定する。これ
により基準点を照準し、DIRキーを押し、そして
第２点を照準し、RDキーを押すとその間におけ
る水平角が求まる。＃７キーにより、DIRキーの
機能と同様な方法で垂直角φが求まる。COMPス
イツチがオンのとき、またオフレベル状態におけ
る垂直測定の補正がなされる。＃３キーにより、
斜距離が測定できる。距離測定部７５は、３変調
周波数の信号を順次制御して発生する。これら周
波数における出力は、論理的に結合されて表示器
６５にフイート又はメートルのいずれかで出力表
示される。＃４キーによつて投影距離が測定され
る。このように本タキオメータでは、斜距離、垂
直角φ、そしてCOMPスイツチがオンならレベル
アングルが測定でき、更に投影距離が計算でき
る。＃５キーは高低差キーである。このキーによ
り、投影距離と同様なシーケンスが形成されて高
低差が計算される。投影距離キーおよび高低差キ
ーにより地球の湾曲および屈折による補正が行わ
れる。この補正は、例えば離れた測点間で重力ベ
クトルが並行ではないから必要となる。トラツク
キー“TRK”は数字キーのすべてにトラツクモ
ードを指示し、連続的且つ周期的な読みが可能と
なる。例えばTRKキー、次いで＃３キーを押す
ことにより、タキオメータは１秒に約１回斜距離
を測定するので、ゆつくり移動する測標が追跡で
きる。＃２キーにより、同時に両方のレベル角度
が秒あるいは10000分の１グラツドのいずれかの
単位で測定でき、該両測定値は３桁数値で表示器
６５に表示される。このフアンクシヨンにて追跡
する間器械を極めて簡単に整準できるか、あるい
は追跡によつて該器械の変動があつてもある限度
内で測定にさし支えなく、そしてタキオメータが
オフレベル状に対して内部的に補正することが可
能である。＃１キーにより、第１７図にて後述す
るAGC単安定マルチバイブレータ４５０から得
られる信号強度（受光感度の％値）が表示され
る。また、副キーボード５５のPPMダイヤルに
て設定されている気象補正値も表示される。所望
の補正値を得るには、PPMダイヤルを調整する
と共にこのフアンクシヨンをトラツキングする。
＃８キーによりセルフテストが行われる。タキオ
メータは１セツトの内部フアンクシヨンにて自己
診断し、そしてその試験が完全に満足されるなら
ば表示器６５，６６に全て８が表示される。
＃１、２、３、４、５、６、７、および９キーに
よる基本フアンクシヨンは、最終測定値がストア
されるメモリとなつている記憶位置を有してい
る。＃４キーを押すことによりレベルアングル、
斜距離および垂直角の測定値に基づき投影距離お
よび高低差を計算する。リコールキー“RCL”
に次いで＃２、３、５あるいは７キーを押すこと
により、投影距離の測定に利用される個々の測定
値が呼び出される。出力キー“OUT”は、周辺
機器に出力データを供給するのに使用される。例
えばカルキユレータなどの周辺機器は、第１図に
示す出力端子７０に接続すればよい。 表示器６５はその右側に２つの指示ライトを具
えている。DISTライトは光信号が距離測定部７
５に帰還しているならばオンとなり、それにより
距離測定が行われていることが示される。受信さ
れる信号が強すぎるならば、前記ライトはオフと
なりリフレクタに抵抗キヤツプを装着する必要が
あることを示す。レベルセンサのレンジリミツト
をはずれていればレベルライト（LVL）は点滅
し、そして該レンジ内であれば連続的に点灯す
る。そのためこのライトはパイロツト光としても
働く。１桁の表示器６６によつて動作しているフ
アンクシヨンのキー数値が示され、そのため表示
器６５によつて示されているデータの内容が指示
される。 3.3 セオドライト部 第２図に示したセオドライト部９０のフアンク
シヨンは、タキオメータの基準面に対して主望遠
鏡２５の垂直角φおよび水平角θを測る。このセ
オドライトは小さいサイズで、高精度で且つデジ
タル電子回路と共動することのできることが望ま
しい。従来のセオドライトとしては、米国特許第
3541572号に紹介されているものがある。本タキ
オメータのセオドライト部９０は２つの角度符号
化器を具えており、その１つは水平角用で他方は
垂直角用でありこれは２軸レベルセンサと組み合
わさつている。このセンサによつて重力方向で定
まるレベルの基準面が正確に確定し、その結果垂
直および水平軸の角度符号化器から得られる垂直
および水平軸の測定値を重力面に投影できる。２
つの角度符号化器は構成上同一である。それぞれ
の符号化器は透明板（符号化円板）であり、該板
上には光学的に不透明な金属被膜で構成される複
数個のトラツクが形成される。そしてこれらトラ
ツクはあらかじめ定まつた光学的な符号特性を有
している。 第４図は第１図に示したタキオメータの角度符
号化器に使用されている符号化円板の説明図であ
る。同図ａは符号化円板１１５の平面図、ｂは断
面図、ｃおよびｄはスリツトの形状説明図であ
る。図において、符号化円板１１５上には、デジ
タルトラツク１２０、正弦状トラツク１２５およ
びラジアルスリツトトラツク１３０の３つの形式
によるトラツクがある。円板１１５はガラス基板
１３１にエツチングによる金属被膜のトラツクが
形成されており、そしてその中心には金属ハブ１
３３が装着されている。なお図中、空白部は不透
明な金属で黒色部は透明である。ラジアルスリツ
トトラツク１３０は4096本のバーパターン、該パ
ターンに等しい幅のスペースで形成され、そして
その長さは３mmである。正弦状トラツク１２５
は、幅が正弦状に変化している透明なトラツクで
ある。そのパターンは直径44mmの周上に128回繰
り返されている。８つのデジタルトラツクはグレ
イコードに従つている。 第５図は第４図に示した符号化円板１１５の光
学系の配置図である。同図ａはデジタルトラツク
１２０、ｂは正弦状トラツク１２５、ｃはラジア
ルスリツトトラツク１３０のそれぞれに対する光
学系を示す。図において、光は符号化円板１１５
の片面側で発生せられ、該円板１１５上の円形状
トラツクを介して伝達され、そして該円板１１５
の反対面側にて検出される。デジタルトラツク１
２０を介して伝達される光の検出により、測定さ
れるべき角度の粗測定値が得られる。この値に正
弦状トラツク１２５およびラジアルスリツトトラ
ツク１３０を介して検出される値を論理結合する
ことにより、この角度測定値は２つの状態間で補
間されて、10^-1秒より小さい分解度で最終角度が
求まる。 符号化円板１１５の８つのデジタルトラツク１
２０には、従来のセオドライトで周知のグレイコ
ードが利用されている。このコードは、情報の１
ビツトにつき１個のみの転移が存在する。第５図
ａにてフオトトランジスタ群１３５として示され
ている８個のフオトトランジスタにより、直接８
ビツトのグレイコードが発生される。前記コード
は従来のデジタルプロセツサと直接にインターフ
エースされ、約1.4゜の分解度で角度が求められ
る。 正弦状トラツク１２５は、幅が正弦波状に変化
している128個の透明なトラツクである。第５図
ｂに示す光検出器１４０は、以下に述べるように
正弦状トラツク１２５上に周期に応じて１つのチ
ツプ上で90゜間隔で離れた４つの矩形状の光検出
ダイオードで構成されている。 第６図は、第５図ｂに示した光検出器１４０と
正弦状トラツク１２５との関係を示す説明図であ
る。光検出器１４０の４つのダイオードアレーの
使用により、オフセツトおよび利得誤差を除去す
る差動比較法の利用が可能となる。 第７図は、第６図に示した光検出器１４０のダ
イオードによつて受信される角度の関数としての
光強度のグラフである。上述した８トラツクのデ
ジタルシステムに従つて補間（換算変更）される
べき128トラツクの正弦波パターンの周期が決ま
る。測定されるべき換算変更角φ_１は、光検出器
１４０における４個のダイオード検出器Ｄ１〜Ｄ
４によつて検出される照射量に関係し、その関係
式は次のとおりである。 I₁＝I₀＋sinφ_１ I₂＝I₀＋sin（φ_１＋π/2）＝I₀＋cosφ_１ I₃＝I₀＋sin（φ_１−π）＝I₀−sinφ_１ I₄＝I₀＋sin（φ_１＋３π/2）＝I₀−cosφ_１ 第８図は正弦状トラツク復号器の回路図であ
る。図において、復号器１６０の光検出器１４０
における第１および第３ダイオードからの出力I₁
およびI₃、更に該検出器１４０における第２およ
び第４ダイオードからの出力I₂およびI₄は、それ
ぞれ増幅器１４５および１５０において差動計算
される。その間の関係式は、次のとおりである。 I₁−I₃＝2sinφ_１ I₂−I₄＝2cosφ_１ 第５図ｂに示した正弦状トラツク用の光源１５
５はsinωｔに比例した信号で変調され、そのた
め増幅器１４５および１５０からの２つの信号出
力はそれぞれ次式で示される。 Asinφ_１・sinωｔ Acosφ_１・sinωｔ 第９Ａ図および第９Ｂ図は第２図に示したセオ
ドライト部９０の詳細ブロツク図である。図にお
いて、正弦状トラツク復号器１６０（第８図参
照）はセオドライト部９０内にて内包されてい
る。正弦状トラツク復号器１６０からの第１出力
信号はコンデンサ１６５に導入されている。コン
デンサ１６５は信号に90゜の移相を生ぜしめる。
正弦状トラツク復号器１６０からの第２信号出力
は抵抗器１７０に導入されている。この抵抗器１
７０はコンデンサ１６５のインピーダンスと整合
しているが、移相は生ぜしめない。これら２つの
信号は共通接続点１７５で加算される。移相およ
び加算による出力信号は、Asin（ωｔ＋φ_１）
に比例する。正弦状トラツク用の光源１５５の出
力光を変調している信号（sinωｔ）と共通接続
点１７５における信号（sin（ωｔ＋φ_１））との
間の位相差は、そのため所望の補間（換算変更）
角φ_１に正比例している。正弦状トラツク用の光
源１５５の駆動変調は375Hzの矩形波である。矩
形波信号は高次高調波を発生するので、２つの帯
域通過形の増幅器１８０および１８５によつて不
用な高調波を抑制しそして所望の基本周波数のみ
を残す。そのため増幅器１８５の出力は測定され
るべき角変位に比例した量だけ移相された正弦波
であり、そのピーク・ピーク電圧は約2Vであ
る。抵抗器１７０、コンデンサ１６５および帯域
通過形の増幅器１８０，１８５は、セオドライト
部９０における各種復号化器アセンブリ間で時分
割されている。 第４図に示したラジアルスリツトトラツク１３
０により角度測定と偏心量の測定とが行なわれ
る。その方法は、正弦状トラツク１２５の復号化
に利用されるために述べたと同様であり、円形ト
ラツクは4096本のバーとスリツトとを具え且つ光
検出器１９０が使用される。光検出器１９０は４
個のフオトダイオードより成り、そしてそれらの
上には正弦状マスクが配置される。 第１０図は、第５図Ｃに示したラジアルスリツ
トトラツク１３０の検出器を示す図である。図に
おいて、各検出ダイオードは13周期の正弦波形状
をしたマスクを有し、その出力の振幅は13周期に
亘つて平均化される。13周期に亘つてパターンの
不完全さを平均化してしまうので、感度のバラツ
キが減じられそして精度が増す。ダイオードマス
クは、１つのバーとスペースの周期に対応して90
゜ずつずらして配置されている。ダイオード素子
Ｄ１〜Ｄ４は、ラジアルスリツトトラツク１３０
に応じて位相的に90゜のオフセツトがある。正弦
状オーバーレイマスクに対する同様な検出器が正
弦状トラツク１２５に対しても使用されている。 再度第９Ａ，Ｂ図および第２図を参照する。ラ
ジアルスリツトトラツク復号化器１９５および２
００はラジアルスリツトトラツク１３０上に180
゜離して配置され、そしてその２つの出力の平均
値はトラツク１３０上の実際の位相角を示す。両
復号化器１９５，２００からの両出力間の差はま
た、以下に述べるように、偏心誤差を補正するた
めにも使用される。 第９Ｂ図に示す水平角度符号化器２０５は、上
述した垂直角度符号化器２１０と同一動作であ
る。従つて対応するブロツクおよび素子には同一
番号を付している。 再び第９Ａ図において、プロセツサ１００は光
源選択器２１２を制御して光源が順次付勢され
て、それに対応するトラツクの復号化器が動作さ
れる。パルスドライバ２１３によつて駆動される
光源１３４からの光に応じて、フオトトランジス
タ群１３５からグレイコードに基く信号が出力さ
れる。この出力信号はデータラインＣ１〜Ｃ８に
より、プロセツサ１００の入出力回路に直接導入
される。正弦状トラツク復号化器１６０およびラ
ジアルスリツトトラツク復号化器１９５，２００
からの出力信号は、時分割多重化によつて位相検
出器８０に供給される。 第１１図はグレイコード、正弦状トラツク情報
およびラジアルスリツトトラツク情報を組み合せ
るアルゴリズムである。第１１図および第９Ａ，
Ｂ図において、先ずデジタルグレイコードが読み
取られて二進化十進数（BCD）に変換される。
２つのラジアルスリツト出力が読み取られ、平均
化されそして偏心量が計算される。次に正弦状ト
ラツク情報が読み取られ、上述の如く検出された
偏心量に関して補正がなされる。そして平均化さ
れたラジアルスリツト復号信号と補正された正弦
状トラツク復号信号とを組み合せて補間（換算変
更）角を得る。そしてBCDと補間（換算変更）
角とを組み合せることにより、１／10秒よりもよ
い分解度で角度を正確に決定する。 帯域通過形の増幅器１８０および１８５は、あ
る固有の移相量を有しており、該移相量は、時間
および温度によつて変る関数である。この移相量
は、基準測定サイクルの間に基準増幅器１８３を
介して375Hzの方形波を直接に生ぜしめることに
よつて測定される。補正量はプロセツサによつて
次の測定に供給される。 偏心誤差は、軸上の符号化円板の誤構成、ベア
リングクリアランスおよび該符号化円板上のアー
トワークの誤差によつて生じうる。本発明につい
て偏心効果は、0.025mmのオーダーであり、ここ
で外側トラツクは１周期に0.075mmだけである。
正弦状トラツクによる換算変更における0.025mm
の不確定さは、ラジアルスリツトトラツク上での
適当な周期を誤つて選択することになるので、正
弦波トラツク検出には偏心効果に対する補正が必
要である。ラジアルスリツトトラツクの高分解度
によつて、この偏心効果の測定がなされる。偏心
は、２つのラジアルスリツトトラツクの測定値間
の差をとることによつて測定される。もし偏心が
なければ両測定値は正確に180゜離れている。 第１２図は偏心誤差測定の説明図である。図示
するように偏心誤差があれば、符号化円板１１５
の真の中心は検出器の中心軸から距離ｄだけ離れ
て位置し、そしてラジアルスリツトトラツクの測
定値は正確に180゜離れていないが、180゜よりだ
いたい２αだけ小さい角度にて位置する。第１２
図において、符号化円板１１５の中心から正弦波
トラツク検出器１４０を通つて半径方向に直線を
外挿すると、補間されるべきラジアルスリツトト
ラツク１３０の周期の決定に対して誤差を発生す
る。正弦波トラツク検出器１４０の角度偏移は約
２αである。したがつて、検出器１４０の測定値
を２αだけ補正すれば、正弦波トラツク上に別の
第２光検出器を設けることなしに、偏心誤差の補
正をなしうる。なお、この場合、３個の光検出
器、即ちラジアルスリツトトラツクに対し２個、
正弦波トラツクに対し１個の光検出器を直線状に
配置することが必要である。偏心に対する計算、
補正はすべてマイクロプロセツサにより行なわ
れ、デジタルトラツク１２０にて検出された信号
と結合され、正しい角度が求められる。 3.4 レベルセンサ 第９Ｂ図に示したレベルセンサ２１５のフアン
クシヨンは、重力的に決定されるレベルに対する
器械の方位角を測ることであり、それにより垂直
および水平軸の符号化器２０５および２１０によ
つて検出された垂直および水平角は重力の基準面
に投影され得る。２軸レベルセンサによつて真の
レベルが決まる度に垂直および水平角を補正する
ための数学的手段は、球体幾何の直接的な応用で
ある。なお、これについては、1964年にケミカ
ル・ラバー社から発行されたケミカル・ラバーカ
ンパニーの標準数学表における第14章の『リレー
シヨンズ・イン・エニー・スフエリカル・トライ
アングル』の部分にも詳述されている。本発明に
詳述したとおり、セオドライトによつて測定され
る垂直および水平角を補正するためにレベルセン
サを使用し、該セオドライトはレベルをはずれた
状態に対して自己補正する。 従来のセオドライトはそれ自体の正確な整準に
依存しており、従来の整準はバルブ又は振子法で
あり、これについては例えば米国特許第3617131
号に詳述されている。本発明は光ビームを視準す
るのにレンズを用いており、該光ビームは水銀溜
から反射されそして検出器アセンブリに集束され
る。前記水銀溜の重力的に定まる面に従つて検出
器アセンブリ上に光源像を結ぶことにより、２軸
上の重力基準からセオドライトアセンブリの角度
位置が測定できる。 第１３図は、第９Ｂ図に示したセオドライト部
のレベルセンサ２１５の光学的配置を示す図であ
る。図において、光源２２０からの光はレンズ２
２５を介して伝達され且つレンズ２３０によつて
視準される像を発生する。視準された光源像は、
重力的に基準面を生ぜしめる水銀溜２３６から反
射される。反射された像はレンズ２３０およびレ
ンズ２２５を介して伝達され、そして検出器２３
５上に集束される。ここで、前記検出器２３５は
レンズシステムの対称軸に沿つて光源２２０と対
称に配置されている。レンズ２２５のフアンクシ
ヨンは器械の大きさを小さくするためである。位
置測定法はシヤフト角度符号化器について説明し
たと同様である。 第１４図は第１３図の検出器２３５と光源２２
０との構成を示す図である。図において、検出器
２３５と光源２２０は単一の板上に形成されてい
る。光源２２０は３つのパターンを有している。
これらのうち２つはアセンブリのレベルを決定す
るために直角な軸構成となつている。１つはガン
マ軸パターン２４０であり、他はベータ軸パター
ン２４５である。第３のパターン２５０は正方形
パターンであり、その検出能力の限界内にレベル
センサがあるかどうかを決定するのに利用され
る。本レベル検出器の検出能力は真のレベルから
約±３分の範囲である。これらの検出器は、光源
２２０の光源パターンに関連して約３mmの放射状
にてレンズアセンブリの中心軸から対称的に配置
してある。フオトトランジスタ２５５は、レベル
センサがレンジ限界内であれば信号を出力せしめ
る。ベータ軸およびガンマ軸の両検出器２６０お
よび２６５は、複数の信号を出力し、該信号によ
り真の重力ベクトルのベータおよびガンマ角度位
置が前に詳述した角度符号化技術により決定され
得る。 再度第９Ｂ図を参照する。プロセツサは選択器
２６７を制御し、復号化器２７０又は２７５によ
つて復号されるベータ又はガンマ軸のいずれかの
測定値を選択する。フオトトランジスタ２５５
は、レベルセンサがその限界内にあればフラグ
LVSFLGに信号を出力する。もしベータ又はガ
ンマ測定値が必要ならば、375Hz矩形波の駆動信
号が適当な光源パターンを発生する。光源に供給
され、そしてベータ又はガンマ復号化器が付勢さ
れる。出力は水平角度符号化器２０５および垂直
角度符号化器２１０から出力線路に多重化され、
そして抵抗器１７０、コンデンサ１６５、および
帯域通過形増幅器１８０，１８５を介して位相検
出器８０に伝送される。 第１３図の水銀溜２３６は、レベルおよび高反
射率の基準面を形成するように設計されている。
低粘度の温度係数（VTC）を有する透明なシリ
コンオイル２３９の層は振動を抑制する。水銀お
よびオイル溜上の被膜ガラス窓２３７により、ガ
ラス面と溜との間に存在するいかなる空気泡をも
除去する。ふた２４３により、溜の熱膨張および
収縮が可能となる。前記被膜ガラス窓２３７は非
被膜ガラスの〜0.4％に比して〜1.0％と低い反射
率であり、精度を悪くする奇生反射を押さえる。 3.5 距離測定部 本発明の距離測定部７５（第２図参照）には、
周知の位相比較技術が使用されており、該技術に
ついては実公昭52−34999「電気光学的距離計」
およびヒユーレツト・パツカード・ジヤーナルの
1976年４月号にも詳述されている。この距離測定
部には、トランジスタ、局部発振器、光学系平衡
およびビーム中断回路および受信機が含まれてい
る。 第１５図は第２図に示した距離測定部７５の詳
細ブロツク図である。図においてトランスミツタ
２８０には、15MHzの水晶発振器２８５および
それに接続された一連の分周器が含まれており、
15MHz、375MHz、3.75KHzおよび375Hzの基準
周波数信号が発生される。375Hzは、正弦状トラ
ツク１２５の光源１５５およびセオドライト部９
０におけるラジアルスリツトトラツク１３０の光
源２２０を駆動するのに使用される。３つの高い
周波数のうちの１つは、プロセツサに接続されて
いる周波数選択回路２９０へのL5、L6制御信号
に基づき該プロセツサによつて選択される。選択
された変調周波数信号は、ガリウムヒ素のレーザ
ーダイオード３００の出力光を変調するためにレ
ーザー制御回路２９５に入力されている。レーザ
ーダイオード３００は２つの方向でビームを発生
する。１つのビームはトランスミツタ２８０から
チヨツパ３１０に送り出され、他方のビームはダ
イオードセンサ３０５によつて検出される。ここ
で該センサ３０５はレーザーの動作電力レベルを
制御するための帰還制御ループを形成している。
外部および内部パスに沿つてビームを交互に送る
チヨツパ３１０を介して出力ビームが発生され
る。外部パスにより、キユーブコーナ３１５にビ
ームが送られそして反射され、しかる後選択され
た赤外線信号のみを通過させる干渉フイルタ３２
０を介して受信機３２５に送られる。内部パスに
より、可変減衰器３３０を介して受信機３２５に
ビームが送られる。受信機３２５の受信ダイオー
ド３３５はフオトアバランシエダイオードであ
る。受信ダイオード３３５の利得は、該ダイオー
ドに供給される逆バイアス電圧の関数で与えられ
る。 第１６図は前記受信ダイオード３３５の伝達特
性である。受信ダイオード３３５は、低い逆バイ
アス電圧にて約１の利得を有する。バイアス電圧
を増大せしめると、ダイオードがブレークダウン
となる前に利得が約1000となる。受信ダイオード
３３５はここで３つの機能を発揮する。先ず第１
に、赤外線ビームを復調している。第２に、局部
発振器３４０によつて発生される局部発振信号に
受信信号を混合する。第３に、導入信号を約75回
についての平均信号を増幅する。局部発振周波数
信号は局部発振器３４０から導入され、そして受
信ダイオード３３５からの出力が絶えず3.75KHz
単一となるように選択される。レーザーがトラン
スミツタ２８０によつて15MHzで変調されると
き、局部発振器３４０は15MHzレーザー変調よ
りも3.75KHz高い周波数で駆動される。レーザー
が375KHzで変調されるとき、局部発振器３４０
にレーザー変調よりも3.75KHz高い周波数で再び
駆動される。レーザーが3.75KHzで駆動されると
き、受信ダイオード３３５から3.75KHz出力が発
生される。 局部発振器３４０は、２つの位相ロツクループ
によつて２つの必要とされる局部発振周波数信号
を発生する。第１の位相ロツクループは電圧制御
形発振器３４５を含み、該発振器３４５は
15MHz基準よりも3.75KHz高い周波数で発振す
るように制御される。電圧制御形発振器３４５か
らの出力は混合器３５０によりトランスミツタ２
８０からの15MHz基準信号と混合され、そして
その差の周波数の信号が位相検出器３５５におい
て、トランスミツタ２８０からの3.75KHz周波数
信号と比較される。位相検出器３５５の出力は低
域波器３５６によつて波されて、電圧制御形
発振器３４５に入力されて所定の周波数で正確に
該電圧制御形発振器３４５の出力をロツクする。
第２の位相ロツクループは、375KHzより
3.75KHz高い周波数にてロツクされるべき電圧制
御形発振器３６０を含む。これは、101：１分周
器３６５によつて電圧制御形発振器３６０の出力
を分周することによつて行われる。この分周周波
数は、位相検出器３７０においてトランスミツタ
２８０からの3.75KHz信号にロツクされる。位相
検出器３７０の出力は低域波器３７１によつて
波されて、電圧制御形発振器３６０を制御す
る。そのため電圧制御形発振器３６０の出力は、
3.75KHz基準の101倍の周波数にロツクされる。
局部発振周波数選択器３７２はプロセツサによつ
て制御されて、15MHz＋3.75KHzの周波数信号
あるいは375KHz＋3.75KHzの周波数信号のいず
れかを、受信機３２５の局部発振駆動器３７５に
供給する。受信ダイオード３３５の3.75KHz出力
信号は低雑音増幅器３８０を通過し、低域通過形
波器３８５にて波されて自動利得制御形増幅
器３８７に導入される。ここで増幅器３８７は、
受信機回路の出力電圧がセオドライト部７５から
の出力であるように約2Vp−ｐに絶えずなるよう
にする。２つの狭帯域増幅器３９０および３９５
により、3.75KHz単一周波数のみが受信機３２５
から出力されるようになる。 低雑音増幅器３８０の出力信号のピーク値は、
２つの比較器３８１および３８３によつてサンプ
ルされる。例えば器械の直前にキユーブレフレク
タ３１５を置いた場合のようにオーバーロード信
号が検出されれば、比較器３８１により受信ダイ
オード３３５における直前バイアスを減らし、そ
れにより最小利得を約20に減らす。もし減衰され
た受信機利得にもかかわらずオーバーロードがま
だ存在するならば、比較器３８３がGOODFLG
を禁止する。これにより表示器６５のDISTラン
プを消灯して、ビームパスに減衰が必要であるこ
とを示す。 プロセツサは距離測定値、サンプル値を受信
し、サンプル値を平均化して、該サンプル平均値
から分散値を計算する。もし分散値が限度内であ
れば、プロセツサはサンプル平均値を表示する。
また限度内でなければプロセツサはもつと多くの
サンプルを必要とする。もし最低周波数における
160サンプルの後、分散値がいまだに限度外であ
ればその読みは阻止され、そして表示は零が点滅
する。同一の試験が中間および高い周波数のサン
プルでなされるが、高周波のサンプルは320サン
プルが分散の限度内に入るようになされる。 レーザー制御回路２９５は第１５Ｂ図に更に詳
しく示されている。 3.6 平衡およびビーム遮断回路 第１５Ｃ図および第１５Ｄ図は、第１５図に示
したチヨツパ３１０および、平衡およびビーム遮
断回路６００の詳細回路図である。これらの図を
参照するに、平衡およびビーム遮断回路６００は
内部ビームの強度、データの累計を制御し、そし
て間接的に自動利得制御を制御する。受信機３２
５からの出力信号は第１５Ａ図に示されている。
包絡線検出器６０５は、第１５Ａ図に示されるよ
うな受信機出力の最大振幅（包絡線）を測る。ゲ
ート６１０が動作しているとき内部ビーム平衡回
路が付勢される。同期検出器６１５は、ビームス
イツチングに同期される時点で包絡線検出器６０
５の出力をサンプルする。次いで検出器６０５に
応じてメータ６２０が駆動されるように内部およ
び外部ビームの包絡線を平均化すべく可変減衰器
３３０が調整される。 限界値検出器６２５は、内部および外部ビーム
が所定限度値内にあるか否かを決定する。限度外
状態の検出により、信号は論理回路６３０に伝達
される。論理回路６３０はゲート６１０を制御し
（“GOODFLG”）、そしてプロセツサに相互作用
して以下のとおりAGCDISQフラグを制御する。 ビーム遮断には３つの形式がある。第１は、速
い車がビームを瞬間的に遮断するような“速い”
ビーム遮断、第２は牛がビーム中においてゆつく
り草をはむような“永い”ビーム遮断、そして第
３は霧がゆつくりと外部ビームを減衰させるよう
な”ゆるやかな”ビーム遮断である。“速い”ビ
ーム遮断の場合において、外部ビームはその限界
値をはずれ、そして“GOODFLG”により測定
回数を無視するようにプロセツサに信号を供給し
て駆動する。しかしながら“永い”ビーム遮断の
場合において平衡が保持され、内部ビームがその
限度内にて中心となるようにAGCが調整され
る。ビーム遮断が終了するとき外部ビームは再び
限度内に納まり、そして“GOODFLG”により
プロセツサが測定を開始するように駆動される。
“ゆるやかな”ビーム遮断の場合において、平衡
回路は内部および外部ビーム強度を平均化でき
る。内部ビーム限界値は外部ビームよりも小さい
許容誤差であつて、ビーム遮断が続行されて信号
を減衰し続ければ内部ビームはトリガされる。こ
れによりAGC利得の補正が行われて測定が再開
される。プロセツサが10秒間に“GOODFLG”
を受信（3IFトラツキング）しなければ、本器械
はスタンバイモードになる。これにより、レーザ
ー３００において10％のレーザーデユーテイサイ
クルとなり、電力およびレーザーのライフタイム
が維持される。内部および外部ビーム上の異なる
限界値、内部および外部ビームの連続的な平衡動
作、“永い”ビーム遮断間の平衡保持およびAGC
更新、および“遅い”ビーム遮断のAGC更新に
より、改良された測定およびトラツキング能力が
具わる。 第１５Ｃ，Ｄ図において、内部あるいは外部ビ
ームが現実にプロセスされているかどうかが10Hz
信号によつて示され、また限界値検出器６２５に
よつてそれに応じて適当なレンジが選択されるよ
うになつている。 3.7 位相検出器 セオドライト部９０および距離測定部７５につ
いて説明したとおり、角度情報および距離測定情
報の両方が周期信号で移相量として符号化され
る。 第１７図は第２図に示した位相検出器８０のブ
ロツク図である。図示する位相検出器８０は、特
公昭57−19395「光波測距儀」にも詳述されてい
る。セオドライト部９０からの差動入力がリミツ
タ４００に入力されて、基準信号と比較するため
の矩形波が形成される。距離測定部７５から受信
される出力は零交差形検出器である低オフセツト
増幅器４０５に入力され、そして該増幅器４０５
はリミツタ４１０に接続されている。リミツタ４
１０で適当な基準信号と比較するための矩形波を
発生する。フアンクシヨン選択器４１５がプロセ
ツサによつて制御されて、距離測定部７５あるい
はセオドライト部９０からのいずれかの入力を選
択する。この同一な制御信号はまたフアンクシヨ
ン選択器４２０を制御し、距離測定のための
3.75KHz矩形波あるいは角度測定のための375Hz
矩形波のいずれかを適切な基準周波数として選択
する。フアンクシヨン選択器４１５からの信号は
一致位相検出器４２５に供給されて、検出された
位相角が360゜に近似しているか否か決定され
る。レベルセンサの角度確定のみならず360゜移
相に極めて近い動作により測定回数が増すにつれ
て誤差が大きくなるので、距離確定にも多くの入
力信号の平均化が必要となる。例えばその場合、
ORゲート４３０からプロセツサに対する信号を
累算器８５（第２図参照）に発生し、そして180
゜移相量がモジユール４３５に基準信号を生じ、
それにより平均化誤差が生じない。180゜移相量
が必要か否かの判定に続いて、選択器４１５から
の入力信号およびフアンクシヨン選択器４２０か
らの基準信号は位相検出器４４０に入力される。
ここで検出器４４０は単なるセツト・リセツト・
フリツプフロツプである。これにより累算器８５
のゲートは、入力および基準の両信号間の位相差
に比例した時間、高レベルに保持される。計数論
理回路４４５はなされた位相測定回路を計数し、
距離測定のとき第100回目の位相測定の検出信号
あるいは角度測定のとき第１位相測定の検出信号
をプロセツサ１００に出力せしめる。また、
AGC用の単安定マルチバイブレータ４５０およ
び気象補正用の単安定マルチバイブレータ４５５
もORゲート４３０の入力に接続されている。こ
れらは単純なアナログ／デジタル変換器として働
く。これらの単安定マルチバイブレータはそれら
に供給された電圧に関連してパルスを発生し、そ
してプロセツサ１００とのインターフエースが効
果的になされるようになつている。４つの測定値
のうちのいずれがORゲート４３０に入力される
べきかの選択がプロセツサからのＬ制御信号によ
つて制御される。ORゲート４３０への入力の２
つ以上が同時に動作することはない。 3.8 プロセツサおよび表示器 第１８図は、第２図に示したタキオメータのプ
ロセツサ１００および両表示器６５，６６の詳細
ブロツク図である。図に示すプロセツサ１００お
よび両表示器６５，６６はヒユーレツト・パツカ
ード社製携帯用計算機HP35およびHP80に利用さ
れているのと基本的に動作が同じである。またこ
れらについては、特開昭49−76443「ビジネス用
カルキユレータ」にも詳述されている。制御およ
びタイミングチツプ“Ｃ／Ｔ”４６０は７×５ラ
インマトリクスによつてキーボード６０に接続さ
れている。本器械においては、35個のキーフアン
クシヨンが可能であるが、両キーボードのそれぞ
れの合計24個である。４個のリードオンリーメモ
リ（ROM）４６５はＣ／Ｔチツプ４６０に並列
に接続されている。２つのカソードドライバ４６
７が表示器６５，６６を駆動するのに利用されて
いる。読み出力選択器４７０により、カソードド
ライバ４６７のいずれが動作中であるかを決定す
る。２つの演算レジスタ回路４７５および４８０
の一方で表示器の読出しを行い、他方により計算
を実行する。これにより本器械はその計算が可能
となり、それと同時に表示が維持される。データ
ストレージチツプ５９５は、一時的なストレージ
および半永久的な計算のための10個のレジスタを
具備している。これにより、“RECALL”フアン
クシヨンに従つて“3.2キーボード”の章で述べ
たとおり動作する。２つのレジスタがスクラツチ
レジスタとして利用されている。レジスタ１およ
び６はダイレクトインプツトによつてのみ更新さ
れる。残りの６レジスタはそれぞれの表示器で消
去される。一般的にレジスタは次の表１に示され
るようにキーストローク数字に関連している。 表 １ レジスタ 内 容 ０ スクラツチ １ SIG／PPM ２ レベル読み出し(2) ３ 斜距離 ４ 投影水平距離 ５ 投影垂直距離 ６ 方位角（水平角） ７ 天頂角（垂直角） ８ スクラツチ ９ 方向角 プロセツサ１００のシステム構成およびＣ／Ｔ
チツプ回路４６０、ROM４６５、演算レジスタ
回路４７５および４８０、クロツクドライバ４８
５、アノードドライバ４９０、カソードドライバ
４６７の詳細、およびキーボード６０、両表示器
６５，６６、プロセツサ１００用の命令セツトの
付随的説明は、前述特開昭49−76443に述べてあ
るのと同様である。４つのROM４６５にプログ
ラムされているプログラムシーケンスによつて、
キーボード入力および他の機器入力に応じて器械
の動作が制御される。これらのシーケンスのリス
テイングとプロセツサ命令のより詳しい説明は
「3.11詳細シーケンス」の章にある。 3.9 累算器および入出力部 第１９Ａ図および第１９Ｂ図に示した累算器８
５および入出力部９５の詳細ブロツク図である。
図において入出力部９５は本タキオメータにおけ
る全体のデータの拠点である。この入出力部９５
によりプロセツサ１００と測定部との間の接続が
なされる。この入出力部９５は特開昭49−89454
「アダプタブルカルキユレータ」にも詳述されて
いる。入出力部９５は基本的に３つのフアンクシ
ヨンを形成している。入出力部９５は累算器８５
からのデータを導入し、Ｌ制御信号およびＴ制御
信号により本器械を制御し、そして“フラグ”信
号により該器械の状態を判定する。 上述したとおり、基本測定は位相検出器８０に
よつて時間パルスの形式で出力される。この出力
はバツフアゲート４９５に印加されて15MHzク
ロツクをゲートする。位相検出器８０からの時間
パルスの持続時間に比例した多くのクロツクパル
スは、累算器８５によつて測定される。時間パル
スがターミネートするとき、BCD数は累算器８
５の５桁計数器にストアされる。入出力部９５は
８入力信号のみ受信できるので、累算器出力はマ
ルチプレクサ５００を介して入出力部９５に多重
化されて、先ず８つの下位桁ビツトを読み、そし
て上位桁が順次入出力部９５に読み出される。イ
ンターフエース回路５０５が、タキオメータ回路
のCMOS論理を入出力部９５のインターフエース
のT²L論理に適用せんがために必要である。いま
入出力部９５はＣ／Ｔ回路４６０および演算レジ
スタ回路４７５に接続されて計算およびシーケン
ス制御を行つている。これによりデータがキーボ
ード６０によるプロセツサ制御に加えてプロセツ
サおよび演算レジスタチツプを介して電気的に入
力される。 器械制御は９つのＬ制御信号によつて行われ
る。これらの制御信号のフアンクシヨンを表２に
示す。 表 ２ L1〜４ セオドライト測定、角度あるいは距離
選択の選択のために復号器５１０を制
御し、そして角度およびレベルに対す
るPROM初期定数を選択する。 L5〜６ トランスミツタ周波数選択および距離
に対するPROM初期定数を選択する。 L7 周辺および表示制御ライン選択器。 L8 レベルリミツト指示器。 L9 距離測定に対するPROM付勢。 L1〜４制御信号は４―10ラインの復号器５１
０を介してセオドライト部９０に８つのセレクト
ラインを制御して角度又は距離フアンクシヨンを
選択する。距離測定部７５における局部発振セレ
クタおよび周波数選択器は別な２つのＬ制御信号
によつて制御される。 SCE信号に共用された３つのST制御信号によ
り、１つの命令サイクル時間より短いパルスが発
生される。これらは短い制御又は判定のために用
いられる。例えば、セオドライト部９０の垂直軸
符号化器２１０におけるデジタルトラツクの光源
１３４は、ガリウムヒ素光源を介して電流パルス
のためのコンデンサの短い放電のみ必要とする。
制御マルチプレクサ５１５，５１７および５１９
はＴ制御信号を多重化する。マルチプレクサセレ
クタ５２３はM1〜５制御信号によつて制御マル
チプレクサ５１５〜５１９の１つを付勢する。こ
れにより、多くのＴ制御信号が機能を発揮する。
表３にＴ制御信号のフアンクシヨンを示す。 表 ３ グループ＃１ PCENQ 位相一致検出器選択器 PDENQ 位相検出器選択器 AGCDISQ ACG無能化 TGRP2Q グループ２の選択 PDEN 位相検出器および位相一致検出器の付
勢 ACUD 累算器のカウントアツプ又はダウン グループ＃２ RPSQ 位相検出器への基準移相量 TGRP1Q グループ１の選択 ACCPRST 累算器のプリセツト（PROMか
ら） VDSEN 垂直デジタルセンサの付勢 HDSEN 水平デジタルセンサの付勢 ACCINH 累算器のより高位桁ビツトの読み ACCINL 累算器のより低位桁ビツトの読み ECOSEN 環境用の単安定マルチバイブレー
タの付勢 RSOSEN AGC用の単安定マルチバイブレー
タ グループ＃３ DIS1EN 表示器１の付勢 DIS2EN 表示器２の付勢 PERIN 周辺入力 PERLD 周辺負荷 PERCK 周辺クロツク SELFTEST セルフテストの実行 入出力部９５と器械との最終通信はフラグ信号
によつて行われる。フラグ信号の例は、セオドラ
イト部９０におけるレベルセンサ部２１５からの
レンジセンサ信号LVSFLGである。入出力部９
５は、一時に１つのフラグ信号のみを判定する能
力を有している。制御マルチプレクサ５２０は、
各種フラグ信号を入出力部９５のフラグ入力に多
重化する。表４にフラグ入力を示す。 表 ４ フラグ EXTFLG チヨツパ同期フラグ OVFLO 累算器オーバーフロー ACCRDYFLG 測定完了（プロセツサへの読
み込み） GOODFLG 検出されるビームの遮断なし LVSFLG レンジ内のレベルセンサ DEGGRAD 副制御板から FTMTR 副制御板から PROM５２５により距離および角度測定のため
のオフセツト定数を提供する。器械が一度構成さ
れると、オフセツトはPROM５２０に測定されて
プログラムされる。これらにより距離あるいは角
度測定に先んじてデケードカウンタに自動的にプ
リセツトされる。 プロセツサは、表示とある状態ビツトとの和の
内容のデジタル出力を発生することができる。こ
の出力は、出力キーを押すことによつて手動的に
付勢されるか、又はTRK＋OUTPUT＋KEY1、
２、３、４、５、６、７、８あるいは９のキーシ
ーケンスを押すことによつて自動的に付勢され
る。手動的に行う場合、各測定がなされた後１つ
の読みが出力される。出力は５ワイヤのインター
フエースを介して形成される。２つのフラグライ
ン、グランドライン、クロツクラインおよびデー
タラインがある。データは、56ビツトのシリアル
ストリームにおける14BCDデジツトで成る。 3.10 光学系 第２０図、第２１図は、第１５図に示した距離
測定部７５の送受部および主望遠鏡の光学部のそ
れぞれを示す関係図である。両図において、レー
ザー３００から発生された光ビームはレンズ５３
０によつて集束される。チヨツパ３１０は内部お
よび外部ビームを交互に断続化して、両ビームの
１つのみが一時に受信ダイオード３３５に到達す
る。両ビームはプリズム５４５によつて基準ビー
ムおよび送信ビームに分割される。基準ビームは
基準ミラー５４０に対向しているレンズ５３５に
よつて集束された後ビーム減衰器５３６を介して
該ミラー５４０によつて反射される。反射された
光ビームは前記レンズ５３５によつて再集束され
た後、プリズム５４５の背面から反射され、そし
て受信ダイオード３３５に対向しているレンズ５
５０によつて集束される。チヨツパ３１０からの
送信ビームもプリズム５４５の前面から反射され
る。この送信ビームは集束され、そして前記集束
された受信ビームと平行となる。しかる後前記送
信ビームはフイルタ３２０を通過して受信ダイオ
ード３３５に対向しているレンズ５５０によつて
集束される。集束された送信および受信ビームの
平行な状態により、主望遠鏡に都合よく導入され
る。この30倍の主望遠鏡２５は２つの球形素子か
ら成つている。第２表面鏡５５５もマンジンミラ
ーと呼ばれ、主望遠鏡２５の主要部をなす。第２
表面鏡５５５のわずかに形成される凹レンズによ
つて、球形状反射面からの球形収差の補正が行わ
れる。ダブレツト５６０は両凸素子と両凹素子と
を含み、そして両凹素子は第２表面鏡５５５に対
向している収束メニスカスレンズであり、両素子
とも同じ反射係数を持つ材料では作られていな
い。ダブレツト５６０の第１次フアンクシヨン
は、コマ（オフ軸）収差の補正である。ダブレツ
ト５６０は、レンズ素子間に配置された反射面５
６５を有している。この小さな正倍数に従い、第
２表面鏡５５５にて形成される負の反射係数に対
する色補正が行われる。主望遠鏡２５の倍率はミ
ラーに大きくかかわり、そして極めてわずかにガ
ラスレンズにかかわるので有効な色収差はない。
平行な送信受信ビームはビーム分割器５７０で反
射される。レンズ５７５は、第２０図の光学系と
関連付けるために両ビームを集束する。ビーム分
割器５７０をビームの一部が通過し、接眼鏡３０
を介して観測される。多少凸レンズとなつている
レンズ５８０は集束レンジを増大させ、そしてそ
れにより主望遠鏡２５は５メートルに亘つて集束
しうる。プリズム５８５により転倒像が形成され
る。観測範囲は1.5゜であり、主望遠鏡２５の倍
率は30倍なので、接眼鏡３０の観測範囲は45゜で
ある。これは、連続的なオフ軸補正を得るために
接眼鏡３０における２つのダブレツト５６０を使
用する必要があり、そのため焦点に全体に亘り集
束する。凹面形のマンジンミラーおよびわずかに
凸となつている収束メニスカスレンズにより、良
好な球形の、色およびコマ補正のそして大きな口
径を有する短い主望遠鏡が実現できる。すべての
光学面は球形であつて、素子を良好に製作できる
簡単な形状である。 主望遠鏡は、水平軸を動かすことなく第１位置
から180゜水平的な位置に垂直面を介して回転で
きる。そのため、前後２つの観測が一点から可能
となり、それによりセオドライトの偏心誤差の補
正が可能となる。この技術は、現存する器械に組
み込まれるときすべての高い角度の分解度を提供
する。この特徴は２つのキーボードに生かされ
て、両測定間において器械のシーケンスを制御す
ることができる。 3.11 詳細シーケンス プロセツサ１００に採用されているルーチンの
一部リストを付表として添付する。すべてのルー
チンは４つのROMにストアされている。ROM１
はキーボードおよび他の一般的な命令を含んでい
る。ROM２はセオドライト部９０に関連するシ
ーケンスを含む。ROM３は距離測定部７５に関
連するシーケンスを含む。ROM４はセルフテス
トおよびサービステストのルーチンを含む。各
ROMは４つのセクシヨンに分割されている。リ
スト中各セクシヨンは、第１列における数字によ
つて決まる258命令を有している。第２列は８進
数で番地を示す。第３列はブランチ命令のための
付随番地を示す。第４列は動作コードの二進数ビ
ツトを示す。第５列は付随的な論理番地名を示
す。第６列は動作コードに対する論理的名称を示
す。第７列は第３列と共に構成される論理番地名
を示す。第８列は関連するプログラマコメントを
示す。3.8プロセツサおよび表示器の章で詳述し
たように、命令セツトは前記引用特開昭49−
76443に述べられているのと同様である。更に入
出力命令の第２セツトが使用されている。これら
は前記引用特開昭49−89454における命令セツト
２と概ね同じである。なお本実施例ではこの命令
セツトに多少の変更が付け加えられている。特に
ある命令はTG１，TG２…およびＬ１０と記号付
けしてある。これらは、本器械の制御のためにＴ
制御信号およびＬ制御信号である。他の主な変更
は、関連するプログラマコメントで述べられてい
る。

【表】

【表】 【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の斜視図、第２図は
その電気的ブロツク図、第３図はそのキーボード
および表示器の正面図、第４図、第５図はそれぞ
れ符号化円板の説明図、光学系の配置図で、２
５：主望遠鏡、５５，６０：キーボード、６５，
６６：表示器、７５：距離測定部、８０：位相検
出器、８５：累算器、９０：セオドライト部、９
５：入出力部、１００：プロセツサ、１１５：符
号化円板である。 第６図は光検出器とトラツクとの関係を示す説
明図、第７図は該光検出器の光強度グラフ、第８
図は復号器の回路図、第９Ａ、第９Ｂ図はセオド
ライト部９０の詳細ブロツク図、第１０図はトラ
ツク検出器の説明図、第１１図はトラツク情報組
み合せのアルゴリズムの流れ図、第１２図は偏心
誤差測定の説明図、第１３図はレベルセンサの光
学的配置図、第１４図は該レベルセンサの検出器
と光源との構成を示す図、第１５図は距離測定部
７５の詳細ブロツク図で、１４０：光検出器、１
２５：正弦状トラツク、１６０：正弦状トラツク
復号器、２０５：水平角度符号化器、２１０：垂
直角度符号化器、２１５：レベルセンサ、２８
０：トランスミツタ、３２５：受信機、３４０：
局部発振器、６００：平衡およびビーム遮断回路
である。 第１５Ａ図は受信機３２５の出力信号波形図、
第１５Ｂ図はレーザー制御回路の詳細説明図、第
１５Ｃ、第１５Ｄ図は平衡およびビーム遮断回路
の詳細回路図、第１６図は受信ダイオードの特性
図、第１７図は位相検出器８０のブロツク図、第
１８図はプロセツサ１００および両表示器６５，
６６の詳細ブロツク図、第１９Ａ、第１９Ｂ図は
累算器８５および入出力部９５の詳細ブロツク
図、第２０図、第２１図は距離測定部７５の光学
部を示す関係図で、４１５，４２０：フアンクシ
ヨン選択器、４６７：カソードドライバ、４９
０：アノードドライバ、５１５〜５１９：制御マ
ルチプレクサ、５２３：マルチプレクサセレク
タ、５４５：プリズム、５７０：ビーム分割器、
５８５：プリズムである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 測量器械本体と被測量点に設置された反射鏡
   との間で光線を送受信し、該測量器械本体と被測
   量点との間の距離を測定すると共に前記測量器械
   本体に設けた符号化円板により２個の被測量点間
   の角度を測定する測量器械において、 前記符号化円板は、前記符号化円板の円周上に
   形成され角度情報を導出する第１トラツクと、前
   記符号化円板の円周上に形成された複数個の光通
   過用スリツトより成る第２トラツクと、前記符号
   化円板の円周上に且つ前記第２トラツクよりも前
   記符号化円板の軸中心方向位置に形成されると共
   に、光通過部の外辺が正弦状に形成されて成る第
   ３トラツクとで構成され、 さらに、前記測量器械本体は、前記第１トラツ
   クに対応して前記符号化円板の片面に配置された
   第１光検出器と、前記第２トラツクに対応して前
   記符号化円板の片面に前記符号化円板の中心軸に
   対して対向する２点に配置された一対の第２光検
   出器と、前記第３トラツクに対応して前記符号化
   円板の片面に且つ前記一対の第２光検出器と直線
   状に配置された第３光検出器と、前記符号化円板
   の反対面に前記各光検出器に対応して配置された
   光源とを含み、 前記第２光検出器の出力信号により前記符号化
   円板の偏心量を導出して前記第３光検出器の出力
   信号を補正し、前記補正された前記第３光検出器
   の出力信号と前記第２光検出器の平均化された出
   力信号とにより補間角を求め、そして前記補間角
   と前記第１光検出器の出力信号とを結合して角度
   を求めることにより前記符号化円板の偏心誤差を
   除去するようにした測量器械。