JPS6298595A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents
薄膜el素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS6298595A JPS6298595A JP60240163A JP24016385A JPS6298595A JP S6298595 A JPS6298595 A JP S6298595A JP 60240163 A JP60240163 A JP 60240163A JP 24016385 A JP24016385 A JP 24016385A JP S6298595 A JPS6298595 A JP S6298595A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- thin film
- heat treatment
- emitting layer
- light emitting
- Prior art date
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- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は電界の印加に応答して(Electr。
Lum1nescence) 発光を呈する薄膜EL
素子の製造方法に関し、特に発光層形成後の安定化熱処
理に関するものである。
素子の製造方法に関し、特に発光層形成後の安定化熱処
理に関するものである。
〈従来技術とその問題点〉
発光中心をドープしたZnSに9:流電界を印加するこ
とにより高輝度のEL全発光呈する薄膜発光素子が開発
されて以来、数多くの研究が行なわれ、特に、発光中心
としてMnをドープしたZnS発光層を絶縁層で両面か
ら挾持し、さらにその両側を少なくとも一方が透明な電
極でサンドインチしγこ二重絶縁構造の薄膜発光素子は
高輝度でかつ長寿命であるなどの特性を生かして、軽量
・薄型のELパネルとして商品化されるに至っている。
とにより高輝度のEL全発光呈する薄膜発光素子が開発
されて以来、数多くの研究が行なわれ、特に、発光中心
としてMnをドープしたZnS発光層を絶縁層で両面か
ら挾持し、さらにその両側を少なくとも一方が透明な電
極でサンドインチしγこ二重絶縁構造の薄膜発光素子は
高輝度でかつ長寿命であるなどの特性を生かして、軽量
・薄型のELパネルとして商品化されるに至っている。
しかしながら、上述の薄膜発光素子は、Mn固有の黄橙
色の発光しか得られないため、発光色の異なる薄膜発光
素子の出現が望まれている。
色の発光しか得られないため、発光色の異なる薄膜発光
素子の出現が望まれている。
発光中心として、希土類元素あるいはそれらの化合物を
用いると希土類元素の種類により、種々の発光色が得ら
れることが知られている。例えば、T b F Sm
F 3 lTmF a 、P r F a等の希土類
7ツ化物を用いると、それぞれ緑色、赤色、青色、白色
に発光する素子が得られる。しかしながらこれらは輝度
の点で問題があり、充分な実用輝度を有する素子は得ら
れていない。
用いると希土類元素の種類により、種々の発光色が得ら
れることが知られている。例えば、T b F Sm
F 3 lTmF a 、P r F a等の希土類
7ツ化物を用いると、それぞれ緑色、赤色、青色、白色
に発光する素子が得られる。しかしながらこれらは輝度
の点で問題があり、充分な実用輝度を有する素子は得ら
れていない。
通常、薄膜EL累子では、発光層形成後発光中心を均一
に拡散させること及び発光層母材の結晶性を改善するこ
とを企図して熱処理が行なわれている0この場合の熱処
理温度は元素の拡散移動を促進し結晶欠陥を消滅させる
意味′でできるだけ高温で行なう方が望ましい。しかし
ながら希土類フッ化物を発光中心とし1こ薄膜EL素子
では実際には高温で熱処理を行なうと発光層の発光輝度
が低下するという現象が生じ、このfこめ最大輝度を得
る1こめの最適熱処理温度は通常400℃〜500℃の
範囲に存在することとなる。従って、比較的低温度での
熱処理しかできず、発光層母材の結晶性の改善などが不
十分であり発光特性の良い薄膜EL素子を得ることは困
難であった。
に拡散させること及び発光層母材の結晶性を改善するこ
とを企図して熱処理が行なわれている0この場合の熱処
理温度は元素の拡散移動を促進し結晶欠陥を消滅させる
意味′でできるだけ高温で行なう方が望ましい。しかし
ながら希土類フッ化物を発光中心とし1こ薄膜EL素子
では実際には高温で熱処理を行なうと発光層の発光輝度
が低下するという現象が生じ、このfこめ最大輝度を得
る1こめの最適熱処理温度は通常400℃〜500℃の
範囲に存在することとなる。従って、比較的低温度での
熱処理しかできず、発光層母材の結晶性の改善などが不
十分であり発光特性の良い薄膜EL素子を得ることは困
難であった。
高温熱処理による希土類フッ化物を発光中心とした薄膜
EL素子の輝度低下の原因としては、発光層のスパッタ
時あるいは蒸着時にペルジャー内に存在する残留ガスや
ターゲットあるいは蒸着ベレットの吸着ガス等が不純物
として発光層中に取り込まれ、これらの不純物が熱処理
時にZnSや希土類元素と反応して発光層の膜質を劣化
させていることが主要因であると考えられる。
EL素子の輝度低下の原因としては、発光層のスパッタ
時あるいは蒸着時にペルジャー内に存在する残留ガスや
ターゲットあるいは蒸着ベレットの吸着ガス等が不純物
として発光層中に取り込まれ、これらの不純物が熱処理
時にZnSや希土類元素と反応して発光層の膜質を劣化
させていることが主要因であると考えられる。
〈発明の目的〉
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、希土
類元素または希土類化合物を発光中心とした発光層のス
パッタ時もしくは蒸着時の真空管理や材料管理を詳細に
検討し、発光層中の不純物を低減させた結果500℃よ
り高い高温の熱処理を行なっても輝度が低下せず、従来
より高輝度で発光する薄膜EL素子を作製することがで
きることが確かめられたことより、発光層成膜後の熱処
理温度を500℃以上に設定して発光層母材の結晶性を
改善するとともに発光中心を均一に分散せしめ、発光特
性を改善した薄膜EL素子を作製する製造技術を提供す
ることを目的とする。
類元素または希土類化合物を発光中心とした発光層のス
パッタ時もしくは蒸着時の真空管理や材料管理を詳細に
検討し、発光層中の不純物を低減させた結果500℃よ
り高い高温の熱処理を行なっても輝度が低下せず、従来
より高輝度で発光する薄膜EL素子を作製することがで
きることが確かめられたことより、発光層成膜後の熱処
理温度を500℃以上に設定して発光層母材の結晶性を
改善するとともに発光中心を均一に分散せしめ、発光特
性を改善した薄膜EL素子を作製する製造技術を提供す
ることを目的とする。
〈実施例〉
第1図は本発明の1実施例の説明に供する薄膜EL素子
の基本構成図である。ガラス基板1上にS no 2
、I To (酸化インジウム)等の透明電極2、さら
にその上に積層してSi N SiO2,Y2O3゜8
4’ At203等の下部絶縁層3がスパッタ法、電子ビーム
蒸着法等の薄膜生成技術により厚さ+ 000A〜30
00A程度形成される。次に適量のTbF3を発光中心
としてドープしたZnS材をスパッタ用ターゲットに用
いたRFスパッタ法により、発光層4を下部絶縁層3上
に約7000A程度の厚さで形成する。
の基本構成図である。ガラス基板1上にS no 2
、I To (酸化インジウム)等の透明電極2、さら
にその上に積層してSi N SiO2,Y2O3゜8
4’ At203等の下部絶縁層3がスパッタ法、電子ビーム
蒸着法等の薄膜生成技術により厚さ+ 000A〜30
00A程度形成される。次に適量のTbF3を発光中心
としてドープしたZnS材をスパッタ用ターゲットに用
いたRFスパッタ法により、発光層4を下部絶縁層3上
に約7000A程度の厚さで形成する。
通常、スパッタ法により薄膜を形成する場合には、材料
源となるスパッタ用ターゲット表面の汚れや吸着ガスな
どを取り除く目的でグリスバッタを適当な時間桁ない、
ターゲット表面を清浄にした後に本スパッタを行なって
膜の形成を行なう0しかしながらこのブリスパッタ時に
はメインバルブはほとんど閉成され1こ状態であるため
、ターゲットから出てくるガスなどはベルジャ内に留ま
ることが多く、このガスなどが本スパッタ時に成膜中に
不純物として取り込まれ、発光特性に悪影響を与えると
考えられる0このため、発光層4をRFスパッタ法によ
り形成する際に、膜中に取り込まれる不純物を低減する
手段として、例えばブリスパッタを途中で止めベルジャ
内を高真空に排気しターゲットから抜は出たガスなどを
ベルジャ内から取り除くという操作を少なくとも1回行
なう0これによって得られる発光層4は不純物の抑制さ
れた純度の高いZ n S : T b F a層とな
る。
源となるスパッタ用ターゲット表面の汚れや吸着ガスな
どを取り除く目的でグリスバッタを適当な時間桁ない、
ターゲット表面を清浄にした後に本スパッタを行なって
膜の形成を行なう0しかしながらこのブリスパッタ時に
はメインバルブはほとんど閉成され1こ状態であるため
、ターゲットから出てくるガスなどはベルジャ内に留ま
ることが多く、このガスなどが本スパッタ時に成膜中に
不純物として取り込まれ、発光特性に悪影響を与えると
考えられる0このため、発光層4をRFスパッタ法によ
り形成する際に、膜中に取り込まれる不純物を低減する
手段として、例えばブリスパッタを途中で止めベルジャ
内を高真空に排気しターゲットから抜は出たガスなどを
ベルジャ内から取り除くという操作を少なくとも1回行
なう0これによって得られる発光層4は不純物の抑制さ
れた純度の高いZ n S : T b F a層とな
る。
発光層4を形成した後、500℃より高い適当な温度で
熱処理を行なう。本実施例ではこの温度を600℃ に
設定し1こ。熱処理は真空中または不活性ガス、硫化性
ガス等のガス雰囲気で行なう。熱処理の完了した発光層
4の上には、下部絶縁層と同様の材料からなる上部絶縁
層5が積層され二重絶縁構造が形成される。更に上部絶
縁層5上にA7等からなる背面電極6が蒸着形成される
。透明電極2と背面電極6を交流電源に接続して交流電
圧を印加することにより発光層4より緑色のEL発光が
得られる。
熱処理を行なう。本実施例ではこの温度を600℃ に
設定し1こ。熱処理は真空中または不活性ガス、硫化性
ガス等のガス雰囲気で行なう。熱処理の完了した発光層
4の上には、下部絶縁層と同様の材料からなる上部絶縁
層5が積層され二重絶縁構造が形成される。更に上部絶
縁層5上にA7等からなる背面電極6が蒸着形成される
。透明電極2と背面電極6を交流電源に接続して交流電
圧を印加することにより発光層4より緑色のEL発光が
得られる。
第2図は上述の薄膜EL素子の発光層4を形成した後の
熱処理条件を、熱処理なし、400℃で熱処理、600
℃で熱処理、の3種類とした場合の発光輝度−印加電圧
特性を示す説明図である。図中の曲線t は熱処理なし
、t2 は400℃で熱処理、t3は600℃で熱処理
した場合の特性曲線である。印加電圧に対して最も発光
輝度効率が高い曲線はt3であり、発光層4に600℃
の熱処理を行なった薄膜EL素子が他の条件のものに比
べて高輝度のEL光発光呈することとなる0これは発光
層4中にTbやFと反応する不純物が少なく高温熱処理
によっても反応生成物が形成されないためである。
熱処理条件を、熱処理なし、400℃で熱処理、600
℃で熱処理、の3種類とした場合の発光輝度−印加電圧
特性を示す説明図である。図中の曲線t は熱処理なし
、t2 は400℃で熱処理、t3は600℃で熱処理
した場合の特性曲線である。印加電圧に対して最も発光
輝度効率が高い曲線はt3であり、発光層4に600℃
の熱処理を行なった薄膜EL素子が他の条件のものに比
べて高輝度のEL光発光呈することとなる0これは発光
層4中にTbやFと反応する不純物が少なく高温熱処理
によっても反応生成物が形成されないためである。
尚、上記実施例は発光中心としてTbF3を用いた場合
について、説明し1こが、本発明はこれに限定されるも
のではなく他の希土類フッ化物を用い1こ場合にも適用
可能である。また発光層母材はZnS以外にZ n S
e + Ca S+ Cd S等の硫化物やセレン化
物が用いられる。
について、説明し1こが、本発明はこれに限定されるも
のではなく他の希土類フッ化物を用い1こ場合にも適用
可能である。また発光層母材はZnS以外にZ n S
e + Ca S+ Cd S等の硫化物やセレン化
物が用いられる。
第1図は本発明の1実施例の説明に供する薄膜発光素子
の構成図である。第2図は発光層形成後の熱処理条件を
変化させた場合の発光輝度−印加電圧特性を示す特性図
である。 】・・・ガラス基板、2・・・透明電極、3・・・下部
絶縁層、4・・・発光層、5・・・上部絶縁層、6・・
・背面電極代理人 弁理士 福 士 愛 彦 (他2名
)第1r2J 卸 電5
の構成図である。第2図は発光層形成後の熱処理条件を
変化させた場合の発光輝度−印加電圧特性を示す特性図
である。 】・・・ガラス基板、2・・・透明電極、3・・・下部
絶縁層、4・・・発光層、5・・・上部絶縁層、6・・
・背面電極代理人 弁理士 福 士 愛 彦 (他2名
)第1r2J 卸 電5
Claims (1)
- 1.希土類元素又は希土類元素の化合物をドープする
ことにより発光中心を形成した発光層を有する薄膜EL
素子の製造方法において、前記発光層を成膜した後、5
00℃より高い温度で熱処理することを特徴とする薄膜
EL素子の製造方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60240163A JPS6298595A (ja) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | 薄膜el素子の製造方法 |
| FI862108A FI83015C (fi) | 1985-05-28 | 1986-05-20 | Tunnfilmelektroluminiscensanordning och process foer dess produktion. |
| DE8686106936T DE3672916D1 (de) | 1985-05-28 | 1986-05-22 | Duennschicht-elektrolumineszenz-vorrichtungen und verfahren zu deren herstellung. |
| EP86106936A EP0209668B1 (en) | 1985-05-28 | 1986-05-22 | Thin film electroluminescence devices and process for producing the same |
| US06/867,814 US4707419A (en) | 1985-05-28 | 1986-05-27 | Thin film EL devices and process for producing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60240163A JPS6298595A (ja) | 1985-10-24 | 1985-10-24 | 薄膜el素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6298595A true JPS6298595A (ja) | 1987-05-08 |
| JPH0532877B2 JPH0532877B2 (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=17055430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60240163A Granted JPS6298595A (ja) | 1985-05-28 | 1985-10-24 | 薄膜el素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6298595A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5186088A (en) * | 1975-01-27 | 1976-07-28 | Sharp Kk | Sekishokuhatsukoerekutorominesensuhakumakunoseiseiho |
-
1985
- 1985-10-24 JP JP60240163A patent/JPS6298595A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5186088A (en) * | 1975-01-27 | 1976-07-28 | Sharp Kk | Sekishokuhatsukoerekutorominesensuhakumakunoseiseiho |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0532877B2 (ja) | 1993-05-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |