JPS6310362B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6310362B2
JPS6310362B2 JP3025482A JP3025482A JPS6310362B2 JP S6310362 B2 JPS6310362 B2 JP S6310362B2 JP 3025482 A JP3025482 A JP 3025482A JP 3025482 A JP3025482 A JP 3025482A JP S6310362 B2 JPS6310362 B2 JP S6310362B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flange
empty
light
inspection
light receiving
Prior art date
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Expired
Application number
JP3025482A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58146803A (ja
Inventor
Mikihiko Hamazaki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanadevia Corp
Original Assignee
Hitachi Shipbuilding and Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Shipbuilding and Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Shipbuilding and Engineering Co Ltd
Priority to JP3025482A priority Critical patent/JPS58146803A/ja
Publication of JPS58146803A publication Critical patent/JPS58146803A/ja
Publication of JPS6310362B2 publication Critical patent/JPS6310362B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/909Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は空缶の開口側巻締部フランジが異常で
あるか否かを検査する検査装置に関する。
缶詰製造過程で発生する欠陥の一つとして巻締
不良がある。これは充填巻締する前の空缶に対し
外部から衝撃が加えられたり、空缶どうしが衝突
したりして外方へ広がつている開口側巻締部フラ
ンジが変形させられることによつて生じるもので
ある。このようにフランジが変形させられた状態
で巻締されると、第1図および第2図bに示すご
とく舌出し部分イが生じて、疑似巻締をおこし、
第2図aに示す正常巻締に比べて、一時的には密
封できても、やがて不良缶となるものである。か
かる疑似巻締を防止するためには、充填巻締する
直前にフランジの異常をチエツクする必要がある
が、従来では、目視によつて検査しており、見逃
しや、除去ミスが生じやすいものである。そこで
光学的検査装置によつて検査することが考えられ
るが、受光器に対する正常時の光の入射と、異常
時の光の入射との区別が困難で、検査ミスしやす
いという欠点がある。
本発明はかかる事実に鑑みて、検査ミスが生じ
ないようにした空缶検査装置を提供するものであ
つて、その特徴とするところは、空缶の搬送経路
の検査位置上方に検査ヘツドを配設し、該ヘツド
の下面にフードを固着し、該フードの検査位置に
もたらされた空缶の開口側巻締部フランジの直上
箇所に上下方向に沿う環状スリツトを形成すると
共に該フードにフランジのほぼ内接線方向に沿う
環状溝を形成し、前記検査ヘツド内に環状スリツ
トを介してフランジに環状の光束を発する光源を
設け、上記環状溝内に適当間隔ごとに多数の受光
センサを配設したことにあり、この構成によれ
ば、空缶の真上からフランジに向けて環状の光束
を発するようにしたので、フランジが正常のとき
には、該フランジに当たつた光束は空缶8の内側
へ反射し、受光センサが受光することはない。ま
た反射した光束が空缶の内側面でさらに反射して
受光センサに入ろうとしても、この受光センサは
環状溝内に位置しているので遮光され、その反射
光が受光センサに入ることはない。したがつて正
常であるのに異常であると誤作動することはな
い。さらにフランジが異常なときには、上記の光
束はそのフランジの異常部分に当たつて空缶の外
側へ反射し、受光センサに入る。したがたつてフ
ランジの異常を確実に検知することができるもの
である。
以下、本発明の一実施例を第3図以下の図に基
づいて説明する。1は検査ヘツドであつて、底板
には円形穴2を形成してある。3はヘツド1の底
板の下面に固着されたフードであつて、中央に貫
通穴を有し、該貫通穴にはこの貫通穴と同心状の
円形板10を配設し、該円形板10の外周面と貫
通穴内周面との間に上下方向に沿う環状スリツト
4を形成し、このスリツト4を検査位置にもたら
された空缶8の開口側巻締部フランジ8Aの直上
に位置させてある。5はフード3にフランジ8A
のほぼ内接線方向に沿つて形成された環状溝、6
はヘツド1内の中央に配設された光源であつて、
スリツト4を介してフランジ8Aに環状の光束を
発するものである。9は上記環状溝5内に適当間
隔ごとに配設された受光センサ、7は矢印A方向
へ移動する空缶8の搬送コンベヤであつて、この
コンベヤ7によりヘツド1直下の検査位置にもた
らされた空缶8の開口側巻締部フランジ8Aが前
記スリツト4の直下および環状溝5の延長線上に
位置するように設定してある。20はフード3と
円形板10とを互いに連結する連結板である。な
お前記光源6としては、たとえば螢光灯、白熱ラ
ンプまたは発光ダイオードが用いられる。なお螢
光灯の場合はフリツカ防止のため直流点灯または
高周波電源による点灯をおこなうものとする。第
5図において、11は各受光センサ9からの入力
信号を増幅する増幅器であつて、センサ感度レベ
ルを一定にする感度調節機能を有している。12
は缶種や光源の明るさに応じた検出レベル設定器
であつて、その検査レベル用受光センサ13は、
基準の空缶に対向させたり、前記各受光センサ9
の間に配列されるものである。14は各増幅器1
1からの入力信号値が検出レベル設定器12から
の入力信号値よりも大きくなつたときに出力する
コンパレータ、15は各コンパレータ14の入力
信号をうけるオア回路、16は空缶8がテーパ部
4A直下の検査位置にきたのを検出する調期信号
発生用フオトスイツチ、17は該フオトスイツチ
16の入力信号を増幅する増幅器、18は該増幅
器17からの入力信号によりパルスを発生するパ
ルス発生器、19は該パルス発生器18からの入
力信号と前記オア回路15の入力信号とをうけて
出力するアンド回路であつて、該アンド回路19
の出力信号は所定の異常缶排出回路に入力される
ものである。
上記構成の作用を説明する。まずコンベヤ7に
より空缶8がヘツド1直下の検査位置にもたらさ
れると、第3図に示すごとく光源6から発せられ
た光がスリツト4内を通つて環状の光束となり、
フランジ8Aに投射される。ここでフランジ8A
の形状が第6図実線に示すごとく正常であれば、
その光束がフランジ8Aに当たつて空缶8の内側
へ反射し、受光センサ9に受光されることはな
い。また反射した光束が空缶8の内側面でさらに
反射して受光センサ9に入ろうとしても、受光セ
ンサ9が環状溝5内に位置しているので遮光さ
れ、その反射光が受光センサ9に入ることはな
い。したがつて受光センサ9から信号が出力され
ず、この空缶8はそのままヘツド1の下を通過す
る。次に第6図仮想線で示すごとくフランジ8A
の形状が異常であれば、フランジ8Aの異常部分
に当たつた光束は空缶8の外側へ反射され、受光
センサ9に入る。すると該受光センサ9から信号
が出力され、増幅器11で増幅され、コンパレー
タ14で検出レベル設定器12からの入力信号と
比較され、受光センサ9からの入力信号値のほう
が大きいときには、そのコンパレータ14からオ
ア回路15に信号が入力される。またこれと同時
にフオトスイツチ16が空缶8を検出し、その信
号が増幅器17を介してパルス発生器18に入力
され、該パルス発生器18からパルスが発せられ
る。アンド回路では、パルス発生器18からの信
号とオア回路15の信号をうけて、異常缶排出回
路に信号を入力し、該異常缶排出回路は、たとえ
ばシリンダ装置を作動させて、ヘツド1直下に位
置する異常なフランジ8Aを有する空缶8をコン
ベヤ7上から排出する。
以上述べたごとく本発明の空缶検査装置によれ
ば、空缶の真上からフランジに向けて環状の光束
を発するようにしたので、フランジが正常のとき
には、該フランジに当たつた光束は空缶8の内側
へ反射し、受光センサが受光することはない。ま
た反射した光束が空缶の内側面でさらに反射して
受光センサに入ろうとしても、その受光センサは
環状溝内に位置しているので遮光され、その反射
光が受光センサに入ることはない。したがつて正
常であるのに異常であると誤作動することはな
い。さらにフランジが異常なときには、上記の光
束はそのフランジの異常部分に当たつて空缶の外
側へ反射し、受光センサに入る。したがつてフラ
ンジの異常を確実に検知することができるもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は異常缶の正面図、第2図aは正常缶の
要部縦断面図、第2図bは異常缶の要部縦断面図
である。第3図以下の図は本発明の一実施例を示
し、第3図は一部切欠正面図、第4図は第3図の
―矢視図、第5図は異常缶検出回路図、第6
図は要部の拡大縦断面図である。 1…検査ヘツド、3…フード、4…スリツト、
5…環状溝、6…光源、8…空缶、8A…開口側
巻締部フランジ、9…受光センサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 空缶の搬送経路の検査位置上方に検査ヘツド
    を配設し、該ヘツドの下面にフードを固着し、該
    フードの検査位置にもたらされた空缶の開口側巻
    締部フランジの直上箇所に上下方向に沿う環状ス
    リツトを形成すると共に該フードにフランジのほ
    ぼ内接線方向に沿う環状溝を形成し、前記検査ヘ
    ツド内に環状スリツトを介してフランジに環状の
    光束を発する光源を設け、上記環状溝内に適当間
    隔ごとに多数の受光センサを配設したことを特徴
    とする空缶検査装置。
JP3025482A 1982-02-25 1982-02-25 空缶検査装置 Granted JPS58146803A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3025482A JPS58146803A (ja) 1982-02-25 1982-02-25 空缶検査装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP3025482A JPS58146803A (ja) 1982-02-25 1982-02-25 空缶検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58146803A JPS58146803A (ja) 1983-09-01
JPS6310362B2 true JPS6310362B2 (ja) 1988-03-07

Family

ID=12298569

Family Applications (1)

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JP3025482A Granted JPS58146803A (ja) 1982-02-25 1982-02-25 空缶検査装置

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63153414A (ja) * 1986-12-17 1988-06-25 Haishisutemu Control Kk 空缶の検査装置
US5104226A (en) * 1991-06-17 1992-04-14 Abbott Laboratories Device for evaluating wrinkles in a double rolled seam
JP2015081838A (ja) * 2013-10-23 2015-04-27 東洋製罐株式会社 凹み缶・座屈缶検査装置

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JPS58146803A (ja) 1983-09-01

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