JPS631055A - 光センサの駆動方法及び画像入力装置 - Google Patents
光センサの駆動方法及び画像入力装置Info
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- JPS631055A JPS631055A JP61142986A JP14298686A JPS631055A JP S631055 A JPS631055 A JP S631055A JP 61142986 A JP61142986 A JP 61142986A JP 14298686 A JP14298686 A JP 14298686A JP S631055 A JPS631055 A JP S631055A
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/191—Photoconductor image sensors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光に対する応答性を向上させることを企図し
た光センサの駆動方法に関する。
た光センサの駆動方法に関する。
本発明による光センサの駆動方法は、たとえばファクシ
ミリ、デジタルコピー、あるいはスキャナ等の画像入力
部の光センサや、画像情報の等倍読取りを行う光センサ
等に適用される。
ミリ、デジタルコピー、あるいはスキャナ等の画像入力
部の光センサや、画像情報の等倍読取りを行う光センサ
等に適用される。
[従来技術]
近年、ファクシミリやデジタルコピー等のいわゆる電子
事務機の汀及に伴ない、小型で低コストの画像入力部こ
の需要が高まっている。そこで、原稿に直接接触できる
とともに、結像系の不要であるか又は結像系の動作距離
の短かい等倍型ラインセンサが注[1されている。
事務機の汀及に伴ない、小型で低コストの画像入力部こ
の需要が高まっている。そこで、原稿に直接接触できる
とともに、結像系の不要であるか又は結像系の動作距離
の短かい等倍型ラインセンサが注[1されている。
等倍型ラインセンサは実際の原稿の一辺と同じ長さを有
し、多数の光センサを高密度に形成して高解像度を達成
している。しかしながら、このような多数の光センサか
ら情報を高速で読出すには、各光センサの光応答速度を
向上させることが重要となる。
し、多数の光センサを高密度に形成して高解像度を達成
している。しかしながら、このような多数の光センサか
ら情報を高速で読出すには、各光センサの光応答速度を
向上させることが重要となる。
そこで、光導電層に絶縁層を挟んで補助電極が形成され
た構造を有する光センサが提案されている(たとえば特
開昭60−239072号公報)、この補助電極を設け
ることによって、光センサの出力を安定化させ、かつ光
強度に比例した出力を得ることが容易となる。
た構造を有する光センサが提案されている(たとえば特
開昭60−239072号公報)、この補助電極を設け
ることによって、光センサの出力を安定化させ、かつ光
強度に比例した出力を得ることが容易となる。
第4図および第5図は、夫々補助電極を有する光センサ
の概略的構成図である。
の概略的構成図である。
第4図において、ガラス又はセラミクス等の絶縁物基板
1上には、補助電極2および絶縁層3が形成され、その
上に光導電層としてのCd5−5eやa−9i+H等の
半導体層4が形成されている。更にオーミックコンタク
ト用のドーピング半導体層5を介して一対の主電極6お
よび7が形成され、その間に受光窓8が形成されている
。
1上には、補助電極2および絶縁層3が形成され、その
上に光導電層としてのCd5−5eやa−9i+H等の
半導体層4が形成されている。更にオーミックコンタク
ト用のドーピング半導体層5を介して一対の主電極6お
よび7が形成され、その間に受光窓8が形成されている
。
また、第5図に示す構造の光センサにおいても、上記光
センサと同一機能を有する部分には同一番号が付されて
いるが、この構造では基板1が透明であり、基板1側か
ら受光する。
センサと同一機能を有する部分には同一番号が付されて
いるが、この構造では基板1が透明であり、基板1側か
ら受光する。
第6図(A)および(B)は、上記光センサを用いた従
来の駆動力U:の一例を説明するだめの波形図である。
来の駆動力U:の一例を説明するだめの波形図である。
まず、主電極6の電位を基準として、主電極7には高電
位の駆動電圧が印加されており、補助電極2には低電位
の電圧Vg=−3Vが印加されている。この状態では、
半導体層4内の電子数が減少しているために、光が入射
しない限り主電極間に流れる出力電流は小さい。
位の駆動電圧が印加されており、補助電極2には低電位
の電圧Vg=−3Vが印加されている。この状態では、
半導体層4内の電子数が減少しているために、光が入射
しない限り主電極間に流れる出力電流は小さい。
次に、同図(A)において、100ルクスの光が入射し
た時に、補助電極2にパルス電圧が印加されて読取りが
開始されたものとする。
た時に、補助電極2にパルス電圧が印加されて読取りが
開始されたものとする。
このパルス電圧の立上がりによって補助電極2の電圧V
gが一4vとなり、補助電極2の容量に対応した正の電
荷量が不足するために半導体層4内のi「子が主電極7
から掃出されて電子濃度が低下し、出力電流は急激に低
下する。続いてパルス電圧の立下がりによって、補助電
極2の電圧Vgが一3vに戻ると、今度は逆に正の電荷
量が過剰となり、その過剰分に相当する電荷量の電子が
主電極6から半導体層4内へ注入され、出力電流が急激
に上昇する(実線で図示された出力電流の変化)、そし
て光パルスの立下がりと同時に出力電流は徐々に減少す
る。したがって、この読取り期間の出力電流による電荷
をコンデンサ等に蓄積しておけば、そのJM電荷量が入
射した光パルスに対応する光情報となる。
gが一4vとなり、補助電極2の容量に対応した正の電
荷量が不足するために半導体層4内のi「子が主電極7
から掃出されて電子濃度が低下し、出力電流は急激に低
下する。続いてパルス電圧の立下がりによって、補助電
極2の電圧Vgが一3vに戻ると、今度は逆に正の電荷
量が過剰となり、その過剰分に相当する電荷量の電子が
主電極6から半導体層4内へ注入され、出力電流が急激
に上昇する(実線で図示された出力電流の変化)、そし
て光パルスの立下がりと同時に出力電流は徐々に減少す
る。したがって、この読取り期間の出力電流による電荷
をコンデンサ等に蓄積しておけば、そのJM電荷量が入
射した光パルスに対応する光情報となる。
これに対してパルス電圧を印加せずに補助電極2の電圧
Vgを一3vに固定した場合は、同図の破線で図示され
るように、光パルスの立上がりに従って出力電流が上昇
し、立下がりによって徐々に減少する。
Vgを一3vに固定した場合は、同図の破線で図示され
るように、光パルスの立上がりに従って出力電流が上昇
し、立下がりによって徐々に減少する。
また、同図(B)では、iooルクスの光が消えて飴状
yEとなった時にパルス電圧が補助電極2に印加されて
読出しが開始された場合が示され、出力電流の変化が実
線で表わされている。上述したように補助電極2の電圧
Vgが一4vになった時に出力電流は急激に減少し、電
圧Vgが一3■に戻った時に急激に−L昇する。この場
合も読出し期間の出力電流によってコンデンサ等に蓄積
された蓄積電荷量が光パルスの光情報を表わしている。
yEとなった時にパルス電圧が補助電極2に印加されて
読出しが開始された場合が示され、出力電流の変化が実
線で表わされている。上述したように補助電極2の電圧
Vgが一4vになった時に出力電流は急激に減少し、電
圧Vgが一3■に戻った時に急激に−L昇する。この場
合も読出し期間の出力電流によってコンデンサ等に蓄積
された蓄積電荷量が光パルスの光情報を表わしている。
これに対してパルス電圧を印加せずに補助?If極2の
電圧vgを一3vに固定した場合は、同図の破線で図示
されるように、光パルスの立下がりおよび立上がりに従
って出力電流が変化する。
電圧vgを一3vに固定した場合は、同図の破線で図示
されるように、光パルスの立下がりおよび立上がりに従
って出力電流が変化する。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、上記従来の駆動方法では、第2図に示す
ように補助電極2にパルス電圧を印加することで出力電
流の立上がりは良好になったように見えるが、蓄積電荷
U11によって光情報を読出す場合には実質的な4五と
はなっていない。
ように補助電極2にパルス電圧を印加することで出力電
流の立上がりは良好になったように見えるが、蓄積電荷
U11によって光情報を読出す場合には実質的な4五と
はなっていない。
サラに、E86 図(B)に示すように、パルス電圧の
印加によっても前の出力゛電流が残存しており、入射光
に正確に対応した出力を得ることができないという問題
点を有していた。
印加によっても前の出力゛電流が残存しており、入射光
に正確に対応した出力を得ることができないという問題
点を有していた。
[問題点を解決するための手段]
上記従来の問題点を解決するために、本発明による光セ
ンサの駆動方法は、 半導体層上に受光領域となる部分を隔てて−対の主電極
が設けられ、かつ少なくとも前記受光領域となる部分で
は前記半導体層と補助電極とが絶縁層を介して請層され
た構造を有する光センサを駆動する方法において、 前記補助電極に対して、前記半導体層の電波を担うキャ
リアに従ったバイアス電圧を印加するとともに、光セン
サの非読取り期間内にlNi記バイアス電圧と同極性で
あって絶対値の小さい電圧を所望時間印加することを特
徴とする。
ンサの駆動方法は、 半導体層上に受光領域となる部分を隔てて−対の主電極
が設けられ、かつ少なくとも前記受光領域となる部分で
は前記半導体層と補助電極とが絶縁層を介して請層され
た構造を有する光センサを駆動する方法において、 前記補助電極に対して、前記半導体層の電波を担うキャ
リアに従ったバイアス電圧を印加するとともに、光セン
サの非読取り期間内にlNi記バイアス電圧と同極性で
あって絶対値の小さい電圧を所望時間印加することを特
徴とする。
[作用]
、上記非読取り期間内に上記バイアス電圧と同極性であ
って絶対値の小さい電圧を上記補助電極に印加すること
によって、前の読取り時の出力を消去して次の読取りを
行うことができ、光応答速度が向上し、かつ入射光に正
しく対応した出力を得ることができる。
って絶対値の小さい電圧を上記補助電極に印加すること
によって、前の読取り時の出力を消去して次の読取りを
行うことができ、光応答速度が向上し、かつ入射光に正
しく対応した出力を得ることができる。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第1図(A)は ライン状に配列された光センサの1ビ
ット分の概略的平面図、第1図(B)は、そのI−I線
断面図である。
ット分の概略的平面図、第1図(B)は、そのI−I線
断面図である。
同図において、ガラス基板ll上に真空ノへ着法により
Crを500人、AIを500人各々堆積させた後、フ
ォトリングラフィによって所望形状にパターニングし、
補助電極12を形成する。その上にJゾさ3000人の
SiN:H層13、厚さ4000人のノンドープ水素化
アモルファスシリ:I7 (a−S i : H)層1
4、厚さ1200人のN中層15をグロー放電分解法に
より21続堆積させる。
Crを500人、AIを500人各々堆積させた後、フ
ォトリングラフィによって所望形状にパターニングし、
補助電極12を形成する。その上にJゾさ3000人の
SiN:H層13、厚さ4000人のノンドープ水素化
アモルファスシリ:I7 (a−S i : H)層1
4、厚さ1200人のN中層15をグロー放電分解法に
より21続堆積させる。
SiN:H層13の堆積条件は、水素希釈lO%のSi
H4を5SCCMとNH3を14.4SCCMとを使用
し、基板温度200℃、内圧0゜15Torr、Rfパ
ワー3.5W、放電時間2時間40分である。
H4を5SCCMとNH3を14.4SCCMとを使用
し、基板温度200℃、内圧0゜15Torr、Rfパ
ワー3.5W、放電時間2時間40分である。
ノンドープa−3i:H層14の堆積条件は、氷;に希
釈10%のSiH4を20SCCM使用し、基板温度2
00℃、内圧0.12Torr、Rfパワー5.5W、
放電時間2吟間である。
釈10%のSiH4を20SCCM使用し、基板温度2
00℃、内圧0.12Torr、Rfパワー5.5W、
放電時間2吟間である。
n中層15の堆積条件は、水素希釈10%のSiH4を
5SCCM、1100PPのPH3を503CCMを使
用し、基板温度200℃、内圧0.12Torr、Rf
パワー17 、5W、放電時間45分である。
5SCCM、1100PPのPH3を503CCMを使
用し、基板温度200℃、内圧0.12Torr、Rf
パワー17 、5W、放電時間45分である。
次に、フォトリングラフィによって補助電極12の取出
しおよび隣接ビット間の不要な半導体層等の除去を行う
。この上に、真空蒸着法によりCrを500人、AIを
5000人堆積させ、フォトリソグラフィによって補助
電極12のパターンと若干型なるように主電極16およ
び17を形成し、更に主電極をマスクとして不要なn中
層15を除去して受光窓18を形成する。
しおよび隣接ビット間の不要な半導体層等の除去を行う
。この上に、真空蒸着法によりCrを500人、AIを
5000人堆積させ、フォトリソグラフィによって補助
電極12のパターンと若干型なるように主電極16およ
び17を形成し、更に主電極をマスクとして不要なn中
層15を除去して受光窓18を形成する。
補助電極12の幅が受光窓18の幅より大きいことで、
補助電極12による出力制御が安定する。ただし、不要
な電極容量を抑えるために、補助電極12と主電極16
および17どの重なりは必要最小限に留めることが望ま
しい。
補助電極12による出力制御が安定する。ただし、不要
な電極容量を抑えるために、補助電極12と主電極16
および17どの重なりは必要最小限に留めることが望ま
しい。
次に、このような光センサを駆動する本発明について述
へる。
へる。
第2図は、本発明による光センサの駆動方法の一実施例
を示す電圧波形図である。ただし、本実施例では、半導
体層14がn型の場合を示す。
を示す電圧波形図である。ただし、本実施例では、半導
体層14がn型の場合を示す。
同図において、電圧vOは、主電極16を基準として主
電極17に印加されている電圧であり、ここでは■0〉
0である。
電極17に印加されている電圧であり、ここでは■0〉
0である。
電圧■1は、センサの読取り期間T1に保持電極12に
印加されるバイアス電圧であり、ここでは半導体層14
がn型であるからV、<Oである。
印加されるバイアス電圧であり、ここでは半導体層14
がn型であるからV、<Oである。
電圧v2は、非読取り期間T2に補助電極12に印加さ
れる電圧であり、vl <v2 <oである。
れる電圧であり、vl <v2 <oである。
このように補助電極12の電圧を非読取り期間T2でバ
イアス電圧vlより正方向に変化させることで、次に述
べるように出力電流の立下がり速度を大きく向上させる
ことができる。
イアス電圧vlより正方向に変化させることで、次に述
べるように出力電流の立下がり速度を大きく向上させる
ことができる。
なお、補助電極12に同図に示すようなバイアス711
圧およびパルス電圧を印加する駆動回路は容易に構成で
きるために、ここでは省略されている。
圧およびパルス電圧を印加する駆動回路は容易に構成で
きるために、ここでは省略されている。
第3図(A)および(B)は、本実施例による出力電流
の変化を説明するための波形図である。
の変化を説明するための波形図である。
同図(A)は読取り開始直前に光パルスが入射した場合
を示し、同図(B)は読取り開始直前まで光が入射して
いた場合を示している。
を示し、同図(B)は読取り開始直前まで光が入射して
いた場合を示している。
同図(A)において、バイアス電圧■1を一3V、パル
ス電圧v2を−2,8vとし、パルス電圧V2が補助電
極12に印加されて読取りが開始されると、補助電極1
2の電位が正方向に変化するために、主電極16から電
子が注入されて大きな出力電流が流れ、注入された電子
によって半導体層14内のホールの再結合が促進される
。
ス電圧v2を−2,8vとし、パルス電圧V2が補助電
極12に印加されて読取りが開始されると、補助電極1
2の電位が正方向に変化するために、主電極16から電
子が注入されて大きな出力電流が流れ、注入された電子
によって半導体層14内のホールの再結合が促進される
。
このためにホールが少ない状態にあり、光が照射されて
も、補助電極12の電位が固定されている場合(破線で
示す変化)に比べて出力電流のt上がりは若干遅れる。
も、補助電極12の電位が固定されている場合(破線で
示す変化)に比べて出力電流のt上がりは若干遅れる。
しかしながら、出力電流の波形は光パルスに従っており
、この出力電流によって蓄積された電荷針は入射した光
に対応した光情報を表わしている。
、この出力電流によって蓄積された電荷針は入射した光
に対応した光情報を表わしている。
一方、同図(B)に示すように読取り開始直前まで光が
入射していた場合においても、出力電流は光パルスに対
応している。すなわち、補助電極12にパルス電圧v2
が印加されることで、上述したように注入された電子に
よるホールの再結合が促進され、その結果、補助電極1
2がバイアス電位v1に戻った時には、不要なホールが
存在しないために暗状態の電流値を維持し、光パルスの
入射によって立上がる。
入射していた場合においても、出力電流は光パルスに対
応している。すなわち、補助電極12にパルス電圧v2
が印加されることで、上述したように注入された電子に
よるホールの再結合が促進され、その結果、補助電極1
2がバイアス電位v1に戻った時には、不要なホールが
存在しないために暗状態の電流値を維持し、光パルスの
入射によって立上がる。
このように、補助型8112にパルス電圧V2を読出し
開始直前に印加することによって、前の読取りによる出
力がリセットされるために、補助電極12の電位がバイ
アス電圧v1に固定されている場合(図中の破線で示す
変化)や、L記従来のように、前の出力によって次の出
力が影響されるという欠点は解消される。
開始直前に印加することによって、前の読取りによる出
力がリセットされるために、補助電極12の電位がバイ
アス電圧v1に固定されている場合(図中の破線で示す
変化)や、L記従来のように、前の出力によって次の出
力が影響されるという欠点は解消される。
したがって、前の読取り期間T1での出力が消去された
状態で次の読取りを行うことができ、入射光に正しく対
応した出力を得ることができるととも・こ、全体として
光応答速度の向上および読取り動作の高速化が達成され
る。
状態で次の読取りを行うことができ、入射光に正しく対
応した出力を得ることができるととも・こ、全体として
光応答速度の向上および読取り動作の高速化が達成され
る。
なお、本発明による駆動方法は、上述したように入射光
に正しく対応した出力電流を得ることができるものであ
り、光センサの出力をコンデンサ等に蓄積して光情報を
得る方式に限定されるものではない。
に正しく対応した出力電流を得ることができるものであ
り、光センサの出力をコンデンサ等に蓄積して光情報を
得る方式に限定されるものではない。
また、本実施例では、光センサにおける半導体層の電流
を担うキャリアが電子の場合を示したが、勿論電流を担
うキャリアがホールであるP型又はi型半導体を用いた
J↓を合であっても′1F圧の極性が逆になるだけで同
様に適用できる。すなわち、キャリアが電子の場合は、
と記実施例のように、vi <V2 <Oであり、キャ
リアがホールの場合は、v、>v2 >oとなる。
を担うキャリアが電子の場合を示したが、勿論電流を担
うキャリアがホールであるP型又はi型半導体を用いた
J↓を合であっても′1F圧の極性が逆になるだけで同
様に適用できる。すなわち、キャリアが電子の場合は、
と記実施例のように、vi <V2 <Oであり、キャ
リアがホールの場合は、v、>v2 >oとなる。
゛ト導体層がi型の場合は、オーミックコンタクト層1
5の導電型によって電流を担うキャリアが決定される。
5の導電型によって電流を担うキャリアが決定される。
[発明の効果]
以上:詳細に説明したように、本発明による光センサの
駆動力法は、非読取り期間内にバイアス電圧と同極性で
あって絶対イII′1の小さい電圧を補助電極に印加す
ることによって、前の読取り時の出力を消去して次の読
取りを行うことができ、光応答速度が向上し、かつ入射
光に正しく対応し、かつ安定した出力を?’)ることが
できる。すなわち、光に対する応答性を従来に比べて大
幅に向トさせることができる。
駆動力法は、非読取り期間内にバイアス電圧と同極性で
あって絶対イII′1の小さい電圧を補助電極に印加す
ることによって、前の読取り時の出力を消去して次の読
取りを行うことができ、光応答速度が向上し、かつ入射
光に正しく対応し、かつ安定した出力を?’)ることが
できる。すなわち、光に対する応答性を従来に比べて大
幅に向トさせることができる。
また、多数の画素センサを右するラインセンサを構成し
た場合にも高速で原稿を読取ることができ、画像情報の
等倍読取りにも適している。
た場合にも高速で原稿を読取ることができ、画像情報の
等倍読取りにも適している。
第1図(A)は、ライン状に配列された光センサのlビ
ット分の概略的モ面図、第1図(B)は、そのI−I線
断面図、 第2図は、本発明による光センサの駆動方法の一実施例
を示す′重圧波形図、 第3図(A)および(B)は1本実施例による出力電流
の変化を説明するだめの波形図、 第4図および第5図は、夫々補助電極を會する光センサ
の概略的構成図、 第6図(A)および(B)は、上記光センサを用いた従
来の駆動方法の一例を説明するための波形図である。 11・・・基板 12・・・補助電極 13・・・絶縁層 14・・・半導体層 15・・・n中層 16.17φeψ主電極 18・・・受光窓 − Tl ・・−読取り期間 T2・・・非読取り期間 vl m−−バイアス電圧 v2−−・パルス電圧 代理人 弁理士 山 下 穣 モ 第4 回 第 5図
ット分の概略的モ面図、第1図(B)は、そのI−I線
断面図、 第2図は、本発明による光センサの駆動方法の一実施例
を示す′重圧波形図、 第3図(A)および(B)は1本実施例による出力電流
の変化を説明するだめの波形図、 第4図および第5図は、夫々補助電極を會する光センサ
の概略的構成図、 第6図(A)および(B)は、上記光センサを用いた従
来の駆動方法の一例を説明するための波形図である。 11・・・基板 12・・・補助電極 13・・・絶縁層 14・・・半導体層 15・・・n中層 16.17φeψ主電極 18・・・受光窓 − Tl ・・−読取り期間 T2・・・非読取り期間 vl m−−バイアス電圧 v2−−・パルス電圧 代理人 弁理士 山 下 穣 モ 第4 回 第 5図
Claims (2)
- (1)半導体層上に受光領域となる部分を隔てて一対の
主電極が設けられ、かつ少なくとも前記受光領域となる
部分では前記半導体層と補助電極とが絶縁層を介して積
層された構造を有する光センサを駆動する方法において
、 前記補助電極に対して、前記半導体層の 電流を担うキャリアに従ったバイアス電圧を印加すると
ともに、光センサの非読取り期間内に前記バイアス電圧
と同極性であって絶対値の小さい電圧を所望時間印加す
ることを特徴とする光センサの駆動方法。 - (2)上記バイアス電圧と同極性であって絶対値の小さ
い電圧は、光センサの読取り直前に前記補助電極に所望
時間印加されることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の光センサの駆動方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61142986A JPH0740711B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 光センサの駆動方法及び画像入力装置 |
| FR8708640A FR2600460B1 (fr) | 1986-06-20 | 1987-06-19 | Procede de commande d'un photodetecteur |
| GB8714418A GB2191908B (en) | 1986-06-20 | 1987-06-19 | Method for driving a photo-sensor |
| DE19873720457 DE3720457A1 (de) | 1986-06-20 | 1987-06-19 | Ansteuerungsverfahren fuer einen fotosensor |
| US07/244,562 US4886962A (en) | 1986-06-20 | 1988-09-12 | Method for driving a photo-sensor by applying a pulse voltage to an auxiliary electrode during a non-read time |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61142986A JPH0740711B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 光センサの駆動方法及び画像入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS631055A true JPS631055A (ja) | 1988-01-06 |
| JPH0740711B2 JPH0740711B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=15328273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61142986A Expired - Fee Related JPH0740711B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 光センサの駆動方法及び画像入力装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4886962A (ja) |
| JP (1) | JPH0740711B2 (ja) |
| DE (1) | DE3720457A1 (ja) |
| FR (1) | FR2600460B1 (ja) |
| GB (1) | GB2191908B (ja) |
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| US5136389A (en) * | 1988-11-29 | 1992-08-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image sensor driving method with high-speed voltage response |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5308996A (en) * | 1986-09-25 | 1994-05-03 | Canon Kabushiki Kaisha | TFT device |
| US5040041A (en) * | 1988-10-20 | 1991-08-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and signal processing device having said device provided therein |
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| JP2875844B2 (ja) * | 1990-03-27 | 1999-03-31 | キヤノン株式会社 | 薄膜トランジスタ型光センサの駆動方法及び駆動装置 |
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-
1986
- 1986-06-20 JP JP61142986A patent/JPH0740711B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-06-19 GB GB8714418A patent/GB2191908B/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-06-19 DE DE19873720457 patent/DE3720457A1/de active Granted
- 1987-06-19 FR FR8708640A patent/FR2600460B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-09-12 US US07/244,562 patent/US4886962A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0740711B2 (ja) | 1995-05-01 |
| DE3720457A1 (de) | 1987-12-23 |
| FR2600460B1 (fr) | 1994-02-11 |
| DE3720457C2 (ja) | 1989-09-28 |
| FR2600460A1 (fr) | 1987-12-24 |
| GB2191908B (en) | 1990-02-14 |
| GB8714418D0 (en) | 1987-07-22 |
| GB2191908A (en) | 1987-12-23 |
| US4886962A (en) | 1989-12-12 |
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| Date | Code | Title | Description |
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