JPS6310976A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPS6310976A JPS6310976A JP61155611A JP15561186A JPS6310976A JP S6310976 A JPS6310976 A JP S6310976A JP 61155611 A JP61155611 A JP 61155611A JP 15561186 A JP15561186 A JP 15561186A JP S6310976 A JPS6310976 A JP S6310976A
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- JP
- Japan
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- electrode
- signal
- transfer
- transfer electrode
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- Pending
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の目的)
(産業上の利用分野)
本発明は、固体撮像装置にかかり、特に画像欠陥画素信
号の補正を行うことのできる2次元固体囮像装置に関す
る。
号の補正を行うことのできる2次元固体囮像装置に関す
る。
(従来の技術)
固体撮像装置は光電変換素子を列状あるいはマトリクス
状に配設し、COD等の電荷転送装置を用いて光電変換
素子で(qられた画像情報を取出寸ものである。
状に配設し、COD等の電荷転送装置を用いて光電変換
素子で(qられた画像情報を取出寸ものである。
ここで固体撮像装置に使用される半導体基板は、特性の
安定化のためにその結晶を一定の面積にわたって均一に
形成することが必要である。しかし一般にこのJ:うな
結晶を形成することは極めて難しいため結晶欠陥が生ず
ることがある。
安定化のためにその結晶を一定の面積にわたって均一に
形成することが必要である。しかし一般にこのJ:うな
結晶を形成することは極めて難しいため結晶欠陥が生ず
ることがある。
この結晶欠陥部分には不要電荷が生じ易いため他の部分
に比べて暗電流が大きく、また各画素から読出される信
号電荷のうち結晶欠陥を有する画素の信号電荷には常に
不要な雑音成分が含まれる。
に比べて暗電流が大きく、また各画素から読出される信
号電荷のうち結晶欠陥を有する画素の信号電荷には常に
不要な雑音成分が含まれる。
このような雑音成分は搬像画面中に白(口とよばれる明
るい点を発生させる。
るい点を発生させる。
また、固体撮像装置の製造■稈において撮像素子面上へ
塵埃が付着すると、欠陥画素が発生することがある。こ
の欠陥画素は撮像画面中に黒い点を発生させ、いわゆる
黒傷と称される。このような搬像画面中の白傷および黒
傷と称される画像欠陥を補正するために画像欠陥補正回
路が使用されている。
塵埃が付着すると、欠陥画素が発生することがある。こ
の欠陥画素は撮像画面中に黒い点を発生させ、いわゆる
黒傷と称される。このような搬像画面中の白傷および黒
傷と称される画像欠陥を補正するために画像欠陥補正回
路が使用されている。
第3図は従来広く用いられている画像欠陥補正回路のブ
Oツク図である。また第4図は第3図に示す回路の各部
の信号波形を示した波形図で、第3図と第4図とを用い
て従来の画像欠陥補正回路の構成とイの動作を説明する
。
Oツク図である。また第4図は第3図に示す回路の各部
の信号波形を示した波形図で、第3図と第4図とを用い
て従来の画像欠陥補正回路の構成とイの動作を説明する
。
固体画像装置1から出力される画素信号21は、サンプ
ルホールド回路2へ入力される。このサンプルホールド
回路2では固体撮像装置1の出力中の画像信号部分のみ
が扱き取られ、次の画像信号が到来するまでホールドさ
れる。サンプルホールド回路2にはメモリ回路5より制
御パルス22が供給される。
ルホールド回路2へ入力される。このサンプルホールド
回路2では固体撮像装置1の出力中の画像信号部分のみ
が扱き取られ、次の画像信号が到来するまでホールドさ
れる。サンプルホールド回路2にはメモリ回路5より制
御パルス22が供給される。
第4図には固体撮像装@1の出力信号21、予め判明し
ている欠陥位行を記憶したメモリ回路5からのリンプル
ホールド制御パルス22およびサンプルホールド回路2
の出力信号23がそれぞれ示されている。サンプルホー
ルド回路2は制御パルス′22が+−+ ”レベルの時
にはサンプリング(抜き取り)e作し、11 L”レベ
ル時にはホールド(保持)f11作を行う。これらの動
作により欠陥画素に対しては固体撮像装置1の出力から
1つ萌の画像13号をホールドして補正を行っている。
ている欠陥位行を記憶したメモリ回路5からのリンプル
ホールド制御パルス22およびサンプルホールド回路2
の出力信号23がそれぞれ示されている。サンプルホー
ルド回路2は制御パルス′22が+−+ ”レベルの時
にはサンプリング(抜き取り)e作し、11 L”レベ
ル時にはホールド(保持)f11作を行う。これらの動
作により欠陥画素に対しては固体撮像装置1の出力から
1つ萌の画像13号をホールドして補正を行っている。
同期信号発生回路4は固体撮I!I!装置1を転送動作
させるために必要な転送パルス類を供給し、一方固体i
ll像装置1の走査画素番地をパルスコードの形でメモ
リ回路5に対して出力する。このパルスコード値は固体
搬像装置1の画素読み出し走査に同期して刻々変化する
メモリ回路5は前述したように欠陥画素の位置に相当す
る画素番地を予め記憶する機能を有している他、この記
憶番地と同期信号発生回路4から供給される走査画素番
地とを比較する機能をも有しているため、両番地が一致
した時のみサンプルホールド回路2へ供給する制御パル
ス22を“L ”レベルにする。このパルス出力により
サンプルホールド回路2はホールド動作となりサンプリ
ング動作は行われず、1つ前の画素における信号レベル
が維持される。
させるために必要な転送パルス類を供給し、一方固体i
ll像装置1の走査画素番地をパルスコードの形でメモ
リ回路5に対して出力する。このパルスコード値は固体
搬像装置1の画素読み出し走査に同期して刻々変化する
メモリ回路5は前述したように欠陥画素の位置に相当す
る画素番地を予め記憶する機能を有している他、この記
憶番地と同期信号発生回路4から供給される走査画素番
地とを比較する機能をも有しているため、両番地が一致
した時のみサンプルホールド回路2へ供給する制御パル
ス22を“L ”レベルにする。このパルス出力により
サンプルホールド回路2はホールド動作となりサンプリ
ング動作は行われず、1つ前の画素における信号レベル
が維持される。
以上、従来の画像欠陥補正回路の構成と主な動作とを説
明したが、葭は欠陥画素信号rす宋時には制御パルス2
2“L]″レベルにせず、L I+レベルにして欠陥画
素の直前の画素信号のレベルをホールドづるように動作
するものであり、これにより第4図に示す固体画像装置
1の出力信号21の画素信号部において異常に低レベル
となった欠陥画素信号24が生じても、サンプルホール
ド回路2の出力信¥j23ではこのような降下はなくな
る。
明したが、葭は欠陥画素信号rす宋時には制御パルス2
2“L]″レベルにせず、L I+レベルにして欠陥画
素の直前の画素信号のレベルをホールドづるように動作
するものであり、これにより第4図に示す固体画像装置
1の出力信号21の画素信号部において異常に低レベル
となった欠陥画素信号24が生じても、サンプルホール
ド回路2の出力信¥j23ではこのような降下はなくな
る。
このJ:うな画面欠陥の補正を行うために、従来の固体
撮像装置では、固体画像装置の外部にサンプルホールド
回路を含む画像欠陥補正回路を付加している。
撮像装置では、固体画像装置の外部にサンプルホールド
回路を含む画像欠陥補正回路を付加している。
一般に固体撮像装置はビデオカメラ等に使用されるもの
であり、画像欠陥の補正のために従来の画像欠陥補正回
路のような外部周辺回路を付加することは、ビデオカメ
ラ等の制作上部品点数の増加、消費電力の増加、外形寸
法の大型化およびカメラ重61の増加等を引起すという
問題があった。
であり、画像欠陥の補正のために従来の画像欠陥補正回
路のような外部周辺回路を付加することは、ビデオカメ
ラ等の制作上部品点数の増加、消費電力の増加、外形寸
法の大型化およびカメラ重61の増加等を引起すという
問題があった。
(発明が解決しようとする問題点)
以上説明したにうに従来の固体撮像装置では画像欠陥の
補正をおこなうための回路を固体撮8+装置の外部に付
加1′る必要があり、固体vi像装置を使用するに当り
、装置の大型化や消費電力の増加等の問題点があった。
補正をおこなうための回路を固体撮8+装置の外部に付
加1′る必要があり、固体vi像装置を使用するに当り
、装置の大型化や消費電力の増加等の問題点があった。
本発明はこのような従来技術の欠点を解消するためにな
されたもので、欠陥画素信号の補正のための回路を固体
搬像、装行内に内蔵するにうにした固体撮像装置を提供
することを目的とする。
されたもので、欠陥画素信号の補正のための回路を固体
搬像、装行内に内蔵するにうにした固体撮像装置を提供
することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、各画素から読出される画素信号を所定方向に
転送するように配列された第1の転送電極列と、この第
1の転送電極列の列Q電極から出力ゲート電極を介して
画素信号を受取る電荷検出電極とを具備してなる固体撮
像装置において、列端電極に直交隣接させて設GJた電
荷排出用の第2の転送電極と、電荷検出電極に直交隣接
させて設けた第3の転送電極とを備え、画素信号中の欠
陥画素信号を第2の転送電極へ転送すると共に前記第3
の転送電極に予め蓄積した正常画素信号を欠陥画素信号
の位tに補完するように構成したことを特徴としている
。
転送するように配列された第1の転送電極列と、この第
1の転送電極列の列Q電極から出力ゲート電極を介して
画素信号を受取る電荷検出電極とを具備してなる固体撮
像装置において、列端電極に直交隣接させて設GJた電
荷排出用の第2の転送電極と、電荷検出電極に直交隣接
させて設けた第3の転送電極とを備え、画素信号中の欠
陥画素信号を第2の転送電極へ転送すると共に前記第3
の転送電極に予め蓄積した正常画素信号を欠陥画素信号
の位tに補完するように構成したことを特徴としている
。
(作 用)
画像欠陥画素の位置に相当する画素信号は第2の転送電
極により排出されて消去され、またこの消去により空白
となった欠陥画素の位置には第3の転送電極によって先
行する他の正常画素信号が置換される。
極により排出されて消去され、またこの消去により空白
となった欠陥画素の位置には第3の転送電極によって先
行する他の正常画素信号が置換される。
したがって、従来のようなサンプルホールド回路を用い
ることなく、欠陥画素信号を取り除いて画素信号を取り
出Jことができる。
ることなく、欠陥画素信号を取り除いて画素信号を取り
出Jことができる。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例にかかる固体陽像装置の電極
構成図、また第2図は第1図の回路の各部に印加される
各種のパルスの波形図である。第1図はマトリクス状に
配置された感光画素101およびこの各列ごとに配置さ
れた垂直C0D1021〜102oを示しており、この
垂直CODのtW側にこれと直交す向に配設されたそれ
ぞれn個の水平転送TiVi111,112には第2図
に示す転送パルスφ 、φ2が印加される。各転送型極 1111〜111nには垂直CODレジスタ1021〜
102nから、走査線1ラインずつの自作信号が並列書
込みされる。
構成図、また第2図は第1図の回路の各部に印加される
各種のパルスの波形図である。第1図はマトリクス状に
配置された感光画素101およびこの各列ごとに配置さ
れた垂直C0D1021〜102oを示しており、この
垂直CODのtW側にこれと直交す向に配設されたそれ
ぞれn個の水平転送TiVi111,112には第2図
に示す転送パルスφ 、φ2が印加される。各転送型極 1111〜111nには垂直CODレジスタ1021〜
102nから、走査線1ラインずつの自作信号が並列書
込みされる。
転送電極112oの水平転送方向延長上には転送電極1
11 、出力ゲート電極115、フロn+1 一ティングゲートとなっている電荷検出電極116、リ
セットゲート電極119、リセットドレイン120が順
次隣接して形成され、また転送型Ifi111 の垂
直転送方向に転送電極113n+1 およびドレイン114が形成され、さらに電荷検出電極
116の垂直転送方向に転送電極117および118が
形成されている。電荷検出電極116は出力回路121
中のMOSトランジスタQ1のトレインおよびトランジ
スタQ2のゲートに接続されている。トランジスタQ2
のソースは出力端子O8となると共に自己バイアスされ
たトランジスタQ3が直列に接続される。またトランジ
スタQ2のドレインはドレイン114およびリセットド
レイン120と接続される共にドレイン出力端子ODと
なっている。さらにトランジスタQ1のゲートはリセッ
ト入力端子φ18となっており、そのドレインはリセッ
トドレイン端子RDとなっている。ドレイン114、転
送電極115、電荷検出電極118、リセットゲート電
VJ119、出力ゲート電極115にはそれぞれパルス
φ、。
11 、出力ゲート電極115、フロn+1 一ティングゲートとなっている電荷検出電極116、リ
セットゲート電極119、リセットドレイン120が順
次隣接して形成され、また転送型Ifi111 の垂
直転送方向に転送電極113n+1 およびドレイン114が形成され、さらに電荷検出電極
116の垂直転送方向に転送電極117および118が
形成されている。電荷検出電極116は出力回路121
中のMOSトランジスタQ1のトレインおよびトランジ
スタQ2のゲートに接続されている。トランジスタQ2
のソースは出力端子O8となると共に自己バイアスされ
たトランジスタQ3が直列に接続される。またトランジ
スタQ2のドレインはドレイン114およびリセットド
レイン120と接続される共にドレイン出力端子ODと
なっている。さらにトランジスタQ1のゲートはリセッ
ト入力端子φ18となっており、そのドレインはリセッ
トドレイン端子RDとなっている。ドレイン114、転
送電極115、電荷検出電極118、リセットゲート電
VJ119、出力ゲート電極115にはそれぞれパルス
φ、。
φ 、φ 、φ および直流電圧φ。が印加されCD
でいる。
次にこのような固体撮像装置における動作を説明する。
1ライン分の信号を転送パルスφ1.φ2の印加により
転送して、直流電圧が印加された出力ゲート電極115
へと転送し、さらにフローティングゲート型電荷検出電
極318に導き、この電位によりトランジスタQ2を作
動させて画素信号列として出力回路321の081了か
ら読出す。欠陥画素信号が転送電極111 の電極下
に到達0+1 した113点で転送型lf!112に’ H”レベルの
パルスを加え、転送型I41113に第2図に示すパル
スφ、を印加すると、この欠陥画素信号は出力ゲート電
極115の方向ではなく、ドレイン114へ導かれる。
転送して、直流電圧が印加された出力ゲート電極115
へと転送し、さらにフローティングゲート型電荷検出電
極318に導き、この電位によりトランジスタQ2を作
動させて画素信号列として出力回路321の081了か
ら読出す。欠陥画素信号が転送電極111 の電極下
に到達0+1 した113点で転送型lf!112に’ H”レベルの
パルスを加え、転送型I41113に第2図に示すパル
スφ、を印加すると、この欠陥画素信号は出力ゲート電
極115の方向ではなく、ドレイン114へ導かれる。
このドレイン114に尋びかれた欠陥画素信Y)は端子
ODより排出、され消滅する。したがって欠陥画素信号
に相当する部分のO8端子からの出力は無信号となる。
ODより排出、され消滅する。したがって欠陥画素信号
に相当する部分のO8端子からの出力は無信号となる。
この空白となった欠陥画素信号の補正のための補正信号
は、欠陥画素に先行する正常画素の信号を利用する。す
なわち、欠陥画素信号の補正は、次のようにして行われ
る。2画素分前の正常画素信号は電荷検出電極116の
下に転送されて出力回路121より読出された後、転送
電極117.118に第2図に示ず信号φ8゜φ。を印
加する。これによりまず転送電極117の下にボテンシ
Vル井戸を形成し、電荷検出電極116直下の信号を転
送電極117の直下に転送する。
は、欠陥画素に先行する正常画素の信号を利用する。す
なわち、欠陥画素信号の補正は、次のようにして行われ
る。2画素分前の正常画素信号は電荷検出電極116の
下に転送されて出力回路121より読出された後、転送
電極117.118に第2図に示ず信号φ8゜φ。を印
加する。これによりまず転送電極117の下にボテンシ
Vル井戸を形成し、電荷検出電極116直下の信号を転
送電極117の直下に転送する。
ついで転送電極117に印加されるパルス“H11レベ
ルからL I+レベルに変化さlると同時に転送電極1
18に印加されるパルスを゛)−1”レベルに変化させ
、今度は転送電極118の直下にポテンシャル井戸を形
成する。
ルからL I+レベルに変化さlると同時に転送電極1
18に印加されるパルスを゛)−1”レベルに変化させ
、今度は転送電極118の直下にポテンシャル井戸を形
成する。
これにより信号電荷は、転送電極117の直下から転送
電極118の直下へと転送される。このようにすると欠
陥画素補正用の信号(隣接する正常画素信号)が転送電
極118下に格納される。
電極118の直下へと転送される。このようにすると欠
陥画素補正用の信号(隣接する正常画素信号)が転送電
極118下に格納される。
続いて、欠陥画素信号が転送電極113゜114に転送
されて消滅し、O8端子に空白信号が出力されるタイミ
ングに合致させて再び転送電極117に゛ト1”レベル
のパルスを印加する。すなわち転送電極118の直下に
格納した信号を転送電極117の直下に、ざらには電荷
検出電極116へと転送しこの出力をOS DE子より
得る。
されて消滅し、O8端子に空白信号が出力されるタイミ
ングに合致させて再び転送電極117に゛ト1”レベル
のパルスを印加する。すなわち転送電極118の直下に
格納した信号を転送電極117の直下に、ざらには電荷
検出電極116へと転送しこの出力をOS DE子より
得る。
この電荷検出電+4!116直下の格納信号はリセット
ゲート119に印加される信号φ、によりリセットドレ
イン120に尋かれて排出され消滅する。このような動
作を行うことにより固体撮像装置からは欠陥画素に相当
する出力信号部分24が正常画素信号に置換され補正さ
れた信号25が得られる。
ゲート119に印加される信号φ、によりリセットドレ
イン120に尋かれて排出され消滅する。このような動
作を行うことにより固体撮像装置からは欠陥画素に相当
する出力信号部分24が正常画素信号に置換され補正さ
れた信号25が得られる。
以上の実施例においては2クロツク前の信号を排出せず
補正信号として再利用しているが、これはカラー固体撮
像装置においてはカラー間の配列上1つおきに同色が配
列されることが多いためである。したがって画素配置構
造に応じ隣接画素情報や3つ以上離れた画素における信
号を補正信号として利用することもできる。その場合転
送電極117および118の数を増減すればよい。
補正信号として再利用しているが、これはカラー固体撮
像装置においてはカラー間の配列上1つおきに同色が配
列されることが多いためである。したがって画素配置構
造に応じ隣接画素情報や3つ以上離れた画素における信
号を補正信号として利用することもできる。その場合転
送電極117および118の数を増減すればよい。
以上説明したように本発明による固体撮像装置では欠陥
画素信号(黒傷、白傷)を補正するための補正回路を固
体bπ像装胃内に内蔵させて欠陥画素信号を消去し、仙
の正常画素信号でこの消去した欠陥画素信号を置換補正
して出力するようにしている。
画素信号(黒傷、白傷)を補正するための補正回路を固
体bπ像装胃内に内蔵させて欠陥画素信号を消去し、仙
の正常画素信号でこの消去した欠陥画素信号を置換補正
して出力するようにしている。
このような構成を採用することにより固体撮像装置から
の画素信gを外部サンプルホールド回路によって置換補
正する必要はなくなる。したがってビデオカメラの製作
上、画像欠陥補正用の外部サンプルホールド回路の付加
による部品点数の増加や回路の複雑化および消費電力の
増加等の問題点が解消され、小型軽量のビデオカメラや
付加価値の高い固体lld像装?tを提供することが可
能となる。
の画素信gを外部サンプルホールド回路によって置換補
正する必要はなくなる。したがってビデオカメラの製作
上、画像欠陥補正用の外部サンプルホールド回路の付加
による部品点数の増加や回路の複雑化および消費電力の
増加等の問題点が解消され、小型軽量のビデオカメラや
付加価値の高い固体lld像装?tを提供することが可
能となる。
第1図は本発明の一実施例にかかる固体撮像装置の電極
構成図、第2図は第1図の回路に印加される各種パルス
の波形図、第3図は従来の画像欠陥補正回路の構成ブロ
ック図、第4図は第3図の回路動作を説明するための信
号波形図である。 101・・・感光画素、102・・・垂直CCDレジス
タ、111,112・・・水平転送電極、113゜11
7.118・・・転送電極、114・・・ドレイン、1
15・・・出力ゲート電極、116・・・電荷検出電極
、119・・・リセットゲート、120・・・リセット
ドレイン、121・・・出力回路。
構成図、第2図は第1図の回路に印加される各種パルス
の波形図、第3図は従来の画像欠陥補正回路の構成ブロ
ック図、第4図は第3図の回路動作を説明するための信
号波形図である。 101・・・感光画素、102・・・垂直CCDレジス
タ、111,112・・・水平転送電極、113゜11
7.118・・・転送電極、114・・・ドレイン、1
15・・・出力ゲート電極、116・・・電荷検出電極
、119・・・リセットゲート、120・・・リセット
ドレイン、121・・・出力回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、各画素から読出される画素信号を所定方向に転送す
るように配列された第1の転送電極列と、前記第1の転
送電極列の列端電極から出力ゲート電極を介して前記画
素信号を受取る電荷検出電極とを具備してなる固体撮像
装置において、前記列端電極に直交隣接させて設けた電
荷排出用の第2の転送電極と、前記電荷検出電極に直交
隣接させて設けた第3の転送電極とを備え、前記画素信
号中の欠陥画素信号を前記第2の転送電極へ転送すると
共に前記第3の転送電極に予め蓄積した正常画素信号を
前記欠陥画素信号の位置に補完するようにしたことを特
徴とする固体撮像装置。 2、第1の転送電極が水平転送電極であり第2および第
3の転送電極が垂直転送レジスタと平行に形成された特
許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。 3、電荷検出電極がフローティング形であり、この電位
に応じて出力信号を取出す出力回路がこの電荷検出電極
に接続されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第2項記載の固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61155611A JPS6310976A (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61155611A JPS6310976A (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6310976A true JPS6310976A (ja) | 1988-01-18 |
Family
ID=15609806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61155611A Pending JPS6310976A (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6310976A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5453420A (en) * | 1992-09-02 | 1995-09-26 | Sakai; Isao | Food preservative and production thereof |
-
1986
- 1986-07-02 JP JP61155611A patent/JPS6310976A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5453420A (en) * | 1992-09-02 | 1995-09-26 | Sakai; Isao | Food preservative and production thereof |
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