JPS63117272A - 時間間隔分析装置 - Google Patents
時間間隔分析装置Info
- Publication number
- JPS63117272A JPS63117272A JP26242086A JP26242086A JPS63117272A JP S63117272 A JPS63117272 A JP S63117272A JP 26242086 A JP26242086 A JP 26242086A JP 26242086 A JP26242086 A JP 26242086A JP S63117272 A JPS63117272 A JP S63117272A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- frequency
- converter
- time
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、パルス信号のジッタ或はジッタの周波数分
析、発生頻度等を測定することができる時間間隔分析装
置に関する。
析、発生頻度等を測定することができる時間間隔分析装
置に関する。
「発明の背景」
例えばパーソナルコンピュータの外部記憶装置として用
いられる磁気ディスク装置、或はコンパクトディスクと
呼ばれるディジタルオーディオ機器、更にはレーザディ
スク等のビデオ機器等では再生される信号は符号化され
たパルス列信号である。このパルス列信号にシフタが含
まれていると復号の際に誤まりが発生し易くなる。特に
コンピュータの外部記憶装置の場合は誤まりの発生は許
されないことである。このためこれらのディジタル機器
の良否を判定するには再生されるパルス列信号のシフタ
が規定した範囲に入っているか否がを測定しなければな
らない。
いられる磁気ディスク装置、或はコンパクトディスクと
呼ばれるディジタルオーディオ機器、更にはレーザディ
スク等のビデオ機器等では再生される信号は符号化され
たパルス列信号である。このパルス列信号にシフタが含
まれていると復号の際に誤まりが発生し易くなる。特に
コンピュータの外部記憶装置の場合は誤まりの発生は許
されないことである。このためこれらのディジタル機器
の良否を判定するには再生されるパルス列信号のシフタ
が規定した範囲に入っているか否がを測定しなければな
らない。
「従来技術」
パルス列信号のジッタを測定する方法としては従来はオ
シログラフに第12図に示すように被測定パルスを映出
し、このパルスを描く輝線のゆらぎ幅W (vi線の横
幅)を測定してシフタの量を測定している。
シログラフに第12図に示すように被測定パルスを映出
し、このパルスを描く輝線のゆらぎ幅W (vi線の横
幅)を測定してシフタの量を測定している。
また他の方法としては被測定パルスをスペクトラムアナ
ライザに人力し、スペクトラムアナライザによって被測
定パルスの周波数成分を分析し、シフタ成分を測定する
ことも考えられる。
ライザに人力し、スペクトラムアナライザによって被測
定パルスの周波数成分を分析し、シフタ成分を測定する
ことも考えられる。
[発明が解決しようとする問題点」
オシログラフを用いる方法は測定者がオシログラフの管
面に映出されている輝線の幅Wを測定してシフタの量を
規定するものであるからシフタの量を定量的にとらえる
ことは難しい、特にディジタルオーディオ機器或はディ
ジタルビデオ機器では再生されるパルスのパルス幅が多
種類存在するためオシログラフの管面にはパルス幅が異
なるパルス波形が重なり合って映出される。この結果輝
線幅Wの測定は益々むずかしいものとなり、不確かな測
定結果しか得られない。
面に映出されている輝線の幅Wを測定してシフタの量を
規定するものであるからシフタの量を定量的にとらえる
ことは難しい、特にディジタルオーディオ機器或はディ
ジタルビデオ機器では再生されるパルスのパルス幅が多
種類存在するためオシログラフの管面にはパルス幅が異
なるパルス波形が重なり合って映出される。この結果輝
線幅Wの測定は益々むずかしいものとなり、不確かな測
定結果しか得られない。
これに対しスペクトラムアナライザを用いる方法を採る
とき、仮にSN比のよい理想的なスペクトラムアナライ
ザを用いたとすればジッタの周波数成分を定量的に見る
ことができる。
とき、仮にSN比のよい理想的なスペクトラムアナライ
ザを用いたとすればジッタの周波数成分を定量的に見る
ことができる。
然し乍らシフタ成分は被測定パルスの周波数成分と比較
して信号のレベルが微少であるためジッタ成分をスペク
トラムとして映出させるためにはSN比が格段に優れた
スペクトラムアナライザを用意しなければならない。
して信号のレベルが微少であるためジッタ成分をスペク
トラムとして映出させるためにはSN比が格段に優れた
スペクトラムアナライザを用意しなければならない。
つまり通常のスペクトラムアナライザを用いたとすれば
シフタ成分を表わすスペクトラムは雑音成分の中にうず
もれてしまい観測することは不可能である。また被測定
パルスのパルス幅が多種類存在する場合にはパルス幅の
種類だけ基本波スペクトラムが存在し、かつその各々に
ついて無数の高調波スペクトラムが発生するから、これ
ら信号分のスペクトラムだけで煩雑な映像となり、ジッ
タを表わすスペクトラムは益々判別がむずかしくなる。
シフタ成分を表わすスペクトラムは雑音成分の中にうず
もれてしまい観測することは不可能である。また被測定
パルスのパルス幅が多種類存在する場合にはパルス幅の
種類だけ基本波スペクトラムが存在し、かつその各々に
ついて無数の高調波スペクトラムが発生するから、これ
ら信号分のスペクトラムだけで煩雑な映像となり、ジッ
タを表わすスペクトラムは益々判別がむずかしくなる。
更にジッタの周波数が時間の経過と共に変動するような
場合、そのジッタの周波数の変動を測定することは殆ど
不可能である。
場合、そのジッタの周波数の変動を測定することは殆ど
不可能である。
この発明の目的はパルスに含まれるジッタの量を正確に
測定することができ、然もジッタの周波数の変動も測定
することができる時間間隔分析装置を提供するにある。
測定することができ、然もジッタの周波数の変動も測定
することができる時間間隔分析装置を提供するにある。
「問題点を解決するための手段」
この発明では、
^、 入力回路にAD変換器を具備したディジタルスペ
クトラムアナライザと、 B、 このスペクトラムアナライザに装備したAD変換
器の前段側に設けられ、被測定パルスのパルス幅をその
パルス幅に比例した電圧信号に変換する時間−電圧変換
器と、 C0この時間−電圧変換器に入力される被測定パルスの
後縁を検出してAD変換器にAD変換動作を行なわせる
制御器と、 D、上記AD変換器のAD変換結果を順次格納するバッ
ファメモリと、 E、このバッファメモリの内容を読出開始アドレスを順
次ずらしながら所定アドレス分ずつ読出す読出手段と、 F、この読出手段で読出したデータをフーリエ変換し周
波数領域のデータに変換する高速フーリエ変換手段と、 G、この高速フーリエ変換手段でフーリエ変換した周波
数領域のデータの中から予め設定した周波数区間に存在
する信号成分の和或はピーク値又は比を記憶する記憶器
と、 11、この記憶器に記憶した周波数成分の和或いはピー
ク値又は比を時間軸に沿って表示する表示器と によって時間間隔分析装置を構成したものである。
クトラムアナライザと、 B、 このスペクトラムアナライザに装備したAD変換
器の前段側に設けられ、被測定パルスのパルス幅をその
パルス幅に比例した電圧信号に変換する時間−電圧変換
器と、 C0この時間−電圧変換器に入力される被測定パルスの
後縁を検出してAD変換器にAD変換動作を行なわせる
制御器と、 D、上記AD変換器のAD変換結果を順次格納するバッ
ファメモリと、 E、このバッファメモリの内容を読出開始アドレスを順
次ずらしながら所定アドレス分ずつ読出す読出手段と、 F、この読出手段で読出したデータをフーリエ変換し周
波数領域のデータに変換する高速フーリエ変換手段と、 G、この高速フーリエ変換手段でフーリエ変換した周波
数領域のデータの中から予め設定した周波数区間に存在
する信号成分の和或はピーク値又は比を記憶する記憶器
と、 11、この記憶器に記憶した周波数成分の和或いはピー
ク値又は比を時間軸に沿って表示する表示器と によって時間間隔分析装置を構成したものである。
「作用」
この発明の構成によれば時間−電圧変換器によって被測
定パルスのパルス幅の変動、パルスとパルスの間の時間
の変動を電圧信号として取出すことができる。この電圧
信号を被測定パルスの後縁と同期してAD変換すること
により被測定パルスのパルス幅の変動に対応して変化す
るディジタル信号を得ることができる。
定パルスのパルス幅の変動、パルスとパルスの間の時間
の変動を電圧信号として取出すことができる。この電圧
信号を被測定パルスの後縁と同期してAD変換すること
により被測定パルスのパルス幅の変動に対応して変化す
るディジタル信号を得ることができる。
つまりこのディジタル信号の配列は被測定パルスのパル
ス幅の変動に従って変化するジッタ量を表わす信号であ
る。よってこのディジタル信号を高速フーリエ変換器に
よって周波数分析することによりシフタの周波数及びジ
ッタの量を知ることができる。
ス幅の変動に従って変化するジッタ量を表わす信号であ
る。よってこのディジタル信号を高速フーリエ変換器に
よって周波数分析することによりシフタの周波数及びジ
ッタの量を知ることができる。
またAD変換した信号をメモリに取込み、メモリに取込
んだデータを所定のブロックに区分けして取出し、各ブ
ロック毎のデータを高速フーリエ変換器でフーリエ変換
して周波数領域のデータに変換し、この周波数領域のデ
ータの中から予め設定した周波数区間に存在する周波数
成分の和又はその周波数区間に存在するピーク値又は比
を記憶し、この記憶した周波数成分の和又はピーク値又
は比を時間軸に沿って表示器に表示させることによりシ
フタの周波数変動の様子を表示し、見ることができる。
んだデータを所定のブロックに区分けして取出し、各ブ
ロック毎のデータを高速フーリエ変換器でフーリエ変換
して周波数領域のデータに変換し、この周波数領域のデ
ータの中から予め設定した周波数区間に存在する周波数
成分の和又はその周波数区間に存在するピーク値又は比
を記憶し、この記憶した周波数成分の和又はピーク値又
は比を時間軸に沿って表示器に表示させることによりシ
フタの周波数変動の様子を表示し、見ることができる。
「実施例」
第1図にこの発明の一実施例を示す0図中11は従来か
ら知られているディジタルスペクトラムアナライザを示
す。
ら知られているディジタルスペクトラムアナライザを示
す。
この発明ではディジタルスペクトラムアナライザ11に
時間−電圧変換器12と、ディジタルスペクトラムアナ
ライザ11に装備されているAD変換器13に被測定パ
ルスの後縁に同期したクロックパルスを与え、このブロ
ックに同期してAD変換動作を行なわせる制御器14を
付設した構成を特徴とするものである。
時間−電圧変換器12と、ディジタルスペクトラムアナ
ライザ11に装備されているAD変換器13に被測定パ
ルスの後縁に同期したクロックパルスを与え、このブロ
ックに同期してAD変換動作を行なわせる制御器14を
付設した構成を特徴とするものである。
先ず通常用いられているディジタルスペクトラムアナラ
イザについて説明する。ディジタルスペクトラムアナラ
イザ11は増幅器16と、その後段に設けたアナログフ
ィルタ17と、AD変換器13、倍率変更スイツf18
1倍率変換回路19゜バッファメモリ21.マイクロコ
ンピュータ22゜高速フーリエ変換1堤23.五メモリ
241表示器25と(−よって構成される。
イザについて説明する。ディジタルスペクトラムアナラ
イザ11は増幅器16と、その後段に設けたアナログフ
ィルタ17と、AD変換器13、倍率変更スイツf18
1倍率変換回路19゜バッファメモリ21.マイクロコ
ンピュータ22゜高速フーリエ変換1堤23.五メモリ
241表示器25と(−よって構成される。
図の例ではAD変換器13と倍率変更スイッチ18との
間(−逆数変換器26とバッファメモリ27を設けた場
合を示す。逆°数変換器26は時間−電圧変換器12と
AD変換器13+−よってジッタの周期(二従って変化
する信号を逆数変換して周波数頭域の信号に変換する変
換器である。スイッf−28は逆数変換するかしないか
?:選択するスイッチで接点Aを選択するときは被測定
パルスのジッタの周期で変化するデータをバッファメモ
リ271−与える。また接点Bを選択するときはジッタ
の周期で変化する信号を逆数変換して周波数領域の信号
(二変侠し、バッファメモリ271−人力する状聾とな
る。
間(−逆数変換器26とバッファメモリ27を設けた場
合を示す。逆°数変換器26は時間−電圧変換器12と
AD変換器13+−よってジッタの周期(二従って変化
する信号を逆数変換して周波数頭域の信号に変換する変
換器である。スイッf−28は逆数変換するかしないか
?:選択するスイッチで接点Aを選択するときは被測定
パルスのジッタの周期で変化するデータをバッファメモ
リ271−与える。また接点Bを選択するときはジッタ
の周期で変化する信号を逆数変換して周波数領域の信号
(二変侠し、バッファメモリ271−人力する状聾とな
る。
このようにしてこの例ではバッファメモリ27Cニジツ
タの周期「二従って変化する信号か、又は周波数頭域の
(3号に変換されに信号かを取込むことができる構造と
している。
タの周期「二従って変化する信号か、又は周波数頭域の
(3号に変換されに信号かを取込むことができる構造と
している。
バッファメモリ27に取込まれたデータは読出されて倍
率変更スイッチ18で倍率に更を行なうか否かを選択し
て第2のバッファメモリ21(二転送される。
率変更スイッチ18で倍率に更を行なうか否かを選択し
て第2のバッファメモリ21(二転送される。
倍率変更スイツf18は接点Aを選択することC二より
、倍率斐更無しの状態(二切換られ、接点Bを選択する
こと(二より倍率変更育りの状Bc防換られる。
、倍率斐更無しの状態(二切換られ、接点Bを選択する
こと(二より倍率変更育りの状Bc防換られる。
倍率変更回路19はディジタル周波数変換器19A、1
9Bと、ディジタルフィルタ190゜19Dと、リサン
プリングスイッチ19 K、19Fとによって構成され
る。
9Bと、ディジタルフィルタ190゜19Dと、リサン
プリングスイッチ19 K、19Fとによって構成され
る。
ディジタル周波数変換器19A、19Bはそれぞれジッ
タ信号1;(2)2にfoとsi!12πfot周波数
混合し、ジッタ信号の中心周波数を任意の周波数(ニシ
フトさせる。ディジタフレフィルタ19c、190は中
心周波数が所望の周波数(:設定されに信号C二寄生す
る不要波成分を除去するためC二段けられ、不要波成分
を除去しに信号はり丈ンプリングスイツ5’−19Eと
19Fでリサンプリングされてバッファメモリ21に取
込まれる。倍率の変更)ま周波数領域の信号(二対して
行なわれる。倍率の変更はit−リサンプリングスイツ
?−19Eと19Fのりサンプリング周期(間引率)で
決定される。
タ信号1;(2)2にfoとsi!12πfot周波数
混合し、ジッタ信号の中心周波数を任意の周波数(ニシ
フトさせる。ディジタフレフィルタ19c、190は中
心周波数が所望の周波数(:設定されに信号C二寄生す
る不要波成分を除去するためC二段けられ、不要波成分
を除去しに信号はり丈ンプリングスイツ5’−19Eと
19Fでリサンプリングされてバッファメモリ21に取
込まれる。倍率の変更)ま周波数領域の信号(二対して
行なわれる。倍率の変更はit−リサンプリングスイツ
?−19Eと19Fのりサンプリング周期(間引率)で
決定される。
つまりバッファメモリ21の容量を例えば1024デー
タ分とした場合、この1024データ分を収納できるメ
モリに周期を毎1ユ時間Tをかけて取込んだデータを倍
率rlJとした場合、同じ信号を周期2を毎に時間2T
をかけて取込むと倍率は「2」となる。
タ分とした場合、この1024データ分を収納できるメ
モリに周期を毎1ユ時間Tをかけて取込んだデータを倍
率rlJとした場合、同じ信号を周期2を毎に時間2T
をかけて取込むと倍率は「2」となる。
この倍率の変更C二より表示器255二表示される周波
数スペクトラムの配列を周波数軸に対して任意の倍率で
拡大して表示することができ1分解能をその倍率だけ高
めることができる。分解能の向上(二より今まで見えな
かったスペクトルを表示することができるよう(−なる
。
数スペクトラムの配列を周波数軸に対して任意の倍率で
拡大して表示することができ1分解能をその倍率だけ高
めることができる。分解能の向上(二より今まで見えな
かったスペクトルを表示することができるよう(−なる
。
実例としてその倍率は2倍から256倍まで拡大できる
践柚が実用されている。
践柚が実用されている。
蓚率を決める委累は先(−も説明したよう(ニリサンプ
リングスイツテ1.9 Kと19Fのりサンプリング周
′aI(間引率)であり、また拡大する場合の中心周波
数はディジタル周波数変換器19Aと19Bで設定しに
中心周波数となる。
リングスイツテ1.9 Kと19Fのりサンプリング周
′aI(間引率)であり、また拡大する場合の中心周波
数はディジタル周波数変換器19Aと19Bで設定しに
中心周波数となる。
バッファメモリ21(;取込まれにデータは高速フーリ
エ変換子ト呆−23(二送られフーリエ変換されて主メ
モリ24(−記憶され1表示器25C:周波数スペクト
ラムを表示する。
エ変換子ト呆−23(二送られフーリエ変換されて主メ
モリ24(−記憶され1表示器25C:周波数スペクト
ラムを表示する。
以上C二よりディジタルスペクトラムアナライザ11の
構成及び動作が理解されよう。
構成及び動作が理解されよう。
この発明(二おいてはこのようなディジタルスペクトラ
ムアナライザの入力側に時間−電圧変換器12を設ける
ものであるいこの時間−電圧変換器12の一例を第2図
ン用いて説明する。第2図C二示す例は説明を簡素Cユ
済ませるにめ(二なるべく簡単な梧造の時間−電圧変換
器を例示している。
ムアナライザの入力側に時間−電圧変換器12を設ける
ものであるいこの時間−電圧変換器12の一例を第2図
ン用いて説明する。第2図C二示す例は説明を簡素Cユ
済ませるにめ(二なるべく簡単な梧造の時間−電圧変換
器を例示している。
この時間−′紙圧変換器12は第3図AC二示す被測定
パルスPaによって第3図D(−示すクロックパルスP
d (第3図D)を打抜くグー)12Aと、このゲート
12人で打抜かれたグロックパルスPe(第3図E)が
与えられてクロックパルスPeのH論理期間だけオン(
−制御されるスイッチ素子12Bと、このスイツy−素
子12Bl二定′砿流を与える定電流回路12cと、ス
イッチ素子12Bがオンになる毎【=定滑ずつ充゛埴が
行なわれるコンデンサ12Dと、コンデンサ12Dの両
端1:接続されコンデンサ12D【二充′厄されr:、
F4荷を一リセット信号Po(S4&3図C)の供給に
よって放出するリセット用スイツy−素子12F2と1
−よって構成することができる。
パルスPaによって第3図D(−示すクロックパルスP
d (第3図D)を打抜くグー)12Aと、このゲート
12人で打抜かれたグロックパルスPe(第3図E)が
与えられてクロックパルスPeのH論理期間だけオン(
−制御されるスイッチ素子12Bと、このスイツy−素
子12Bl二定′砿流を与える定電流回路12cと、ス
イッチ素子12Bがオンになる毎【=定滑ずつ充゛埴が
行なわれるコンデンサ12Dと、コンデンサ12Dの両
端1:接続されコンデンサ12D【二充′厄されr:、
F4荷を一リセット信号Po(S4&3図C)の供給に
よって放出するリセット用スイツy−素子12F2と1
−よって構成することができる。
この回路は簡単な階段波発生回路である。この階段波発
生回路(;よってパルスPaのパルス幅Tpを電圧1g
号V5(第3図F)l二変換することができる。
生回路(;よってパルスPaのパルス幅Tpを電圧1g
号V5(第3図F)l二変換することができる。
制御器14は被測定パルスPaの後縁ン検出し。
この後縁に同期したパルスPb (第3図B)を生成す
る。このパルスPbをADE換器13とバッファメモリ
27;二与え、AD変換器131:AD変換動作を行な
わせると共1−バッファメモリ271−データの畏込動
作Y行なわせる。
る。このパルスPbをADE換器13とバッファメモリ
27;二与え、AD変換器131:AD変換動作を行な
わせると共1−バッファメモリ271−データの畏込動
作Y行なわせる。
スペクトラムアナライザ11をオシログラフとして動作
させる場合は切替スイツy−18と28をそれぞれ接点
入(;1.rl替えればよい。
させる場合は切替スイツy−18と28をそれぞれ接点
入(;1.rl替えればよい。
このよう(ニすればAD変換器13のAD災換出力はそ
のままの状態、つまり周期信号の状態でバッファメモリ
271:lF込まれ、またバ・ソファメモリ21i二転
送されて表示器25(二映出させることができる。
のままの状態、つまり周期信号の状態でバッファメモリ
271:lF込まれ、またバ・ソファメモリ21i二転
送されて表示器25(二映出させることができる。
ここで一つの例として入力パルスPaの]くルス幅が一
種類のパルス幅でその一つの種類のパルス幅が再生系の
不具合によって変動しているものとし 、た場合表示器
25の管面(−は入力パルスPaのパルス幅の変す1に
対応する電圧波形が例えば第4図(−示すよう(−描か
れる。
種類のパルス幅でその一つの種類のパルス幅が再生系の
不具合によって変動しているものとし 、た場合表示器
25の管面(−は入力パルスPaのパルス幅の変す1に
対応する電圧波形が例えば第4図(−示すよう(−描か
れる。
この電圧波形はパルス幅で、が時間の経過(二伴なって
変動する様子を表わしている。この表示された波形の周
期TmYIlil!I定すること(二よってパルス幅の
変動周期、つまりジッタの周期及び周波数を知ることが
できる。
変動する様子を表わしている。この表示された波形の周
期TmYIlil!I定すること(二よってパルス幅の
変動周期、つまりジッタの周期及び周波数を知ることが
できる。
またこの波形の振#A%>を測定すること(二よりジッ
タの最大値及び最小g11求めることができろ。
タの最大値及び最小g11求めることができろ。
ここで入力パルスPaの極性を反転させ、負極性のパル
スとして入力したとすると、今度はパルスP、相互間の
時間間隔(二対応した時間が電圧1:変換され、これが
AD変換されるからこのAD変換された信号を表示器2
5に表示させることC二よってパルス相互の時間間隔の
変動を表示することができる。
スとして入力したとすると、今度はパルスP、相互間の
時間間隔(二対応した時間が電圧1:変換され、これが
AD変換されるからこのAD変換された信号を表示器2
5に表示させることC二よってパルス相互の時間間隔の
変動を表示することができる。
ところで例えばコンパクトディスクのようC;T=23
1.3850Sを単位として3T−11Tの9種類のパ
ルス幅を持ち、これら9種類のパルス幅の信号が不規則
に発生するパルス信号を入力した場合C二はオシログラ
フの管面(二は第5ei二示すように9本の輝線LN1
〜LN、が描かれる。つまりこの9本の輝線LN、〜L
N、は微視的C二艶ると第6図(二示すよう(二各1個
のパルスによって表示されるドツトDI + DB +
D3・・・・・・の果合(二よって線として描かれる
ものであって、ドツト相互の間は高速で移動するから各
線LN1〜LN、の相互の間1;は輝線は殆んど表示さ
れることはない。
1.3850Sを単位として3T−11Tの9種類のパ
ルス幅を持ち、これら9種類のパルス幅の信号が不規則
に発生するパルス信号を入力した場合C二はオシログラ
フの管面(二は第5ei二示すように9本の輝線LN1
〜LN、が描かれる。つまりこの9本の輝線LN、〜L
N、は微視的C二艶ると第6図(二示すよう(二各1個
のパルスによって表示されるドツトDI + DB +
D3・・・・・・の果合(二よって線として描かれる
ものであって、ドツト相互の間は高速で移動するから各
線LN1〜LN、の相互の間1;は輝線は殆んど表示さ
れることはない。
このよう(−して表示された9本の輝線LN、〜LN、
は各パルス幅のパルス幅変動を表示している。
は各パルス幅のパルス幅変動を表示している。
つまり各輝線L N1〜L N、の幅(垂直方向の幅)
が太いか細いか(−よってパルス幅が変動しているか否
かを知ることができる。
が太いか細いか(−よってパルス幅が変動しているか否
かを知ることができる。
ところで9本の線L N、〜LN、を全て描かした場合
、各1本の線の幅が太いか細いか(二よってパ・ルス幅
が変動しているか否かを知ること−はできるが、その変
動の規則性の有無及び規則性が有った場合(二七の周期
を表示させることまでは測定することはできない。
、各1本の線の幅が太いか細いか(二よってパ・ルス幅
が変動しているか否かを知ること−はできるが、その変
動の規則性の有無及び規則性が有った場合(二七の周期
を表示させることまでは測定することはできない。
この之めスペクトラムアナライザ11を本来のスペクト
ラムアナライザとして動作させる。このためには切替ス
イッチ18と28を接点已に倒せばよい。
ラムアナライザとして動作させる。このためには切替ス
イッチ18と28を接点已に倒せばよい。
切替スイッチ28を接点B(二切賛ること(二よって周
期信号は逆数変換器26で逆数変換され周波数頭域の信
号となる。この周波数領域の信号をパルスPb(第3図
B)C二同期してバッファメモリ27に取込む。
期信号は逆数変換器26で逆数変換され周波数頭域の信
号となる。この周波数領域の信号をパルスPb(第3図
B)C二同期してバッファメモリ27に取込む。
バッファメモリ27C二取込んだ信号は読出されて倍率
変更回路19を通じて第2バツフアメモリ2 I C転
送される。倍S4!−変更回路19で周波数軸方向の倍
率が呈定され5周波数軸方向の分解能が決定される。
変更回路19を通じて第2バツフアメモリ2 I C転
送される。倍S4!−変更回路19で周波数軸方向の倍
率が呈定され5周波数軸方向の分解能が決定される。
倍率変更回路19で倍率が変更されにデータは第2のバ
ッファメモリ211−一旦取込まれ、高速フーリエ変換
1段23でフーリエ変換され周波数分析が行なわれる。
ッファメモリ211−一旦取込まれ、高速フーリエ変換
1段23でフーリエ変換され周波数分析が行なわれる。
周波数分析結果は王メモリ24(二順次取込まれ表示器
25(二表示される。
25(二表示される。
その表示の一例を第7図(二示す。第7図に示すスペク
トラムsp1.sp、、sp、、sp4・・・・・・は
ジッタの周波数成分を示す。SPlはジッタの基本波成
分を表わしている。この基本波(−sp2.sp、。
トラムsp1.sp、、sp、、sp4・・・・・・は
ジッタの周波数成分を示す。SPlはジッタの基本波成
分を表わしている。この基本波(−sp2.sp、。
sp4・・・・・・で示される周波数の信号が重畳して
いることが解る。各スペクトラムsp1.sp2・・・
・・・で表わされる信号の周波数は表示面上の横軸の目
盛31によって読取ることができる。基本波及びこれに
重畳している信号の鼠は表示面上の縦軸の目盛32によ
って読取ることかでさる。
いることが解る。各スペクトラムsp1.sp2・・・
・・・で表わされる信号の周波数は表示面上の横軸の目
盛31によって読取ることができる。基本波及びこれに
重畳している信号の鼠は表示面上の縦軸の目盛32によ
って読取ることかでさる。
このよう蓄二高速フーリエ変換器23を使って周波数分
析を行なうことにより被測定パルスPaに含まれるジッ
タを周波数分析して測定することができる。また被測定
パルスPaのパルス幅の種類が多数存在してもジッタの
周波数成分をスペクトラムとして表示することができる
。
析を行なうことにより被測定パルスPaに含まれるジッ
タを周波数分析して測定することができる。また被測定
パルスPaのパルス幅の種類が多数存在してもジッタの
周波数成分をスペクトラムとして表示することができる
。
尚−つのパルス幅のパルスに重畳するジッタを求めるに
はバッファメモリ27からデータを読出す際に、成る周
波数成分のデータだけをマイクロコンピュータ22のウ
インドオ機能を使って読出し、このデータを高速フーリ
エ変換して周波数分析を行なえばよい。このようにすれ
ば単一周期のパルスに重畳するジッタだけをスペクトラ
ムとして表示させることができる。
はバッファメモリ27からデータを読出す際に、成る周
波数成分のデータだけをマイクロコンピュータ22のウ
インドオ機能を使って読出し、このデータを高速フーリ
エ変換して周波数分析を行なえばよい。このようにすれ
ば単一周期のパルスに重畳するジッタだけをスペクトラ
ムとして表示させることができる。
一方この発明ではシフタの周波数が変動している場合に
その変動の様子を測定できる機能をも具備している。
その変動の様子を測定できる機能をも具備している。
つまりジッタの周波数が変動している場合には第7図に
示したスペクトラム上において各スペクトル5Pl−S
Psの大きさが時間の経過と共に変化したり、或は各ス
ペクトルsp、 −sp、以外のスペクトルが瞬時に生
じたりする現象が見られる。
示したスペクトラム上において各スペクトル5Pl−S
Psの大きさが時間の経過と共に変化したり、或は各ス
ペクトルsp、 −sp、以外のスペクトルが瞬時に生
じたりする現象が見られる。
スペクトルSPI −sp、の大きさが種々変化しても
その動きは速いため見えた現象を頭に記憶することはで
きない、またスペクトルSP1〜SP、以外のスペクト
ルが瞬時に発生してもそのスペクトルがどの周波数に発
生したかを測定することもできない。
その動きは速いため見えた現象を頭に記憶することはで
きない、またスペクトルSP1〜SP、以外のスペクト
ルが瞬時に発生してもそのスペクトルがどの周波数に発
生したかを測定することもできない。
このためこの発明では時間の経過に従うて順次メモリに
取込んだジッタ信号を時間の経過順序に従ってブロック
化して取出し、このブロック化して取出したデータをフ
ーリエ変換して周波数分析を行なう。この周波数分析し
たデータの中から予め規定した周波数区間に存在するデ
ータを取出してそのデータの和を時間軸に沿って表示器
に表示させる。表示されたデータは測定開始から終了ま
での間に取込んだ測定データに含まれる成る周波数区間
内の成分の変動を表している。
取込んだジッタ信号を時間の経過順序に従ってブロック
化して取出し、このブロック化して取出したデータをフ
ーリエ変換して周波数分析を行なう。この周波数分析し
たデータの中から予め規定した周波数区間に存在するデ
ータを取出してそのデータの和を時間軸に沿って表示器
に表示させる。表示されたデータは測定開始から終了ま
での間に取込んだ測定データに含まれる成る周波数区間
内の成分の変動を表している。
よってこの発明によれば例えば回転体の回転が時間の経
過に従って変動するような場合にジッタの周波数が変動
する様子を表示器に表示させることができる。この表示
によってジッタの周波数が変動していることを知ること
ができる。
過に従って変動するような場合にジッタの周波数が変動
する様子を表示器に表示させることができる。この表示
によってジッタの周波数が変動していることを知ること
ができる。
このための構成としてはバックアメモリ21又は27か
らデータをブロック化して順次読出す読出手段と、この
読出手段で読出したデータをフーリエ変換して周波数領
域の信号に変換する高速フーリエ変換器23と、この高
速フーリエ変換器23で周波数領域の信号の中から予め
設定した周波数区間に存在するスペクトルの和或はピー
ク値又は比を記憶する記憶器と、この記憶器に記憶した
周波数成分の和又はピーク値あるいは比を時間軸に沿っ
て表示する表示器25とによって構成することができる
。
らデータをブロック化して順次読出す読出手段と、この
読出手段で読出したデータをフーリエ変換して周波数領
域の信号に変換する高速フーリエ変換器23と、この高
速フーリエ変換器23で周波数領域の信号の中から予め
設定した周波数区間に存在するスペクトルの和或はピー
ク値又は比を記憶する記憶器と、この記憶器に記憶した
周波数成分の和又はピーク値あるいは比を時間軸に沿っ
て表示する表示器25とによって構成することができる
。
ここで言うバッファメモリは27又は21の何れをも用
いることができる。ここでは例えばバックアメモリ21
にバッファメモリ27を介して時間の経過に従って順次
AD変換されたデータを取込み、このデータを順次読出
して高速フーリエ変換する場合について説明する。
いることができる。ここでは例えばバックアメモリ21
にバッファメモリ27を介して時間の経過に従って順次
AD変換されたデータを取込み、このデータを順次読出
して高速フーリエ変換する場合について説明する。
バックアメモリ21に例えば第9図に示すようにレベル
変化するジッタ信号を記憶したとする。
変化するジッタ信号を記憶したとする。
このジッタ信号を8+で示すブロックを第1ブロツクと
してマイクロコンピュータ22が読出し、この第1ブロ
ツクB+に含まれる例えば1024個のディジタルシフ
タ信号を高速フーリエ変換手段23に送り、高速フーリ
エ変換手段23で第1ブロックB、のジッタ信号を周波
数分析する。この周波数分析結果が第10図Aであるも
のとする。
してマイクロコンピュータ22が読出し、この第1ブロ
ツクB+に含まれる例えば1024個のディジタルシフ
タ信号を高速フーリエ変換手段23に送り、高速フーリ
エ変換手段23で第1ブロックB、のジッタ信号を周波
数分析する。この周波数分析結果が第10図Aであるも
のとする。
次にバックアメモリ21の読出アドレスを時間に換算し
て△tに相当する分子nだけずらし、第2ブロツクB2
を読出す。この第2ブロンクB2のジッタ信号を高速フ
ーリエ変換手段23で周波数分析する。この周波数分析
結果を第1O図Bに示す。
て△tに相当する分子nだけずらし、第2ブロツクB2
を読出す。この第2ブロンクB2のジッタ信号を高速フ
ーリエ変換手段23で周波数分析する。この周波数分析
結果を第1O図Bに示す。
更にバッファメモリ21の読出アドレスを+nずらし、
第3ブロックB、を読出す。この第3ブロックB、のジ
ッタ信号を高速フーリエ変換器23で周波数分析する。
第3ブロックB、を読出す。この第3ブロックB、のジ
ッタ信号を高速フーリエ変換器23で周波数分析する。
この周波数分析結果を第10図Cに示す。
このようにして順次読出アドレスを+nずつずらしなが
らバッファメモリ21に収納したジッタ信号を読出し、
各ブロックのジッタ信号を周波数分析し、その周波数分
析結果を例えば主メモリ24に収納する。
らバッファメモリ21に収納したジッタ信号を読出し、
各ブロックのジッタ信号を周波数分析し、その周波数分
析結果を例えば主メモリ24に収納する。
主メモリ24に収納した周波数分析したデータを用いて
予め設定した周波数区間f1〜f2に含まれる周波数成
分の和を求める。この演算はマイクロコンピュータ22
で行なわれ、その算出データΣA、ΣB、ΣC・・・を
再び主メモリ24に収納する。
予め設定した周波数区間f1〜f2に含まれる周波数成
分の和を求める。この演算はマイクロコンピュータ22
で行なわれ、その算出データΣA、ΣB、ΣC・・・を
再び主メモリ24に収納する。
従ってこの発明の構成要素であるバックアメモリ21の
内容を読出開始アドレスを順次ずらしながら所定アドレ
ス分ずつ読出す読出手段はマイクロコンピュータ22に
よって構成される。
内容を読出開始アドレスを順次ずらしながら所定アドレ
ス分ずつ読出す読出手段はマイクロコンピュータ22に
よって構成される。
またフーリエ変換した周波数領域のデータの中から予め
設定した周波数区間に存在する信号成分の和或いはピー
ク値又は比を記憶する記憶器は主メモリで構成すること
ができる。
設定した周波数区間に存在する信号成分の和或いはピー
ク値又は比を記憶する記憶器は主メモリで構成すること
ができる。
マイクロコンピュータ22は更に主メモリ24に収納し
た算出データを取出して表示器25に転送する。表示器
25では算出データΣA、ΣB。
た算出データを取出して表示器25に転送する。表示器
25では算出データΣA、ΣB。
ΣC・・・を第11図に示すように時間軸に沿ってレベ
ルに応じて配列する。その配列の結果描かれる曲線はバ
ッファメモリ21にジッタ信号の取込を開始した時点か
ら取込を終了した時点までの時間内におけるシフタに含
まれる周波数成分の中の周波数区間f1〜ftに含まれ
る信号成分が時間の経過と共に変動している様子を示し
ている。
ルに応じて配列する。その配列の結果描かれる曲線はバ
ッファメモリ21にジッタ信号の取込を開始した時点か
ら取込を終了した時点までの時間内におけるシフタに含
まれる周波数成分の中の周波数区間f1〜ftに含まれ
る信号成分が時間の経過と共に変動している様子を示し
ている。
従って例えば周波数f、の成分だけを取出して表示させ
ることにより周波数f訣けの成分の変動を表示すること
ができる。
ることにより周波数f訣けの成分の変動を表示すること
ができる。
またこの例ではジッタ信号の中の周波数区間f。
〜ftに含まれる信号成分の和を算出してその変動を表
示した場合を説明したが、周波数f1〜ftの区間に含
まれる最大値を摘出し、その最大値の変動を表示させる
こともできる。また、ある特定周波数のレベルとそれ以
外の周波数成分の比の変動を表示させることもできる。
示した場合を説明したが、周波数f1〜ftの区間に含
まれる最大値を摘出し、その最大値の変動を表示させる
こともできる。また、ある特定周波数のレベルとそれ以
外の周波数成分の比の変動を表示させることもできる。
第8図にこの発明の他の実施例を示す、この例では被測
定パルスのパルス幅を計測する時間計測手段33を設け
、この時間計測手段33に設定した時間の上限値と下限
値の間に入るパルスが入力された場合だけバ・ノファメ
モリ27にデータの取込を許すように構成した場合を示
す。
定パルスのパルス幅を計測する時間計測手段33を設け
、この時間計測手段33に設定した時間の上限値と下限
値の間に入るパルスが入力された場合だけバ・ノファメ
モリ27にデータの取込を許すように構成した場合を示
す。
このように時間計測手段33を設けることによって人力
に複数のパルス幅の被測定パルスを与えた場合でも、そ
の複数種類のパルス幅のパルスの中から一つのパルス幅
のパルスを取出してバッファメモリ27に書込むことが
できる。この結果単一パルス幅のパルスに重畳するシフ
タを測定する場合にはバッファメモリ27には、そのパ
ルス幅の変動を示すデータだけが収録され、他のパルス
幅のデータは収録しないからバッファメモリ27の容量
を最大限に利用することができる。
に複数のパルス幅の被測定パルスを与えた場合でも、そ
の複数種類のパルス幅のパルスの中から一つのパルス幅
のパルスを取出してバッファメモリ27に書込むことが
できる。この結果単一パルス幅のパルスに重畳するシフ
タを測定する場合にはバッファメモリ27には、そのパ
ルス幅の変動を示すデータだけが収録され、他のパルス
幅のデータは収録しないからバッファメモリ27の容量
を最大限に利用することができる。
「発明の作用効果」
以上説明したようにこの発明によれば被測定パルスを時
間−電圧変換して被測定パルスのパルス幅変動或はパル
ス間隔変動を電圧の変動に変換し、この電圧変動信号を
AD変換してスペクトラムアナライザに入力する構成と
したから、スペクトラムアナライザには被測定パルスが
持つ周波数成分を含まない、つまりジッタ成分だけを持
つ信号を入力することができる。この結果スペクトラム
アナライザとして動作させた場合、表示器にはジッタが
持つ周波数成分を示すスペクトラムだけを表示すること
ができ、他の大きなレベルを持つ信号が表示されること
はない。よってその表示されたスペクトラムは雑音成分
と比較して充分大きく表示され、雑音成分にうずもれる
ことなく確実にレベル及び周波数等を測定することがで
きる。
間−電圧変換して被測定パルスのパルス幅変動或はパル
ス間隔変動を電圧の変動に変換し、この電圧変動信号を
AD変換してスペクトラムアナライザに入力する構成と
したから、スペクトラムアナライザには被測定パルスが
持つ周波数成分を含まない、つまりジッタ成分だけを持
つ信号を入力することができる。この結果スペクトラム
アナライザとして動作させた場合、表示器にはジッタが
持つ周波数成分を示すスペクトラムだけを表示すること
ができ、他の大きなレベルを持つ信号が表示されること
はない。よってその表示されたスペクトラムは雑音成分
と比較して充分大きく表示され、雑音成分にうずもれる
ことなく確実にレベル及び周波数等を測定することがで
きる。
然もスペクトラムアナライザをオシログラフとして動作
させるとジッタの波形を見ることができる。よってこの
波形の振幅からジッタの最大値と最小値を測定すること
ができる。
させるとジッタの波形を見ることができる。よってこの
波形の振幅からジッタの最大値と最小値を測定すること
ができる。
またこの発明によればジッタの周波数が時間的に変動す
る様子を表示器25に表示させることができるから、例
えばコンパクトディスク或は磁気ディスクの駆動装置の
不具合な部分を指摘する確立を高めることができる。
る様子を表示器25に表示させることができるから、例
えばコンパクトディスク或は磁気ディスクの駆動装置の
不具合な部分を指摘する確立を高めることができる。
このようにこの発明によればパルス列信号に関する各種
の測定を行なうことができ、ディジタル再生器等の評価
及び良否判定等を行なう場合に用いてその効果は頗る大
である。
の測定を行なうことができ、ディジタル再生器等の評価
及び良否判定等を行なう場合に用いてその効果は頗る大
である。
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
はこの発明に用いる時間−電圧変換器の一例を説明する
ための接続図、第3図は時間−電圧変換器とAD変換動
作のタイミングを説明するための波形図、第4図及び第
5図はこの発明による時間間隔分析装置の分析結果の例
を示す正面図、第6図は第5図に示した分析結果が描か
れる様子を説明するための図、第7図はこの発明の装置
によって得られる付加的な分析結果を説明するための正
面図、第8図はこの発明の他の実施例を説明するための
ブロック図、第9図乃至第11図はこの発明の装置の主
となる分析方法とその分析結果を説明するためのグラフ
、第12図は従来のシフタ測定方法を説明するための図
である。 11ニスペクトラムアナライザ、12:時間−電圧変換
器、13:AD変換器、14:制御器、21.27:バ
ッファメモリ、22:マイクロコンピュータ、23:高
速フーリエ変換手段、24:主メモリ、25:表示器。
はこの発明に用いる時間−電圧変換器の一例を説明する
ための接続図、第3図は時間−電圧変換器とAD変換動
作のタイミングを説明するための波形図、第4図及び第
5図はこの発明による時間間隔分析装置の分析結果の例
を示す正面図、第6図は第5図に示した分析結果が描か
れる様子を説明するための図、第7図はこの発明の装置
によって得られる付加的な分析結果を説明するための正
面図、第8図はこの発明の他の実施例を説明するための
ブロック図、第9図乃至第11図はこの発明の装置の主
となる分析方法とその分析結果を説明するためのグラフ
、第12図は従来のシフタ測定方法を説明するための図
である。 11ニスペクトラムアナライザ、12:時間−電圧変換
器、13:AD変換器、14:制御器、21.27:バ
ッファメモリ、22:マイクロコンピュータ、23:高
速フーリエ変換手段、24:主メモリ、25:表示器。
Claims (1)
- (1)A、入力回路にAD変換器を具備したディジタル
スペクトラムアナライザと、 B、上記AD変換器の前段側に設けられ被測定パルスの
パルス幅をそのパルス幅に比例した電圧に変換する時間
−電圧変換器と、 C、この時間−電圧変換器に入力される被測定パルスの
後縁を検出して上記AD変換器に AD変換動作を行なわせる制御器と、 D、上記AD変換器のAD変換結果を順次格納するバッ
ファメモリと、 E、このバッファメモリの内容を読出開始アドレスを順
次ずらしながら所定アドレス分ずつ読出す読出手段と、 F、この読出手段で読出したデータをフーリエ変換し周
波数領域のデータに変換する高速フーリエ変換手段と、 G、この高速フーリエ変換器でフーリエ変換した周波数
領域のデータの中から予め設定した周波数区間に存在す
る信号成分の和或はピーク値又は比を記憶する記憶器と
、 H、この記憶器に記憶した周波数成分の和或いはピーク
値又は比を時間軸に沿って表示する表示器と から成る時間間隔分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26242086A JPH073445B2 (ja) | 1986-11-04 | 1986-11-04 | 時間間隔分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26242086A JPH073445B2 (ja) | 1986-11-04 | 1986-11-04 | 時間間隔分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117272A true JPS63117272A (ja) | 1988-05-21 |
| JPH073445B2 JPH073445B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=17375537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26242086A Expired - Fee Related JPH073445B2 (ja) | 1986-11-04 | 1986-11-04 | 時間間隔分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH073445B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04116785U (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-20 | アンリツ株式会社 | ジツタ測定器 |
| US5293520A (en) * | 1991-10-18 | 1994-03-08 | Advantest Corporation | Jitter analyzer |
| KR100521666B1 (ko) * | 1997-09-13 | 2006-01-27 | 소니 프리시전 엔지니어링 센터 프라이버트 리미티드 | A/d변환을이용한지터측정방법및디바이스 |
| JP2006313160A (ja) * | 2005-05-04 | 2006-11-16 | Advantest Corp | ジッタ測定装置、及びジッタ測定方法 |
| JP4774543B2 (ja) * | 2000-03-29 | 2011-09-14 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ推定装置及び推定方法 |
| JP2011196719A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | ジッタ試験装置及びジッタ試験方法 |
-
1986
- 1986-11-04 JP JP26242086A patent/JPH073445B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04116785U (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-20 | アンリツ株式会社 | ジツタ測定器 |
| US5293520A (en) * | 1991-10-18 | 1994-03-08 | Advantest Corporation | Jitter analyzer |
| KR100521666B1 (ko) * | 1997-09-13 | 2006-01-27 | 소니 프리시전 엔지니어링 센터 프라이버트 리미티드 | A/d변환을이용한지터측정방법및디바이스 |
| JP4774543B2 (ja) * | 2000-03-29 | 2011-09-14 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ推定装置及び推定方法 |
| JP2006313160A (ja) * | 2005-05-04 | 2006-11-16 | Advantest Corp | ジッタ測定装置、及びジッタ測定方法 |
| JP2011196719A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | ジッタ試験装置及びジッタ試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH073445B2 (ja) | 1995-01-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6753677B1 (en) | Trigger jitter reduction for an internally triggered real time digital oscilloscope | |
| JPS5934164A (ja) | 波形取込装置 | |
| JPH0361908B2 (ja) | ||
| JPH10227816A (ja) | リアルタイム信号アナライザ | |
| JPH0782052B2 (ja) | タイミング・パルスのジッタ測定方法 | |
| JPS58502019A (ja) | 少数の大きさサンプルからアナログ波形を再生し且つ表示する技術 | |
| JP2003185683A (ja) | 波形測定器 | |
| JPS63117272A (ja) | 時間間隔分析装置 | |
| JP2002221537A (ja) | 試験測定機器及び試験測定方法 | |
| JPH0575271B2 (ja) | ||
| US7219025B2 (en) | Waveform measuring instrument using interpolated data | |
| US5093751A (en) | Carry noise measuring system for magnetic recording medium | |
| JP3139803B2 (ja) | インパルス応答測定装置 | |
| JP3539616B2 (ja) | 波形測定器 | |
| JP3057275B2 (ja) | 波形表示装置 | |
| JP3407667B2 (ja) | データ表示方法及びこれを用いた測定器 | |
| JP3368472B2 (ja) | 信号分析装置 | |
| JPS61201173A (ja) | 磁気デイスク特性測定装置 | |
| JP3084753B2 (ja) | ディジタルオシロスコープの自動掃引機構 | |
| JP3279010B2 (ja) | 表示データ補間装置 | |
| JP3028388B2 (ja) | 電子回路の周波数特性測定装置 | |
| US6654700B2 (en) | Testing method of semiconductor integrated circuit and equipment thereof | |
| JP2987953B2 (ja) | 波形観測装置 | |
| JP2531437B2 (ja) | ビデオ信号検査装置 | |
| JP2574636Y2 (ja) | 波形解析装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |