JPH04116785U - ジツタ測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 非測定対象から出力される測定信号を短周期
で測定すること。 【構成】 被測定対象から出力される測定信号Ｓは、エ
ッジ検出部３でエッジが検出される。このエッジ検出さ
れる間、カウンタ６は、クロック４のクロックＣＬＫを
計数したカウント値ＣＮＴをＲＡＭ７ａ，７ｂに順次格
納する。これにより、測定終了後において、ＲＡＭ７
ａ，７ｂの記憶内容から測定信号Ｓのエッジごとに被測
定対象を測定することができる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、パルス幅、パルスデユーティーの基本測定を行うジッタ測定器に関 する。

【０００２】

【従来の技術】

モータの回転数測定、周波数測定、立ち上がり特性等、あるいはカードリーダ において磁気カードの記録密度等の測定は、以下のいずれかの手段により行われ ていた。 モータの回転数測定は、図４（ａ）に示すようにモータ４０に設けられた発電 機４１ａのアナログ出力、あるいは回転パルス発生器からのディジタル出力に基 づき、同図（ｂ）で示す発電機出力Ｓ１，あるいは同図（ｃ）に示すパルス発生 器出力Ｓ２の周期Ｔ１，Ｔ２の変化によりモータの回転数のふらつき等を測定す ることができる。 この測定は、その１…周波数カウンタを用いて波形観測を行う。その２…メモ リスコープを用い、記憶された波形を解析する。その３…ワウ・フラットメータ を用いる。のいずれかの方法により行っていた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上記周波数カウンタは、数秒の数パルスを取り込んで周波数を 表示するため、Ｔ１，Ｔ２（１パルスごと）のふらつきを測定することが不可能 であった。 また、メモリスコープは、波形を全て記憶する構成であり、その波形を１パル スごとに作業者が読み取るには操作、および処理のための時間がかかった。また 、装置が高価である。 ワウ・フラットメータは、大きなふらつきを測定するものであって、前記同様 各波形ごとの測定を行うことができなかった。 このように、従来の測定器は、いずれも一定特性の計測に向いており、容易に 各パルスごとの波形を測定することができなかった。このため、短周期でのパル ス測定が出来ず、瞬時のモータ回転数測定、特に起動特性等をそくていすること ができなかった。

【０００４】 本考案は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、被測定対象から出力され るパルスについて、各パルスごとの波形を測定でき、高精度な測定ができるジッ タ測定器を提供することを目的としている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、本考案のジッタ測定器は、被測定対象から出力され る測定パルス（Ｓ）のエッジを検出するごとにエッジ検出信号（Ｅ）を出力する エッジ検出部（３）と、 該エッジ検出信号が入力されるまでの一定周期の間、クロック（ＣＬＫ）を計 数し、カウント値（ＣＮＴ）を出力するカウンタ（６）と、 該カウンタのカウント値を順次、格納するＲＡＭ（７ａ，７ｂ）と、 を具備することを特徴としている。

【０００６】

【作用】

非測定対象から出力される測定信号Ｓは、エッジ検出部３でエッジが検出され 、エッジ−エッジ間の期間、対応するクロック４のカウント値ＣＮＴがカウンタ ６に計数される。このカウント値ＣＮＴは、ＲＡＭ７ａ，７ｂに順次格納される 。これにより、非測定対象の各種特性は、特性測定後、ＲＡＭ７ａ，７ｂから読 みだすことにより過去に逆上り、所定期間ごとに、最短では各エッジ（例えば半 周期）ごとに測定することができる。

【０００７】

【実施例】

図１は、本考案によるジッタ測定器１の実施例を示すブロック図である。 起動／停止制御部２は、Ａ，Ｂの２ｃｈに起動／停止用のトリガが入力される 間、測定パルスＳを取り込むものであり、例えばＡｃｈを測定開始トリガＳＴＡ 入力用にセットし、Ｂｃｈを測定終了トリガＳＴＰの入力用にセットできる。尚 、この起動／停止制御部２は汎用のインプットキャプチャを用いることができる 。 エッジ検出部３は、非測定対象の測定パルスＳのエッジを検出し、その都度カ ウンタ６にエッジ検出信号Ｅを出力する。 クロック４は、測定パルスＳに比して十分短い周期のクロック信号ＣＬＫをカ ウンタ６に供給する。 カウンタ６は、起動／停止制御部２による測定開始から測定終了までの測定パ ルスＳを各エッジ毎にカウント”０”から所定カウントだけ計数するカウント動 作を繰り返す。

【０００８】 ＣＰＵ５は、各構成部の動作を統括するものであり、前記測定パルスＳを各エ ッジのタイミングで計数済のカウント値をカウンタ６からＲＡＭ７ａに移送する 。また、このＲＡＭ７ａには、外付けＲＡＭ７ｂが増設自在であり、測定パルス 列Ｓ１，Ｓ２，…，の増大に対処できる。 また、このＣＰＵ５は、これら測定パルス列Ｓ１，Ｓ２，…，をＲＡＭ７ａ， ７ｂから読み出し、インターフェイス８を介して外部のパーソナルコンピュータ １０に出力する。パソコン１０では、各測定パルスＳについてグラフィック表示 や、波形印刷を行ったり、各種波形解析を行う。

【０００９】 次に、上記構成による動作をモータ回転数特性（モータ起動回転立ち上がり特 性）の測定に適用した例について説明する。尚、図２は、各構成部から出力され る信号をしめすタイミングチャート、図３は、上記動作の処理フローを示す図で ある。 不図示のモータを起動する時、図２（ａ）に示す測定開始トリガＳＴＡを同時 に出力させ、この測定開始トリガＳＴＡは、起動／停止制御部２に入力される。 同時に、このモータのパルス発生器からは、（ｄ）の測定パルスＳが出力されエ ッジ検出部３に入力される（ＳＰ１）。

【００１０】 エッジ検出部３は、測定パルスＳの立ち上がりを検知して（ｅ）のエッジ検出 信号Ｅを出力し、この立ち上がりタイミングごとにカウンタ６を”０”クリアす る。そして、カウンタ６は、（ｆ）に示すように、次のエッジ検出信号Ｅが入力 されるまでの間、すなわち測定パルスＳの立ち上がりまでの一周期Ｔ１の期間、 （ｃ）に示すクロック４のクロック信号ＣＬＫのカウント値を計数、保持する。 （ＳＰ２）。 尚、エッジ検出部３によるエッジ検出は、測定パルスＳの立ち上がりから立ち 下がりまで、あるいは、立ち下がりから立ち上がりまで、あるいは、立ち上がり から立ち上がりまで、あるいは、立ち下がりから立ち下がりまでのいずれかを任 意に選択でき、予め設定しておく。

【００１１】 また、前記起動／停止制御部２の起動出力によりＣＰＵ５は、一周期Ｔごとに 前記カウント値ＣＮＴをカウンタ６から読み出しＲＡＭ７ａに順次格納する（Ｓ Ｐ３）。尚、カウント値ＣＮＴが複数周期Ｔｎとなる場合に、ＣＰＵ５は外付け ＲＡＭ７ｂを利用してこのカウント値ＣＮＴを記憶することができる。そして、 このカウント、記憶動作は、起動／停止制御部２に対し測定終了トリガＳＴＰが 入力されるまで行われる（判断子ＳＰ４）。

【００１２】 上記動作により、ＲＡＭ７ａ，７ｂには、測定開始から測定終了までの期間、 複数周期Ｔｎ分のカウント値ＣＮＴが記憶されることになる。 したがって、ＣＰＵ５に対しある一周期Ｔ１について測定後に読みだすことに より、各々の測定パルスＳをカウント値として得ることができる。これにより、 このカウント値から測定パルスＳの一周期ごとに周期、周波数、さらには立ち上 がり・立ち下がり間時間、立ち下がり・立ち上がり間時間を測定することができ る。

【００１３】 ＲＡＭ７ａ，７ｂに記憶された複数周期Ｔｎ分のカウント値ＣＮＴは、Ｉ／Ｆ ８を介して外部のパソコン１０に出力でき、グラフ表示、印刷、外部記憶媒体へ の再格納等を行うことができる。

【００１４】 上記ジッタ測定器によれば、過去における一周期Ｔまで細分化して測定パルス Ｓを測定することができるため、特にモータの起動回転立ち上がり特性を容易に 測定することができる。 また、磁気カードを媒体とするカードリーダの搬送速度測定、磁気情報クロッ ク測定にも適用できる。カードリーダは一定速度で磁気カードを搬送するが、こ の条件時に搬送に対し負荷となる磁気カードへの書き込み処理等を行った場合に 、この磁気カードに正確なパルス列で記憶されているか否かを測定できる。この 場合、測定開始トリガＳＴＡをカード挿入孔部分に設けられた挿入検出用センサ で得て、測定終了トリガＳＴＰをカード排出孔の排出検出用センサで得ることが できる。この他、測定終了トリガＳＴＰを設けず、磁気ヘッド部分に中間位置セ ンサを設けてこのタイミングを得るように構成してもよい等、トリガのタイミン グ、配置は測定上任意に設定することができる。 さらに、上記ジッタ測定器によれば、カウント値ＣＮＴを測定することにより 周期的なパルスの歯抜けを容易に検出することができる。

【００１５】

【考案の効果】

本考案のジッタ測定器によれば、非測定対象から出力される測定信号のエッジ 検出をうけて所定周期ごとにカウント値を記憶する構成であるから、被測定対象 について、測定終了後には、各周期ごとに波形を測定でき、さらに最短では各エ ッジごとに高精度に測定を行うことができる効果を有する。さらに、この効果は 、簡単な構成にて得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案によるジッタ測定器の実施例を示すブロ
ック図。

【図２】各構成部から出力される信号を示すタイミング
チャート。

【図３】図３は、上記動作の処理フローチャート。

【図４】（ａ）は、モータの回転特性の測定を行う状態
を示す図。（ｂ）は、発電機出力を示す波形図。（ｃ）
は、パルス発生器出力を示す波形図。

【符号の説明】

１…ジッタ測定器、２…起動／停止制御部、３…エッジ
検出部、４…クロック、５…ＣＰＵ、６…カウンタ、７
ａ…ＲＡＭ、７ｂ…外付けＲＡＭ、８…インターフェイ
ス、１０…パーソナルコンピュータ、ＳＴＡ…測定開始
トリガ、ＳＴＰ…測定終了トリガ、ＣＬＫ…クロック、
Ｓ…測定信号、Ｅ…エッジ検出信号、ＣＮＴ…カウント
値。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定対象から出力される測定パルス
   （Ｓ）のエッジを検出するごとにエッジ検出信号（Ｅ）
   を出力するエッジ検出部（３）と、該エッジ検出信号が
   入力されるまでの一定周期の間、クロック（ＣＬＫ）を
   計数し、カウント値（ＣＮＴ）を出力するカウンタ
   （６）と、該カウンタのカウント値を順次、格納するＲ
   ＡＭ（７ａ，７ｂ）と、を具備することを特徴とするジ
   ッタ測定器。