JPS63122973A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Ｉｃ試験装置

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JPS63122973A
JPS63122973A JP61270134A JP27013486A JPS63122973A JP S63122973 A JPS63122973 A JP S63122973A JP 61270134 A JP61270134 A JP 61270134A JP 27013486 A JP27013486 A JP 27013486A JP S63122973 A JPS63122973 A JP S63122973A
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test
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circuit
output terminal
tested
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JP61270134A
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Takashi Sehata
瀬畑　貴史
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被試験ＩＣ（集積回路）に、テストパターン
を印加し、被試験ＩＣの良否を判定するＩＣ試験装置に
関する。
〔従来の技術〕
ＩＣの特性試験として、出力側に一定の容量が負荷容量
としである場合の試験が重賛である。
この試験を行なうためには、ＩＣ試験装置に固有の負荷
容量を勘案して、一定の固定容量を被試験ＩＣの出力側
に並列になるように附加していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、被試験ＩＣの試験として、負荷容量を一定で
なく、その値を変えた試験が必要になる場合もある。ま
た被試験ＩＣが異なれば、負荷容量値を変えねばならな
い。上記の場合に、試験装置に組みこんだ固定容量をそ
の都度手作業で交換することは能率がわるい。
そこで、本発明の目的は、上記の欠点を除去し、迅速に
負荷容量試験の条件変更を行なうことのできるＩＣ試験
装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のＩＣ試験装置は、被試験ＩＣの出力端子に仮想
負荷容量として接続した可変負荷容量回路と、該回路の
容量をプログラマブルに制御する制御部とを具備するよ
うにしたものである。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の一実施例の説明を行なう
。第１図が実施例の回路ブロック図であって、被試験Ｉ
ＣＩにドライバ４を介して測定部７からテストパターン
を印加し、その出力端子２の出力信号をコンパレータ３
を介して測定部７に入力し、判定を行なう。
本実施例では、被試験ＩＣＩの出力端子２とコンパレー
タ３との間に可変負荷容量回路５を接続する。この可変
負荷容量回路５は、測定部７に設けた制御部６からの信
号によって、プログラマブルにその容量を変化すること
ができる。
〔発明の効果〕
以上、説明したように、ＩＣ試験装置の測定部に設けた
制御部からの信号によって、被試験ＩＣの出力端子に接
続された可変負荷容量回路の容量値を任意に変化するこ
とができる。したがって一定の負荷容量下における試験
条件を容易に設定し、また変化することができるので作
業能率が向上する。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の一実施例の回路ブロック図である。 １・・・被試験ＩＣ，２・・・出力端子、３・・・コン
パレータ、　　４・・・ドライバ、５・・・可変負荷容
量回路、 ６・・・制御部、 ７・・・ＩＣ試験装置の測定部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 　被試験ＩＣ（集積回路）にテストパターンを印加し、
    出力信号を検出し、良否判定を行なうＩＣ試験装置にお
    いて、被試験ＩＣの出力端子に仮想負荷容量として接続
    した可変負荷容量回路と、該回路の容量をプログラマブ
    ルに制御する制御部とを具備したことを特徴とするＩＣ
    試験装置。
JP61270134A 1986-11-12 1986-11-12 Ｉｃ試験装置 Expired - Lifetime JPH0785100B2 (ja)

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JPS63122973A true JPS63122973A (ja) 1988-05-26
JPH0785100B2 JPH0785100B2 (ja) 1995-09-13

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5900770A (en) * 1997-06-13 1999-05-04 Intel Corporation Variable loading apparatus for output loading of integrated circuits
RU2613568C1 (ru) * 2015-12-14 2017-03-17 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5900770A (en) * 1997-06-13 1999-05-04 Intel Corporation Variable loading apparatus for output loading of integrated circuits
RU2613568C1 (ru) * 2015-12-14 2017-03-17 федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) Устройство для определения нагрузочной способности микросхем

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JPH0785100B2 (ja) 1995-09-13

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