JPS63126859U - - Google Patents

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JPS63126859U
JPS63126859U JP1757087U JP1757087U JPS63126859U JP S63126859 U JPS63126859 U JP S63126859U JP 1757087 U JP1757087 U JP 1757087U JP 1757087 U JP1757087 U JP 1757087U JP S63126859 U JPS63126859 U JP S63126859U
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JP
Japan
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conical
flaw detection
testing method
ultrasonic flaw
vertical testing
Prior art date
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Pending
Application number
JP1757087U
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一実施例を示し、第１図はシヤ
フトの端面に円錐治具および超音波探触子をあて
がつた状態の断面図であり、第２図はブラウン管
の画面上のエコーを示す波形図であり、第３図は
超音波探触子、円錐治具及び切欠部の斜視図、第
４図は臨界角を説明する説明図である。第５図お
よび第６図は従来の斜角法を示し、第５図に超音
波探触子をとりつけた側面図、第６図はブラウン
管の画面上のエコーを示す波形図である。第７図
および第８図は従来の垂直法を示し、第７図は超
音波探触子をとりつけた側面図、第８図はブラウ
ン管の画面上のエコーを示す波形図である。 図中、Ｗはシヤフト（試験材）、１０は切欠部
、２は円錐治具、２０は円錐面、２１は探触子保
持孔（係合部）、３は超音波探触子をそれぞれ示
す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試験材に形成された円錐形状の壁面で規定
    された切欠部に嵌合される円錐面と、該円錐面の
    頂角の反対側に位置し超音波探触子と係合する係
    合部と、をもつことを特徴とする超音波探傷垂直
    試験方法に使用する円錐治具。 (2) フエノール樹脂または金属で形成されてい
    る実用新案登録請求の範囲第１項記載の超音波探
    傷垂直試験方法に使用する円錐治具。 (3) 円錐面の頂角は４０〜７０度である実用新
    案登録請求の範囲第１項記載の超音波探傷垂直試
    験方法に使用する円錐治具。
JP1757087U 1987-02-09 1987-02-09 Pending JPS63126859U (ja)

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JP1757087U JPS63126859U (ja) 1987-02-09 1987-02-09

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JPS63126859U true JPS63126859U (ja) 1988-08-18

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