JPS6312780U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6312780U JPS6312780U JP10706186U JP10706186U JPS6312780U JP S6312780 U JPS6312780 U JP S6312780U JP 10706186 U JP10706186 U JP 10706186U JP 10706186 U JP10706186 U JP 10706186U JP S6312780 U JPS6312780 U JP S6312780U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- check
- inspection jig
- semiconductor inspection
- terminal
- terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例を示す斜視図、第
２図は従来のＩＣクリツプの斜視図である。 図中、１はＩＣクリツプ本体、１ａ，１ｂはク
リツプ片、３はチエツク端子、４はＩＣ接触端子
である。尚、図中同一符号は同一又は相当部分を
示す。
２図は従来のＩＣクリツプの斜視図である。 図中、１はＩＣクリツプ本体、１ａ，１ｂはク
リツプ片、３はチエツク端子、４はＩＣ接触端子
である。尚、図中同一符号は同一又は相当部分を
示す。
Claims (1)
- 一端にチエツク端子を有し、他端にＩＣ接触端
子を有する一対のクリツプ片からなる半導体検査
治具において、上記チエツク端子をジグザグ状に
配置するとともに、チエツク端子長に高低をつけ
たことを特徴とする半導体検査治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10706186U JPS6312780U (ja) | 1986-07-10 | 1986-07-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10706186U JPS6312780U (ja) | 1986-07-10 | 1986-07-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6312780U true JPS6312780U (ja) | 1988-01-27 |
Family
ID=30982991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10706186U Pending JPS6312780U (ja) | 1986-07-10 | 1986-07-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6312780U (ja) |
-
1986
- 1986-07-10 JP JP10706186U patent/JPS6312780U/ja active Pending