JPS63139221A - 一定光子数分光器 - Google Patents

一定光子数分光器

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JPS63139221A
JPS63139221A JP28728586A JP28728586A JPS63139221A JP S63139221 A JPS63139221 A JP S63139221A JP 28728586 A JP28728586 A JP 28728586A JP 28728586 A JP28728586 A JP 28728586A JP S63139221 A JPS63139221 A JP S63139221A
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wavelength
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filter
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JP28728586A
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Toshihiko Takebe
武部 敏彦
Shigeo Murai
重夫 村井
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)技術分野 この発明は、白色光を分光し、一定光子数の単色光を出
力する分光器に関する。
分光器は、白色光源を分光し、ある波長範囲の単色光を
出射する装置である。
白色光を単色光に分けるのは、プリズムや回折格子であ
る。
分光された単色光は、試料に当て、光電導度や吸収係数
などの波長依存性、すなわちスペクトルを測定す・るの
に用いられる。
分光器は、既に古い歴史を持ち、測定装置として広く用
いられている。分光器の出力は波長依存性があって、光
子数が一定であるものは、これまで存在しなかった。
まず、白色光源の波長依存性がある。白色光源は紫外か
ら赤外にわたる、多様な波長の色を、さまざまな強度で
含んでいる。光源の光強度の波長λに関する分布をl1
n(λ)とかくことにする。これはλに関し、一様では
なく、光源により、複雑なλ(波長)依存性をもってい
る。
回折格子、プリズムによって分光するが、分光効率Tも
波長λに依存する。
このため、分光された後、分光器から出射される単色光
の強度1out (W/art )は、次のような波長
依存性がある。
1out (λ)二T(λ)Iin(λ)(1)このよ
うに、分光器の出力のスペクトルは、白色光源のスペク
トルと、分光効率T(λ)の積で決まる強度分布をもっ
ている。
0)光子 光は波動性と粒子性を持っている。光を粒子とみなす場
合、その1個分を光子(photon )又は光量子と
いう。光子1個あたりのエネルギーEはe E=hν= −(2) λ によって与えられる。ここで、hはブランク定数、νは
光の振動数、Cは光速である。
従って、強度が1outである光に、単位時間あなり0
個の光子が含まれているとすると、Φは、によって与え
られる。これは、出力光に含まれる、波長λの光の光子
束である。
従来の分光器は、Φ(λ)を一定にしようというものか
なかった。Φ(λ)はλにより、多様にバラついていた
のである。λによって、光子数Φ(λ)は数桁も異なる
のが普通である。
従来の分光器に於てΦ(λ)を一定にするものがなかっ
た理由のひとつは、そのような要求がなかったからであ
ろうと思われる。
光のエネルギー、Ioutというものは、ある程度、実
在的な意味を持っている。しかし、光子は、未だ抽象的
な実在にとどまっており、物質の特性を測定する場合、
光子数によって氷量変数をノーマライズする、というよ
うな必要性がなかったのである。
しかし、光子には、単に抽象性を帯びた実体というだけ
でなく、物性の測定に於ても、明確な意味を帯びるよう
になってきている。
次に、光子数に比例するような物質定数の例を挙げて説
明する。
これによって、一定光子数を出力する分光器が必要であ
る、という事が理解されるであろう。
捻)光子数による非線型効果 光電導度に光子数による非線型現象の起こる場合がある
光電導というのは、物質に光を当てると、電気伝導度(
又は抵抗率)が光量に比例して変化する現象である。光
電導度は、光を当てた時の伝導度から、当てない時の伝
導度を差引いたΔσ(λ)によつて表わされる。
これは Δσ(λ)=S(λ)Φ(λ)(4) というように表わされる。S(λ)は光電導のスペクト
ルである。これは線型表現であるから、Δσが光子数Φ
に比例するということもできるし、エネルギーIout
に比例するということもできる。
入射光量が多い場合、線型ではなく、 Δσ(λ)=S’(λ)Φ(λゾ      (5)(
n>1) で表現される非線型効果を生じる事が知られている。s
′(λ)はS(λ)とは異なる光電導のスペクトルであ
る。
(4)は線型、(5)は非線型である。(4)から(5
)への遷移は、光子数による。その波長の光のエネルギ
ーによるのではない。光子数がある値以上であれば(5
)式が成りたち、ある値以下であれば(4)式が成立つ
線型領域(4)内のみでΔσ(λ)のスペクトルを測定
することによりS(λ)を求める事は正しい。
非線型領域(5)内のみでΔσ(λ)のスペクトルを測
定し、s′(λ)を求める事も正しい。
しかしながら、線型領域と非線型領域にまたがってΔσ
(λ)を測定し、いずれかの式(4)又は(5)によっ
てS(λ)又はS/(λ)を全てのλに対して求めても
、これは正しい結果ということができない。
従来の分光器では、出力光の強度Iout (λ)及び
光子数Φは、λによ怜全く異なる。このため、あるλに
対しては線型領域で、他のλに対しては非線型領域でΔ
σ(λ)を測定する、という事になる。
このような測定は正しくないが、より都合の悪いことに
、従来の分光器を用いて実検を行なう場合、測定が線型
、非線型の領域にまたがっていることが分らない。
このため、光電導スペクトルの解析を誤まることになる
に)応答時定数の光子数依存性 暗中で平衡状態にあった試料に、ある波長の光を照射し
、光電導度や光吸収係数の時間応答を調べる測定を行な
うことがある。
応答の時定数では定数ではない。波長依存性がある。さ
らに、光子数Φの依存性がある。τ(λ)はτ(λ) 
=             (6)A(λ)Φ(λ) と書くことができる。A(λ)は試料中の欠陥準位の光
イオン化断面積である。Φ(λ)は既に述べた光子束で
ある。
A(λ)は、閾値波長λthがあって、λ〉λthのと
き A(λ)>0    (7)λくλthのとき A
(λ)=0    (8)となっている。A(λ)のλ
依存性は、さきほどの光電導度スペクトルS(λ)にも
関係しており、重要なパラメータである。
もしも、照射光スペクトルΦ(λ)が一定であれば、時
定数τ(λ)の測定値から、A(λ)をそのまま得るこ
とができる。
反対に、もしも照射光スペクトルΦ(λ)が−宗でなけ
れば、τ(λ)の測定値にΦ(λ)を乗じて、A(λ)
を計算しなければならない。
これは、手間、時間を要し、煩労である。
(イ)発明が解決するべき問題点 前節までに述べた、光電導度Δσ(λ)の光子数に対す
る非線型性、時定数τ(λ)の光子数依存性の問題は、
半導体の特性測定の分野では、共通に現われるものであ
る。
それだけに、この問題を解決し、物理的に正しい測定を
、効率良く正確に行なうことが急務である。
このような測定のため、出力光の光子数Φ(λ)を一定
にするような分光器があればよい、という事がわかる。
Φ(λ)がλによらず一定であれば、光電導度Δσ(λ
)の非線型性に伴う問題を解決することができる。
これは測定を容易にするというだけでなく、Jllll
ll定結状の誤まりの危険を回避できる、ということで
ある。
さらに、分光器の出力光Φ(λ)を一定レベルにしてお
けば、 となるから、測定したいτ(λ)と、求めるべき光イオ
ン化断面積A(λ)とは逆数の関係になり 1/、(λ
)から、極めて簡単に光イオン化断面積A(λ)のスペ
クトルを求めることができるようになる。
(至)従来技術 出力光子数Φ(λ)を一定にするようにした分光器は、
これまで存在しなかった。  、 また、出力エネルギーl0ut(λ)をλによらず一定
にした分光器も、これまで存在しなかった。
これまでの分光器は、エネルギーIout (λ)、光
子数Φ(λ)ともに、波長λによって著しく変動するも
のばかりであった。
停)構 成 本発明の分光器は、単色化した光を、NDフイルりに通
す。このフイタは、波長λによらず、0〜1の任意の透
過率を与えることのできるフィルタである。
NDフィルタが全開、つまり透過率が1の場合の、全波
長λに対する光子数を測定し、メモリに記憶させておく
。そして、基準となる一定光子数を決める。前記の自然
光子数と基準光子数の比を求める。そして、この比の逆
数に等しく NDフィルタの透過率を与える。
こうすると、λによらず、出力の光子数は一定になる。
これが、本発明の分光器の原理である。
以下、図面によって説明する。
第1図は本発明の一定光子数分光器の構成図である。
白色光源1から出射された白色光は、分光器2によって
分光され単色化される。
分光器2は回折格子型、プリズム型など任意である。こ
れは公知のものを用いればよい。
出射単色光は2次光カットされた後、入射スリット20
から、一定フォトン制御部3へ入る。
一定フォトン制御部3は、これを一定のフォトンの光に
減衰して出射する。一定フォトン数の単色光は試料部4
へ照射されるようになっている。
試料部4は、試料移動用XYZステージ10により、x
、 y、 z三方向へ任意に移動できるようになってい
る。XYZステージ10は、XYZステージ自動自動駆
動制御機上って移動方向、移動量が与えられる。
また、分光器2には、出力する光の波長を掃引するため
の波長掃引コントローラ6がある。
一定フォトン制御部3と、分光器2の波長掃引コントロ
ーラ6は制御用コンピュータ5によって制御されている
一定フォトン制御部3の構成を第2図によって説明する
入射単色光13は、ニュートラルデンシティ(Neut
ral Density ND )フィルタ16を通っ
てハーフミラ−に達する。
NDフィルタ16の透過率をα(θ)で表わす。回転角
θによって、透過率はOから1までの任意の値に設定で
きる。α(θ)は、θとαの関係が既知である、という
事が重要である。また、波長依存性がないということも
重要である。
ハーフミラ−15によって単色光13は、透過単色光1
3bと、反射単色光13Cに分割される。反射率をβと
する。反射単色光と透過単色光の比はβ:(1−β)と
なる。
反射単色光13cは、さらに反射鏡23によって反射さ
れ光量検出器17に入る。
光量検出器17は入射光のエネルギーに比例した出力を
生じるものである。この出力は電圧又は電流であって電
気信号である。
この検出器17は波長依存性のないものが望ましい。波
長域によって、検出器も異なるが、可視域では光電子増
倍管を用いる。赤外領域ではサーモパイルを用いると良
い。これらは検出感度がフラットだからである。
一方、透過単色光13bは、ハーフミラ−15から、出
射スリット21を通り、試料部4に設置した試料に当た
る。
光量検出器17の出力をVで表わす。これは電圧又は電
流値である。これは検出器に入射した光の強度に比例す
る。比例定数をγとして、■(λ)=γα(のβIou
t (λ)       (I +)によって与えられ
る。これを、光子数Φ(λ)によって置換えると、 ス と書くことができる。Φ(λ)は入射スリット20へ入
った単色光の光子数である。
試料に入射する光子束F(λ)は、 F(λ)−〇(θ)(1−β)Φ(λ)(13)によっ
て与えられる。(12)、(13)から試料入射光子束
F(λ)は、 ことが目的であるから、λV(λ)を一定にすればよい
という事になる。
これは、光量検出器17の出力に波長λを乗じたもので
ある。
制御可能な波長の範囲は、用いる光源の発光特性l1n
(λ)や分光器の分光効率T(λ)によって決まる。
その範囲内のある波長区間を考える。
上限をΔmax、  下限をAm1nとする。波長λの
とりうる範囲りは Am1n≦λ≦Amax        (15)によ
って与えられる。範囲り内に於て、光子数V(λ)を一
定にすることが目的である。
Δmi n w A maxをΔλの幅でn個に分割す
る。
nΔλ= Amax −Am1n      (16)
である。Am1nからΔλずつλの値を増していった波
長λiをサンプリング波長とする。
λi= lfmin + (i−1)Δλ(i=1.2
、…、n+1)tIηただし、λ1==Amin、λn
+1 = Amaxである。
はじめは、NDフィルタを全開にする。すなわちα(θ
)−1となる値θ−θ0に設定しておく。
各λiについての光量検出器の出力V(λi)を求める
。iを1から(n+1)まで増してゆき、■(λi)を
そのつど求める。これは分光器の波長掃引コントローラ
6で、λについて掃引しながら検出器17の出力をA/
I)変換し、制御用コンピュータ5内にストアするよう
にする。
λiとV(λi)の値をベアにしてコンピュータ5内に
ストアする。コンピュータ内では積λiV(λi)を計
算してこれもストアしておくとよい。
式(12)から、α=1とした時、λiV(λi)は、
γβheΦ(λi)である。つまり、積λiV(λi)
を求めたという事は単色光の光子数Φ(λi)のλ依存
性を求めたという事である。
集合(λiV(λi))のうち、最小値を与える波長を
Aoとする。最小値はΛoV(Λo)である。Aoは(
λi)のいずれかに一致する。
そして、全ての波長λiに対し、NDフィルタの透過率
α(θ)を含めて、このレベルに等しくなるようにする
。つまり α(θo) Ao V (Λo)=α(θi)λiV(
λi)   (1s)となるように、α(θi)を決め
る。Aoのときのα(θ0)は1である。
これがNDフィルタの透過率の決定方程式である。
λVが小さい場合は透過率を大きくシ、λVが大きい場
合は透過率を小さくシ、αλVが一定になるようにする
前記のλfV(λi)に対しては(1旧;於てが成立し
ている。α=1としているからである。
こうして、λiに対するα(θi)のθiも求まった。
αのθに対する関係はNDフィルタ16の固有特性によ
り、これは既知である。従ってαが(18)によって決
まればθも決まる。
こうして、(λ11θi)の組を作ってコンビュータに
ストアしておく。これは、波長λiに対しては、NDフ
ィルタ16の透過率をα(θi)にするため制御角をθ
iにせよという事を表わしている。
以上が準備段階である。
次に一定光子数を出力する分光器の動作を説明する。
光の波長をA minからAmaxまで、或は逆方向に
Δλずつ掃引しながら、一定フォトン制御ライン8、制
御用A/D、 D/A変換器19、パルスモータ制御ラ
イン14を通じてパルスモータ26を駆動する。パルス
モータは、各λiに対応する先に記憶されたθiの値に
なるまでNDフィルタ16の角度を回転させる。
このようにすると、(+21式から λiV(λ1)−rβheα(θi)Φ(λi)(社)
となる。右辺のΦ(λi)は痢の左辺と同じものである
。しかし、左辺のλiV(λi)は、(+81、(1鴨
のλiV(λi)とは異なる。
翰にO→、(19)を代入すると、 λiV(λi)=ΔoV(,4o)         
圓となる。つまり、λ■が、最小値ΛoV(Λo)に合
致することになる。
(14)の右辺のλV(λ)は、@l)のλ■(λ)に
置換されることになるから、試料に入射される光子束は
となる。これは、試料に入射される光子束F(λi)が
λによらず一定になったという事である。
最小値に出力を合わせるので、最小値が小さい場合、全
体の出力が極めて低いレベルに抑えられる。これが不都
合であれば、Δ0とその近傍で白色光源1の強さl1n
(λ)を特に大きくするようにすればよい。こうすると
一定光子束出力F(λi)を押し上げることができる。
。 これも、電源出力制御ライン12を通して制御用コンピ
ュータ5によって制御することができる。
試料部4の構成は公知である。
試料部4のxyz移動ステージ10は、単色光が試料に
当たり、しかも試料面が集光位置に来るよう調整するも
のである。パルスモータを用いた公知の機構を利用して
いる。
第6図は以上説明した手順を説明するための図である。
横軸は波長である。縦軸はλV(λ)である。Λmin
〜ΛmaxをΔλごとに区切りλ1、λ2…とする。こ
のλiごとに出力V(λi)を求める。実線が積λV(
λ)(制御@)を示している。
これがAOに於て最小値Ao V (Λo)をとるとす
る。
ここから水平に引いた一点鎖線が制御後のλV(λ)で
ある。このように一定値にするために、NDフィルタ透
過率αの逆数を、Ao V (Λo)= 1とみなす尺
度で制御前のλV(λ)に等しくなるようにしである。
すなわち、 こうすれば、全てのλに対する出力波長積λV(λ)は
、 λV(λ)=αλV(λ) = Ao V (Λo)          (24)
となって一定となる。
以上の説明では光量検出器17に波長依存性がないとし
ている。しかし、波長依存性のない光量検出器が得難い
ということもある。
この場合は、波長依存性を(11)式のγに入れて、γ
(λ)としなければならない。
こうした場合は、(+4)式に於て、 とする。λV(λ)のかわりに、λV(λ)/γ(λ)
の値を記憶し、これの最小値を求め、出力がこの最小値
に一致するようにすればよい。V(λ)が一定になるの
は同じことである。
波長依存性γ(λ)が既知であれば、同様に本発明の方
法を適用できる。
(り)実施例 白色光源1としてハロゲンランプを使い、λ−2,4μ
m〜0.8μmの範囲で、本発明の実施例に係る分光器
を製作した。
ハロゲンランプは500Wのランプで、ランプ周囲を水
冷して劣化を防いでいる。
分光器2として、焦点距離30crnのグレーティング
型市販器を用いた。グレーティング刻線数600本/y
、ブレーズ波長1.6μmのものである。
使用波長範囲では、λ−1,9μm、 1.3μm、0
.75μmに2次光カットフィルターが必要であり、そ
れらのフィルターを当該波長で自動切換できるようにな
っている。ただし、0.75μm用2次光カットフィル
ターは常に光路中に入っている。
波長掃引は、0.8μm−45μmの範囲の中の任意の
2つの波長As、 A、の間で、短波長側、長波長側の
どちらからでも、100.50.20.10.5.2.
1nm/minの7つの速度で自動的に行なうことがで
きる。
光量検出器17としては、サーモバイルでできたレーザ
出力計を用いた。これは、感度の波長依存性がなく、光
のパワーを検出するには最適である。
しかし、サーモパイルであるから、光入射後の応答が遅
い。このため、比較的遅い速度で波長掃引する必要があ
った。
試料部4に於ける試料移動用xyzステージ10は、パ
ルスモータとコンピュータ5ヲ利用シ、X1Y、Z各方
向に±2μmの精度で自動移動できるようになっている
波長掃引は、刻みΔλを10μmとした。そして、Δm
ax = Z 4 pm から、Am1n=0.8μm
まで、Δλ=−10nmの刻みでλを変え、λiの喧と
、その時の光量検出器の出力V(λi)の測定値を、コ
ンピュータにストアした。n=160であって、i =
= 1.2、…、161である。Amax=λ1 =’
14μm、 Am1n=λ161 = 0.8μmであ
る。この測定はNDフィルタの透過率α(θo)−1と
している。
第3図は、こうして得られた出力V(λ)の測定値であ
る。
破線で示した部分は、2次光カットフィルタの切換えを
示す。ここでV(λ)は非連続となる。■(λ)はこの
ように、フィルタ入れ換えの所で光量の飛びがあり、連
続でない。また、ハロゲンランプの出射光スペクトルと
回折効率のスペクトルのため、“つりがね”状の強度ス
ペクトルとなっている。
次に、波長λiと出力V(λi)の積λiV(λi)の
最小値JoV(zfo)とこれを与える波長Aoを求め
る。
λ=Aoに対するNDフィルタのαを1とし、その他の
波長に対しては、(181式のように決める。すなわち
、λiに対し、αは、JoV(Jo)をλiV(λi)
で除した値として決定される。
λiに対するαが決まると、これを与えるべきθiは、
α−βの既知の関係から求められる。
第4図にここで用いたNDフィルタのα−θ関係を示す
。横軸は回転角θ、縦軸は透過率αである。この例では
θ=0でα=1、θ=320°でα=Oで、その間αは
θに対しリニヤに減少している。
このようなα−θ関係は予めコンピュータに記憶させて
おく。従ってλiに対するαからθiが求まるわけであ
る。
もちろん、αとθの函数関係はこのように単純でなくて
もよいのである。−価函数で連続であればよいのである
こうして、全ての波長λiに対して、NDフィルタの回
転角θiが得られる。
これまでが準備である。
以下が、一定光子数分光器としての機能になる。
次に分光器の波長掃引を、λ1 =Amax=’14μ
mに戻し、NDフィルタのθをλiに応じたθiに制御
しながら、i=1.2、…、161と切換えてゆき、λ
=A minまで掃引した。
この結果を第5図に示す。これは光量検出器の出力V(
λ)である。これは−、421)式の出力に対応してい
る。
V(λ)はλが短くなるにつれて、1/λに比例する変
化をしていることが確認される。
λ=24μmでは、λ=08μmの時の出力の1/3に
なっている。
これは、波長と出力の積λV(λ)が一定になったとい
うことを意味している。
さらに、これは、試料に入射する光子束F(λ)が、α
4)から一定になる、ということを意味している。
なお2次光カットフィルタの切換波長のλ=1.9μm
とλ−1,3μmでは、切換の前後で異なるθiを求め
ている。フィルタ切換えと同時に、θを1.9+εに対
応するものから1.9−εに対応するものに切換える。
このようにすると、第5図のV(λ)曲線に非連続がな
くなる。
NDフィルタの回転角θの切換えは、コンピュータ制御
されたパルスモータ16を用いている。
掃引時間は、光検出器17の応答時間によって制限され
る。さらに、NDフィルタの角度θの設定時間も必要で
ある。
これらの条件から、実効掃引速度は30 nm/min
とした。24μmから、0.8μmの間を約50分間で
掃引した。
試料に照射される光の光子束Vは、ハロゲンランプへの
入力電力を定格電力の1/3から、定格電力の1.5倍
まで変化させる事により、3X10 am  Seeか
らI X 10” cmsec−1まで変化させる事が
できた。
この例は、24〜0.8μmの広い範囲で、出力光子束
Vを一定にするものである。広い範囲であるから、当然
1は小さくなる。
波長制御範囲を、光量の多いブレーズ波長(〜1.6μ
m)を含む狭い範囲に制限すると、同じランプの同じ出
力レベルであっても、最小値Ao V (,4o)が大
きくなるから、出力光子束F(λ)はより高くなるので
ある。
なお、制御前のV(λ)の測定から、一定の出力光子束
F(λ)の出力までの動作は、全てコンピュータにより
自動制御されている。
←)効 果 (1)一定光子束の単色光F(λ)が出射されることに
なる。半導体の光電導度の非線型効果を避け、物理的に
意味のある測定を行なうことができる。
(2)光電導性、光吸収度の過渡的変化の指標である応
答時定数を求める。ことにより、過渡変化の解析を簡単
に行なうことができるようになる。
(3)複雑な光学遷移プロセスを有する■−v族化合物
半導体、n−vt族化合物半導体及びそれらの混晶の光
学的特性や欠陥中心などを調べる上に於て極めて有効で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一定光子数分光器の構成図。 第2図は一定フォトン制御部の構成図。 第3図は制御前の光検出器出力のスペクトルの例図。横
軸は光の波長(μm)、縦軸は光検出器出力である。 第4図はNDフィルタの透過率αの回転角θに対する依
存性を示すグラフ。 第5図は本発明の装置によってフォトン数に制御された
後の光検出器出力のスペクトル図。 第6図は本発明に於ける制御前、制御後の出力波長積λ
V(λ)、透過率aの逆数などを例示するグラフ。 1…………白 色 光 源2…………分光器3…………
一定フォトン制御部4… ………試料部5…………制御用コンピュータ6…………
波長掃引コントローラ7…… ……波長掃引・2次光カットフィルタ交換制御信号ライ
ン 7・・・・・・・・・・・・波長掃引・2次光カットフ
ィルタ交換制御信号ライン 8…………一定フォトン制御信号ライン9 、、、、、
、、、、、、、XYZステージ自動駆動制御機10……
……試料移動用XYZステージ11…………光源用電源
12…………電源出力制御ライ一ン13…………単色光
14 、、、、、、、、、、、、パルスモータ制御ライ
ン15…………ハーフミラ−16 …………NDフィルタ17…………光量検出器18……
……検出器出力ライン19…………制御用A/D、D/
A変換器20…………入射スリット21…………出射ス
リット22 、、、、、、、、、、、、シャッタ23…
………反射鏡26 、、、、、、、、、、、、バルスモ
ーク第   3   図 21・・・・・・・・・・・・出射スリット22 、、
、、、、、、、、、、シャッタ23・・・・・・・・・
・・・反射鏡 26 、、、、、、、、、、、、バルスモーク第   
3   図 宙9匍彼乃召麹江搭出力Vのスペクトル回転角 σ 第     5     図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 白色光を生じる白色光源1と、該白色光源1を駆動する
    光源用電源11と、白色光を波長λの単色光13に分光
    する分子器2と、分子器2より出射した単色光の光子数
    を一定数Ψ(λ)にするための一定フォトン制御部3と
    、一定フォトン数Ψ(λ)になった単色光を試料に当て
    るための試料部4と、分光器2が出力する単色光の波長
    λを掃引してゆく波長掃引コントローラ6と、該波長掃
    引コントローラ6及び一定フォトン制御部3を制御する
    制御用コンピュータ5と、光源用電源11と一定フォト
    ン制御部3をつなぐ電源出力制御ライン12とよりなり
    、一定フォトン制御部3は、回転角θにより0〜1間の
    値に任意に設定でき波長λによらない透過率α(θ)を
    もって入射単色光を透過させるNDフィルタ16と、該
    NDフィルタ16を透過した単色光を分割するハーフミ
    ラー15と、分けられた一方の光を出射する出射スリッ
    ト21と、分けられた他方の光の強度を検出し出力V(
    λ)を生ずる光量検出器17と、光量検出器17の出力
    V(λ)をA/D変換し制御用コンピュータ5へ出力し
    制御用コンピュータ5からの信号をD/A変換する制御
    用A/D、D/A変換器19と、前記制御用A/D、D
    /A変換器19によってD/A変換された信号に従いN
    Dフィルタ16の回転角θを制御するパルスモータ26
    とよりなり、最初に、NDフィルタ16の透過率α(θ
    )を1とし、定められた波長範囲Λmin〜Λmaxの
    間の波長を分割してλ_1、λ_2、λ_3、…とし、
    波長λ_iとこの波長に対する光量検出器出力V(λ_
    i)を求めてこれを記憶し、積λ_iV(λ_i)の最
    小値をΛoV(Λo)とし最小値を与える波長をΛoと
    し、λ_iに対するNDフィルタ16の透過率α(θ_
    i)を前記の記憶値から α(θ_i)=ΛoV(Λo)/λ_iV(λ_i)と
    して求め、λ_iに対応するNDフィルタの回転角θ_
    iをθとα(θ)の関係から算出し、各波長λ_iに対
    してNDフィルタ16の回転角θ_iを記憶させる事か
    らなる制御を行ない、制御後は入射単色光の波長λ_i
    に対してNDフィルタ16の回転角θをθ=θ_iとし
    て設定し一定フォトン制御部3の出射光の光子数を一定
    とした事を特徴とする一定光子数分光器。
JP28728586A 1986-12-02 1986-12-02 一定光子数分光器 Pending JPS63139221A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03279820A (ja) * 1990-03-29 1991-12-11 Anritsu Corp 可変波長光源装置
JP2005249760A (ja) * 2004-03-01 2005-09-15 Atoo Kk 微弱光スペクトルの測定方法及びその装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03279820A (ja) * 1990-03-29 1991-12-11 Anritsu Corp 可変波長光源装置
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