JPS63140917A - 溶融金属電磁流量計の補償方法 - Google Patents
溶融金属電磁流量計の補償方法Info
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- JPS63140917A JPS63140917A JP28676786A JP28676786A JPS63140917A JP S63140917 A JPS63140917 A JP S63140917A JP 28676786 A JP28676786 A JP 28676786A JP 28676786 A JP28676786 A JP 28676786A JP S63140917 A JPS63140917 A JP S63140917A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は誘導起電力を検出して溶融金属の流量を測定す
る電磁?X量計の、前記検出せる誘導起電力を補正する
溶融金属電磁流量計の補償方法に関する。
る電磁?X量計の、前記検出せる誘導起電力を補正する
溶融金属電磁流量計の補償方法に関する。
(従来の技術)
金属を溶融させた状態で移送する場合に当該溶融された
金属の流量即ち、流路の成る箇所を単位時間に通過する
量を測定する装置として電磁fL量計がある。この電磁
流量計は溶融状態の金属を移送させるダクトに、当該ダ
クト内の溶融金属の流れる方向と直交させて一対の電極
を対向させて配置し、これらの溶融金属の流れの方向及
び対向すする電極の各方向に夫々直交する方向に磁界を
印加し、前記ダクト内を流れる溶融金属と磁界との相互
作用により前記対向する電極間に誘起される誘導起電力
を測定し、当該測定した起電力により前記ダクト内を流
れる前記溶融金属の流量を測定するものである。
金属の流量即ち、流路の成る箇所を単位時間に通過する
量を測定する装置として電磁fL量計がある。この電磁
流量計は溶融状態の金属を移送させるダクトに、当該ダ
クト内の溶融金属の流れる方向と直交させて一対の電極
を対向させて配置し、これらの溶融金属の流れの方向及
び対向すする電極の各方向に夫々直交する方向に磁界を
印加し、前記ダクト内を流れる溶融金属と磁界との相互
作用により前記対向する電極間に誘起される誘導起電力
を測定し、当該測定した起電力により前記ダクト内を流
れる前記溶融金属の流量を測定するものである。
ところが前記電磁流量計においては、溶融金属と電極と
の間の温度差に起因して当該溶融金属と各電極との間に
夫々熱起電力を発生し、前記誘導起電力はこれらの熱起
電力が加わった状態で検出される。従って、当該検出し
た誘導起電力をそのまま使用すると前記熱起電力に相当
する分だけl6融金属の流量に誤差を住することとなる
。
の間の温度差に起因して当該溶融金属と各電極との間に
夫々熱起電力を発生し、前記誘導起電力はこれらの熱起
電力が加わった状態で検出される。従って、当該検出し
た誘導起電力をそのまま使用すると前記熱起電力に相当
する分だけl6融金属の流量に誤差を住することとなる
。
そこで、上記熱起電力に起因する測定誤差を補償すべく
前記電極間の誘導起電力を測定するに際し、温度差に起
因して現れる熱起電力を熱電対により求め、当該熱起電
力に相当する値を誘起起電力の実測値から差引くことに
よって補正し、当該補正した値により前記溶融金属の流
量を測定するようにした「溶融金属量M1流量計の熱起
電力補償装置(特開昭59−147220号公報)」が
提案されている。
前記電極間の誘導起電力を測定するに際し、温度差に起
因して現れる熱起電力を熱電対により求め、当該熱起電
力に相当する値を誘起起電力の実測値から差引くことに
よって補正し、当該補正した値により前記溶融金属の流
量を測定するようにした「溶融金属量M1流量計の熱起
電力補償装置(特開昭59−147220号公報)」が
提案されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記溶融金圧電in流量計の熱起電力補
償装置はその構成が複雑となり、また、熱電対により温
度を測定するために当該測定により生じた誤差は補償回
路の効果に大きな影響を与え、更に、電極と溶融金属と
は一般に異なる金属であるためにこれら両者間に分極電
位を生し、この分極電位による誤差を補償することが出
来ない等の問題がある。
償装置はその構成が複雑となり、また、熱電対により温
度を測定するために当該測定により生じた誤差は補償回
路の効果に大きな影響を与え、更に、電極と溶融金属と
は一般に異なる金属であるためにこれら両者間に分極電
位を生し、この分極電位による誤差を補償することが出
来ない等の問題がある。
本発明は上述の問題点を解決するためになされたもので
、測定せる誘導起電力に含まれる熱起電力等のノイズを
除去して当該測定値を補正し、溶融金属の流量の測定精
度の向上を図るようにした溶融金属電磁流量計の補償方
法を提供することを目的とする。
、測定せる誘導起電力に含まれる熱起電力等のノイズを
除去して当該測定値を補正し、溶融金属の流量の測定精
度の向上を図るようにした溶融金属電磁流量計の補償方
法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明によれば、溶融金属を
流通させるダクトに直交させて磁界を印加し、当該ダク
トに前記熔融金属の流れの方向と前記磁界の方向とに直
交させて配置せる電極間に発生する起電力を測定して前
記溶融金属の流量を測定する溶融金属電磁流量計の、前
記磁界を発生させる励磁電流を所定周期でオン、オフさ
せ、前記励磁電流のオン時とオフ時における各起電力を
夫々測定し、前記オン時の測定値から前記オフ時の測定
値を差し引いて前記磁界を印加したときの測定値を補正
し、当該補正した値により前記溶融金属の流量を測定す
るものである。
流通させるダクトに直交させて磁界を印加し、当該ダク
トに前記熔融金属の流れの方向と前記磁界の方向とに直
交させて配置せる電極間に発生する起電力を測定して前
記溶融金属の流量を測定する溶融金属電磁流量計の、前
記磁界を発生させる励磁電流を所定周期でオン、オフさ
せ、前記励磁電流のオン時とオフ時における各起電力を
夫々測定し、前記オン時の測定値から前記オフ時の測定
値を差し引いて前記磁界を印加したときの測定値を補正
し、当該補正した値により前記溶融金属の流量を測定す
るものである。
(作用)
溶融金属に印加する磁界を発生させる励磁電流を所定周
期でオン、オフさせ、溶融金属に磁界を印加している時
と印加しない時との各時間における電極間に誘起される
各起電力を測定する。磁界を印加している時に測定した
誘導起電力には本来の溶融金属と磁界との相互作用によ
り発生する誘導起電力の他に熱起電力、分極電位等のノ
イズが含まれている。一方、磁界を印加しないときに測
定した起電力は熱起電力、分極電位等のノイズに起因す
る。前記磁界を印加している時に測定した起電力から前
記磁界を印加していない時にぶり定した起電力を差し引
いて前記ノイズを除去し、前記溶融金属による誘導起電
力のみの測定値を得、当該補正した測定値により前記溶
融金属の流量を測定する。
期でオン、オフさせ、溶融金属に磁界を印加している時
と印加しない時との各時間における電極間に誘起される
各起電力を測定する。磁界を印加している時に測定した
誘導起電力には本来の溶融金属と磁界との相互作用によ
り発生する誘導起電力の他に熱起電力、分極電位等のノ
イズが含まれている。一方、磁界を印加しないときに測
定した起電力は熱起電力、分極電位等のノイズに起因す
る。前記磁界を印加している時に測定した起電力から前
記磁界を印加していない時にぶり定した起電力を差し引
いて前記ノイズを除去し、前記溶融金属による誘導起電
力のみの測定値を得、当該補正した測定値により前記溶
融金属の流量を測定する。
(実施例)
以下本発明の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。
第1図は本発明を適用した溶融金属電磁流量計の回路構
成を示し、溶融金属1を移送するダクト2の直径上の両
側方位置には励磁用の電磁石3の各磁極3a、3bが当
該ダクト2を挟むようにして対向配置され、当該電磁石
3の励磁コイル4は励磁電流制御回路5に接続されてい
る。この電磁石3は励磁電流を供給されると両磁極間に
磁界を発生してダクト2内を流れる溶融金属1にその流
れの方向(紙面に垂直な方向)と直角方向に所定の大き
さの磁界を印加する。
成を示し、溶融金属1を移送するダクト2の直径上の両
側方位置には励磁用の電磁石3の各磁極3a、3bが当
該ダクト2を挟むようにして対向配置され、当該電磁石
3の励磁コイル4は励磁電流制御回路5に接続されてい
る。この電磁石3は励磁電流を供給されると両磁極間に
磁界を発生してダクト2内を流れる溶融金属1にその流
れの方向(紙面に垂直な方向)と直角方向に所定の大き
さの磁界を印加する。
ダクト2にはその直径上の上、下位置に一対の電極6.
6が対向して配置され、これらの各電極6.6は溶融金
属1の流れの方向と前記磁界の方向とに夫々直交する方
向に対向して配置されている。
6が対向して配置され、これらの各電極6.6は溶融金
属1の流れの方向と前記磁界の方向とに夫々直交する方
向に対向して配置されている。
制御回路10はマイクロコンピュータにより構成され、
中央演算処理装置(以下CPUという)11、記憶装置
(以下メモリという)12、増幅器13、サンプルホー
ルド回路14、アナログ−デジタル変換器(以下A/D
変換器という)15等を備え、CPUI 1の各出力端
子は励磁電流制御回路5、サンプルホールド回路14及
び出力表示装置17に接続され、増幅器13の入力端子
はダクト2に装着された各電極6.6に、出力端子はサ
ンプルホールド回路14の入力端子に夫々接続される。
中央演算処理装置(以下CPUという)11、記憶装置
(以下メモリという)12、増幅器13、サンプルホー
ルド回路14、アナログ−デジタル変換器(以下A/D
変換器という)15等を備え、CPUI 1の各出力端
子は励磁電流制御回路5、サンプルホールド回路14及
び出力表示装置17に接続され、増幅器13の入力端子
はダクト2に装着された各電極6.6に、出力端子はサ
ンプルホールド回路14の入力端子に夫々接続される。
A/D変換器15の入力端子はサンプルホールド回路1
4の出力端子に、出力端子はCPUI lの入力端子に
接続される。また、キーボード入力装置16の出力端子
はcpultの入力端子に接続される。
4の出力端子に、出力端子はCPUI lの入力端子に
接続される。また、キーボード入力装置16の出力端子
はcpultの入力端子に接続される。
以下に作用を説明する。
CPUIIはメモリ12に記憶されているプログラムに
従って励磁電流制御信号Paを所定の周期で出力して励
磁電流制御回路5に加える。この制i11信号Paは第
2図(alに示すように時間T、の間ハイレベル、時間
T2の間口−レベルとされるパルス信号で、例えば出力
時間TIを20SeC1休止時間T2を1Qsecに設
定される。励磁電流制御回路5はパルス信号Paを入力
されている間所定の励磁電流I (第2図(b))を出
力(オン)して電磁石3のコイル4を励磁する。これに
より電磁石3はダクト2内を流れる溶融金属lにその流
れの方向に直交する方向に磁界を印加する。
従って励磁電流制御信号Paを所定の周期で出力して励
磁電流制御回路5に加える。この制i11信号Paは第
2図(alに示すように時間T、の間ハイレベル、時間
T2の間口−レベルとされるパルス信号で、例えば出力
時間TIを20SeC1休止時間T2を1Qsecに設
定される。励磁電流制御回路5はパルス信号Paを入力
されている間所定の励磁電流I (第2図(b))を出
力(オン)して電磁石3のコイル4を励磁する。これに
より電磁石3はダクト2内を流れる溶融金属lにその流
れの方向に直交する方向に磁界を印加する。
ダクト2内を流れる溶融金属1に前記磁界が印加されて
いる時には、これらの移動する溶融金属1と磁界との相
互作用により電Fi6.6間に誘導起電力Eonが発生
される。この誘導起電力Eonには、ダクト2の内径d
、磁界の磁束密度B、溶融金属1の流速Vに比例した大
きさの本来の誘導起電力Eaの他に、前述したように溶
融金属lと各電極6.6との温度差に起因する熱起電力
、熔融金属1と各電極6.6との間に発生する分罹電位
等のノイズ成分Ebが含まれている(Eon=Ea+E
b)、また、励磁電流Iが出力されない時(オフ時)即
ち、溶融金属1に磁界が印加されない時には前記誘導起
電力Eaは零(Ea=O)となり電極6.6間に発生さ
れる起電力Eoffは前記熱起電力、分極電位による起
電力Ebのみとなる(Eoff =Eb ) 。
いる時には、これらの移動する溶融金属1と磁界との相
互作用により電Fi6.6間に誘導起電力Eonが発生
される。この誘導起電力Eonには、ダクト2の内径d
、磁界の磁束密度B、溶融金属1の流速Vに比例した大
きさの本来の誘導起電力Eaの他に、前述したように溶
融金属lと各電極6.6との温度差に起因する熱起電力
、熔融金属1と各電極6.6との間に発生する分罹電位
等のノイズ成分Ebが含まれている(Eon=Ea+E
b)、また、励磁電流Iが出力されない時(オフ時)即
ち、溶融金属1に磁界が印加されない時には前記誘導起
電力Eaは零(Ea=O)となり電極6.6間に発生さ
れる起電力Eoffは前記熱起電力、分極電位による起
電力Ebのみとなる(Eoff =Eb ) 。
これらの電極6.6間に発生した起電力Eon又はEo
ffは夫々増幅器13により増幅されて出力される。一
方、CPUIIは溶融金属lに磁界を印加している時に
は第2図(C1に示すようにサンプリングパルス信号p
bを、磁界を印加していない時には同図+diに示すサ
ンプリングパルス信号Pcを出力してサンプルホールド
回路14に加える。
ffは夫々増幅器13により増幅されて出力される。一
方、CPUIIは溶融金属lに磁界を印加している時に
は第2図(C1に示すようにサンプリングパルス信号p
bを、磁界を印加していない時には同図+diに示すサ
ンプリングパルス信号Pcを出力してサンプルホールド
回路14に加える。
サンプルホールド回路14はサンプリングパルス信号p
bを印加された時に前記起電力Eonを取り込んでホー
ルドし、サンプリングパルスPcを印加された時に前記
起電力Eoffを取り込んでホールドする。A/D変換
器15は逐次人力されるこれらの各起電力Eon、 E
offを夫々対応するデジタル信号Don、 Doff
に変換して出力する。CPU1lはA/D変換器15か
ら順次出力される信号Don、、Doffをメモリ12
に一時格納する。
bを印加された時に前記起電力Eonを取り込んでホー
ルドし、サンプリングパルスPcを印加された時に前記
起電力Eoffを取り込んでホールドする。A/D変換
器15は逐次人力されるこれらの各起電力Eon、 E
offを夫々対応するデジタル信号Don、 Doff
に変換して出力する。CPU1lはA/D変換器15か
ら順次出力される信号Don、、Doffをメモリ12
に一時格納する。
尚、サンプルホールド回路14に取り込まれる各起電力
Eon、 Eoffには前記溶融金属1と電極6.6と
の温度差に起因する熱起電力、溶融金属1と各電極6.
6との間の分極電位の他に、各電極6.6とリード線と
の接続点に発生する熱起電力、増幅器13のドリフト等
に起因するノイズが含まれる。
Eon、 Eoffには前記溶融金属1と電極6.6と
の温度差に起因する熱起電力、溶融金属1と各電極6.
6との間の分極電位の他に、各電極6.6とリード線と
の接続点に発生する熱起電力、増幅器13のドリフト等
に起因するノイズが含まれる。
ところで、起電力Eoff即ち、Ebは主として温一度
の変化により生じるノイズであり、その時定数は可成り
長く、前記溶融金属1に磁界を印加している時間T+の
間における当該起電力Ebの変化は掻めて小さく無視す
ることが出来る。従って、溶融金属lのみに起因する前
記誘導起電力Eaは(Ea −Eon −Eoff )
で表される。このイ直Eaは前述した熱起電力等のノイ
ズを除去され、溶融金属1の流量に極めて正確に対応す
る。
の変化により生じるノイズであり、その時定数は可成り
長く、前記溶融金属1に磁界を印加している時間T+の
間における当該起電力Ebの変化は掻めて小さく無視す
ることが出来る。従って、溶融金属lのみに起因する前
記誘導起電力Eaは(Ea −Eon −Eoff )
で表される。このイ直Eaは前述した熱起電力等のノイ
ズを除去され、溶融金属1の流量に極めて正確に対応す
る。
また、溶融金属電磁流量計は種々の断熱処理を施す必要
があるために、電磁石3の形状寸法をある程度大きくし
なければならず、これに伴いコイル40寸法や巻数を大
きくする必要がある。それ故にコイル4の時定数は可成
り長くなり数秒程度になるのは普通である。従って、前
記検出した起電力Eon、Eoff (Eb )をサ
ンプル周期の数十秒の間正6′僅に保持することが必要
である。しかしながら、通常のサンプルホールド素子で
はこのような長い時間信号を間正確に保持することは因
難である。そこで、上述したように、A/D変換器15
から出力された信号Don、 Doffを一時メモリ1
2に格納しておき長時間の保持を可能とさせる。
があるために、電磁石3の形状寸法をある程度大きくし
なければならず、これに伴いコイル40寸法や巻数を大
きくする必要がある。それ故にコイル4の時定数は可成
り長くなり数秒程度になるのは普通である。従って、前
記検出した起電力Eon、Eoff (Eb )をサ
ンプル周期の数十秒の間正6′僅に保持することが必要
である。しかしながら、通常のサンプルホールド素子で
はこのような長い時間信号を間正確に保持することは因
難である。そこで、上述したように、A/D変換器15
から出力された信号Don、 Doffを一時メモリ1
2に格納しておき長時間の保持を可能とさせる。
CPUIIはメモリ12に格納した各値Don、Dof
fを読み出し、これらの各値Don、 Doffに基づ
いて、(Don−Doff )の演算を行い溶融金属1
のみによる誘導起電力Eaに対応する値Da(= Do
n −Doff )を算出し、更に当該算出した値Da
により溶融金属lの流量Qを演算し、燭応する流量信号
を出力して出力表示装置’717に加える。出力表示装
置i17はCPUI 1から入力される流量信号により
前記溶融金属1の流量Qを表示する。斯くして溶融金属
1の流量を正確に測定することができる。
fを読み出し、これらの各値Don、 Doffに基づ
いて、(Don−Doff )の演算を行い溶融金属1
のみによる誘導起電力Eaに対応する値Da(= Do
n −Doff )を算出し、更に当該算出した値Da
により溶融金属lの流量Qを演算し、燭応する流量信号
を出力して出力表示装置’717に加える。出力表示装
置i17はCPUI 1から入力される流量信号により
前記溶融金属1の流量Qを表示する。斯くして溶融金属
1の流量を正確に測定することができる。
ところで、ダクト2や電極6.6等を使い捨てる方式の
溶融金属電磁流量計においては頻繁にダクト2や電極6
.6を取り替える。これらの使い捨て方式に使用される
ダクト2や電極6.6等は安価なものを使用するために
形状寸法のバラツキが大きく、ダクト2の内径寸法等は
可成り大きな誤差がある。また、ダクト2を装着する際
に各電極6.6の位置はしばしば電磁石3の磁極3a、
3bの中心から離れた位置に配置されることがある。従
って、このようなダクト2の寸法誤差や電極6.6の取
り付は位置の誤差等を補正する必要がある。そこで、ダ
クト2や電極6.6等を交換する度に、キーボード入力
装置16によりCPU11に電磁流量計の出力に影響を
及ぼすパラメータ例えば、ダクト2の内径、ダクト2の
収縮率、電極6.6の位置等を入力する。CPtJl
1はこれらの入力された各値をメモリ12に格納し、前
記熔融金属の流量の演算時に所要のパラメータを補正す
る。
溶融金属電磁流量計においては頻繁にダクト2や電極6
.6を取り替える。これらの使い捨て方式に使用される
ダクト2や電極6.6等は安価なものを使用するために
形状寸法のバラツキが大きく、ダクト2の内径寸法等は
可成り大きな誤差がある。また、ダクト2を装着する際
に各電極6.6の位置はしばしば電磁石3の磁極3a、
3bの中心から離れた位置に配置されることがある。従
って、このようなダクト2の寸法誤差や電極6.6の取
り付は位置の誤差等を補正する必要がある。そこで、ダ
クト2や電極6.6等を交換する度に、キーボード入力
装置16によりCPU11に電磁流量計の出力に影響を
及ぼすパラメータ例えば、ダクト2の内径、ダクト2の
収縮率、電極6.6の位置等を入力する。CPtJl
1はこれらの入力された各値をメモリ12に格納し、前
記熔融金属の流量の演算時に所要のパラメータを補正す
る。
(発明の効果)
以上説明したように本発明によれば、溶融金属を流通さ
せるダクトに直交させて磁界を印加し、当該ダクトに前
記溶融金属の流れの方向と前記磁界の方向とに直交させ
て配置せる電極間に発生する起電力を測定して前記溶融
金属の流量を測定する溶融金属電磁流量計の、前記磁界
を発生させる励磁電流を所定周期でオン、オフさせ、前
記励磁電流のオン時とオフ時における各起電力を夫々測
定し、前記オン時の測定値から前記オフ時の測定値を差
し引いて前記磁界を印加したときの測定値を補正し、当
該補正した値により前記溶融金属の流量を測定するよう
にしたことにより、前記熱起電力等の影響を受けること
なく極めて正確に前記溶融金属の流量を測定することが
可能となり、溶融金属電磁流量計の測定精度を大幅に向
上させることができるという優れた効果がある。
せるダクトに直交させて磁界を印加し、当該ダクトに前
記溶融金属の流れの方向と前記磁界の方向とに直交させ
て配置せる電極間に発生する起電力を測定して前記溶融
金属の流量を測定する溶融金属電磁流量計の、前記磁界
を発生させる励磁電流を所定周期でオン、オフさせ、前
記励磁電流のオン時とオフ時における各起電力を夫々測
定し、前記オン時の測定値から前記オフ時の測定値を差
し引いて前記磁界を印加したときの測定値を補正し、当
該補正した値により前記溶融金属の流量を測定するよう
にしたことにより、前記熱起電力等の影響を受けること
なく極めて正確に前記溶融金属の流量を測定することが
可能となり、溶融金属電磁流量計の測定精度を大幅に向
上させることができるという優れた効果がある。
第1図は本発明に係る溶融金属電磁流量計の補償方法を
通用した溶融金属1!磁@量計の一実施例を示す回路図
、第2図は第1図の回路の信号のタイミングチャートを
示す図である。 l・・・溶融金属、2・・ダクト、3・・・電磁石、5
・・・励磁電流制御回路、IO・・・制御装置、11・
・・cpU、12・・・メモリ、13・・・増幅器、1
4・・・サンプルホールド回路、15・・・A/D変換
器、16・・・キーボード入力装置、17・・・出力表
示装置。
通用した溶融金属1!磁@量計の一実施例を示す回路図
、第2図は第1図の回路の信号のタイミングチャートを
示す図である。 l・・・溶融金属、2・・ダクト、3・・・電磁石、5
・・・励磁電流制御回路、IO・・・制御装置、11・
・・cpU、12・・・メモリ、13・・・増幅器、1
4・・・サンプルホールド回路、15・・・A/D変換
器、16・・・キーボード入力装置、17・・・出力表
示装置。
Claims (1)
- 溶融金属を流通させるダクトに直交させて磁界を印加し
、当該ダクトに前記溶融金属の流れの方向と前記磁界の
方向とに直交させて配置せる電極間に発生する起電力を
測定して前記溶融金属の流量を測定する溶融金属電磁流
量計の、前記磁界を発生させる励磁電流を所定周期でオ
ン、オフさせ、前記励磁電流のオン時とオフ時における
各起電力を夫々測定し、前記オン時の測定値から前記オ
フ時の測定値を差し引いて前記磁界を印加したときの測
定値を補正し、当該補正した値により前記溶融金属の流
量を測定することを特徴とする溶融金属電磁流量計の補
償方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28676786A JPS63140917A (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 溶融金属電磁流量計の補償方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28676786A JPS63140917A (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 溶融金属電磁流量計の補償方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63140917A true JPS63140917A (ja) | 1988-06-13 |
Family
ID=17708783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28676786A Pending JPS63140917A (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 溶融金属電磁流量計の補償方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63140917A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101075908B1 (ko) * | 2003-12-22 | 2011-10-26 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 용융 슬래그의 유량측정장치 |
| WO2012132363A1 (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-04 | 株式会社 東芝 | 電磁流量計、電磁流量計測システム及び方法 |
-
1986
- 1986-12-03 JP JP28676786A patent/JPS63140917A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101075908B1 (ko) * | 2003-12-22 | 2011-10-26 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 용융 슬래그의 유량측정장치 |
| WO2012132363A1 (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-04 | 株式会社 東芝 | 電磁流量計、電磁流量計測システム及び方法 |
| JPWO2012132363A1 (ja) * | 2011-03-25 | 2014-07-24 | 株式会社東芝 | 電磁流量計、電磁流量計測システム及び方法 |
| US9157777B2 (en) | 2011-03-25 | 2015-10-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electromagnetic flowmeter, electromagnetic flow rate measurement system, and electromagnetic flow rate measurement method |
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