JPS63149545A - 調節装置 - Google Patents
調節装置Info
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- JPS63149545A JPS63149545A JP62298885A JP29888587A JPS63149545A JP S63149545 A JPS63149545 A JP S63149545A JP 62298885 A JP62298885 A JP 62298885A JP 29888587 A JP29888587 A JP 29888587A JP S63149545 A JPS63149545 A JP S63149545A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/003—Alignment of optical elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/62—Optical apparatus specially adapted for adjusting optical elements during the assembly of optical systems
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、異なる光マークを付けられた板を光学的に調
節するための装置に関するものである。
節するための装置に関するものである。
〔従来技術]
DE−OS第3435587号明細書において、行およ
び列導体を上面に設置している薄いガラス板が相互、に
、および画像再生装置の蛍光スクリーンに対して調節可
能である光学的調節方法が明らかにされている。2つの
対角線的に向い合う角において、薄いガラス板はある板
においては小さい長方形から成り、別の板においては交
差線から成る光マークを宵する。特定されない光学装置
の下で、板は互に関して調節され、それから接着剤で固
定される。
び列導体を上面に設置している薄いガラス板が相互、に
、および画像再生装置の蛍光スクリーンに対して調節可
能である光学的調節方法が明らかにされている。2つの
対角線的に向い合う角において、薄いガラス板はある板
においては小さい長方形から成り、別の板においては交
差線から成る光マークを宵する。特定されない光学装置
の下で、板は互に関して調節され、それから接着剤で固
定される。
[発明の解決すべき問題点コ
本発明の目的は、正確な調節を実現する光マーりを具備
した板を調節するための装置を提供することである。
した板を調節するための装置を提供することである。
[問題点解決のための手段]
この目的は、板用の調節支持部および調節板がマークの
領域内、に照明装置用の開口を有し、観察装置は垂直照
明装置を備えていることを特徴とする装置によって達成
される。さらに本発明の効果的な実施態様としては、調
節支持部が直接その上に乗っている板用の停止部を有し
、サクションポンプにより調節板上に設置可能とするこ
と、マーク領域内の照明装置および垂直照明装置は、冷
光源を具備すること、観察装置は各々のマークのために
十字線を具備した顕微鏡、カメラおよびモニタを有する
こと、板は金属から成り、マークは異なる形状の開口で
あること等がある。
領域内、に照明装置用の開口を有し、観察装置は垂直照
明装置を備えていることを特徴とする装置によって達成
される。さらに本発明の効果的な実施態様としては、調
節支持部が直接その上に乗っている板用の停止部を有し
、サクションポンプにより調節板上に設置可能とするこ
と、マーク領域内の照明装置および垂直照明装置は、冷
光源を具備すること、観察装置は各々のマークのために
十字線を具備した顕微鏡、カメラおよびモニタを有する
こと、板は金属から成り、マークは異なる形状の開口で
あること等がある。
[実施例コ
第1図に示された調節装置は、テーブル1の上に設置さ
れている。調節装置は、停止部17を有する調節支持部
16を保持し、テーブル1上に立っている支柱3により
支えられている調節板2を有している。調節板2および
調節支持部I6は、開口4を明示するために断面図で示
されている。開口4は、互に関して調節されるように板
6中の光マークと軸方向に整列している。これらの板6
は、互いに関して粗調整の状態で整列して調節支持部I
B上にあり、光マーク5は調節支持部16および調節板
2の開口4の上方に位置している。
れている。調節装置は、停止部17を有する調節支持部
16を保持し、テーブル1上に立っている支柱3により
支えられている調節板2を有している。調節板2および
調節支持部I6は、開口4を明示するために断面図で示
されている。開口4は、互に関して調節されるように板
6中の光マークと軸方向に整列している。これらの板6
は、互いに関して粗調整の状態で整列して調節支持部I
B上にあり、光マーク5は調節支持部16および調節板
2の開口4の上方に位置している。
各開口4を通過する光軸7の延長線上において、十字線
を有する顕微鏡8は、互いに直角をなす2つの部材L5
aおよび15bから成る保持部上に設置されている。顕
微鏡の光軸は、光軸7と整列されることができる。その
画像が関連するモニタ10上に再生されるカメラ9は、
各顕微鏡8の上方に設置されている。照明装置11は、
調節板2中の各開口4の下に設置されている。各顕微鏡
8は、垂直照明装置12を具備している。照明装置11
および垂直照明装置12は、光導波体13を介して冷光
源14aおよび14bとそれぞれ結合されている。
を有する顕微鏡8は、互いに直角をなす2つの部材L5
aおよび15bから成る保持部上に設置されている。顕
微鏡の光軸は、光軸7と整列されることができる。その
画像が関連するモニタ10上に再生されるカメラ9は、
各顕微鏡8の上方に設置されている。照明装置11は、
調節板2中の各開口4の下に設置されている。各顕微鏡
8は、垂直照明装置12を具備している。照明装置11
および垂直照明装置12は、光導波体13を介して冷光
源14aおよび14bとそれぞれ結合されている。
調節板2は、チャネル19が結合されている孔fgaお
よびJ8bを有する。チャネル19は、サクションポン
プ20で終わっている。2つの矢印21はチャネル19
における吸引方向を示している。この吸引によって、調
節支持部16は調節板2上に保持される。第1図では使
用されていない孔18bはプラグ22で封じられている
。
よびJ8bを有する。チャネル19は、サクションポン
プ20で終わっている。2つの矢印21はチャネル19
における吸引方向を示している。この吸引によって、調
節支持部16は調節板2上に保持される。第1図では使
用されていない孔18bはプラグ22で封じられている
。
第2図の上図面には、調節板2および2枚の板6をその
上に設置している調節支持部16が示されている。調節
t1122は3つの開口4’ 、4’ 、4’′を有す
る。調節板2の右下角の開口4′は、調節板のほぼ中心
部における開口4′と共に、または上部左角における開
口4″と共に動作し、それはその上に板6を設置してい
る支持部1Gの大きさによって決められる。開口4の下
に照明装置11が破線で示されている。また孔18aお
よび18bの位置も示されている。
上に設置している調節支持部16が示されている。調節
t1122は3つの開口4’ 、4’ 、4’′を有す
る。調節板2の右下角の開口4′は、調節板のほぼ中心
部における開口4′と共に、または上部左角における開
口4″と共に動作し、それはその上に板6を設置してい
る支持部1Gの大きさによって決められる。開口4の下
に照明装置11が破線で示されている。また孔18aお
よび18bの位置も示されている。
仮6は金属から成り、仮の対角線的に向い合う角の異な
る光マークは、異なる形状の開口である。
る光マークは、異なる形状の開口である。
ある板は円形の開口を有し、別の阪は十字形の開口を有
する。もし複数の板6が互いに関して調節される必要が
ある場合、光マークの開口はその形状のみならず大きさ
においても異なってくる。
する。もし複数の板6が互いに関して調節される必要が
ある場合、光マークの開口はその形状のみならず大きさ
においても異なってくる。
調節装置がオンに切換えられた後の動作シーケンスは、
以下の通りである。第1の板6は、支持部1Gの上に設
置され、停止部17に対して移動される。板6は固定レ
バー23によってその位置に保持される。第1の板を具
備する支持部16は、マーク5が顕微鏡中の十字線の結
果としてモニタ10上に現われる交差線に関して対称と
なるまでシフトされる。この位置において、サクション
ポンプ20が動作されるので支持部16は調節板2に対
して引張られ1、固定される。それから第2の板6が置
かれて、そのマーク5は第1の板のマークと一致するよ
うに調節される。板はそれから適切な物質(図示されて
いない)で加重されるため、それらは互いに平面平行と
なる。板6の対角線的に向い合う角において、これら平
面は適切な接着剤で接着されて相互に固定される。それ
から板は装置から取除かれることが可能である。最終的
にそれらは、例えばフリット処理で最終的に結合されて
もよい。
以下の通りである。第1の板6は、支持部1Gの上に設
置され、停止部17に対して移動される。板6は固定レ
バー23によってその位置に保持される。第1の板を具
備する支持部16は、マーク5が顕微鏡中の十字線の結
果としてモニタ10上に現われる交差線に関して対称と
なるまでシフトされる。この位置において、サクション
ポンプ20が動作されるので支持部16は調節板2に対
して引張られ1、固定される。それから第2の板6が置
かれて、そのマーク5は第1の板のマークと一致するよ
うに調節される。板はそれから適切な物質(図示されて
いない)で加重されるため、それらは互いに平面平行と
なる。板6の対角線的に向い合う角において、これら平
面は適切な接着剤で接着されて相互に固定される。それ
から板は装置から取除かれることが可能である。最終的
にそれらは、例えばフリット処理で最終的に結合されて
もよい。
1枚の阪の代わりに、互いに結合した阪のバヶットが互
いに関してm1節されてもよい。
いに関してm1節されてもよい。
モニタ10において、第1の板6におけるマーク5の十
字型の開口は明るい十字型として現われ、これらは十字
線と整列させやすい。第2の板6におけるマークの円形
の開口は、垂直照明装置のために明るい背最の中の暗灰
色領域として現われ、十字線と整列させやすく、明るい
十字形にも整列させやすい。板6は、十字型および円形
の開口の画像がモニタの十字線に関して完全に対称とな
るときに正確に調節された状態となる。
字型の開口は明るい十字型として現われ、これらは十字
線と整列させやすい。第2の板6におけるマークの円形
の開口は、垂直照明装置のために明るい背最の中の暗灰
色領域として現われ、十字線と整列させやすく、明るい
十字形にも整列させやすい。板6は、十字型および円形
の開口の画像がモニタの十字線に関して完全に対称とな
るときに正確に調節された状態となる。
4、図の簡単な説明
第1図は、光学的調節を行なうための装置を一部断面図
で示し、 第2図は、調節板の上部を示している。
で示し、 第2図は、調節板の上部を示している。
1・・・テーブル、2・・・調節板、3・・・支柱、4
・・・開口、5・・・光マーク、6・・・板、7・・・
光軸、8・・・顕微鏡、9・・・カメラ、IO・・・モ
ニタ、11・・・照明装置、12・・・垂直照明装置、
13・・・光導波体、14a 514b・・・冷光源、
1B・・・調節支持部、17・・・停止部、20・・・
サクションポンプ、23・・・固定レバー。
・・・開口、5・・・光マーク、6・・・板、7・・・
光軸、8・・・顕微鏡、9・・・カメラ、IO・・・モ
ニタ、11・・・照明装置、12・・・垂直照明装置、
13・・・光導波体、14a 514b・・・冷光源、
1B・・・調節支持部、17・・・停止部、20・・・
サクションポンプ、23・・・固定レバー。
Claims (5)
- (1)異なる光マークを付けられた板を光学的に調節す
るための装置において、 板用の調節支持部および調節板は、マーク領域内に照明
装置用の開口を有し、観察装置が垂直照明装置を備えて
いることを特徴とする調節装置。 - (2)調節支持部は、直接その上に乗っている板用の停
止部を有し、サクションポンプにより調節板上に固定可
能であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
装置。 - (3)マーク領域内の照明装置および垂直照明装置は、
冷光源を具備していることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の装置。 - (4)観察装置は、各々のマークのために十字線を具備
した顕微鏡、カメラおよびモニタを有することを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の装置。 - (5)板は金属から成り、マークは異なる形状の開口で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の装置
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3640616.3 | 1986-11-27 | ||
| DE19863640616 DE3640616A1 (de) | 1986-11-27 | 1986-11-27 | Justiervorrichtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63149545A true JPS63149545A (ja) | 1988-06-22 |
Family
ID=6314955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62298885A Pending JPS63149545A (ja) | 1986-11-27 | 1987-11-26 | 調節装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0269076B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63149545A (ja) |
| DE (2) | DE3640616A1 (ja) |
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- 1987-11-25 DE DE8787117339T patent/DE3783578D1/de not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005536744A (ja) * | 2002-08-21 | 2005-12-02 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | 光学位置合せ検出装置 |
| JP2010164573A (ja) * | 2002-08-21 | 2010-07-29 | Honeywell Internatl Inc | 光学位置合せ検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0269076A2 (de) | 1988-06-01 |
| EP0269076A3 (en) | 1989-08-09 |
| DE3783578D1 (de) | 1993-02-25 |
| EP0269076B1 (de) | 1993-01-13 |
| DE3640616A1 (de) | 1988-06-09 |
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