JPS63149772A - 物体の連続２画像から減算像を決定する方法および装置 - Google Patents
物体の連続２画像から減算像を決定する方法および装置Info
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- JPS63149772A JPS63149772A JP62301608A JP30160887A JPS63149772A JP S63149772 A JPS63149772 A JP S63149772A JP 62301608 A JP62301608 A JP 62301608A JP 30160887 A JP30160887 A JP 30160887A JP S63149772 A JPS63149772 A JP S63149772A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物体の連続２画像から減算像を決めるに当り、
画像に細分割された連続２画像の各々からサブ画像を選
択し、各サブ画像は同一の画像を含むと共に互いに変位
した御毎回互いに比較し、サブ画像あたり各変位置画素
の画素値間の差の目安を決め、かつ１個の変位ベクトル
は差の目安が最小となる直交方向の成分を有し、その後
１つの画像の画素の位置を局部的に決めた変位ベクトル
によって補正し、差の目安を決めるために１つのサブ画
像の各画素の値を画素の位置の指標の和が夫々偶数また
は奇数となる量だけ増減し、その後減算サブ画像を決め
ると共に減算像の隣接画素間の符号変化の数を計数し、
符号変化の計数値が好適な符号変化の最大数の予定分数
以上となる位置で前記差の目安が最小となるようにした
物体の連続２画像から減算像を決定する方法に関するも
のである。
画像に細分割された連続２画像の各々からサブ画像を選
択し、各サブ画像は同一の画像を含むと共に互いに変位
した御毎回互いに比較し、サブ画像あたり各変位置画素
の画素値間の差の目安を決め、かつ１個の変位ベクトル
は差の目安が最小となる直交方向の成分を有し、その後
１つの画像の画素の位置を局部的に決めた変位ベクトル
によって補正し、差の目安を決めるために１つのサブ画
像の各画素の値を画素の位置の指標の和が夫々偶数また
は奇数となる量だけ増減し、その後減算サブ画像を決め
ると共に減算像の隣接画素間の符号変化の数を計数し、
符号変化の計数値が好適な符号変化の最大数の予定分数
以上となる位置で前記差の目安が最小となるようにした
物体の連続２画像から減算像を決定する方法に関するも
のである。
また、本発明は第１および第２の画像を記憶する記憶手
段と、第１および第２の画像内から画素に 分割された
サブ画像を選択し、他のサブ画像に対して１つのサブ画
像を変位し、両サブ画像の関連する画素の値を比較し、
かつ、これから関連する値と２つ以上の直交成分を有し
前記関連する値が最大となる変位サブ画像の変位ベクト
ルを決める算術演算手段と、決定した変位ベクトルを記
憶すると共に補正された第１および第２の画像から減算
像を決める他の記憶手段とを具え、前記算術演算手段に
よって種々の画素に関連する変位ベクトルをも好適に決
めて局部的に決めた変位ベクトルにより第１の画像の画
素の位置を補正し得るようにした物体の連続２画像から
減算像を決定する装置に関するものである。この種の方
法および装置は米国特許願Ａ −４，５５８，４６２号
明細書から既知である。この既知の方法および装置はデ
ィジタル減算アンジオグラフィに用いられる。この場合
、コントラスト媒体を患者内に注入してこのコントラス
ト媒体の注入前後に形成されたＸ線像から計算した減算
像によってコントラスト媒体のみを示すようにする。し
かし、種々のＸ線露光中の患者の動き例えば心臓または
呼吸器官の動きのため、静止構体、例えば患者の肋骨の
構体の動きの偽輪郭として減算像に現れるようになる。
段と、第１および第２の画像内から画素に 分割された
サブ画像を選択し、他のサブ画像に対して１つのサブ画
像を変位し、両サブ画像の関連する画素の値を比較し、
かつ、これから関連する値と２つ以上の直交成分を有し
前記関連する値が最大となる変位サブ画像の変位ベクト
ルを決める算術演算手段と、決定した変位ベクトルを記
憶すると共に補正された第１および第２の画像から減算
像を決める他の記憶手段とを具え、前記算術演算手段に
よって種々の画素に関連する変位ベクトルをも好適に決
めて局部的に決めた変位ベクトルにより第１の画像の画
素の位置を補正し得るようにした物体の連続２画像から
減算像を決定する装置に関するものである。この種の方
法および装置は米国特許願Ａ −４，５５８，４６２号
明細書から既知である。この既知の方法および装置はデ
ィジタル減算アンジオグラフィに用いられる。この場合
、コントラスト媒体を患者内に注入してこのコントラス
ト媒体の注入前後に形成されたＸ線像から計算した減算
像によってコントラスト媒体のみを示すようにする。し
かし、種々のＸ線露光中の患者の動き例えば心臓または
呼吸器官の動きのため、静止構体、例えば患者の肋骨の
構体の動きの偽輪郭として減算像に現れるようになる。
これら追加の構体が不所望であることは明らかである。
前述した米国特許願Ａ −４，５５８，４６２号明細書
には患者の動きに対してかかる減算像を補正する方法が
記載されている。この場合には２個のサブ像の関連する
画素の比較を相互相関の計算によって行う。
には患者の動きに対してかかる減算像を補正する方法が
記載されている。この場合には２個のサブ像の関連する
画素の比較を相互相関の計算によって行う。
この比較により、患者の動きによって生ずる像部分のサ
ブ像当りの変位を測定することができる。
ブ像当りの変位を測定することができる。
１つの像をこれら変位に対して補正することによって減
算像のアーティファクトの数を減少させることができる
。しかし、かくして測定した変位のベクトルが殆どの場
合満足しないことを確かめた。
算像のアーティファクトの数を減少させることができる
。しかし、かくして測定した変位のベクトルが殆どの場
合満足しないことを確かめた。
これがため、動きのアーティファクトの部分が多少とも
補正されるが、他の部分はそのままであり、これは不所
望である。
補正されるが、他の部分はそのままであり、これは不所
望である。
本発明の目的は測定した変位のベクトルの信頼性を増大
し得るような手段を講じて変位のベクトルにより行われ
る動きを一層信頼性のように補正する上述した種類の方
法および装置を提供せんとするにある。
し得るような手段を講じて変位のベクトルにより行われ
る動きを一層信頼性のように補正する上述した種類の方
法および装置を提供せんとするにある。
本発明方法は物体の連続２画像から減算像を決めるに当
り、画像に細分割された連続２画像の各々からサブ画像
を選択し、各サブ画像は同一の画像を含むと共に互いに
変位した御毎回互いに比較し、サブ画像あたり各変位後
画素の画素値間の差の目安を決め、かつ１個の変位ベク
トルは差の目安が最小となる直交方向の成分を有し、そ
の後１つの画像の画素の位置を局部的に決めた変位ベク
トルによって補正し、差の目安を決めるために１つのサ
ブ画像の各画素の値を画素の位置の指標の和が夫々偶数
または奇数となる量だけ増減し、その後減算サブ画像を
決めると共に減算像の隣接画素間の符号変化の数を計数
し、符号変化の計数値が好適な符号変化の最大数の予定
分数以上となる位置で前記差の目安が最小となるように
した物体の連続２画像から減算像を決定する方８法にお
いて、他のサブ画像に対するサブ画像の少なくとも最後
の３位置に関連する符号変化の数を記憶し、その後これ
ら符号変化数の差から信頼性の数を決め、変位ベクトル
の各直交方向の成分に対して各方向の最後の３位置に関
連する３つの数を記憶し、各方向成分に対して信頼性の
数を形成するようにしたことを特徴とする。
り、画像に細分割された連続２画像の各々からサブ画像
を選択し、各サブ画像は同一の画像を含むと共に互いに
変位した御毎回互いに比較し、サブ画像あたり各変位後
画素の画素値間の差の目安を決め、かつ１個の変位ベク
トルは差の目安が最小となる直交方向の成分を有し、そ
の後１つの画像の画素の位置を局部的に決めた変位ベク
トルによって補正し、差の目安を決めるために１つのサ
ブ画像の各画素の値を画素の位置の指標の和が夫々偶数
または奇数となる量だけ増減し、その後減算サブ画像を
決めると共に減算像の隣接画素間の符号変化の数を計数
し、符号変化の計数値が好適な符号変化の最大数の予定
分数以上となる位置で前記差の目安が最小となるように
した物体の連続２画像から減算像を決定する方８法にお
いて、他のサブ画像に対するサブ画像の少なくとも最後
の３位置に関連する符号変化の数を記憶し、その後これ
ら符号変化数の差から信頼性の数を決め、変位ベクトル
の各直交方向の成分に対して各方向の最後の３位置に関
連する３つの数を記憶し、各方向成分に対して信頼性の
数を形成するようにしたことを特徴とする。
変位のベクトルを測定して決めた後近くのベクトルを決
めるため出発量としてこの変位のベクトルを用いる場合
には本発明方法を促進することができる。被検体の一部
分の動きがその周りの部分の動きに対する不連続性を示
さないものとすると近隣の変位のベクトルは僅かしか変
位しない。これがため前に決めた変位のベクトルを、次
の近隣の変位のベクトルを決めるための出発量として十
分に用いることができ従ってサブ画像が最小に変位する
位置を限定回数の探索工程で見付は出すことができる。
めるため出発量としてこの変位のベクトルを用いる場合
には本発明方法を促進することができる。被検体の一部
分の動きがその周りの部分の動きに対する不連続性を示
さないものとすると近隣の変位のベクトルは僅かしか変
位しない。これがため前に決めた変位のベクトルを、次
の近隣の変位のベクトルを決めるための出発量として十
分に用いることができ従ってサブ画像が最小に変位する
位置を限定回数の探索工程で見付は出すことができる。
また、本発明は第１および第２の画像を記憶する記憶手
段と、第１および第２の画像内から画素に 分割された
サブ画像を選択し、他のサブ画像に対して１つのサブ画
像を変位し、両サブ画像の関連する画素の値を比較し、
かつ、これから関連する値と２つ以上の直交成分を有し
前記関連する値が最大となる変位サブ画像の変位ベクト
ルを決める算術演算手段と、決定した変位ベクトルを記
憶すると共に補正された第１および第２の画像から減算
像を決める他の記憶手段とを具え、前記算術演算手段に
よって種々の画素に関連する変位ベクトルをも好適に決
めて局部的に決めた変位ベクトルにより第１の画像の画
素の位置を補正し得るようにした物体の連続２画像から
減算像を決定する装置において、各変位ベクトルに対し
て前記性の記憶手段にはその位置、方向成分および各方
向成分の信頼性の規準を記憶する数個の記憶位置を設け
るようにしたことを特徴とする。
段と、第１および第２の画像内から画素に 分割された
サブ画像を選択し、他のサブ画像に対して１つのサブ画
像を変位し、両サブ画像の関連する画素の値を比較し、
かつ、これから関連する値と２つ以上の直交成分を有し
前記関連する値が最大となる変位サブ画像の変位ベクト
ルを決める算術演算手段と、決定した変位ベクトルを記
憶すると共に補正された第１および第２の画像から減算
像を決める他の記憶手段とを具え、前記算術演算手段に
よって種々の画素に関連する変位ベクトルをも好適に決
めて局部的に決めた変位ベクトルにより第１の画像の画
素の位置を補正し得るようにした物体の連続２画像から
減算像を決定する装置において、各変位ベクトルに対し
て前記性の記憶手段にはその位置、方向成分および各方
向成分の信頼性の規準を記憶する数個の記憶位置を設け
るようにしたことを特徴とする。
信頼性の規準は動きのベクトルの信頼性に関する目安で
ある。これがため測定した変位が動きのアーティファク
トを所望のように補正するに好適であるか否かを決める
ことができる。信頼し得ない変位のベクトルまたはその
成分はその近くの一層信頼性の変位のベクトルのデータ
によって完全にまたは局部的に置換することができる。
ある。これがため測定した変位が動きのアーティファク
トを所望のように補正するに好適であるか否かを決める
ことができる。信頼し得ない変位のベクトルまたはその
成分はその近くの一層信頼性の変位のベクトルのデータ
によって完全にまたは局部的に置換することができる。
また、患者の動きに対し減算像を補正することはアイイ
ーイーイー トランザクションズ オンメディカル・イ
メージング 第Ｍｌ−３巻 第４号 第１１７９−１１
８６頁から既知である。動きの程度は、２つの像を互い
に変位させて像の一方に人造のパターンを重畳した後こ
れら２つの像を比較し、その後減算像の画素間の符号変
化を計算することにより得ることができる。この方法は
本発明装置に用いるに特に好適である。その理由はこの
方法により信頼性の規準が極めて簡単に得られるからで
ある。本発明装置の好適な例では、関連する値を決める
算術演算手段を用いて、関連する画素の位置指標の和が
偶数または奇数となる場合に２つのサブ画像の関連する
画像間の差を決めると共に順次の連続画素の差の符号変
化の数を決める量だけ増減するようにし、更に、前記算
術演算手段を用いて変位ベクトルの各直交成分に対して
一方のサブ画像の他のサブ画像に対する最後の３つの変
位後の成分方向における位置に対する符号変化の３つの
数を決めて最大の数およびその他の２つの数間の差から
信頼性の数を計算し得るようにする。
ーイーイー トランザクションズ オンメディカル・イ
メージング 第Ｍｌ−３巻 第４号 第１１７９−１１
８６頁から既知である。動きの程度は、２つの像を互い
に変位させて像の一方に人造のパターンを重畳した後こ
れら２つの像を比較し、その後減算像の画素間の符号変
化を計算することにより得ることができる。この方法は
本発明装置に用いるに特に好適である。その理由はこの
方法により信頼性の規準が極めて簡単に得られるからで
ある。本発明装置の好適な例では、関連する値を決める
算術演算手段を用いて、関連する画素の位置指標の和が
偶数または奇数となる場合に２つのサブ画像の関連する
画像間の差を決めると共に順次の連続画素の差の符号変
化の数を決める量だけ増減するようにし、更に、前記算
術演算手段を用いて変位ベクトルの各直交成分に対して
一方のサブ画像の他のサブ画像に対する最後の３つの変
位後の成分方向における位置に対する符号変化の３つの
数を決めて最大の数およびその他の２つの数間の差から
信頼性の数を計算し得るようにする。
本発明装置の他の例では算術演算手段を用いて隣接の変
位ベクトルの方向成分を比較し、かつ、第１の方向成分
に関連する信頼性の数に基づく信頼性の規準を、第１の
方向成分が隣接の方向成分から調整し得る目安より少な
く変位する量だけ増大させ得るようるする。
位ベクトルの方向成分を比較し、かつ、第１の方向成分
に関連する信頼性の数に基づく信頼性の規準を、第１の
方向成分が隣接の方向成分から調整し得る目安より少な
く変位する量だけ増大させ得るようるする。
本発明装置の好適な例では算術演算手段を用いて信頼性
の規準により加重され置換すべき方向成分およびそのす
ぐ近くの隣接方向成分を含む方向成分の和を決め、前記
算術演算手段には前記決定すべき和にその信頼性の規準
が置換すべき方向成分の信頼性の規準よりも大きなこれ
ら隣接の方向成分のみを含ませ、この和を前記他の記憶
手段に記憶して前記他の記憶手段に後に記憶される方向
成分と置換し得るようにする。かように種々のベクトル
成分を重み付けすると信頼し得ないベクトル情報が一層
信頼性の情報に好適に置換されるようになる。従って２
回の繰り返しまたは２回の重み付は処理後位置に依存す
る動きに好適に近似する十分に高い信頼性を得ることが
できることを確かめた。
の規準により加重され置換すべき方向成分およびそのす
ぐ近くの隣接方向成分を含む方向成分の和を決め、前記
算術演算手段には前記決定すべき和にその信頼性の規準
が置換すべき方向成分の信頼性の規準よりも大きなこれ
ら隣接の方向成分のみを含ませ、この和を前記他の記憶
手段に記憶して前記他の記憶手段に後に記憶される方向
成分と置換し得るようにする。かように種々のベクトル
成分を重み付けすると信頼し得ないベクトル情報が一層
信頼性の情報に好適に置換されるようになる。従って２
回の繰り返しまたは２回の重み付は処理後位置に依存す
る動きに好適に近似する十分に高い信頼性を得ることが
できることを確かめた。
図面につき本発明を説明する。
第１図は本発明装置の一例を示す。この装置は高電圧発
生器Ｇを具え、これにより被検体０を照射するＸ−線Ｘ
のビームを発生するＸ線管已に給電を行う。被検体０を
通過したＸ線Ｘはイメージ増強管ＩＩにより検出され、
光学像に変換され、この光学像を撮像管ＰＵによってビ
デオ信号に変換する。このビデオ信号は増幅器ＯＡで増
幅した後アナログ−ディジタル変換器ＡＤＣによりサン
プル化しかつディジタル化し、その後ディジタル像信号
を像処理装置ＩＰの第１および第２メモＩＪＭＩ、 Ｍ
２に記憶する。像処理装置ＩＰは上記メモ！ＪＭＩ、
Ｍ２だけでなく算術演算装置ＣＵおよび他のメモｌＪＭ
３をも具える。メモｌＪＭ３を設ける目的は後に詳細に
説明する。算術演算装置ＣＵによってメモＩＪＭＩおよ
びＭ２に記憶された像から減算像を決めることができる
。
生器Ｇを具え、これにより被検体０を照射するＸ−線Ｘ
のビームを発生するＸ線管已に給電を行う。被検体０を
通過したＸ線Ｘはイメージ増強管ＩＩにより検出され、
光学像に変換され、この光学像を撮像管ＰＵによってビ
デオ信号に変換する。このビデオ信号は増幅器ＯＡで増
幅した後アナログ−ディジタル変換器ＡＤＣによりサン
プル化しかつディジタル化し、その後ディジタル像信号
を像処理装置ＩＰの第１および第２メモＩＪＭＩ、 Ｍ
２に記憶する。像処理装置ＩＰは上記メモ！ＪＭＩ、
Ｍ２だけでなく算術演算装置ＣＵおよび他のメモｌＪＭ
３をも具える。メモｌＪＭ３を設ける目的は後に詳細に
説明する。算術演算装置ＣＵによってメモＩＪＭＩおよ
びＭ２に記憶された像から減算像を決めることができる
。
この減算像はモニタＭＯＮに表示し得るかまたはメモＩ
ＪＭＩ、 Ｍ２． Ｍ３のうちの１つ、即ち外部テープ
またはディスクメモリ （図示せず）に記憶することが
できる。
ＪＭＩ、 Ｍ２． Ｍ３のうちの１つ、即ち外部テープ
またはディスクメモリ （図示せず）に記憶することが
できる。
メモリＭ１またはＭ２に記憶された画像は通常のシャド
ウ像、巡回フィルタ処理により得られた低雑音像、コン
ピュータトモグラフィにより発生したスライス像、また
は磁気共鳴信号から計算したスライス像とすることがで
きる。しかし、コントラスト媒体が注入されたバスキュ
ラシステムにより２つの像間の差を形成するようにした
同一被検体の順次に連続して発生した像にも、第１像の
発生後被検体の動きに関連する不所望な情報が含まれる
ようになる。上記文献にはかかる動きが減算像に及ぼす
影響を除去する試みが記載されている。
ウ像、巡回フィルタ処理により得られた低雑音像、コン
ピュータトモグラフィにより発生したスライス像、また
は磁気共鳴信号から計算したスライス像とすることがで
きる。しかし、コントラスト媒体が注入されたバスキュ
ラシステムにより２つの像間の差を形成するようにした
同一被検体の順次に連続して発生した像にも、第１像の
発生後被検体の動きに関連する不所望な情報が含まれる
ようになる。上記文献にはかかる動きが減算像に及ぼす
影響を除去する試みが記載されている。
しかし上述した方法によって必ずしも所望の信頼性を得
ることはできない。
ることはできない。
本発明によれば、像処理装置ＩＰによって上述した問題
を緩和する方法を実行することができる。
を緩和する方法を実行することができる。
メモリＭ１およびＭ２に記憶された像の各々を例えば５
１２ Ｘ５１２画素に細分割する。算術演算装置Ｃｔ＋
によって第１像のうちの３２Ｘ３２画素Ｐ１（ｉ、 ｊ
）より成るサブ画像（ここに０≦１≦３１および０≦Ｊ
≦３１）を選択し、且つ■十ノが偶数のとき各画素ＰＩ
（ｉ、 ｊ）の画素値に値ｑを加算すると共にｌ＋Ｊ
が奇数のとき画素値から値ｑを減算する。か（して得た
サブ画像を第２像からの関連するサブ画像Ｐ２（ｉ、ｊ
）（ここに０≦１≦３１．０ ≦Ｊ≦３１）と比較する
。
１２ Ｘ５１２画素に細分割する。算術演算装置Ｃｔ＋
によって第１像のうちの３２Ｘ３２画素Ｐ１（ｉ、 ｊ
）より成るサブ画像（ここに０≦１≦３１および０≦Ｊ
≦３１）を選択し、且つ■十ノが偶数のとき各画素ＰＩ
（ｉ、 ｊ）の画素値に値ｑを加算すると共にｌ＋Ｊ
が奇数のとき画素値から値ｑを減算する。か（して得た
サブ画像を第２像からの関連するサブ画像Ｐ２（ｉ、ｊ
）（ここに０≦１≦３１．０ ≦Ｊ≦３１）と比較する
。
減算サブ画像Ｐ１＜ｊ、 ｊ）−Ｐ２ （ｉ、 ｊ）
における隣接画素間の符号変化の数を計数する。サブ
画像が同一である場合には符号変化の数は最大となる。
における隣接画素間の符号変化の数を計数する。サブ
画像が同一である場合には符号変化の数は最大となる。
サブ画像が同一でない場合には符号変化の数は少なくな
る。一方のサブ画像を他方のサブ画像に対して変位させ
ることにより関連するサブ画像の符号変化の数が最大と
なる位置を見出すことができる。これは、この位置にお
いて２つのサブ画像間の差が最小 となることを意味す
る。この変位の程度／方向を変位ベクトルと称し、この
ベクトルを、サブ画像の中心（例えばＰＩ （ｉ、 ｊ
） ここに１・ｊ＝１６）にほぼ位置する画素に割当
てる。
る。一方のサブ画像を他方のサブ画像に対して変位させ
ることにより関連するサブ画像の符号変化の数が最大と
なる位置を見出すことができる。これは、この位置にお
いて２つのサブ画像間の差が最小 となることを意味す
る。この変位の程度／方向を変位ベクトルと称し、この
ベクトルを、サブ画像の中心（例えばＰＩ （ｉ、 ｊ
） ここに１・ｊ＝１６）にほぼ位置する画素に割当
てる。
次いで第１および第２像（例えばＰＬ（ｉ、ｊ） 、こ
こに３２≦１≦６３および０≦Ｊ≦３１）から他のサブ
画像を選択して新たなサブ画像に対し上述した比較処理
を繰り返す。１つの画像で順次連続して選択すべきサブ
画像が重複しても、１つの画像で更に多くのサブ画像（
例えば画素Ｐ（ｉ、ｊ）ここに１６≦ｉ≦４７．０≦Ｊ
≦３１を含むサブ画像）を選択し得ることは勿論である
。かようにして選択したサブ画像当り、１個の（局部的
に依存する）変位ベクトルを決めることができる。これ
がためサブ画像が補正すべき像全体に亘り均一に分布し
ている場合には補正すべき像全体に亘り規則正しく分布
している変位ベクトルめマトリックスを得ることができ
、このマトリックスを他のメモリＭ３に記憶する。上述
した所を第２図のフローチャートで示す。かくして算術
演算の数を節約することができる。第２図に示すプログ
ラムブロック３００では第１のサブ画像の各画素Ｐｉ
（ｉ、 ｊ）の画素、値を前のステップ２００の後位ｑ
により変更する。このステップ２００では第１ステツプ
１００中の一群のパラメータ人力、例えば出発位置（Ｘ
Ｏ，ＹＯ）、サブ画像の大きさ、１つの像の画素の数（
ＮＸ、 ＮＹ）、量ｑ等に無関係に１つのサブ画像を選
択する。ステップ３００では選択したサブ画像から減算
像を決定する。第２図に示すように次の群のステップで
は一致が良好な互いに２つのサブ画像の位置をきめる。
こに３２≦１≦６３および０≦Ｊ≦３１）から他のサブ
画像を選択して新たなサブ画像に対し上述した比較処理
を繰り返す。１つの画像で順次連続して選択すべきサブ
画像が重複しても、１つの画像で更に多くのサブ画像（
例えば画素Ｐ（ｉ、ｊ）ここに１６≦ｉ≦４７．０≦Ｊ
≦３１を含むサブ画像）を選択し得ることは勿論である
。かようにして選択したサブ画像当り、１個の（局部的
に依存する）変位ベクトルを決めることができる。これ
がためサブ画像が補正すべき像全体に亘り均一に分布し
ている場合には補正すべき像全体に亘り規則正しく分布
している変位ベクトルめマトリックスを得ることができ
、このマトリックスを他のメモリＭ３に記憶する。上述
した所を第２図のフローチャートで示す。かくして算術
演算の数を節約することができる。第２図に示すプログ
ラムブロック３００では第１のサブ画像の各画素Ｐｉ
（ｉ、 ｊ）の画素、値を前のステップ２００の後位ｑ
により変更する。このステップ２００では第１ステツプ
１００中の一群のパラメータ人力、例えば出発位置（Ｘ
Ｏ，ＹＯ）、サブ画像の大きさ、１つの像の画素の数（
ＮＸ、 ＮＹ）、量ｑ等に無関係に１つのサブ画像を選
択する。ステップ３００では選択したサブ画像から減算
像を決定する。第２図に示すように次の群のステップで
は一致が良好な互いに２つのサブ画像の位置をきめる。
この群の算術演算ステップは、減算サブ画像の符号化の
数を計数する第１ステツプ４０２を具える。次のステッ
プ４０４では計数内容を減算サブ画像の実行可能な符号
変化の最大数の下限と比較する。この計数内容がこの下
限例えば４０％以下に保持されている場合には次のステ
ップ４０６で選択されたサブ画像が変更された値ｑが最
大値ｑＭに到達しているか否かをテストする。値ｑが最
大値ｑＭに到達していない場合にはこの値ｑをステップ
４０８で一定量だけ増大し、その後新たな減算サブ画像
を決め、この勲位ｑの増大した値を加減算の所定の固定
パターンとして用いる。この処理の後ステップ４０２で
減算サブ画像の符号変化の数を更に計数する。
数を計数する第１ステツプ４０２を具える。次のステッ
プ４０４では計数内容を減算サブ画像の実行可能な符号
変化の最大数の下限と比較する。この計数内容がこの下
限例えば４０％以下に保持されている場合には次のステ
ップ４０６で選択されたサブ画像が変更された値ｑが最
大値ｑＭに到達しているか否かをテストする。値ｑが最
大値ｑＭに到達していない場合にはこの値ｑをステップ
４０８で一定量だけ増大し、その後新たな減算サブ画像
を決め、この勲位ｑの増大した値を加減算の所定の固定
パターンとして用いる。この処理の後ステップ４０２で
減算サブ画像の符号変化の数を更に計数する。
ステップ４０４において計数内容が上記下限以上になる
と、次のテストステップ４１０において計数内容が所定
の上限以上になるか否かを決める。計数内容が所定の上
限以上になる場合には比較した２つのサブ画像がほぼ同
一となり、次いでステップ４１２においてＸ方向および
Ｙ方向で決まった最後の変位成分ＯＸおよびＤＹを、サ
ブ画像の中央にほぼ位置する画素に割当てる。更に信頼
性の数（０まで）を以下に説明するように各画素に割当
てる。
と、次のテストステップ４１０において計数内容が所定
の上限以上になるか否かを決める。計数内容が所定の上
限以上になる場合には比較した２つのサブ画像がほぼ同
一となり、次いでステップ４１２においてＸ方向および
Ｙ方向で決まった最後の変位成分ＯＸおよびＤＹを、サ
ブ画像の中央にほぼ位置する画素に割当てる。更に信頼
性の数（０まで）を以下に説明するように各画素に割当
てる。
計数内容が上記上限以上とならない場合には次のテスト
ステップ４１４でサブ画像に関連する変位位後がＸ方向
において最大値ＤＸＭ以上となるか否かをテストする。
ステップ４１４でサブ画像に関連する変位位後がＸ方向
において最大値ＤＸＭ以上となるか否かをテストする。
この変位位後が最大値ＤＸＭ以上となる場合にはステッ
プ４１６において前の変位ベクトルの最後に計算された
値ＯＸを各画素に割当てて関連する信頼性の数が０にな
ったものとする。
プ４１６において前の変位ベクトルの最後に計算された
値ＯＸを各画素に割当てて関連する信頼性の数が０にな
ったものとする。
命令ブロック４１４および４１６に次いで、他方のサブ
画像に対する一方のサブ画像のＹ方向における変位ＤＹ
が最大変位ＤＹＭ以上であるか否かをテストするブロッ
ク４１８の命令を実行する。変位ＤＹが最大変位ＤＹＭ
以上である場合には命令ステップ４２０にふいて前のベ
クトルで計算された最後の変位ＯＹを画素に割当てて関
連する信頼性の数が０になったものとする。
画像に対する一方のサブ画像のＹ方向における変位ＤＹ
が最大変位ＤＹＭ以上であるか否かをテストするブロッ
ク４１８の命令を実行する。変位ＤＹが最大変位ＤＹＭ
以上である場合には命令ステップ４２０にふいて前のベ
クトルで計算された最後の変位ＯＹを画素に割当てて関
連する信頼性の数が０になったものとする。
ブロック４１２．４１８または４２０の命令の実行後符
号変化の発生した位置および関連する計数内容をブロッ
ク４２２に記憶する。次の命令ブロック４２４では種々
の隣接して位置する画素に関連して順次発生する計数内
容を比較する。
号変化の発生した位置および関連する計数内容をブロッ
ク４２２に記憶する。次の命令ブロック４２４では種々
の隣接して位置する画素に関連して順次発生する計数内
容を比較する。
ブロック４２４の命令実行の例は、アイイーイーイー
トランザクションズ オン メディカルイメージング
第４巻 第 号 １９８４年、第１８６頁左欄に記載さ
れている。この文献には１画素に対する変位ベクトルを
迅速に見出す簡単な方法が示されている。
トランザクションズ オン メディカルイメージング
第４巻 第 号 １９８４年、第１８６頁左欄に記載さ
れている。この文献には１画素に対する変位ベクトルを
迅速に見出す簡単な方法が示されている。
符号化の順次の数に最大値を見出し得る場合（これは最
後から１つ前の数よりも大きいことを意味する）には、
ブロック４２８において各所望のサブ画像で変位ベクト
ルが決まるか否かをテストする。変位ベクトルが決まら
ない場合には像処理装置ＩＰをステップ２００に戻して
次のサブ画像を選択し得るようにする。
後から１つ前の数よりも大きいことを意味する）には、
ブロック４２８において各所望のサブ画像で変位ベクト
ルが決まるか否かをテストする。変位ベクトルが決まら
ない場合には像処理装置ＩＰをステップ２００に戻して
次のサブ画像を選択し得るようにする。
ステップ４２４で最大値が見出せない場合には新たな変
位を選択しくＯＸまたはＤＹを増大）、その後像処理装
置ＩＦをステップ３００に戻して互いにサブ画像の変位
に関する符号変化の数を決め得るようにする。ブロック
４２２に示すような変位ベクトルＯＸ、 ＤＹ、符号変
化の数および信頼性の数Ｃ１１ＲＸ、 ＣＩＲＹは後述
する理由で記憶する。
位を選択しくＯＸまたはＤＹを増大）、その後像処理装
置ＩＦをステップ３００に戻して互いにサブ画像の変位
に関する符号変化の数を決め得るようにする。ブロック
４２２に示すような変位ベクトルＯＸ、 ＤＹ、符号変
化の数および信頼性の数Ｃ１１ＲＸ、 ＣＩＲＹは後述
する理由で記憶する。
上述した所は、２つの直交成分ＯＸおよびＤＹを全て含
む変位ベクトルの決定について説明した。１つの像に対
してはこの保全体に亘り分布された変位ベクトルのマト
リックスについて決定し、これから補間により既知のよ
うに１つの像の各画素に対し変位ベクトルを決める。こ
れら補間された変位ベクトルを用いて像の各画素の位置
を補正することができる。第３図はかかる位置補正の一
例を示す。第３図に示す数個の変位ベクトルはその出発
点を１個の画素の中心に位置させ、゛終端点（矢印の頭
部）は１個の画素の補正された位置の中心を構成する。
む変位ベクトルの決定について説明した。１つの像に対
してはこの保全体に亘り分布された変位ベクトルのマト
リックスについて決定し、これから補間により既知のよ
うに１つの像の各画素に対し変位ベクトルを決める。こ
れら補間された変位ベクトルを用いて像の各画素の位置
を補正することができる。第３図はかかる位置補正の一
例を示す。第３図に示す数個の変位ベクトルはその出発
点を１個の画素の中心に位置させ、゛終端点（矢印の頭
部）は１個の画素の補正された位置の中心を構成する。
これは、補正された位置を占める１個の画素が２個以上
の画素の元の位置間に位置することを意味する。更に、
第３図に示すように補正された画素の寸法は一定ではな
い。第３図は列ｉ、ｉ＋ｌ〜１＋４および行ｊ＋ｌの画
素を関連する変位ベクトルと共に示す。破線で示す補正
された画素が元の画素の格子内に位置しないことは明ら
かである。また、補正された画素の寸法が変化すること
も明らかである。その理由は図示の変位ベクトルの終端
点がその出発点よりも互いに接近、して位置しているか
らである。上述した所から明らかなようにこの補正され
た像を他の像と比較して減算像を決める場合には補正さ
れた画素を先ず最初変換して比較可能な画素を得るよう
にする必要がある。上述した所は比較的厄介な計算を必
要とすることは明らかである。これを防止するために本
発明によれば次に示す計算を行う。第３図の第１の像Ｉ
に示すように正に向かう変位ベクトルを用いる代わりに
第４図に示すように第２の像■の負に向かう変位ベクト
ルを用いて必要な画素値を決めることができる。例えば
、第４図の画素ｌ、Ｊ”１ではベクトル−Ｖ（ｉ、 ｊ
＋１）を示し、第３図の画素では負のベクトルＶ（ｉ、
ｊ＋１）を示す。上述した所は、第４図の交点で示す
ベクトルＶ（ｉ、 ｊ＋１）の終端に関連する画素値が
、画素（ｉ−１，ｊ−１）、 （ｉ、 ｊ−１）。
の画素の元の位置間に位置することを意味する。更に、
第３図に示すように補正された画素の寸法は一定ではな
い。第３図は列ｉ、ｉ＋ｌ〜１＋４および行ｊ＋ｌの画
素を関連する変位ベクトルと共に示す。破線で示す補正
された画素が元の画素の格子内に位置しないことは明ら
かである。また、補正された画素の寸法が変化すること
も明らかである。その理由は図示の変位ベクトルの終端
点がその出発点よりも互いに接近、して位置しているか
らである。上述した所から明らかなようにこの補正され
た像を他の像と比較して減算像を決める場合には補正さ
れた画素を先ず最初変換して比較可能な画素を得るよう
にする必要がある。上述した所は比較的厄介な計算を必
要とすることは明らかである。これを防止するために本
発明によれば次に示す計算を行う。第３図の第１の像Ｉ
に示すように正に向かう変位ベクトルを用いる代わりに
第４図に示すように第２の像■の負に向かう変位ベクト
ルを用いて必要な画素値を決めることができる。例えば
、第４図の画素ｌ、Ｊ”１ではベクトル−Ｖ（ｉ、 ｊ
＋１）を示し、第３図の画素では負のベクトルＶ（ｉ、
ｊ＋１）を示す。上述した所は、第４図の交点で示す
ベクトルＶ（ｉ、 ｊ＋１）の終端に関連する画素値が
、画素（ｉ−１，ｊ−１）、 （ｉ、 ｊ−１）。
（ｉ−１，ｊ）および（ｉ、ｊ）に関連する第２の像の
画素値によって決まることを意味する。これら４個の画
素の画素値間で双直線性補間を行うことにより、位置指
標（ｉ、 ｊ＋１）を有する画素に対する画素値を決め
ることができる。第４図に示すように第２の像■の各画
素に対し新たな画素値を決めることにより減算像を直ち
に形成し得る第３図の像Ｉの画素に関連する画素に対す
る画素値を決めるようにする。
画素値によって決まることを意味する。これら４個の画
素の画素値間で双直線性補間を行うことにより、位置指
標（ｉ、 ｊ＋１）を有する画素に対する画素値を決め
ることができる。第４図に示すように第２の像■の各画
素に対し新たな画素値を決めることにより減算像を直ち
に形成し得る第３図の像Ｉの画素に関連する画素に対す
る画素値を決めるようにする。
第２図につき説明したように、各座標ベクトルに対し、
補正値ＯｘおよびＤＹ （双方で１個の変位ベクトルを
構成する）だけでなく、関連する変位ベクトルに対し決
められた符号変化の数ＮＳＣＪよび信頼性の数ＣＵＲＸ
およびＣＵＲＹをも記憶する。これら信頼性の数ＣＵＲ
ＸおよびＣＵＲＹは変位ベクトルの方向成分ＯＸおよび
ＤＹの信頼性の目安である。また、テストステップ４０
４（第２図参照）における符号変化の数が実行可能な符
号変化の最大数の４０％である上記下限以下に保持され
る場合には信頼性０をかかるベクトルに対して割当てる
ことは明らかである。符号変化の数が所定の上限以上と
なる場合には信頼性の数も０となり、これをステップ４
１０（第２図参照）でテストする。かかる場合には比較
した２つのサブ画像には減算像に関連する情報は殆ど含
まれない。上述した所は、必要に応じ、かくして決定し
た変位ベクトルに補正すべき減算像に対し関連しない情
報が含まれることを意味する。本発明による方法および
装置は充分に信頼性があり且つ決定すべき減算像に関連
する変位ベクトルのみを利用せんとするものである。同
様に変位ベクトルＤＸ、 ＤＹの構成成分が制限値ＤＸ
Ｍ、 ＤＹＭに到達する場合には変位ベクトルの関連す
る成分に対する信頼性の数が０となる。その理由は上述
した制限の値の変位が生じないものと思われるからであ
る。
補正値ＯｘおよびＤＹ （双方で１個の変位ベクトルを
構成する）だけでなく、関連する変位ベクトルに対し決
められた符号変化の数ＮＳＣＪよび信頼性の数ＣＵＲＸ
およびＣＵＲＹをも記憶する。これら信頼性の数ＣＵＲ
ＸおよびＣＵＲＹは変位ベクトルの方向成分ＯＸおよび
ＤＹの信頼性の目安である。また、テストステップ４０
４（第２図参照）における符号変化の数が実行可能な符
号変化の最大数の４０％である上記下限以下に保持され
る場合には信頼性０をかかるベクトルに対して割当てる
ことは明らかである。符号変化の数が所定の上限以上と
なる場合には信頼性の数も０となり、これをステップ４
１０（第２図参照）でテストする。かかる場合には比較
した２つのサブ画像には減算像に関連する情報は殆ど含
まれない。上述した所は、必要に応じ、かくして決定し
た変位ベクトルに補正すべき減算像に対し関連しない情
報が含まれることを意味する。本発明による方法および
装置は充分に信頼性があり且つ決定すべき減算像に関連
する変位ベクトルのみを利用せんとするものである。同
様に変位ベクトルＤＸ、 ＤＹの構成成分が制限値ＤＸ
Ｍ、 ＤＹＭに到達する場合には変位ベクトルの関連す
る成分に対する信頼性の数が０となる。その理由は上述
した制限の値の変位が生じないものと思われるからであ
る。
信頼性の数が０でない場合には、信頼性の数は次に示す
ように決めることができる。信頼性の数ＣＵＲＸ、 Ｃ
ＵＲＹは、関連する整数変位ベクトルに対し決められ、
同一方向に僅かだけ大きな成分を有する変位ベクトルに
関連する符号変化の数だけ減少され、且つ同一方向に小
さな成分を有する変位ベクトルに関連する符号変化の数
だけ減少された符号変化の最大数の２倍となる。これを
次式で示すことができる。
ように決めることができる。信頼性の数ＣＵＲＸ、 Ｃ
ＵＲＹは、関連する整数変位ベクトルに対し決められ、
同一方向に僅かだけ大きな成分を有する変位ベクトルに
関連する符号変化の数だけ減少され、且つ同一方向に小
さな成分を有する変位ベクトルに関連する符号変化の数
だけ減少された符号変化の最大数の２倍となる。これを
次式で示すことができる。
ＣＵＲＸ＝２ ｘ ＮＳＣ（ＯＸ、 ＤＹ） −ＮＳＣ
（ＤＸ−１，ＤＹ） −ＮＳＣ（ＤＸ＋１． ＤＹ）Ｃ
ＵＲＹ＝２ Ｘ Ｎ５Ｃ（ＯＸ、ＤＹ）−ＮＳＣ（ＯＸ
、口Ｙ−１）−ＮＳＣ（ＯＸ、［ｌＹ＋１）上式におい
てＮＳＣは減算サブ画像で決まる符号変化の数を示す。
（ＤＸ−１，ＤＹ） −ＮＳＣ（ＤＸ＋１． ＤＹ）Ｃ
ＵＲＹ＝２ Ｘ Ｎ５Ｃ（ＯＸ、ＤＹ）−ＮＳＣ（ＯＸ
、口Ｙ−１）−ＮＳＣ（ＯＸ、［ｌＹ＋１）上式におい
てＮＳＣは減算サブ画像で決まる符号変化の数を示す。
また指標ＤＸ、 ＤＹは他方のサブ画像に対する一方の
サブ画像のＸ方向およびＹ方向の変位を示す。信頼性の
数ＣＵＲＸおよびＣＵＲＹの理論的な最大値は、サブマ
トリックスの画素数の２倍である。実際にはこの値に到
達しない。信頼性の数の値が大きいことは、所定の整数
の変位ベクトルに対し、サブ画像が好適に対応すると共
にそのすぐ近くの位置においてほぼ好適に対応すること
を意味する。
サブ画像のＸ方向およびＹ方向の変位を示す。信頼性の
数ＣＵＲＸおよびＣＵＲＹの理論的な最大値は、サブマ
トリックスの画素数の２倍である。実際にはこの値に到
達しない。信頼性の数の値が大きいことは、所定の整数
の変位ベクトルに対し、サブ画像が好適に対応すると共
にそのすぐ近くの位置においてほぼ好適に対応すること
を意味する。
所定のベクトルがその近くから著しく変位する場合には
関連するベクトルも正しくなる。これがため、近隣に対
する変位も信頼性の実行可能な目安となる。本発明によ
れば、信頼性の規準を信頼性の数ＣＵＲＸ、 Ｃ［ＩＲ
Ｙおよびベクトル間の変位に基づいて計算する。この場
合、これら２つの状態、即ち、信頼性の数ＣＵＲＸおよ
びＣＵＲＹがザブマトリックスの画素の数以上となる第
１の状態、およびサブマトリックスの画素ＮＰＩＸの数
が信頼性の数ＣＵＲＸまたはＣＩＩＲＹよりも大きな第
２の状態を識別することができる。第１の状態の場合に
は実証された信頼性の規準ＲＸ・０．６＋０１ＩＸ（Ｘ
方向の方向成分が１画素幅よりも少なく変位する隣接の
ベクトルの数）を用いることができる。第２の状態の場
合には実証さレタ信頼性の規準ＲＸ ＝ ０．６（ＣＵ
ＲＸ／ＮＰＩＸ）＋０．ＩＸ（Ｘ方向の変位成分が１画
素幅よりも少なく変位する隣接のベクトルの数）を用い
ることができる。変位ベクトルのＹ方向の成分に対して
も同様の信頼性の規準を決めることができる。信頼性の
規準の計算後、マトリックスの各変位ベクトルに対する
出発座標ＸおよびＹ、変位ベクトルのＸ方向の成分およ
びＹ方向の成分並びに変位ベクトルの夫々成分ＯＸ、
ＤＹに対する信頼性の規準ＲＸおよびＲＹをメモｌＪＭ
３に記憶する。
関連するベクトルも正しくなる。これがため、近隣に対
する変位も信頼性の実行可能な目安となる。本発明によ
れば、信頼性の規準を信頼性の数ＣＵＲＸ、 Ｃ［ＩＲ
Ｙおよびベクトル間の変位に基づいて計算する。この場
合、これら２つの状態、即ち、信頼性の数ＣＵＲＸおよ
びＣＵＲＹがザブマトリックスの画素の数以上となる第
１の状態、およびサブマトリックスの画素ＮＰＩＸの数
が信頼性の数ＣＵＲＸまたはＣＩＩＲＹよりも大きな第
２の状態を識別することができる。第１の状態の場合に
は実証された信頼性の規準ＲＸ・０．６＋０１ＩＸ（Ｘ
方向の方向成分が１画素幅よりも少なく変位する隣接の
ベクトルの数）を用いることができる。第２の状態の場
合には実証さレタ信頼性の規準ＲＸ ＝ ０．６（ＣＵ
ＲＸ／ＮＰＩＸ）＋０．ＩＸ（Ｘ方向の変位成分が１画
素幅よりも少なく変位する隣接のベクトルの数）を用い
ることができる。変位ベクトルのＹ方向の成分に対して
も同様の信頼性の規準を決めることができる。信頼性の
規準の計算後、マトリックスの各変位ベクトルに対する
出発座標ＸおよびＹ、変位ベクトルのＸ方向の成分およ
びＹ方向の成分並びに変位ベクトルの夫々成分ＯＸ、
ＤＹに対する信頼性の規準ＲＸおよびＲＹをメモｌＪＭ
３に記憶する。
マ）ＩＪフックス各変位ベクトルの各成分に対する信頼
性の規準の決定後、高い信頼性の規準を有する変位ベク
トルの成分の情報を用いて低い信頼性の規準を有する変
位ベクトルの成分を改善することができる。変位ベクト
ルの各成分に対しては加重平均値により新たな成分を計
算し、この際すぐ近くの成分に対する信頼性の差を重み
係数として用いる。また、新たに計算すべきベクトル成
分の信頼性の規準よりも低い信頼性の規準を有する隣接
成分は考慮しない。第５ａおよび５ｂ図は変位ベクトル
の成るマトリックス素子を示す。これらマトリックス素
子はＸおよびＹ座標値に−に、 Ｋ十ｋ。
性の規準の決定後、高い信頼性の規準を有する変位ベク
トルの成分の情報を用いて低い信頼性の規準を有する変
位ベクトルの成分を改善することができる。変位ベクト
ルの各成分に対しては加重平均値により新たな成分を計
算し、この際すぐ近くの成分に対する信頼性の差を重み
係数として用いる。また、新たに計算すべきベクトル成
分の信頼性の規準よりも低い信頼性の規準を有する隣接
成分は考慮しない。第５ａおよび５ｂ図は変位ベクトル
の成るマトリックス素子を示す。これらマトリックス素
子はＸおよびＹ座標値に−に、 Ｋ十ｋ。
Ｌ−に、 Ｌ及びし十Ｋ（例えばに＝３２）を有する。
種々のマトリックス素子に対する信頼性の規準ＲＸを第
５ａ図に挿入した。関連するマトリックス素子に対する
Ｘ方向の関連する成分ＤＸは第５ｂ図に挿入した。以下
、−例として画素に、 Ｌの変位ベクトル成分Ｄ×に
対する新たな成分口ｘ′の計算について説明する。
５ａ図に挿入した。関連するマトリックス素子に対する
Ｘ方向の関連する成分ＤＸは第５ｂ図に挿入した。以下
、−例として画素に、 Ｌの変位ベクトル成分Ｄ×に
対する新たな成分口ｘ′の計算について説明する。
この際マトリックス素子（Ｌ、 Ｋ＋ｋ）および（Ｌ＋
に、 Ｋ）のベクトル成分は考慮しない。その理由はこ
れらマトリックス素子に対する信頼性の規準がマ） Ｉ
Ｊフックス子（Ｌ、 Ｋ）の信頼性の規準よりも低いか
らである。変位ベクトル （Ｌ、 Ｋ）の新たな成分Ｄｘ′は次式で示す値を有す
る。
に、 Ｋ）のベクトル成分は考慮しない。その理由はこ
れらマトリックス素子に対する信頼性の規準がマ） Ｉ
Ｊフックス子（Ｌ、 Ｋ）の信頼性の規準よりも低いか
らである。変位ベクトル （Ｌ、 Ｋ）の新たな成分Ｄｘ′は次式で示す値を有す
る。
実際上、上述した各マトリックス素子の各変位ベクトル
に対して新たな成分を計算する場合には、第２図の繰り
返し処理後のマトリックスの各ベクトルに対し適切な信
頼性を得ることができる。次いでかくして決定したベク
トルから双直線性補間によって第１の像の各画素に対す
る変位ベクトルを計算し、その徒弟２の像の負の変位ベ
クトルを用いて第３および４図につき説明したバック投
影法を利用し１．第１の像の画素に関連する画素に対し
画素値を計算する。
に対して新たな成分を計算する場合には、第２図の繰り
返し処理後のマトリックスの各ベクトルに対し適切な信
頼性を得ることができる。次いでかくして決定したベク
トルから双直線性補間によって第１の像の各画素に対す
る変位ベクトルを計算し、その徒弟２の像の負の変位ベ
クトルを用いて第３および４図につき説明したバック投
影法を利用し１．第１の像の画素に関連する画素に対し
画素値を計算する。
第１図は本発明による物体の連続２画像から減算像を決
定する装置の一例の構成を示すブロック図、 第２図は本発明による物体の連続２画像から減算像を決
定する方法の一例を示すフローチャート図、 第３図は種々の画素の位置補正の状態を示す説明図、 第４図はバック投影による種々の画素の位置補正の状態
を示す説明図、 第５ａおよび５ｂ図は変位ベクトルマトリックス右よび
関連する信頼性の規準マ） ＩＪフックス一部分を示す
説明図である。 Ｇ・・・高電圧発生器 Ｂ・・・Ｘ線管０・・・被
検体 Ｘ・・・Ｘ線ＩＩ・・・イメージ増強
管 ＰＵ・・・撮像管ＯＡ・・・増幅器
定する装置の一例の構成を示すブロック図、 第２図は本発明による物体の連続２画像から減算像を決
定する方法の一例を示すフローチャート図、 第３図は種々の画素の位置補正の状態を示す説明図、 第４図はバック投影による種々の画素の位置補正の状態
を示す説明図、 第５ａおよび５ｂ図は変位ベクトルマトリックス右よび
関連する信頼性の規準マ） ＩＪフックス一部分を示す
説明図である。 Ｇ・・・高電圧発生器 Ｂ・・・Ｘ線管０・・・被
検体 Ｘ・・・Ｘ線ＩＩ・・・イメージ増強
管 ＰＵ・・・撮像管ＯＡ・・・増幅器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、物体の連続２画像から減算像を決めるに当り、画像
に細分割された連続２画像の各々からサブ画像を選択し
、各サブ画像は同一の画像を含むと共に互いに変位した
後毎回互いに比較し、サブ画像あたり各変位後画素の画
素値間の差の目安を決め、かつ１個の変位ベクトルは差
の目安が最小となる直交方向の成分を有し、その後１つ
の画像の画素の位置を局部的に決めた変位ベクトルによ
って補正し、差の目安を決めるために１つのサブ画像の
各画素の値を画素の位置の指標の和が夫々偶数または奇
数となる量だけ増減し、その後減算サブ画像を決めると
共に減算像の隣接画素間の符号変化の数を計数し、符号
変化の計数値が好適な符号変化の最大数の予定分数以上
となる位置で前記差の目安が最小となるようにした物体
の連続２画像から減算像を決定する方法において、他の
サブ画像に対するサブ画像の少なくとも最後の３位置に
関連する符号変化の数を記憶し、その後これら符号変化
数の差から信頼性の数を決め、変位ベクトルの各直交方
向の成分に対して各方向の最後の３位置に関連する３つ
の数を記憶し、各方向成分に対して信頼性の数を形成す
るようにしたことを特徴とする物体の連続２画像から減
算像を決定する方法。 ２、決定した最大の数と、他の２つの数との差から信頼
性の数を決めるようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載の物体の連続２画像から減算像を決定
する方法。 ３、変位ベクトルを隣接の変位ベクトルと比較し、前の
ベクトルの方向成分に関連する信頼性の数に基づく信頼
性の規準を、１つの方向成分が隣接の変位ベクトルの方
向成分から正方向に変位する場合に調整し得る目安より
も少ない量だけ増大し得るようにしたことを特徴とする
特許請求の範囲第１項または第２項に記載の物体の連続
２画像から減算像を決定する方法。 ４、変位ベクトルの方向成分を、信頼性の規準により加
重された方向成分の和によって置換し、これら方向成分
は元の方向成分およびその直接隣接する方向成分を含み
、信頼性の規準が置換すべき方向成分の信頼性の規準よ
りも高いこれら方向成分により前記和を促進しうるよう
にしたことを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項
または第３項に記載の物体の連続２画像から減算像を決
定する方法。 ５、変位方向の数を選択すべき最大値に制限し得るよに
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の物
体の連続２画像から減算像を決定する方法。 ６、各位置に対して符号変位の数が所定の下限以下の場
合に前記量が増大し得るようにしたことを特徴とする特
許請求の範囲第１項に記載の物体の連続２画像から減算
像を決定する方法。 ７、前記量を所定の最大値にステップ状に増大し、その
後符号変位の数が前記下限以下に保持される場合に直前
に決められた変位ベクトルに等しい変位ベクトルおよび
信頼性の数零が画素に割り当てられるようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の物体の連続２
画像から減算像を決定する方法。 ８、変位ベクトルの決定後、この変位ベクトルを隣接ベ
クトル決定用の出発量として用いるようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第１項に記載の物体の連続２画
像から減算像を決定する方法。 ９、関連する画素および反転変位ベクトルの座標の組み
合わせによる関連する画素の補正された座標を決めて補
正すべき画像の画素値を決定し、その後補正された座標
のすぐ近くの座標に関連する画素値を補間して関連する
画素の画素値を決めるようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第１項に記載の物体の連続２画像から減算像
を決定する方法。 １０、変位ベクトルにより補正された画素の画素値から
、補正されない画像の画素の位置に画素の補間を行って
画素値を決めるようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載の物体の連続２画像から減算像を決定
する方法。 １１、補間を双線形の補間としたことを特徴とする特許
請求の範囲第１項に記載の物体の２連続がそうから減算
像を決定する方法。 １２、ａ）第１および第２の画像を記憶する記憶手段と
；ｂ）第１および第２の画像内から画素に細分割された
サブ画像を選択し、他のサブ画像に対して１つのサブ画
像を変位し、両サブ画像の関連する画素の値を比較し、
かつ、これから関連する値と２つ以上の直交成分を有し
前記関連する値が最大となる変位サブ画像の変位ベクト
ルを決める算術演算手段と；ｃ）決定した変位ベクトル
を記憶すると共に補正された第１および第２の画像から
減算像を決める他の記憶手段とを具え、前記算術演算手
段によって種々の画素に関連する変位ベクトルをも好適
に決めて局部的に決めた変位ベクトルにより第１の画像
の画素の位置を補正し得るようにした物体の連続２画像
から減算像を決定する装置において、各変位ベクトルに
対して前記他の記憶手段にはその位置、方向成分および
各方向成分の信頼性の規準を記憶する数個の記憶位置を
設けるようにしたことを特徴とする物体の連続２画像か
ら減算像を決定する装置。 １３、関連する値を決める算術演算手段を用いて、関連
する画素の位置指標の和が偶数または奇数となる場合に
２つのサブ画像の関連する画像間の差を決めると共に順
次の連続画素の差の符号変化の数を決める量だけ増減す
るようにし、更に、前記算術演算手段を用いて変位ベク
トルの各直交成分に対して一方のサブ画像の他のサブ画
像に対する最後の３つの変位位後の成分方向における位
置に対する符号変化の３つの数を決めて最大の数および
その他の２つの数間の差から信頼し得る数を計算し得る
ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第１２項に
記載の物体の連続２画像から減算像を決定する装置。 １４、算術演算手段を用いて隣接の変位ベクトルの方向
成分を比較し、かつ、第１の方向成分に関連する信頼し
得る数に基づく信頼し得る規準を、第１の方向成分が隣
接の方向成分から調整し得る目安より少なく変位する量
だけ増大させるようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第１３項に記載の物体の連続２画像から減算像を決
定する装置。 １５、算術演算手段を用いて信頼し得る規準により加重
され置換すべき方向成分およびそのすぐ近くの隣接方向
成分を含む方向成分の和を決め、前記算術演算手段には
前記決定すべき和にその信頼し得る規準が置換すべき方
向成分の信頼し得る規準よりも大きなこれら隣接成分の
みを含ませ、この和を前記他の記憶手段に記憶して前記
他の記憶手段に後に記憶される方向成分と置換し得るよ
うにしたことを特徴とする特許請求の範囲第１４項に記
載の物体の連続２画像から減算像を決定する装置。 １６、前記算術演算手段を用いて画像全体に亘って規則
正しく分布された変位ベクトルのマトリックスで双直線
性補間により各画素ベクトルを計算し得るようにしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１２項に記載の物体の
連続２画像から減算像を決定する装置。
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