JPS63167227A - 干渉計 - Google Patents

干渉計

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Publication number
JPS63167227A
JPS63167227A JP61309943A JP30994386A JPS63167227A JP S63167227 A JPS63167227 A JP S63167227A JP 61309943 A JP61309943 A JP 61309943A JP 30994386 A JP30994386 A JP 30994386A JP S63167227 A JPS63167227 A JP S63167227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
reflected
light
incident
luminous flux
Prior art date
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Pending
Application number
JP61309943A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Ichimura
市村 克彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS63167227A publication Critical patent/JPS63167227A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は、フーリエ変換分光光度計等に用いられる干渉
計の光学系に関する。
口、従来の技術 第4図に示すように、通常のマイケルソン型干渉計を用
いたフーリエ変換分光光度計では、可動反射鏡13から
半透明鏡3を透過した光と、固定反射鏡4から半透明鏡
3で反射された光の干渉光を測定している。しかし、可
動反射鏡13から半透明鏡3に入射された光の全部が半
透明鏡3を透過するのではなく、その半分の光は半透明
jl 3に反射されて光源3方向に逆行する。また、固
定反射鏡4から半透明鏡3に照射された光も全部が半透
明鏡3で反射されるのではなく、その半分の光は半透明
鏡3を透過して光源3方向に逆行して、可動反射鏡13
から来た光と干渉する。これらの光源3方向に逆行する
光は、測定には全熱利用されていない。
ハ0発明が解決しようとする問題点 本発明は、上述したような問題点を解消し、光源側に戻
る干渉光をも測定に利用してS/N比を向上させること
を目的とする。
二1問題点解決のための手段 フーリエ変換分光光度計等の干渉計において、半透明鏡
で分割された光束の一方を屋根形配置の固定鏡で光軸を
平行移動させて反射させ、他方の光束を屋根形配置され
た可動鏡で光軸を平行移動させて反射させ、固定鏡及び
可動鏡で反射された両光束を、上記半透明鏡上の入射光
束分割域とは異なる部分で夫々反射及び透過させ、これ
ら反JIt及び透過によって生じた二つの干渉光を夫々
検出するようにした。
ホ3作用 半透明鏡に会合する2つの光束は最初入射光束を半透明
鏡で分割してできた2つの光束と夫々光軸が平行で向き
が反対になるようにする。半透明鏡に戻ってきた2つの
光束は夫々が再び2つの光束に分割される。この分割さ
れた4つの光束の内、従来は入射光束と垂直な方向に分
割される光束だけを検出していたが、それは他の2つの
光束は干渉計への入射光と同じ光路上を逆行するため、
光検出手段を置くことができず、そのため利用すること
が出来なかったのである0本発明は光源の方向に戻る方
の組の光束の光軸を入射光束の光軸とは平行であるが異
なるようにして、この光源の方向に戻る光束を入射光束
を遮蔽することなく集光及び検出ができるようにしたも
のである。
へ、実施例 第1図に本発明の一実施例を示す、第1図において、1
は光源、2は光源1からの光を平行光束として半透明鏡
3に入射させるコリメータ鏡、半透明鏡3はコリメータ
鏡から送られてくる光束の光軸(入射光軸)に対して4
5度の角度に設置されており、コリメータ鏡から送られ
てくる光束の半分を透過させて可動屋根形鏡4に送り、
残り半分の光束を入射光軸に対して90度の方向に反射
させて固定反射鏡4に送る。固定反射鏡4は半透明鏡3
と平行に設置されており、半透明鏡3から送られてくる
光束を入射光軸と平行で入射光と同じ方向に反射させ、
固定反射鏡5に送る。固定反射鏡5は半透明鏡3と垂直
な向きに設置されており、固定反射鏡4からの光束を入
射光軸と垂直で固定反射鏡4への入射方向と逆な方向に
反射させ、固定反射鏡6に送る。固定反射鏡6は半透明
鏡3と同じ角度に設置されており、固定反射鏡5から送
られてくる光束を入射光軸と平行にずらせた光軸で入射
光束と逆の方向に反射させ、入射光束の入射域と異なる
領域で半透明鏡3に入射させる、このようにして半透明
鏡3で分割された光束の一方は方形のループを画いて、
半透明鏡の入射域とは異なる場所に戻って来る。このよ
うにして半透明鏡3に戻って来た光束の半分は入射光軸
に対して90度の方向で固定反射j14と反対方向に反
射されて集光鏡9に送られ、残り半分の光束は半透明鏡
を透過して集光鏡8に送られる。集光鏡9に送られた光
束は集光鏡9によって検出器10の受光素子すに集光さ
せられる。集光鏡8に送られた光束は集光鏡8によって
検出器10の受光素子aに集光させられる。半透明鏡3
を透過した入射光束の他の半分は、可動屋根形鑓7に入
射される、可動屋根形鏡7は内面鏡側を入射方向に向け
たL字形の反射鏡で、基準位置に設置した時にL字形の
内面鏡の面が夫々固定反射[15と固定反射鏡6の鏡面
と同一面になるように設置されており、入射光軸と平行
な方向に可動である。可動屋根形鏡7に入射された光束
は開鎖7によって2回反射され、入射した方向と逆で干
渉計への入射光軸と平行にずれた状態で反射されて、固
定反射鏡4に送られる。固定反射鏡4は可動屋根形鏡7
からの光束を固定!116からの反射光束と同じ領域で
干渉計への入射光軸と垂直な方向で半透明鏡3面に向け
て反射させる。半透明鏡3に送られた上記光束の半分は
透過されて集光鏡9に送られ、残り半分の光束は干渉計
入射光軸に対して平行で入射光束と逆の方向に反射され
て集光鏡8に送られる。集光鏡9に送られた光束は集光
鏡9によって検出器10の受光素子すに集光され、固定
反射鏡6から来た光束と干渉する。t&光鏡8に送られ
た光束は集光鏡8によって検出器10の受光素子aに集
光され、固定鏡6から来た光束と干渉する。
このような構成で可動屋根形鏡7を移動させることによ
り、受光素子a、bで夫々インターフェログラムを得る
ことができる。受光素子a、bで検出されるインターフ
ェログラムは逆位相になるので、両者の差をとることに
より、光の利用効率が2倍になり高感度でインターフェ
ログラムが得られる。
上記実施例では、2つの干渉光を別々の検出素子を用い
て検出しているが、二つの干渉光路の一方に測定試料、
他方に標準試料を置き、受光素子a、bの出力の和をと
ると、2つの試料が全く同じなら、和の出力は0となり
、このため、2つの試料の違いが極めて敏感に検出でき
る。この場合、第2図に示すように、1つの検出素子に
集光させて検出することも可能である。
第3図に変形一実施例を示す、第3図において、12は
分割された2つの光束の光路差を補償する半透明鏡3と
同じ大きさと向きに設置されたコンペンセーターである
。14及び15は90度の角度に2枚の反射鏡を接合し
たL字形の屋根望鏡で、入射光束を光軸をずらせて入射
光束と平行な方向に反射させる。15は内面鏡を干渉計
への入射光束に向け、入射光軸と平行な方向に移動可能
に設置された可動屋根射鏡である。14は内面鏡を干渉
計への入射光束に対して垂直に向けて固定された固定屋
根射鏡である。以下、光源1.コリメータ鏡2.半透明
#13.集光鏡8.集光鏡9゜検出器10.受光素子a
、受光素子すは第1図と同じ構成要素である。
入射光束が半透明鏡3で分割され、半分の光束は透過し
て可動屋根射鏡15に送られ、半分の光束が入射光軸に
対して垂直に反射されて固定屋根射鏡14に送られる。
ここまでは第1実施例と同じであるが、第1実施例と異
なる点は、第1実施例が2つの光束が異なる矩形ループ
を互いに逆行するように進行して、半透明鏡3上で分割
点と異なる会合点に会合するのに対し、この変形実施例
では、屋根射鏡13及び14によって分割された2つの
光束を入射光束を少しずらせて平行方向に反射させ、半
透明鏡3の上記分割点と異なる位置(会合点)に会合さ
せるようにしたものである。
もっともこの変形実施例と比較して、第1実施例は光路
差補償用のコンペンセーター12を必要としないから、
測定精度及び精度維持が容易である点が一段と優れてい
る。
ト5効果 本発明によれば、入射光束の全部を測定に用いることが
出来るようになったので、測定能力及び効率(S/N比
〉が向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は変形実施
例の説明図、第3図は変形実施例の構成図、第4図は従
来例の構成図である。 1・・・光源、2・・・コリメータ鏡、3・・・半透明
鏡、4・・・固定反射鏡、5・・・固定反射鏡、6・・
・固定反射鏡、7・・・可動屋根射鏡、8・・・集光鏡
、9・・・集光鏡。 10・・・検出器、a・・・受光素子、b・・・受光素
子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半透明鏡で分割された光束の一方を屋根形配置の固定鏡
    で光軸を平行移動させて反射させ、他方の光束を屋根形
    配置の可動鏡で光軸を平行移動させて反射させ、固定鏡
    及び可動鏡で反射された両光束を上記半透明鏡上の入射
    光束分割域とは異なる部分で反射及び透過させ、これら
    反射及び透過した二つの干渉光を夫々検出するようにし
    たことを特徴とする干渉計。
JP61309943A 1986-12-27 1986-12-27 干渉計 Pending JPS63167227A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61309943A JPS63167227A (ja) 1986-12-27 1986-12-27 干渉計

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JP61309943A JPS63167227A (ja) 1986-12-27 1986-12-27 干渉計

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JPS63167227A true JPS63167227A (ja) 1988-07-11

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ID=17999214

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JP61309943A Pending JPS63167227A (ja) 1986-12-27 1986-12-27 干渉計

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001088474A1 (fr) * 2000-05-15 2001-11-22 Nikon Corporation Dispositif de mesure de surfaces et dispositif de mesure de formes
JP2019530204A (ja) * 2016-09-02 2019-10-17 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー 光ビームのコヒーレンス量の調整
WO2021085442A1 (ja) * 2019-10-29 2021-05-06 横河電機株式会社 フーリエ分光分析装置
JPWO2023171626A1 (ja) * 2022-03-08 2023-09-14

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