JPS63172940A - 疲労試験監視装置 - Google Patents
疲労試験監視装置Info
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- JPS63172940A JPS63172940A JP62005230A JP523087A JPS63172940A JP S63172940 A JPS63172940 A JP S63172940A JP 62005230 A JP62005230 A JP 62005230A JP 523087 A JP523087 A JP 523087A JP S63172940 A JPS63172940 A JP S63172940A
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Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
楚肌ム旦旬
(産業上の利用分野]
本発明は、疲労試験の監視装置に関し、特に、複数の測
定点からの歪を検出している疲労試験において、各測定
点の疲労強度を正確に検出するために有用な疲労試験監
視装置に関する。
定点からの歪を検出している疲労試験において、各測定
点の疲労強度を正確に検出するために有用な疲労試験監
視装置に関する。
[従来の技術]
従来、繰り返し荷重の加わる各種構造物、例えば、自動
車の車体や鉄道車両の台車枠等は、その耐久性試験の一
つとして、疲労試験が行われている。
車の車体や鉄道車両の台車枠等は、その耐久性試験の一
つとして、疲労試験が行われている。
特に大型の被検体の疲労試験においては、被検体の歪を
極めて多数の測定点から同時に検出し、各測定点の歪の
変化状態から、疲労状形を検出し、各点の疲労強度を求
めている。この場合、一つの測定点が疲労限界に達して
破壊すると、その後は他の測定点に応力が集中するため
に、測定点の内、一点が疲労限界に達した後は、他の測
定点の疲労強度は正確に検出されない。そのため、測定
点が疲労限界に達するたびに疲労試験機を停止して、そ
の測定点のデータを採取した後、補強し、他の測定点に
影響がないように処置していた。
極めて多数の測定点から同時に検出し、各測定点の歪の
変化状態から、疲労状形を検出し、各点の疲労強度を求
めている。この場合、一つの測定点が疲労限界に達して
破壊すると、その後は他の測定点に応力が集中するため
に、測定点の内、一点が疲労限界に達した後は、他の測
定点の疲労強度は正確に検出されない。そのため、測定
点が疲労限界に達するたびに疲労試験機を停止して、そ
の測定点のデータを採取した後、補強し、他の測定点に
影響がないように処置していた。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、この様な疲労強度測定は、数日〜数週間単位の
極めて長時間を要するものであるが、常に監視者を測定
機に配置し、各測定点が疲労限界に達した場合、試験装
置を停止する必要があった。
極めて長時間を要するものであるが、常に監視者を測定
機に配置し、各測定点が疲労限界に達した場合、試験装
置を停止する必要があった。
しかも、この監視作業は、特に鉄道車両の台車枠など、
100前後の多数の測定点を監視するとなると、そのデ
ータの演算処理等の必要があり、現″実には、観察者へ
の負担が極めて大きくなっていた。
100前後の多数の測定点を監視するとなると、そのデ
ータの演算処理等の必要があり、現″実には、観察者へ
の負担が極めて大きくなっていた。
そのため、疲労試@機を稼働している時間を制限しなけ
ればならず極めて非効率的であり、観察者を増やして一
日中稼働してもデータ処理の限界から、測定精度低下は
甘受しなければならなかった。
ればならず極めて非効率的であり、観察者を増やして一
日中稼働してもデータ処理の限界から、測定精度低下は
甘受しなければならなかった。
また、−日中稼働して、監視者が常に測定装置に付いて
いない場合も、測定点が疲労限界に達する時に試験機停
止が出来ないため、他の測定点に応力が集中した状態で
の疲労試験が長時間に及び、他の測定点の測定精度を低
下させると共に、場合によっては補修不能なほどに被検
体が破壊してしまい、正確な測定値が得られないまま、
他の被検体に取り替えて再試)倹を行わなければならな
いと言う事態が生じる場合もあった。特に大型の被検体
の場合、取り替えは不経済である。
いない場合も、測定点が疲労限界に達する時に試験機停
止が出来ないため、他の測定点に応力が集中した状態で
の疲労試験が長時間に及び、他の測定点の測定精度を低
下させると共に、場合によっては補修不能なほどに被検
体が破壊してしまい、正確な測定値が得られないまま、
他の被検体に取り替えて再試)倹を行わなければならな
いと言う事態が生じる場合もあった。特に大型の被検体
の場合、取り替えは不経済である。
l肌Ω■滅
そこで、本発明は、上記問題点を解決することを目的と
し、次のような構成を採用した。
し、次のような構成を採用した。
[問題点を解決するための手段]
即ち、第1発明の要旨とするところは、第1図(A)に
例示するごとく、 被検体Mllに応力を与える応力発生手段M12と、 該応力発生手段M12を制御して、所定の繰り返し応力
を発生させる応力制御手段M13と、上記被検体Mll
の複数の測定点の歪状態を測定する歪測定手段M14と
、 該歪測定手段M14からのデータを処理し、各測定点の
歪の推移を検出するデータ処理手段M15と、 を備えた疲労試験機に用いられる疲労試験監視装置にお
いて、 上記データ処理手段M15で求められた各測定点の歪の
推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観測
された場合に、警告信号を発生する警告手段M16を備
えたことを特徴とする疲労試験監視装置にある。
例示するごとく、 被検体Mllに応力を与える応力発生手段M12と、 該応力発生手段M12を制御して、所定の繰り返し応力
を発生させる応力制御手段M13と、上記被検体Mll
の複数の測定点の歪状態を測定する歪測定手段M14と
、 該歪測定手段M14からのデータを処理し、各測定点の
歪の推移を検出するデータ処理手段M15と、 を備えた疲労試験機に用いられる疲労試験監視装置にお
いて、 上記データ処理手段M15で求められた各測定点の歪の
推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観測
された場合に、警告信号を発生する警告手段M16を備
えたことを特徴とする疲労試験監視装置にある。
また、第2発明の要旨とするところは、第1図(B)に
例示するごとく、 被検体M21に応力を与える応力発生手段M22と、 該応力発生手段M22を制御して、所定の繰り遅し応力
を発生させる応力制御手段M23と、上記被検体M21
の複数の測定点の歪状態を測定する歪測定手段M24と
、 該歪測定手段M24からのデータを所定時間間隔で順次
読み込んで処理し、各測定点の歪の推移を検出するデー
タ処理手段M25と、 を備えた疲労試@機に用いられる疲労試験監視装置にお
いて、 上記データ処理手段M25で求められた各測定点の歪の
推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観測
された場合に、警告信号を発生する警告手段M26と、 各測定点の上記所定の特異推移状態近傍の状態を検出す
る前兆検出手段M27と、 該前兆検出手段M27により、いずれかの測定点が上記
近傍状態にあると検出されると、上記データ処理手段M
25による該測定点の歪Jill定データ読み込み量を
増大させるデータ量変更手段M28と、 を備えたことを!l!徴とする疲労試験監視装置にある
。
例示するごとく、 被検体M21に応力を与える応力発生手段M22と、 該応力発生手段M22を制御して、所定の繰り遅し応力
を発生させる応力制御手段M23と、上記被検体M21
の複数の測定点の歪状態を測定する歪測定手段M24と
、 該歪測定手段M24からのデータを所定時間間隔で順次
読み込んで処理し、各測定点の歪の推移を検出するデー
タ処理手段M25と、 を備えた疲労試@機に用いられる疲労試験監視装置にお
いて、 上記データ処理手段M25で求められた各測定点の歪の
推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観測
された場合に、警告信号を発生する警告手段M26と、 各測定点の上記所定の特異推移状態近傍の状態を検出す
る前兆検出手段M27と、 該前兆検出手段M27により、いずれかの測定点が上記
近傍状態にあると検出されると、上記データ処理手段M
25による該測定点の歪Jill定データ読み込み量を
増大させるデータ量変更手段M28と、 を備えたことを!l!徴とする疲労試験監視装置にある
。
[作用]
第1発明において、応力制御手段M13により制御され
ている応力発生手段M12が被検体M11に発生させて
いる動歪を、各測定点に配設されている歪測定手段M
14からデータ処理子FIM15が歪の推移を検出する
。被検体Mllが疲労してきて、該データ処理手段M1
5が検出している歪の推移が疲労限界時の所定の特異推
移状態であると警告手段M16が観測すると、該警告手
段M16は警告信号を出力する。このことにより、疲労
限界に達した測定点が他の測定点に悪影響を与える前に
、適切な処置を取ることが出来る。
ている応力発生手段M12が被検体M11に発生させて
いる動歪を、各測定点に配設されている歪測定手段M
14からデータ処理子FIM15が歪の推移を検出する
。被検体Mllが疲労してきて、該データ処理手段M1
5が検出している歪の推移が疲労限界時の所定の特異推
移状態であると警告手段M16が観測すると、該警告手
段M16は警告信号を出力する。このことにより、疲労
限界に達した測定点が他の測定点に悪影響を与える前に
、適切な処置を取ることが出来る。
上記警告信号は、上記応力制御手段M13による上記応
力発生手段M12への制御を停止させる処置のトリガー
として用いてもよい。
力発生手段M12への制御を停止させる処置のトリガー
として用いてもよい。
また、上記警告手段M16にCRTやプリンタ等の視認
表示手段を設け、警告信号を該視認表示手段に出力して
もよい。また、その際、所定の特異推移状態が観測され
た測定点の情報を併記してもよい。
表示手段を設け、警告信号を該視認表示手段に出力して
もよい。また、その際、所定の特異推移状態が観測され
た測定点の情報を併記してもよい。
一方、第2発明において、応力制御手段M23により制
御されている応力発生手段M22が被検体M21に発生
させている動歪を、各測定点に配設されている歪測定手
段M24から、順次、データ処理手段M25が歪の推移
を検出する。被検体M21が疲労してきて、該データ処
理子E125が検出している歪の推移が疲労限界時の所
定の特異推移状態であると警告手段M26が観測すると
、該警告手段M 26は警告信号を出力する。 このこ
とにより、疲労限界に達した測定点が他の測定点に悪影
響を与える前に、適切な処置を取ることが出来る。ここ
までは、第1発明と同様であるが、更に、前兆検出手段
M27がいずれかの測定点が上記所定の特異推移状態近
傍の状態であると検出すると、データ量変更手段M 2
8が上記データ処理手段M25による該測定点の歪測定
データ読み込み量を増大させる。このことにより、疲労
限界間近の測定点の測定精度が向上する。この歪測定デ
ータ読み込み景の増大は、該当測定点の1回当りのデー
タ読み込み時間の延長によりなしてもよく、読み込み回
数を増大することによりなしてもよい。
御されている応力発生手段M22が被検体M21に発生
させている動歪を、各測定点に配設されている歪測定手
段M24から、順次、データ処理手段M25が歪の推移
を検出する。被検体M21が疲労してきて、該データ処
理子E125が検出している歪の推移が疲労限界時の所
定の特異推移状態であると警告手段M26が観測すると
、該警告手段M 26は警告信号を出力する。 このこ
とにより、疲労限界に達した測定点が他の測定点に悪影
響を与える前に、適切な処置を取ることが出来る。ここ
までは、第1発明と同様であるが、更に、前兆検出手段
M27がいずれかの測定点が上記所定の特異推移状態近
傍の状態であると検出すると、データ量変更手段M 2
8が上記データ処理手段M25による該測定点の歪測定
データ読み込み量を増大させる。このことにより、疲労
限界間近の測定点の測定精度が向上する。この歪測定デ
ータ読み込み景の増大は、該当測定点の1回当りのデー
タ読み込み時間の延長によりなしてもよく、読み込み回
数を増大することによりなしてもよい。
次に、本発明の詳細な説明する。本発明はこれらに限ら
れるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲の種々の
¥5様のものが含まれる。
れるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲の種々の
¥5様のものが含まれる。
[実施例]
第2図は、第1発明の一実施例の構成説明図である。こ
こで疲労試験機コントロール部1は第3図に示す油圧に
よる加振部3と組み合わされて、疲労試験機を構成して
いる。即ち、疲労試験機コントロール部1は外部からの
試験条件の設定に応じて、加振部3に設けられたロード
セル3a及び図示せぬ差動トランスにて荷重及び変位を
検出しながら、所定荷重または所定振幅を所定周期で、
加振部3が試験治具3bを介して被検体5に応力を与え
るように制御している。この様な疲労試験機としては各
種市販のものを用いることが出来る。
こで疲労試験機コントロール部1は第3図に示す油圧に
よる加振部3と組み合わされて、疲労試験機を構成して
いる。即ち、疲労試験機コントロール部1は外部からの
試験条件の設定に応じて、加振部3に設けられたロード
セル3a及び図示せぬ差動トランスにて荷重及び変位を
検出しながら、所定荷重または所定振幅を所定周期で、
加振部3が試験治具3bを介して被検体5に応力を与え
るように制御している。この様な疲労試験機としては各
種市販のものを用いることが出来る。
ここでは、被検体5は鉄道車両の台車枠を用いている。
第3図の概略図で説明すると、被検体5は、中央部分が
凹状の空気ばね受5aを形成している2本の側梁5bの
該凹部の間に、歯車箱つり受5c及び電動機受5dを備
えた梯子状のm梁5eが架設され、側梁5bの端部の間
には端梁5fが架設された形状となっている。
凹状の空気ばね受5aを形成している2本の側梁5bの
該凹部の間に、歯車箱つり受5c及び電動機受5dを備
えた梯子状のm梁5eが架設され、側梁5bの端部の間
には端梁5fが架設された形状となっている。
該被検体5の各測定点には、ひずみゲージ7が各々、シ
アノアクリレート系接着剤等の常温硬化性の接着剤で固
定されている0図では、他の構成の説明上、ひずみゲー
ジ7は一部しか示していない、実際は、100ケ所前後
の測定点にひずみゲージ7が接着されている。
アノアクリレート系接着剤等の常温硬化性の接着剤で固
定されている0図では、他の構成の説明上、ひずみゲー
ジ7は一部しか示していない、実際は、100ケ所前後
の測定点にひずみゲージ7が接着されている。
上記ひずみゲージ7は第2図に示すように検出線7aを
介して、複数のスイッチボックス8に接続されている。
介して、複数のスイッチボックス8に接続されている。
該スイッチボックス8はスイッチボックスコントローラ
10により、上記した多数のひずみゲージ7の内、一つ
のひずみゲージ7の出力を動歪アンプ12に出力するよ
う構成されている。即ち、スイッチボックスコントロー
ラ10はスイッチボックス8内の各ひずみゲージ7に対
応したスイッチ群の中から、ただ一つのスイッチをオン
して、一つのひずみゲージ7を動歪アンプ12に接続し
、ひずみゲージ7の電圧出力を増幅させるものである。
10により、上記した多数のひずみゲージ7の内、一つ
のひずみゲージ7の出力を動歪アンプ12に出力するよ
う構成されている。即ち、スイッチボックスコントロー
ラ10はスイッチボックス8内の各ひずみゲージ7に対
応したスイッチ群の中から、ただ一つのスイッチをオン
して、一つのひずみゲージ7を動歪アンプ12に接続し
、ひずみゲージ7の電圧出力を増幅させるものである。
これらのスイッチボックス8及びそのコントローラ10
は、従来より静歪測定用として用いられているものが利
用できる。
は、従来より静歪測定用として用いられているものが利
用できる。
動歪アンプ12の出力信号はアナログ/デジタル(A/
D)変換器14により、電圧に対応したデジタル信号に
変換される。該A/D変換器14は外部バス16に必要
に応じてそのデータを出力する。
D)変換器14により、電圧に対応したデジタル信号に
変換される。該A/D変換器14は外部バス16に必要
に応じてそのデータを出力する。
カウンタ18は疲労試験機コントロール部1の行う加振
部3の加振周期をカウントする装置であり、動歪を被検
体5に与えられている振動荷重の1周期毎にカウントア
ツプするメモリを内部に備えており、必要に応じて該メ
モリの値を外部バス16に出力する。
部3の加振周期をカウントする装置であり、動歪を被検
体5に与えられている振動荷重の1周期毎にカウントア
ツプするメモリを内部に備えており、必要に応じて該メ
モリの値を外部バス16に出力する。
コンピュータ20はフロッピィディスク内蔵型の装置で
あり、入力装置としてのキーボード22及び表示出力装
置としてのCRT24を備えている。該コンピュータ2
0は、外部バス16に指示信号も出力することにより、
スイッチボックスコントローラ10にて所定のひずみゲ
ージ7の出力信号を動歪アンプ12を介して上記A/D
変換器14から外部バス16へ入力させ、更に疲労試験
機コントロール部1による動歪の周期を検出するカウン
タ18からカウント値を外部バス16へ入力させ、該入
力値を読み込むと共に、疲労試験機のコントロール部1
に対しては、デジタル/アナログ(D/A>変換器26
を介して、デジタル信号を所定電圧のアナログ信号に変
換して指示を与え、更に、プリンタ28に対して文字情
報を必要に応じて出力する。
あり、入力装置としてのキーボード22及び表示出力装
置としてのCRT24を備えている。該コンピュータ2
0は、外部バス16に指示信号も出力することにより、
スイッチボックスコントローラ10にて所定のひずみゲ
ージ7の出力信号を動歪アンプ12を介して上記A/D
変換器14から外部バス16へ入力させ、更に疲労試験
機コントロール部1による動歪の周期を検出するカウン
タ18からカウント値を外部バス16へ入力させ、該入
力値を読み込むと共に、疲労試験機のコントロール部1
に対しては、デジタル/アナログ(D/A>変換器26
を介して、デジタル信号を所定電圧のアナログ信号に変
換して指示を与え、更に、プリンタ28に対して文字情
報を必要に応じて出力する。
上記コンピュータ20の構成を表すと第4図のブロック
図のごとくになる。コンピュータ20は、各種データ等
を演算処理し各種装置を作動制御するセントラルプロセ
シングユニット(CPU)20a、プログラム及び初期
データが格納されるリードオンリメモリ(ROM)20
b、入力データや演算後のデータが読み書きされるラン
ダムアクセスメモリ(RAM)20c、データをメモリ
からメモリへ直接高速伝送するダイレクトメモリアクセ
スコントローラ(DMAC>20d、キーボード22の
出力を受けるためののキーボードインタフェイス20e
、フロッピィディスク2Ofとの間でデータを入力する
ためのフロッピィディスクインタフェイス209、測定
機等外部の所望の装置と上記外部バス16を介してデー
タを交換するための拡張スロット20h、CPU20a
等に所定間隔で制御タイミングとなるクロ・ツク信号を
送るクロック回路20i、コンピュータ全体に安定した
直流電圧を与える電源回路20j、CRT24の表示を
コントロールするCRTコントローラ(CRTC)20
に、CRT24の表示内容の直接の記憶場所であるビデ
オRAM (VRAM)20I2、計時用タイマ20m
、所定信号や時間により割り込みルーチン処理を開始さ
せる割り込みコントローラ2On及びデータやコントロ
ール等の信号の通路となるパスライン20pを備えてい
る。
図のごとくになる。コンピュータ20は、各種データ等
を演算処理し各種装置を作動制御するセントラルプロセ
シングユニット(CPU)20a、プログラム及び初期
データが格納されるリードオンリメモリ(ROM)20
b、入力データや演算後のデータが読み書きされるラン
ダムアクセスメモリ(RAM)20c、データをメモリ
からメモリへ直接高速伝送するダイレクトメモリアクセ
スコントローラ(DMAC>20d、キーボード22の
出力を受けるためののキーボードインタフェイス20e
、フロッピィディスク2Ofとの間でデータを入力する
ためのフロッピィディスクインタフェイス209、測定
機等外部の所望の装置と上記外部バス16を介してデー
タを交換するための拡張スロット20h、CPU20a
等に所定間隔で制御タイミングとなるクロ・ツク信号を
送るクロック回路20i、コンピュータ全体に安定した
直流電圧を与える電源回路20j、CRT24の表示を
コントロールするCRTコントローラ(CRTC)20
に、CRT24の表示内容の直接の記憶場所であるビデ
オRAM (VRAM)20I2、計時用タイマ20m
、所定信号や時間により割り込みルーチン処理を開始さ
せる割り込みコントローラ2On及びデータやコントロ
ール等の信号の通路となるパスライン20pを備えてい
る。
上記コンピュータにて行われる処理を第5図(A)のフ
ローチャートに示す。
ローチャートに示す。
先ず、処理が開始されると、ステップ100にて、初期
設定がなされる。即ち、各種変数、フラグの初期値の設
定がなされる0例えば、後述するフラグFfはリセット
され、フラグFint(1)。
設定がなされる。即ち、各種変数、フラグの初期値の設
定がなされる0例えば、後述するフラグFfはリセット
され、フラグFint(1)。
・・・、 Pint (K)はセットされる0次に
ステップ110にて各装置の接続状態の検出、初期状態
の設定がなされる。
ステップ110にて各装置の接続状態の検出、初期状態
の設定がなされる。
次にステップ1000にて、測定・演算処理がなされる
。即ち、各ひずみゲージ7の検出値を読み込み、各ひず
みゲージ7の平均値を求める処理がなされる。この詳細
を第5図(B)に基づいて説明する。
。即ち、各ひずみゲージ7の検出値を読み込み、各ひず
みゲージ7の平均値を求める処理がなされる。この詳細
を第5図(B)に基づいて説明する。
先ずステップ1010にては変数iに1゛′が設定され
る。該変数iはひずみゲージ7の個々に設定された番号
に対応する。
る。該変数iはひずみゲージ7の個々に設定された番号
に対応する。
次にステップ1020にて変数Ctoにカウンタ18の
カウント値が読み込まれて設定される。
カウント値が読み込まれて設定される。
次にステップ1030にて、上記変数iの値に該当する
ひずみゲージ7からその出力値を得るため、スイッチボ
ックスコントローラ10に指示して、スイッチボックス
8中のi番目のひずみゲージ7に対応するスイッチをオ
ンとし、他をオフとする制御を行う0次にステップ10
40にて変数jに“1″が設定される。
ひずみゲージ7からその出力値を得るため、スイッチボ
ックスコントローラ10に指示して、スイッチボックス
8中のi番目のひずみゲージ7に対応するスイッチをオ
ンとし、他をオフとする制御を行う0次にステップ10
40にて変数jに“1″が設定される。
次にステップ1050にてタイマ20mの内容がクリア
され、計時が“0″から開始される0次にステップ10
60にて配列変数D(i、j)にi番目のひずみゲージ
7の出力値をA/D変換した値が読み込まれる。
され、計時が“0″から開始される0次にステップ10
60にて配列変数D(i、j)にi番目のひずみゲージ
7の出力値をA/D変換した値が読み込まれる。
次にステップ1070にて、変数Ct(i)にカウンタ
18のカウント値が読み込まれて設定される。
18のカウント値が読み込まれて設定される。
次にステップ1080にては、カウンタ変数Ct(i)
とCtoとの差が10以上か否かが判定される。即ち、
疲労試験機の加振部3の振動が10周期分数えたか否か
が判定される。未だ、10周期分の振動が生じていない
場合は、否定判定されて、ステップ1090にて、変数
jがインクリメントされる。次いで、ステップ1100
にて、タイマ20mが所定時間Tを数えたか否かが判定
される。数えていなければ否定判定されて、時間待ちを
する。所定時間Tに至れば、ステップ1100にて肯定
判定され、以下上述のステップ1050.1060,1
07oの処理を行う、こうして、ステッ、ブ1080に
て肯定判定されるまで、ステップ1050.1060,
1070,1080.1090.1100の処理を繰り
返すことにより、配列変RD(i、j)に、時間T毎に
測定したi番目のひずみゲージ7の出力値が格納される
。尚、上記時間Tは加振部3の振動の1周期(例えば、
250 m5ec)に比して十分に短い時間(例えば、
25 m5ec、場合によってもっと短い時間5′6鴫
see )である。
とCtoとの差が10以上か否かが判定される。即ち、
疲労試験機の加振部3の振動が10周期分数えたか否か
が判定される。未だ、10周期分の振動が生じていない
場合は、否定判定されて、ステップ1090にて、変数
jがインクリメントされる。次いで、ステップ1100
にて、タイマ20mが所定時間Tを数えたか否かが判定
される。数えていなければ否定判定されて、時間待ちを
する。所定時間Tに至れば、ステップ1100にて肯定
判定され、以下上述のステップ1050.1060,1
07oの処理を行う、こうして、ステッ、ブ1080に
て肯定判定されるまで、ステップ1050.1060,
1070,1080.1090.1100の処理を繰り
返すことにより、配列変RD(i、j)に、時間T毎に
測定したi番目のひずみゲージ7の出力値が格納される
。尚、上記時間Tは加振部3の振動の1周期(例えば、
250 m5ec)に比して十分に短い時間(例えば、
25 m5ec、場合によってもっと短い時間5′6鴫
see )である。
こうして、10周期分数えた場合は、ステップ1080
にて肯定判定されて、ステップ1110にて、上記ステ
ップ1060にて読み込まれた、i番目のひずみゲージ
7の平均値が算出され、変数5av(i)に設定される
0次いで、ステップ1120にてiの値が、所定値に以
上が否がか判定される。所定値には全ひずみゲージ7の
数を表す。
にて肯定判定されて、ステップ1110にて、上記ステ
ップ1060にて読み込まれた、i番目のひずみゲージ
7の平均値が算出され、変数5av(i)に設定される
0次いで、ステップ1120にてiの値が、所定値に以
上が否がか判定される。所定値には全ひずみゲージ7の
数を表す。
全てのひずみゲージ7について、測定していなければ、
ステップ1120にては否定判定されて、ステップ11
30にてiがインクリメントされ、再度ステップ102
0がら処理が開始される。即ち、i番目のひずみゲージ
7の測定が開始され、その出力値の平均値が求められる
ことになる。以後全てのひずみゲージ7を測定し平均値
を算出するまで、上記処理が繰り返される。
ステップ1120にては否定判定されて、ステップ11
30にてiがインクリメントされ、再度ステップ102
0がら処理が開始される。即ち、i番目のひずみゲージ
7の測定が開始され、その出力値の平均値が求められる
ことになる。以後全てのひずみゲージ7を測定し平均値
を算出するまで、上記処理が繰り返される。
全ひずみゲージ7の測定及び平均値算出が終了し、ステ
ップ1120にて肯定判定されれば、測定・演算ルーチ
ンの処理は終了し、第5図(A)のステップ1500に
て、上記求められた各ひずみゲージ7の出力平均値Sa
y (1) 、−、Sav (K)及びそのカウンタ値
Ct (1)、 ・・・、Ct(K)が、フロッピィ
ディスク20fに出力され、記憶される。同時にプリン
タ28に出力し、グラフ上にドツトを描かせてもよい。
ップ1120にて肯定判定されれば、測定・演算ルーチ
ンの処理は終了し、第5図(A)のステップ1500に
て、上記求められた各ひずみゲージ7の出力平均値Sa
y (1) 、−、Sav (K)及びそのカウンタ値
Ct (1)、 ・・・、Ct(K)が、フロッピィ
ディスク20fに出力され、記憶される。同時にプリン
タ28に出力し、グラフ上にドツトを描かせてもよい。
次にステップ2000にて、異常判定処理がなされる。
即ち、上記ステップ1000で求められた値が疲労限界
等を表す異常なものでないか否かを判定する処理が行わ
れる。この詳細を第5図(C)に基づいて説明する。
等を表す異常なものでないか否かを判定する処理が行わ
れる。この詳細を第5図(C)に基づいて説明する。
先ず、ステップ2010にて変数iに1”が設定される
0次にステップ2020にてフラグFint(i)がセ
ットされているか否かが判定される。i&初の処理であ
り、フラグFint(i)が上記ステップ100にてセ
ットされたままであれば。
0次にステップ2020にてフラグFint(i)がセ
ットされているか否かが判定される。i&初の処理であ
り、フラグFint(i)が上記ステップ100にてセ
ットされたままであれば。
肯定判定されて、ステップ2030にて平均値5av(
i)の値が初期平均値を表す変数5int(i)に格納
される。次にステップ2040にてフラグFint(i
)がリセットされ、次いでステップ2050にて上記第
1回目としての測定データD(11J)及び平均値5a
y(i)の値が異常でないか否かが判定される。即ち、
測定データD(i。
i)の値が初期平均値を表す変数5int(i)に格納
される。次にステップ2040にてフラグFint(i
)がリセットされ、次いでステップ2050にて上記第
1回目としての測定データD(11J)及び平均値5a
y(i)の値が異常でないか否かが判定される。即ち、
測定データD(i。
j)や平均値5ay(i)の値が異常に高かったり低か
ったりした場合、あるいはひずみゲージ7の測定データ
D(i、j>の変動幅、即ち振幅が異常に大きかったり
した場合に異常と判定され、ステップ2060にてi番
目のひずみゲージ7が異常であることがCRT24に表
示される。同時にプリンタ28に出力してもよい。
ったりした場合、あるいはひずみゲージ7の測定データ
D(i、j>の変動幅、即ち振幅が異常に大きかったり
した場合に異常と判定され、ステップ2060にてi番
目のひずみゲージ7が異常であることがCRT24に表
示される。同時にプリンタ28に出力してもよい。
ステップ2060の次には、ステップ2070にてフラ
グFint(L)がセットされ、ステップ2080にて
フラグFfがセットされる。
グFint(L)がセットされ、ステップ2080にて
フラグFfがセットされる。
上記ステップ2050にて異常でないと判定されれば、
ステップ2090にて変数5av(i)の値が変数5b
(i)に格納される。
ステップ2090にて変数5av(i)の値が変数5b
(i)に格納される。
上記ステップ2070の終了後、または上記2090の
終了後に、ステップ2100にて変数iが前記所定値に
以上か否かが判定される。未だ全ひずみゲージ7の出力
が判定されていなければ。
終了後に、ステップ2100にて変数iが前記所定値に
以上か否かが判定される。未だ全ひずみゲージ7の出力
が判定されていなければ。
否定判定されて、ステップ2110にてiがインクリメ
ントされる。このことにより、ひずみゲージ7自体の異
常やその設定の異常、その他、検出信号経路に関する異
常があることが判り、後述するステップ2230の処理
時に該当するひずみゲージ7に補修等の対策を講するこ
とが出来る。
ントされる。このことにより、ひずみゲージ7自体の異
常やその設定の異常、その他、検出信号経路に関する異
常があることが判り、後述するステップ2230の処理
時に該当するひずみゲージ7に補修等の対策を講するこ
とが出来る。
全てのひずみゲージ7の検査が終了し、ステップ210
0にて肯定判定されれば、第5図(A)のステップ22
10にてフラグFfがセットされているか否かが判定さ
れる。もし、上記ステップ2000の異常判定処理にて
、ひずみゲージ7の全てが正常であるとされた場合、そ
のステップ2080は実行されていないため、フラグF
fはリセットされたままである。そのためステップ22
10では否定判定されて、再度ステップ1000の測定
・演算処理が開始される。
0にて肯定判定されれば、第5図(A)のステップ22
10にてフラグFfがセットされているか否かが判定さ
れる。もし、上記ステップ2000の異常判定処理にて
、ひずみゲージ7の全てが正常であるとされた場合、そ
のステップ2080は実行されていないため、フラグF
fはリセットされたままである。そのためステップ22
10では否定判定されて、再度ステップ1000の測定
・演算処理が開始される。
一方、ひずみゲージ7の内の何れかが、異常であること
が利用した場合には、そのステップ2080にてフラグ
Ffはセットされているので、ステップ2210では肯
定判定され、ステップ2220にて、疲労試験機のコン
トロール部1に、外部バス16とD/A変換器26とを
介して、疲労試験停止の指令が出力される。このことに
より、コントロール部lが疲労試験機の加振部3の振動
を停止し、加振部3の油圧を低下させ、ロードセル3a
の荷重検出を零までもってゆく、こうして被検体5の疲
労試験は中止される。このとき、警報器をコンピュータ
20に接続しておけば、警報音を発生させることが出来
るし、コンピュータ20にモデムを接続しておけば、該
当部署に電話で知らせることも出来る。
が利用した場合には、そのステップ2080にてフラグ
Ffはセットされているので、ステップ2210では肯
定判定され、ステップ2220にて、疲労試験機のコン
トロール部1に、外部バス16とD/A変換器26とを
介して、疲労試験停止の指令が出力される。このことに
より、コントロール部lが疲労試験機の加振部3の振動
を停止し、加振部3の油圧を低下させ、ロードセル3a
の荷重検出を零までもってゆく、こうして被検体5の疲
労試験は中止される。このとき、警報器をコンピュータ
20に接続しておけば、警報音を発生させることが出来
るし、コンピュータ20にモデムを接続しておけば、該
当部署に電話で知らせることも出来る。
この後、ステップ2230にて、キーボード22からの
指示待となる。即ち、この間に疲労限界に達した部分の
補修が完了するのを待つか、または他の事情で疲労試験
を中断するが否かの判断を待つことになる。
指示待となる。即ち、この間に疲労限界に達した部分の
補修が完了するのを待つか、または他の事情で疲労試験
を中断するが否かの判断を待つことになる。
キーボード22から指示入力があり、中止でなければ、
ステップ2240にて否定判定されて、ステップ225
0にてフラグFfがリセットされ、ステップ2260に
て疲労試験機のコントロール部1に、外部バス16とD
/A変換器26とを介して、疲労試験再開の指令が出力
されて、コントロール部1の指示により既に設定しであ
る荷重で疲労試験が再開される。この後、ステップ10
00の測定・演算処理が再度繰り返される。
ステップ2240にて否定判定されて、ステップ225
0にてフラグFfがリセットされ、ステップ2260に
て疲労試験機のコントロール部1に、外部バス16とD
/A変換器26とを介して、疲労試験再開の指令が出力
されて、コントロール部1の指示により既に設定しであ
る荷重で疲労試験が再開される。この後、ステップ10
00の測定・演算処理が再度繰り返される。
一方、キーボード22からの指示が中止であれば、ステ
ップ2240にて肯定判定されて処理が終了する。
ップ2240にて肯定判定されて処理が終了する。
2度目以降の、ステップ1000の測定・演算処理につ
いては変わらないが、ステップ2000の異常判定処理
については、各ひずみゲージ7のフラグFint(i)
の値に応じた処理がなされる。
いては変わらないが、ステップ2000の異常判定処理
については、各ひずみゲージ7のフラグFint(i)
の値に応じた処理がなされる。
前回のステップ2000にて異常と判定され、補修され
た測定点の検出データついては、フラグFint(i)
がセット状態にあるため、上記したステップ2000の
異常判定処理のステップ2020にて肯定判定され、再
度ステップ2030乃至ステップ2090の処理がなさ
れる。
た測定点の検出データついては、フラグFint(i)
がセット状態にあるため、上記したステップ2000の
異常判定処理のステップ2020にて肯定判定され、再
度ステップ2030乃至ステップ2090の処理がなさ
れる。
一方、初期状態が異常でないと判定された場合には、ス
テップ2020にて否定判定され、次にステップ251
0にて平均値の初期値である変数5int(i)と現在
の平均値である変数5av(i)との差l5av(i)
−3int (i)lが算出され、変数、ds(i
)に格納される。続いて、ステップ2520にて、現在
の平均値である変数5av(i)と前回の変数5b(i
)との差1sav(i) 5b(i)lが算出され、
変数Δ5b(i)に格納される。
テップ2020にて否定判定され、次にステップ251
0にて平均値の初期値である変数5int(i)と現在
の平均値である変数5av(i)との差l5av(i)
−3int (i)lが算出され、変数、ds(i
)に格納される。続いて、ステップ2520にて、現在
の平均値である変数5av(i)と前回の変数5b(i
)との差1sav(i) 5b(i)lが算出され、
変数Δ5b(i)に格納される。
次にステップ2530にて上記求められた初期値からの
変位を表す変数Δ5(i)が、該当疲労限界SLを越え
ているか否かが判定される。
変位を表す変数Δ5(i)が、該当疲労限界SLを越え
ているか否かが判定される。
ここで該当疲労限界SLは、例えば第10図に示した耐
久線図を用いて決定される。即ち、横軸を平均応力、縦
軸を変動応力とした場合、三角形で表される材料として
の理論的な限界領域F内に、被検体5の測定点によって
、疲労限界L1. B2゜B3が設けられている。L
lは溶接部限界を表し、B2は溶接部グラインダ仕上限
界を表し、B3は母材部限界を表す、即ち、溶接部での
平均応力が6 kg / m gの場合、溶接部限界は
点A1で表される。疲労限界SLをA1点に設定しても
よいが、A1点の値から所定値低い値を設定しておくこ
とが、早期に疲労限界を検知する上から好ましい。
久線図を用いて決定される。即ち、横軸を平均応力、縦
軸を変動応力とした場合、三角形で表される材料として
の理論的な限界領域F内に、被検体5の測定点によって
、疲労限界L1. B2゜B3が設けられている。L
lは溶接部限界を表し、B2は溶接部グラインダ仕上限
界を表し、B3は母材部限界を表す、即ち、溶接部での
平均応力が6 kg / m gの場合、溶接部限界は
点A1で表される。疲労限界SLをA1点に設定しても
よいが、A1点の値から所定値低い値を設定しておくこ
とが、早期に疲労限界を検知する上から好ましい。
例えば95%のB1点を設定する。同様に測定点がグラ
インダ仕上部である場合に、平均応力が=2、 8kg
/mn(の疲労限界点A2の95%の82点を設定し、
測定点が母材部である場合に、平均応力が2.4 kg
/ m rrrの疲労限界点A3の95%の83点を
設定する。
インダ仕上部である場合に、平均応力が=2、 8kg
/mn(の疲労限界点A2の95%の82点を設定し、
測定点が母材部である場合に、平均応力が2.4 kg
/ m rrrの疲労限界点A3の95%の83点を
設定する。
上記耐久線図はマツプの形あるいは関数の形で゛コンピ
ュータ20のRAM 2 Oc中にフロッピィディスク
から読み出されて記憶されている。
ュータ20のRAM 2 Oc中にフロッピィディスク
から読み出されて記憶されている。
ステップ2530にて、該当する疲労限界SLを越えて
いなければ否定判定されて、ステップ2540にて上記
求められた前回値からの変位を表す変数Δ5b(i)が
、1. 5kg/mrrrを越えているか否かが判定さ
れる。これは、ひずみゲージ7の出力平均値が前回と比
して、1. 5kg/mrrrを越えている程に変化し
始めれば、疲労限界SLに至ったと判断するからである
。勿論この1.5kg / m mの値も耐久線図の疲
労限界SLに比例させて設定してもよい。
いなければ否定判定されて、ステップ2540にて上記
求められた前回値からの変位を表す変数Δ5b(i)が
、1. 5kg/mrrrを越えているか否かが判定さ
れる。これは、ひずみゲージ7の出力平均値が前回と比
して、1. 5kg/mrrrを越えている程に変化し
始めれば、疲労限界SLに至ったと判断するからである
。勿論この1.5kg / m mの値も耐久線図の疲
労限界SLに比例させて設定してもよい。
1、 5kg/mrrrを越えていなければ否定判定さ
れて、前述のステップ2090の処理を行い、ステップ
2100にてすべてのひずみゲージ7について処理がな
されていなければ、ステップ2110にてiをインクリ
メントして、再度ステップ2020へ戻る。
れて、前述のステップ2090の処理を行い、ステップ
2100にてすべてのひずみゲージ7について処理がな
されていなければ、ステップ2110にてiをインクリ
メントして、再度ステップ2020へ戻る。
ステップ2530にて変数Δ5(i)が、該当疲労限界
SLを越えていて、肯定判定された場合、ステップ25
50にてその番号iとΔ5(i)とがCRT24に表示
される。同時にプリンタ28に出力してもよい。。
SLを越えていて、肯定判定された場合、ステップ25
50にてその番号iとΔ5(i)とがCRT24に表示
される。同時にプリンタ28に出力してもよい。。
またステップ2540にて変数Δ5b(i)が、1、
5kg/mn(を越えていて、肯定判定された場合、ス
テップ2560にてその番号iとΔSb (i)とが
CRT24に表示される。同時にプリンタ28に出力し
てもよい。
5kg/mn(を越えていて、肯定判定された場合、ス
テップ2560にてその番号iとΔSb (i)とが
CRT24に表示される。同時にプリンタ28に出力し
てもよい。
上記ステップ2550またはステップ2560が終了し
た場合は、異常であることを示す意味でステップ257
0にてフラグFint(i)がセットされ、ステップ2
580にてフラグFfがセットされる。この後、ステッ
プ2100にて全ひずみゲージ7が終了しているか否か
が判定され、終了していなければ、ステップ2110の
処理の後、再度ステップ2020に帰る。
た場合は、異常であることを示す意味でステップ257
0にてフラグFint(i)がセットされ、ステップ2
580にてフラグFfがセットされる。この後、ステッ
プ2100にて全ひずみゲージ7が終了しているか否か
が判定され、終了していなければ、ステップ2110の
処理の後、再度ステップ2020に帰る。
こうして全部のひずみゲージ7の処理が終了すれば、ス
テップ2100にて肯定判定され、本処理ルーチンを抜
けて、第5図(A)に示す、ステップ2210の処理に
移り、今回初期異常があったひずみゲージ7、初期値か
らの変位Δ5(i)が該当疲労限界SLを越えているひ
ずみゲージ7および前回値からの変位Δ5b(−i)が
1. 5kg/m−を越えているひずみゲージ7の何れ
かに該当するひずみゲージ7が1つでもあれば、肯定判
定されて、以後前述したステップ2220.2230.
2240の各処理が実施され、補修ができて再開されれ
ば、ステップ2250.2260をへて、再度ステップ
1000の処理が開始する。
テップ2100にて肯定判定され、本処理ルーチンを抜
けて、第5図(A)に示す、ステップ2210の処理に
移り、今回初期異常があったひずみゲージ7、初期値か
らの変位Δ5(i)が該当疲労限界SLを越えているひ
ずみゲージ7および前回値からの変位Δ5b(−i)が
1. 5kg/m−を越えているひずみゲージ7の何れ
かに該当するひずみゲージ7が1つでもあれば、肯定判
定されて、以後前述したステップ2220.2230.
2240の各処理が実施され、補修ができて再開されれ
ば、ステップ2250.2260をへて、再度ステップ
1000の処理が開始する。
こうして、各測定点のひずみゲージ7について、疲労限
界等で測定値に異常が発生ずれば、疲労試験を停止して
、補修可能な状態で待機し、再開の指示があれば、継続
して疲労試験を実施する。
界等で測定値に異常が発生ずれば、疲労試験を停止して
、補修可能な状態で待機し、再開の指示があれば、継続
して疲労試験を実施する。
上記のような測定値の例を第6図に示す、ただし、測定
値はNo、101〜108の8個のひずみゲージ7の測
定値のみ示しており、太線で示す平均応力の推移ととも
に細線で示す変動応力の最大値・最小値の推移も記載し
である。この内の平均応力が試験開始時の値より該当疲
労限界SL分(例えば、5kg/mrrr)変動するか
、前回測定時より1. 5kg/mrrr変動すれば、
疲労限界に達したものとして、疲労試験機を停止する。
値はNo、101〜108の8個のひずみゲージ7の測
定値のみ示しており、太線で示す平均応力の推移ととも
に細線で示す変動応力の最大値・最小値の推移も記載し
である。この内の平均応力が試験開始時の値より該当疲
労限界SL分(例えば、5kg/mrrr)変動するか
、前回測定時より1. 5kg/mrrr変動すれば、
疲労限界に達したものとして、疲労試験機を停止する。
また、疲労試験開始時あるいは補修後の初期に異常なデ
ータを出力したひずみゲージ7も検査し、疲労試験機を
停止する。
ータを出力したひずみゲージ7も検査し、疲労試験機を
停止する。
本実施例は、上述のごとく構成されているため、疲労限
界に達した測定点を早期に検出することができ、常に全
測定点について、精密な測定が効率的に出来ることにな
り、被検体を必要以上に破壊して以後の試験を不能にす
ることもない、また初期値も検査することにより、より
精密なデータを得ることが出来る。
界に達した測定点を早期に検出することができ、常に全
測定点について、精密な測定が効率的に出来ることにな
り、被検体を必要以上に破壊して以後の試験を不能にす
ることもない、また初期値も検査することにより、より
精密なデータを得ることが出来る。
次に第2発明の実施例について第7図、第8図(A)乃
至(D)および第9図(A)、(B)に基づいて説明す
る。以下第1発明の実施例との違いのみ示し、他は同様
な構成を成しているものとする。
至(D)および第9図(A)、(B)に基づいて説明す
る。以下第1発明の実施例との違いのみ示し、他は同様
な構成を成しているものとする。
第2発明の第1実施例は、第7図のような異常判定処理
を行う、第1発明の処理(第5図(C))と同一の処理
ステップについては同一番号が付してあり、詳細は前述
のごとくであるので省略する。
を行う、第1発明の処理(第5図(C))と同一の処理
ステップについては同一番号が付してあり、詳細は前述
のごとくであるので省略する。
異なるところは、ステップ2050sの測定データ景増
大処理、ステップ2080s及び2580Sの測定デー
タ量回復処理である。
大処理、ステップ2080s及び2580Sの測定デー
タ量回復処理である。
上記ステップ2050sの測定データ量増大処理の詳細
は、第8図(A)に示すごとくである。
は、第8図(A)に示すごとくである。
まず、ステップ2052にて変数ΔS (i)が、上述
の該当疲労限界の90%S L90分(例えば、該当疲
労限界SLが5 kg / m rdであれば、4,5
kg/mrr?)を越えているか否かが判定され、ステ
ップ2054にて変数Δ5b(i)が、上述した1、5
kg/mnfの約90%である1、 3kg/mrr
f±越えているか否かが判定される。
の該当疲労限界の90%S L90分(例えば、該当疲
労限界SLが5 kg / m rdであれば、4,5
kg/mrr?)を越えているか否かが判定され、ステ
ップ2054にて変数Δ5b(i)が、上述した1、5
kg/mnfの約90%である1、 3kg/mrr
f±越えているか否かが判定される。
何れかの判定にて肯定されれば、ステップ2056にて
カウント値の上限を設定する変数C(i)に“15”を
設定する。
カウント値の上限を設定する変数C(i)に“15”を
設定する。
また、上記ステップ20808及び2580sの測定デ
ータ量回復処理の詳細は、第8図(B)に示すごとく、
カウント値の上限を設定する変数C(i)に5”を設定
する処理である。
ータ量回復処理の詳細は、第8図(B)に示すごとく、
カウント値の上限を設定する変数C(i)に5”を設定
する処理である。
更に本実施例の測定・演算ルーチンとしては、第1発明
の実施例(第5図(B))とは、ステップ1080が第
9図(A)の部分フローチャートに示すごとく、カウン
ト値の差が上記C(i)を基準にして判定している点が
異なる。
の実施例(第5図(B))とは、ステップ1080が第
9図(A)の部分フローチャートに示すごとく、カウン
ト値の差が上記C(i)を基準にして判定している点が
異なる。
この様に処理することにより、疲労限界SL直前の状態
、即ちΔ5(i)が該当疲労限界のり。
、即ちΔ5(i)が該当疲労限界のり。
%S 190分を越えた状態、またはΔ5b(i)が1
. 3kg/mrrfを越えた状態に至った場合、測定
点を変更する周期が通常、疲労紙@機の加振部3の加振
周期5周期分(初期設定で5周期分に設定したものとす
る。)であるとすれば、それを15周期分に増大するこ
とによって、より多くのデータと疲労限界に近付いた測
定点について測定することができる。
. 3kg/mrrfを越えた状態に至った場合、測定
点を変更する周期が通常、疲労紙@機の加振部3の加振
周期5周期分(初期設定で5周期分に設定したものとす
る。)であるとすれば、それを15周期分に増大するこ
とによって、より多くのデータと疲労限界に近付いた測
定点について測定することができる。
この結果、第1発明の実施例効果に加えて、全測定点の
監視をより短い周期で行えると共に、異常に近付いた測
定点に対しては、より正確な測定が出来るものである。
監視をより短い周期で行えると共に、異常に近付いた測
定点に対しては、より正確な測定が出来るものである。
次に第2発明の第2実施例は、第1実施例と同様に第7
図のような異常判定処理を行うが、異なるところは、ス
テップ2050sの測定データ量増大処理、ステップ2
080s及び2580sの測定データ量回復処理の内容
である。
図のような異常判定処理を行うが、異なるところは、ス
テップ2050sの測定データ量増大処理、ステップ2
080s及び2580sの測定データ量回復処理の内容
である。
上記ステップ2050sの測定データ量増大処理の詳細
は、第8図(C)に示すごとくである。
は、第8図(C)に示すごとくである。
まず、ステップ2052にて変数Δ5(i)が、該当疲
労限界の90%S 190分を越えているか否かが判定
され、ステップ2054にて変数Δ5b(i)が、1.
3kg/mrrfを越えているか否かが判定される。
労限界の90%S 190分を越えているか否かが判定
され、ステップ2054にて変数Δ5b(i)が、1.
3kg/mrrfを越えているか否かが判定される。
何れかの判定にて肯定されれば、ステップ2057にて
タイマの上限を設定する変数T(i)にlQmsecを
設定する。
タイマの上限を設定する変数T(i)にlQmsecを
設定する。
また、上記ステップ2080s及び2580sの測定デ
ータ量回復処理の詳細は、第8図(D)に示すごとく、
タイマ20mの上限を設定する変数T(i)に25 m
5ecを設定する処理である。
ータ量回復処理の詳細は、第8図(D)に示すごとく、
タイマ20mの上限を設定する変数T(i)に25 m
5ecを設定する処理である。
更に本実施例は、測定・演算ルーチンとして第1発明の
実施例(第5図(B))とはステップ1100が第9図
(B)の部分フローチャートに示すごとく、タイマ20
mの上限が上記T(i)を基準にして判定されている点
が異なる。
実施例(第5図(B))とはステップ1100が第9図
(B)の部分フローチャートに示すごとく、タイマ20
mの上限が上記T(i)を基準にして判定されている点
が異なる。
この様に処理することにより、疲労限界直前の状態に至
った場合、測定点からA/D変換してデータを測定する
周期が通常、25 m5ecであるのが、10o+se
cに短くなることによって、より多くのデータを疲労限
界に近付いた測定点について測定することができる。
った場合、測定点からA/D変換してデータを測定する
周期が通常、25 m5ecであるのが、10o+se
cに短くなることによって、より多くのデータを疲労限
界に近付いた測定点について測定することができる。
この結果、第1発明の実施例効果に加えて、全測定点の
監視の周期を変えずに、異常に近付いた測定点に対して
、より正確な測定が出来るものである。
監視の周期を変えずに、異常に近付いた測定点に対して
、より正確な測定が出来るものである。
上記各実施例において、疲労試験機の加振部3が応力発
生手段M12.M22に該当し、疲労試験機のコン)・
ロール部1が応力制御手段M13゜M23に該当し、ひ
ずみゲージ7が歪測定手段M14、M24に該当し、コ
ンピュータ20がデータ処理手段M15.M25、警告
手段M16.M26、前兆検出手段M27及びデータ量
変更手段M28に該当する。
生手段M12.M22に該当し、疲労試験機のコン)・
ロール部1が応力制御手段M13゜M23に該当し、ひ
ずみゲージ7が歪測定手段M14、M24に該当し、コ
ンピュータ20がデータ処理手段M15.M25、警告
手段M16.M26、前兆検出手段M27及びデータ量
変更手段M28に該当する。
上記第1実施例と第2実施例とで測定データ量の変更の
手段を時間と周期とに分けて行ったが、両者を組み合わ
せてもよい。
手段を時間と周期とに分けて行ったが、両者を組み合わ
せてもよい。
また、測定データ量を変更する手段として、上記手段以
外に、全測定点に対する該当測定点の測定回数を増大す
る手段でもよい。
外に、全測定点に対する該当測定点の測定回数を増大す
る手段でもよい。
i咀ム激深
第1発明の疲労試験監視装置は、被検体の各測定点の歪
の推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観
測された場合に、警告信号を発生する警告手段を備えて
いるため、常に監視者が試験機近傍にいなくとも、疲労
限界に達した測定点があった場合は、即座に疲労試験を
停止し、以後の疲労試験や被検体に悪影響を与えず、効
率的に正確なデータを得ることが出来る。
の推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観
測された場合に、警告信号を発生する警告手段を備えて
いるため、常に監視者が試験機近傍にいなくとも、疲労
限界に達した測定点があった場合は、即座に疲労試験を
停止し、以後の疲労試験や被検体に悪影響を与えず、効
率的に正確なデータを得ることが出来る。
第2発明の疲労試験監視装置は、被検体の各測定点の歪
の推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観
測された場合に、警告信号を発生する警告手段を備える
とともに、各測定点の上記所定の特異推移状君近傍の状
態を検出する前兆検出手段と、該前兆検出手段により、
いずれかの測定点が上記近傍状態にあると検出されると
上記データ処理手段による該測定点の歪測定データ読み
込み量を増大させるデータ量変更手段とを備えているこ
とにより、第1発明の効果に加えて、より精密な検出が
出来るものである。
の推移を観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観
測された場合に、警告信号を発生する警告手段を備える
とともに、各測定点の上記所定の特異推移状君近傍の状
態を検出する前兆検出手段と、該前兆検出手段により、
いずれかの測定点が上記近傍状態にあると検出されると
上記データ処理手段による該測定点の歪測定データ読み
込み量を増大させるデータ量変更手段とを備えているこ
とにより、第1発明の効果に加えて、より精密な検出が
出来るものである。
第1図(A)は第1発明の基本的構成例示図、第1図(
B)は第2発明の基本的構成例示図、第2図は第1発明
の実施例構成図、第3図は被検体の振動荷重試験の説明
図、第4図はコンピュータのブロック図、第5図(A>
乃至(C)は上記コンピュータの処理を表すフローチャ
ート、第6図は測定例を示すグラフ、第7図は第2発明
の実施例のフローチャート、第8図(A)及び(B)は
その第1実施例のフローチャート、第8図(C)及び(
D)はその第2実施例のフローチャート、第9図(A)
はその第1実施例のフローチャート、第9図(B)はそ
の第2実施例のフローチャート、第10図は耐久線図を
表す。 1・・・疲労試験機コントロール部 3・・・加振部 3a・・・ロードセル5・・・
被検体 7・・・ひずみゲージ8・・・スイッ
チボックス 10・・・スイッチボックスコントローラ12・・・動
歪アンプ 14・・・A/D変換器16・・・外部バ
ス 18・・・カウンタ20・・・コンピュータ
22・・・キーボード24・・・CRT 26
・・・D/A変換器28・・・プリンタ
B)は第2発明の基本的構成例示図、第2図は第1発明
の実施例構成図、第3図は被検体の振動荷重試験の説明
図、第4図はコンピュータのブロック図、第5図(A>
乃至(C)は上記コンピュータの処理を表すフローチャ
ート、第6図は測定例を示すグラフ、第7図は第2発明
の実施例のフローチャート、第8図(A)及び(B)は
その第1実施例のフローチャート、第8図(C)及び(
D)はその第2実施例のフローチャート、第9図(A)
はその第1実施例のフローチャート、第9図(B)はそ
の第2実施例のフローチャート、第10図は耐久線図を
表す。 1・・・疲労試験機コントロール部 3・・・加振部 3a・・・ロードセル5・・・
被検体 7・・・ひずみゲージ8・・・スイッ
チボックス 10・・・スイッチボックスコントローラ12・・・動
歪アンプ 14・・・A/D変換器16・・・外部バ
ス 18・・・カウンタ20・・・コンピュータ
22・・・キーボード24・・・CRT 26
・・・D/A変換器28・・・プリンタ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検体に応力を与える応力発生手段と、該応力発生
手段を制御して、所定の繰り返し応力を発生させる応力
制御手段と、 上記被検体の複数の測定点の歪状態を測定する歪測定手
段と、 該歪測定手段からのデータを処理し、各測定点の歪の推
移を検出するデータ処理手段と、 を備えた疲労試験機に用いられる疲労試験監視装置にお
いて、 上記データ処理手段で求められた各測定点の歪の推移を
観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観測された
場合に、警告信号を発生する警告手段を備えたことを特
徴とする疲労試験監視装置。 2 上記応力制御手段が、警告信号を受けると、上記応
力発生手段への制御を停止させるよう構成されている特
許請求の範囲第1項記載の疲労試験監視装置。 3 上記警告手段が、視認表示手段を備え警告信号の内
容を該視認表示手段に表示するよう構成された特許請求
の範囲第1項または第2項記載の疲労試験監視装置。 4 上記視認手段による表示内容が、複数の測定点の内
、所定の特異推移状態が観測された測定点の情報を含む
特許請求の範囲第3項記載の疲労試験監視装置。 5 被検体に応力を与える応力発生手段と、該応力発生
手段を制御して、所定の繰り返し応力を発生させる応力
制御手段と、 上記被検体の複数の測定点の歪状態を測定する歪測定手
段と、 該歪測定手段からのデータを所定時間間隔で順次読み込
んで処理し、各測定点の歪の推移を検出するデータ処理
手段と、 を備えた疲労試験機に用いられる疲労試験監視装置にお
いて、 上記データ処理手段で求められた各測定点の歪の推移を
観測し、疲労限界時の所定の特異推移状態が観測された
場合に、警告信号を発生する警告手段と、 各測定点の上記所定の特異推移状態近傍の状態を検出す
る前兆検出手段と、 該前兆検出手段により、いずれかの測定点が上記近傍状
態にあると検出されると、上記データ処理手段による該
測定点の歪測定データ読み込み量を増大させるデータ量
変更手段と、 を備えたことを特徴とする疲労試験監視装置。 6 歪測定データ読み込み量の増大が、1回当りの読み
込み時間の延長によりなされる特許請求の範囲第5項記
載の疲労試験監視装置。 7 歪測定データ読み込み量の増大が、読み込み回数を
増大することによりなされる特許請求の範囲第5項記載
の疲労試験監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62005230A JPH0758246B2 (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 疲労試験監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62005230A JPH0758246B2 (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 疲労試験監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63172940A true JPS63172940A (ja) | 1988-07-16 |
| JPH0758246B2 JPH0758246B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=11605383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62005230A Expired - Lifetime JPH0758246B2 (ja) | 1987-01-13 | 1987-01-13 | 疲労試験監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0758246B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09138188A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS462473A (ja) * | 1970-03-04 | 1971-10-16 |
-
1987
- 1987-01-13 JP JP62005230A patent/JPH0758246B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS462473A (ja) * | 1970-03-04 | 1971-10-16 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09138188A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0758246B2 (ja) | 1995-06-21 |
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