JPS63187363U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63187363U JPS63187363U JP7968187U JP7968187U JPS63187363U JP S63187363 U JPS63187363 U JP S63187363U JP 7968187 U JP7968187 U JP 7968187U JP 7968187 U JP7968187 U JP 7968187U JP S63187363 U JPS63187363 U JP S63187363U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- contacts
- measuring jig
- pushed
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000008188 pellet Substances 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案による測定治具の第１の実施例
を示す断面図、第２図は第２の実施例を示す断面
図、第３図は従来の測定治具の断面図である。 １……裏面電極接触子、２……ＬＤペレツト、
３……表面電極接触子、４……絶縁板、５……押
えネジ、６……押上げ部、７……開度調整ネジ、
８……荷重調整ネジ。
を示す断面図、第２図は第２の実施例を示す断面
図、第３図は従来の測定治具の断面図である。 １……裏面電極接触子、２……ＬＤペレツト、
３……表面電極接触子、４……絶縁板、５……押
えネジ、６……押上げ部、７……開度調整ネジ、
８……荷重調整ネジ。
Claims (1)
- バネ性を利用してレーザーダイオードペレツト
を固定し、同時に電気的に接続する上下に配置さ
れた一対の接触子と、上方の接触子を下側から押
し上げて前記一対の接触子間を開放する機構とを
有することを特徴とする半導体素子の測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7968187U JPH0621266Y2 (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | 半導体素子の測定治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7968187U JPH0621266Y2 (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | 半導体素子の測定治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63187363U true JPS63187363U (ja) | 1988-11-30 |
| JPH0621266Y2 JPH0621266Y2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=30929775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7968187U Expired - Lifetime JPH0621266Y2 (ja) | 1987-05-26 | 1987-05-26 | 半導体素子の測定治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0621266Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2014041905A1 (ja) * | 2012-09-11 | 2016-08-18 | シャープ株式会社 | 試験用治具、検査装置、載置装置および試験装置 |
-
1987
- 1987-05-26 JP JP7968187U patent/JPH0621266Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2014041905A1 (ja) * | 2012-09-11 | 2016-08-18 | シャープ株式会社 | 試験用治具、検査装置、載置装置および試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0621266Y2 (ja) | 1994-06-01 |