JPS63188085A - ラベルプリンタのラベル検出方法 - Google Patents
ラベルプリンタのラベル検出方法Info
- Publication number
- JPS63188085A JPS63188085A JP1970887A JP1970887A JPS63188085A JP S63188085 A JPS63188085 A JP S63188085A JP 1970887 A JP1970887 A JP 1970887A JP 1970887 A JP1970887 A JP 1970887A JP S63188085 A JPS63188085 A JP S63188085A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detected
- label
- waveform
- detection
- optical sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Controlling Sheets Or Webs (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、連続用紙上の光透過率の異なったすきまや切
欠等の被検出部を検出するラベルプリンタのラベル検出
方法に関する。
欠等の被検出部を検出するラベルプリンタのラベル検出
方法に関する。
従来の技術
従来の被検出部としてのラベル間のすきまを検出するす
きま検出回路を第５図ないし第１０図に基づいて説明す
る。
きま検出回路を第５図ないし第１０図に基づいて説明す
る。
従来のすきま検出回路１には、連続用紙２上の光透過率
の異なった被検出部すなわち第９図における台紙３に貼
付されたラベル４間のすきま５を検出する光センサ回路
部６と、波形整形を行うコンパレータ７と、■１０ポー
ト８と、ＣＰＵ９とが設けられている。前記光センサ回
路部６は、発光素子（ＬＥＤ）１０と受光素子（フォト
トランジスタ）１１とよりなる光センサ１２を有する。
の異なった被検出部すなわち第９図における台紙３に貼
付されたラベル４間のすきま５を検出する光センサ回路
部６と、波形整形を行うコンパレータ７と、■１０ポー
ト８と、ＣＰＵ９とが設けられている。前記光センサ回
路部６は、発光素子（ＬＥＤ）１０と受光素子（フォト
トランジスタ）１１とよりなる光センサ１２を有する。
前記発光素子１０は、抵抗Ｒ８を介して電源Ｖｃｃに接
続され、他方前記受光素子１１のコレクタ１３側は可変
抵抗ＶＲを介して前記電源Ｖｃｃに接続されている。ま
た、前記受光素子１１のコレクタ１３側は次段に位置す
る前記コンパレータ７の片方の入力側一端子に接続され
、このコンバレータフの他方の入力側＋端子には基準電
圧Ｖｏが接続されている。このコンパレータ７の出力側
は次段に位置する前記Ｉ１０ポート８に接続され、この
Ｉ１０ボート８はバス１４を通して前記ＣＰＵ９に接続
されている。なお、第１０図における前記被検出部に相
当するものは、台紙３の一側縁に等間隔に形成された切
欠１５がこれに相当する。
続され、他方前記受光素子１１のコレクタ１３側は可変
抵抗ＶＲを介して前記電源Ｖｃｃに接続されている。ま
た、前記受光素子１１のコレクタ１３側は次段に位置す
る前記コンパレータ７の片方の入力側一端子に接続され
、このコンバレータフの他方の入力側＋端子には基準電
圧Ｖｏが接続されている。このコンパレータ７の出力側
は次段に位置する前記Ｉ１０ポート８に接続され、この
Ｉ１０ボート８はバス１４を通して前記ＣＰＵ９に接続
されている。なお、第１０図における前記被検出部に相
当するものは、台紙３の一側縁に等間隔に形成された切
欠１５がこれに相当する。
このような構成において、光センサ１２が光透過率の異
なった被検出部を検出すると、受光素子１１の受光量が
変化してコレクタ１３側の電圧が変動し、このコレクタ
１３側にアナログ波形の出力電圧Ｖｏｕｔが現れる。こ
の出力電圧Ｖｏｕｔをそのまま検出電圧と見なしてコン
パレータ７の検出レベルａ、ｂと比較すると、波形整形
されたパルス状の検出波形が得られる。この時、検出レ
ベルがａ、ｂの２つに分かれているが、これはスレッシ
ュホールドレベルによって検出を行っているためで、下
向きの曲線では検出レベルａと交差すると検出され、逆
に上向きの曲線では検出レベルｂと交差すると検出され
て、その結果検出波形のようなパルス状の波形が得られ
る。この検出波形はＩ１０ポート８に送られ、さらにバ
ス１４を通してＣＰＵ９に送られて被検出部の検出が行
われる。
なった被検出部を検出すると、受光素子１１の受光量が
変化してコレクタ１３側の電圧が変動し、このコレクタ
１３側にアナログ波形の出力電圧Ｖｏｕｔが現れる。こ
の出力電圧Ｖｏｕｔをそのまま検出電圧と見なしてコン
パレータ７の検出レベルａ、ｂと比較すると、波形整形
されたパルス状の検出波形が得られる。この時、検出レ
ベルがａ、ｂの２つに分かれているが、これはスレッシ
ュホールドレベルによって検出を行っているためで、下
向きの曲線では検出レベルａと交差すると検出され、逆
に上向きの曲線では検出レベルｂと交差すると検出され
て、その結果検出波形のようなパルス状の波形が得られ
る。この検出波形はＩ１０ポート８に送られ、さらにバ
ス１４を通してＣＰＵ９に送られて被検出部の検出が行
われる。
発明が解決しようとする問題点
上述のように、従来のすきま検出では、光センサ１２の
出力電圧Ｖ ｏｕｔをそのまま検出電圧として利用して
いるので、このため前記光センサ１２個々の出力特性の
バラツキ等による影響で前記出力電圧Ｖｏｕｔが異なっ
た値Ｖ１．Ｖ２ を持つことがあり、これによって前記
検出電圧の出力レベルがバラツキ、その結果、このバラ
ツキを補正して出力レベルを一定にするために可変抵抗
ＶＲを用いてあらかじめ調整しておく必要がある。また
回路動作中においても同様に、前記光センサ１２固有の
温度特性や外乱による影響で前記出力電圧Ｖｏｕｔがバ
ラツクとこれによって前記検出電圧がバラツキ、その結
果、すきま検出回路１が誤動作する恐れがある。
出力電圧Ｖ ｏｕｔをそのまま検出電圧として利用して
いるので、このため前記光センサ１２個々の出力特性の
バラツキ等による影響で前記出力電圧Ｖｏｕｔが異なっ
た値Ｖ１．Ｖ２ を持つことがあり、これによって前記
検出電圧の出力レベルがバラツキ、その結果、このバラ
ツキを補正して出力レベルを一定にするために可変抵抗
ＶＲを用いてあらかじめ調整しておく必要がある。また
回路動作中においても同様に、前記光センサ１２固有の
温度特性や外乱による影響で前記出力電圧Ｖｏｕｔがバ
ラツクとこれによって前記検出電圧がバラツキ、その結
果、すきま検出回路１が誤動作する恐れがある。
問題点を解決するための手段
そこで、このような問題点を解決するために、光センサ
によって検出されたアナログ出力をＡ／Ｄコンバータを
用いて、時分割されたデジタル出力に変換し、この時分
割されたデジタル出力のデータの微分値を求め、この微
分値の検出波形により被検出部を検出する。
によって検出されたアナログ出力をＡ／Ｄコンバータを
用いて、時分割されたデジタル出力に変換し、この時分
割されたデジタル出力のデータの微分値を求め、この微
分値の検出波形により被検出部を検出する。
作用
したがって、すきまや切欠等の被検出部の検出は、光セ
ンサのアナログ出力の微分値の検出波形によって行われ
るので、アナログ出力の変動分のみが信号として取り出
され、光センサ個々の出力特性のバラツキ等による影響
で出力レベルがたとえ異なっていたとしてもその出力レ
ベルの変動分 ′を考慮する必要がなく、このため可変
抵抗による調整は不要となり、また、回路動作中におい
ても同様に、光センサ固有の温度特性や外乱による影響
で回路が誤動作するようなこともなくなる。
ンサのアナログ出力の微分値の検出波形によって行われ
るので、アナログ出力の変動分のみが信号として取り出
され、光センサ個々の出力特性のバラツキ等による影響
で出力レベルがたとえ異なっていたとしてもその出力レ
ベルの変動分 ′を考慮する必要がなく、このため可変
抵抗による調整は不要となり、また、回路動作中におい
ても同様に、光センサ固有の温度特性や外乱による影響
で回路が誤動作するようなこともなくなる。
実施例
本発明の一実施例を第１図ないし第４図および第９図な
いし第１０図に基づいて説明する。
いし第１０図に基づいて説明する。
すきま検出回路１６には、連続用紙２上の光透過率の異
なった被検出部すなわち第９図における台紙３に貼付さ
れたラベル４間のすきま５を検出する光センサ回路部１
７と、アナログ波形をデジタル波形に変換するＡ／Ｄコ
ンバータ１８と、ブータラ記憶するＲＡＭ１９と、Ｒｏ
Ｍ２０と、ＣＰＵ２１とが設けられている。前記光セン
サ回路部１７は１発光素子（ＬＥＤ）２２と受光素子（
フォトトランジスタ）２３とよりなる光センサ２４を有
する。前記発光素子２２は、抵抗Ｒ２を介して電源Ｖｃ
ｃに接続され、他方前記受光素子２３のコレクタ２５側
では抵抗Ｒ３を介して前記電源Ｖｃｃに接続されている
。また、前記受光素子２３のコレクタ２５側は次段に位
置する前記Ａ／Ｄコンバータ１８に接続され、前記Ａ／
Ｄコンバータ１８はバス２６を通して前記ＣＰＵ２１に
接続されている。また、前記ＲＡＭ１９．前記ＲＯＭ２
０は各々前記バス２６を通して前記ＣＰＵ２１に接続さ
れている。なお、第１０図における前記被検出部に相当
するものは１台紙３の一側縁に等間隔に形成された切欠
１５がこれに相当する。
なった被検出部すなわち第９図における台紙３に貼付さ
れたラベル４間のすきま５を検出する光センサ回路部１
７と、アナログ波形をデジタル波形に変換するＡ／Ｄコ
ンバータ１８と、ブータラ記憶するＲＡＭ１９と、Ｒｏ
Ｍ２０と、ＣＰＵ２１とが設けられている。前記光セン
サ回路部１７は１発光素子（ＬＥＤ）２２と受光素子（
フォトトランジスタ）２３とよりなる光センサ２４を有
する。前記発光素子２２は、抵抗Ｒ２を介して電源Ｖｃ
ｃに接続され、他方前記受光素子２３のコレクタ２５側
では抵抗Ｒ３を介して前記電源Ｖｃｃに接続されている
。また、前記受光素子２３のコレクタ２５側は次段に位
置する前記Ａ／Ｄコンバータ１８に接続され、前記Ａ／
Ｄコンバータ１８はバス２６を通して前記ＣＰＵ２１に
接続されている。また、前記ＲＡＭ１９．前記ＲＯＭ２
０は各々前記バス２６を通して前記ＣＰＵ２１に接続さ
れている。なお、第１０図における前記被検出部に相当
するものは１台紙３の一側縁に等間隔に形成された切欠
１５がこれに相当する。
このような構成において、光センサ２４が光透過率の異
なった被検出部を検出すると、受光素子２３の受光量が
変化してコレクタ２５側の電圧が変動し、このコレクタ
２５側にアナログ波形の出力電圧Ｖｏｕｔが現れる。こ
のアナログ波形の出力電圧■ｏｕｔは、Ａ／Ｄコンバー
タ１８により等間隔゛Δｔに時分割されてデジタル波形
（Ｓ工、Ｓ２．・・・。
なった被検出部を検出すると、受光素子２３の受光量が
変化してコレクタ２５側の電圧が変動し、このコレクタ
２５側にアナログ波形の出力電圧Ｖｏｕｔが現れる。こ
のアナログ波形の出力電圧■ｏｕｔは、Ａ／Ｄコンバー
タ１８により等間隔゛Δｔに時分割されてデジタル波形
（Ｓ工、Ｓ２．・・・。
Ｓ、、）に変換される。：、：：ｉ’、ＲＡＭ１９．Ｒ
ＯＭ２０を用いて次のような処理が行われる。
ＯＭ２０を用いて次のような処理が行われる。
５２Ｓ１＝ｄｔ ＋ ｄｉ ／Δｔ＝Ｄ工・・・（１
）Ｓ、−５２＝ｄ、 、ｄ、／Δｔ＝Ｄ、・・・（２
）Ｓｌ Ｓｌ ＝ｄａ 、ｄ３／Δｔ＝Ｄ３・・
・（３）Ｓｓ Ｓｌ ＝ｄ４ ｍ （Ｌ ／ａｔ
＝Ｄ４・・・（４）Ｓｓ Ｓｓ ”ｄｓ ＋ ｄ
ｓ ／ａｔ＝Ｄ、・・・（５）ｓ、ｓｓ ＝＝ｄ、
−ｄ、 ／Δｔ＝Ｄ、・・・（６）Ｓ、−５７＝ｄ、
、ｄ、／Δｔ＝Ｄ、・・・（７）Ｓ、 ｓｓ ＝ｄ
、 、ｄ、 ／Δｔ＝Ｄ、・・・（８）Ｓｌ。−Ｓ、
＝＝ｄ、 、ｄ、 ／Δ１＝０．・・・（９）Ｓ２
、−Ｓｌ。＝ｄ工。、ｄｌ。／Δｔ＝Ｄ１゜・・・（１
０）Ｓｉ、−Ｓ工□＝ｄ１□、 ｄ、、／Δｔ＝Ｄ□、
・・・（１１）Ｓｌ、−Ｓ、□＝ｄｚｚ 、ｄｔｚ／Δ
ｔ＝Ｄ１□・・・（１２）Ｓ１４−８１３＝ｄ１１．ｄ
ｌ、／Δｔ＝Ｄ１．・・・（１３）Ｓ １ｓ Ｓ
１４ ＝ｄｘｓ 、ｄｚ４／Δｔ＝Ｄｉ、・・・（１
４）上記のように、まず、Ｓ２からＳ□を引き、差分ｄ
、を求める。次に、この差分ｄ１を時分割した時間Δｔ
で割ると、（１）式の微分値Ｄ１が求まる。以下同様に
して、（２）式から（１４）式までの微分値（Ｄ２゜Ｄ
！？・・・、Ｄ１４）を求める。このようにして微分値
（Ｄｌ、Ｄ、、・・・、Ｄ１４）を求めることによって
、出力電圧Ｖ ｏｕｔの変化量と変化方向（＋／−）を
調べることができる。第４図は、この微分値の変化量と
変化方向（＋／−）の状態を表したもので、これは第２
図の出力電圧Ｖｏｕｔの変動分のみが現れたものである
。このようにして求められた微分値は、バス２６を通し
てＣＰＵ２１に送られて被検出部の検出が行われる。し
たがって、このすきま検出回路１６から得られる検出信
号は、出力電圧Ｖｏｕｔの出力レベルの変動による影響
を全く受けずに取り出すことができるのである。
）Ｓ、−５２＝ｄ、 、ｄ、／Δｔ＝Ｄ、・・・（２
）Ｓｌ Ｓｌ ＝ｄａ 、ｄ３／Δｔ＝Ｄ３・・
・（３）Ｓｓ Ｓｌ ＝ｄ４ ｍ （Ｌ ／ａｔ
＝Ｄ４・・・（４）Ｓｓ Ｓｓ ”ｄｓ ＋ ｄ
ｓ ／ａｔ＝Ｄ、・・・（５）ｓ、ｓｓ ＝＝ｄ、
−ｄ、 ／Δｔ＝Ｄ、・・・（６）Ｓ、−５７＝ｄ、
、ｄ、／Δｔ＝Ｄ、・・・（７）Ｓ、 ｓｓ ＝ｄ
、 、ｄ、 ／Δｔ＝Ｄ、・・・（８）Ｓｌ。−Ｓ、
＝＝ｄ、 、ｄ、 ／Δ１＝０．・・・（９）Ｓ２
、−Ｓｌ。＝ｄ工。、ｄｌ。／Δｔ＝Ｄ１゜・・・（１
０）Ｓｉ、−Ｓ工□＝ｄ１□、 ｄ、、／Δｔ＝Ｄ□、
・・・（１１）Ｓｌ、−Ｓ、□＝ｄｚｚ 、ｄｔｚ／Δ
ｔ＝Ｄ１□・・・（１２）Ｓ１４−８１３＝ｄ１１．ｄ
ｌ、／Δｔ＝Ｄ１．・・・（１３）Ｓ １ｓ Ｓ
１４ ＝ｄｘｓ 、ｄｚ４／Δｔ＝Ｄｉ、・・・（１
４）上記のように、まず、Ｓ２からＳ□を引き、差分ｄ
、を求める。次に、この差分ｄ１を時分割した時間Δｔ
で割ると、（１）式の微分値Ｄ１が求まる。以下同様に
して、（２）式から（１４）式までの微分値（Ｄ２゜Ｄ
！？・・・、Ｄ１４）を求める。このようにして微分値
（Ｄｌ、Ｄ、、・・・、Ｄ１４）を求めることによって
、出力電圧Ｖ ｏｕｔの変化量と変化方向（＋／−）を
調べることができる。第４図は、この微分値の変化量と
変化方向（＋／−）の状態を表したもので、これは第２
図の出力電圧Ｖｏｕｔの変動分のみが現れたものである
。このようにして求められた微分値は、バス２６を通し
てＣＰＵ２１に送られて被検出部の検出が行われる。し
たがって、このすきま検出回路１６から得られる検出信
号は、出力電圧Ｖｏｕｔの出力レベルの変動による影響
を全く受けずに取り出すことができるのである。
発明の効果
本発明は、上述のように、光センサによって検出された
アナログ出力をＡ／Ｄコンバータを用いて時分割された
デジタル出力に変換し、この時分割されたデジタル出力
のデータの微分値を求め、この微分値の検出波形により
被検出部を検出するようにしたので、アナログ出力の変
動分のみを考えればよく、したがって光センサ個々の出
力特性のバラツキ等による影響で出力レベルがたとえ異
なっていたとしても可変抵抗による調整を行う必要がな
く、また回路動作中においても光センサ固有の温度特性
や外乱による影響で回路が誤動作す、るようなこともな
くなるのである。
アナログ出力をＡ／Ｄコンバータを用いて時分割された
デジタル出力に変換し、この時分割されたデジタル出力
のデータの微分値を求め、この微分値の検出波形により
被検出部を検出するようにしたので、アナログ出力の変
動分のみを考えればよく、したがって光センサ個々の出
力特性のバラツキ等による影響で出力レベルがたとえ異
なっていたとしても可変抵抗による調整を行う必要がな
く、また回路動作中においても光センサ固有の温度特性
や外乱による影響で回路が誤動作す、るようなこともな
くなるのである。
第１図ないし第４図は本発明の一実施例を示すもので、
第１図はすきま検出回路の回路図、第２図は出力電圧の
波形図、第３図はデジタルデータの波形図、第４図は微
分波形の変化量とその変化方向を示す波形図、第５図な
いし第８図は従来例を示すもので、第５図はすきま検出
回路の回路図、第６図は出力電圧の波形図、第７図は検
出波形の波形図、第８図は出力電圧が異なった場合の状
態を示す波形図、第９図は連続用紙上におけるラベルと
被検出部のすきまとの状態を示す平面図、第１０図は連
続用紙上におけるラベルと被検出部の切欠との状態を示
す平面図である。 ２・・・連続用紙、５・・・すきま（被検出部）、１５
・・・切欠（被検出部）、１６・・・すきま検出回路、
１８・・・Ａ／Ｄコンバータ、２４・・・光センサ出
願 人 東京電気株式会社 、￥）、１ 図 ７」 廁１式）− 、％、３ 図 、％、ｕ 図 、％６図（部（９）） 的１ｖｌ（支）〕− 、％ ’７ 図（蝮り） Ｊ） と） ■コイ）（翅り）８？＋間父ｃ）
−
第１図はすきま検出回路の回路図、第２図は出力電圧の
波形図、第３図はデジタルデータの波形図、第４図は微
分波形の変化量とその変化方向を示す波形図、第５図な
いし第８図は従来例を示すもので、第５図はすきま検出
回路の回路図、第６図は出力電圧の波形図、第７図は検
出波形の波形図、第８図は出力電圧が異なった場合の状
態を示す波形図、第９図は連続用紙上におけるラベルと
被検出部のすきまとの状態を示す平面図、第１０図は連
続用紙上におけるラベルと被検出部の切欠との状態を示
す平面図である。 ２・・・連続用紙、５・・・すきま（被検出部）、１５
・・・切欠（被検出部）、１６・・・すきま検出回路、
１８・・・Ａ／Ｄコンバータ、２４・・・光センサ出
願 人 東京電気株式会社 、￥）、１ 図 ７」 廁１式）− 、％、３ 図 、％、ｕ 図 、％６図（部（９）） 的１ｖｌ（支）〕− 、％ ’７ 図（蝮り） Ｊ） と） ■コイ）（翅り）８？＋間父ｃ）
−
Claims (1)
- 連続用紙上の光透過率の異なつた被検出部を検出する光
センサを有するラベルプリンタにおいて、前記光センサ
によつて検出されたアナログ出力をＡ／Ｄコンバータを
用いて時分割されたデジタル出力に変換し、この時分割
されたデジタル出力のデータの微分値を求め、この微分
値の検出波形により前記被検出部を検出するようにした
ことを特徴とするラベルプリンタのラベル検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1970887A JPS63188085A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | ラベルプリンタのラベル検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1970887A JPS63188085A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | ラベルプリンタのラベル検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63188085A true JPS63188085A (ja) | 1988-08-03 |
Family
ID=12006785
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1970887A Pending JPS63188085A (ja) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | ラベルプリンタのラベル検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63188085A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05193225A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-08-03 | Nec Corp | 位置検出装置 |
| WO2011064908A1 (ja) * | 2009-11-26 | 2011-06-03 | 株式会社サトー | プリンターにおける印字用紙の位置検出領域中心部位の検出装置、位置検出領域中心部位の検出方法、印字用紙の印字開始位置検出装置、印字開始位置検出方法およびプリンター |
| US11208230B2 (en) | 2019-06-27 | 2021-12-28 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Printing apparatus including optical sensor located at conveying region through which label passes |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5698634A (en) * | 1980-01-09 | 1981-08-08 | Dainippon Printing Co Ltd | Printed matter testing device |
| JPS61246891A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-04 | 株式会社東芝 | 印刷物判別装置 |
-
1987
- 1987-01-30 JP JP1970887A patent/JPS63188085A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5698634A (en) * | 1980-01-09 | 1981-08-08 | Dainippon Printing Co Ltd | Printed matter testing device |
| JPS61246891A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-04 | 株式会社東芝 | 印刷物判別装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05193225A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-08-03 | Nec Corp | 位置検出装置 |
| WO2011064908A1 (ja) * | 2009-11-26 | 2011-06-03 | 株式会社サトー | プリンターにおける印字用紙の位置検出領域中心部位の検出装置、位置検出領域中心部位の検出方法、印字用紙の印字開始位置検出装置、印字開始位置検出方法およびプリンター |
| JP2011110778A (ja) * | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Sato Knowledge & Intellectual Property Institute | プリンターにおける印字用紙の位置検出領域中心部位の検出装置、位置検出領域中心部位の検出方法、印字用紙の印字開始位置検出装置、印字開始位置検出方法およびプリンター |
| US11208230B2 (en) | 2019-06-27 | 2021-12-28 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Printing apparatus including optical sensor located at conveying region through which label passes |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| IT1223867B (it) | Circuito per il trattamento del segnale generato da un sensore elettromagnetico di rotazione del tipo a riluttanza variabile | |
| JPS6329287B2 (ja) | ||
| DE3239627A1 (de) | Anzeigeeinrichtung fuer brennbare gase | |
| JPS63188085A (ja) | ラベルプリンタのラベル検出方法 | |
| JPS63189274A (ja) | ラベルプリンタのラベル検出方法 | |
| SE8604821D0 (sv) | Slutsteg med automatisk nivakontroll for netsignalering | |
| IT1180067B (it) | Circuito rivelatore del passaggio per lo zero del segnale generato da un sensore elettromagnetico del tipo a ruota fonica e simili | |
| US4001703A (en) | Transmission line interface circuit | |
| DE59305191D1 (de) | Gerät zur Bestimmung des optimalen Entbindungstermins | |
| JPS5640764A (en) | Measuring unit of lightning current | |
| JPH0664501B2 (ja) | 定電流電源回路 | |
| EP0293484A1 (en) | Apparatus for discharge machining | |
| JPH03128513A (ja) | 自動利得制御方法 | |
| JP3166141B2 (ja) | インターフエイス回路 | |
| SU1525478A1 (ru) | Цифровой измеритель температуры | |
| JPS6227895Y2 (ja) | ||
| JPS60263513A (ja) | 信号２値化回路 | |
| JPS643744B2 (ja) | ||
| JPS61224721A (ja) | ゼロクロス信号出力装置 | |
| JPH0429415Y2 (ja) | ||
| KR0117097Y1 (ko) | 광원 간섭을 제거한 센서회로 | |
| KR920001468Y1 (ko) | 팩시밀리의 포토 센서 드라이버 | |
| JPS59218520A (ja) | 自動制御回路 | |
| KR830001481B1 (ko) | 안정화 직류 전원의 출력 전압저하 검출장치 | |
| JPS6349162B2 (ja) |