JPS6318932Y2 - - Google Patents

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JPS6318932Y2
JPS6318932Y2 JP1982123164U JP12316482U JPS6318932Y2 JP S6318932 Y2 JPS6318932 Y2 JP S6318932Y2 JP 1982123164 U JP1982123164 U JP 1982123164U JP 12316482 U JP12316482 U JP 12316482U JP S6318932 Y2 JPS6318932 Y2 JP S6318932Y2
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JP
Japan
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contact
circuit board
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needles
needle
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JP1982123164U
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JPS5927478U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、印刷回路板に搭載された各種の電気
部品により構成された回路網が所期の目的機能を
有しているか否かを試験する回路試験用接続装置
に関する。
従来の回路試験用接続装置を第1図に従つて説
明する。第1図および第1図は要部断面図で
あり、1はハウジング、2は上部を内側に曲折さ
せて互に対向設置したばね性を有するコンタクト
であり、ハウジング1に挿入支持されている。
3はこのコンタクト2の間に配置した係止凹部
3aを有するカム、4はこのカム3を操作するレ
バーである。5は印刷回路板である。
従つて、このような構成によると、レバー4が
第1図の状態に横になつていると、カム4はコ
ンタクト2を操作しないでコンタクト2間は閉じ
ている。そこで、このコンタクト2間に印刷回路
板5を挿入する場合には第1図に示す如くレバ
ー4を縦に立ててカム3によりコンタクト2の間
を開け、このカム3の係止凹部3aに印刷回路板
5の端部を納めて印刷回路板5の位置決めを行な
う。この状態でレバー4を第1図の状態に戻す
ことにより印刷回路板5はそのままの状態でコン
タクト2の先部の間隔が狭くなつて先部が印刷回
路板5の接触部に接触して回路試験を行なうこと
ができる。よつて、印刷回路板5をコンタクト2
に接触させるに際して印刷回路板5をコンタクト
2に沿つて摺動させることなく接触させることが
できるようになつている。
しかし、このような回路試験用接続装置による
と、コンタクト2をレバー4の操作によりカム3
を介して直接開閉するため、頻繁に繰返し使用す
ると、コンタクト2とカム3、レバー4とカム3
の摩滅による粉塵と、コンタクト2のばね力の減
少等により、接触抵抗を増大させて信頼性の低下
を招いていた。
また、コンタクト2は印刷回路板5の1接触部
に対して1形状で一定圧力の表面接触であり、印
刷回路板5の接触部の表面状態に接触抵抗が左右
され易く、さらにこの装置の交換に多大な時間を
要する等の欠点が有り、試験設備等の信頼性向上
および自動化を行なう上で大きな問題点となつて
いた。
本考案は上記の問題点を解決することを目的と
し、ソケツト保持による接触針を印刷回路板の1
接触部に対して1本ないし複数本を圧着または圧
入して上記印刷回路板の接触部の表面形態や各種
形状に左右されずに確実な電気的導通を可能とし
た回路試験用接続装置としたことを特徴とする。
以下に本考案の一実施例を第2図から第5図に
従つて説明する。第2図は平面図、第3図は正面
図、第4図は要部の部分拡大断面平面図、第5図
は接触針の状態を示す斜視図であり、6a,6b
は接触針であり、本実施例では2本の場合で説明
する。この接触針6a,6bはソケツト7にそれ
ぞれ挿入して絶縁板8に固定されている。
この絶縁板8はさらにプレート9を介して移動
テーブル10に連結し、移動テーブル10はロー
ラ11によりガイド12上を滑らかに移動できる
ように保持されている。
13はスクリユー軸であり、その両端にはベア
リング14を介してブラケツト15に保持してあ
り、その一端は継続器16を介して駆動源17に
接続してある。このスクリユー軸13にはスクリ
ユー軸受18があり、このスクリユー軸受18は
枢軸19によつて回動可能に連結したリンク20
を介してブラケツト21に枢軸22により接続し
てある。5は印刷回路板であつてガイド29によ
り保持されている。
接触針6a,6bは第4図に示す如く、接触針
6aは先端が球面状で圧着用、接触針6bは先端
が先鋭で圧入用となつており、それぞれソケツト
7を介して絶縁板8に固定され、その固定状態は
ばね23を介して取付けられており、端子24,
25は導線26によつて接続され、さらに導線2
7によつて図示しない試験機本体と接続されてい
る。28は前後進端検出センサーである。
次に上記構成の作用を説明する。
駆動源17により供給された動力は、継続器1
6を介してスクリユー軸13に伝達され、その回
転によつてスクリユー軸受18を矢印A方向に移
動させる。このスクリユー軸受18の移動力は枢
軸19を介して接続したリンク20によつて枢軸
22を介してブラケツト21に伝わり、それによ
つてプレート9がガイド12に沿つて矢印B方向
に移動し、絶縁板8に保持された接触針6a,6
bが印刷回路板5の接触部に接触し、加圧用スプ
リング23によつて圧着および圧入され、前後進
端検出センサ28により駆動源17を停止させ
る。
この状態で回路試験は行なわれる。
次に、試験の済んだ印刷回路板5を開放するに
は、駆動源17を逆回転させることにより、スク
リユー軸13は上記とは逆回転をし、スクリユー
軸受18は矢印A方向と逆方向に移動し、その結
果プレート9は矢印B方向と逆の方向に移動して
接触針6a,6bは印刷回路板5より離れて印刷
回路板5は開放される。このときも前後進端検出
センサ28により駆動源17は停止される。
よつて、前後進端検出センサ28の調整により
接触針6a,6bの加圧調整および印刷回路板5
の板厚変化に対応することができる。
さらに、接触針先端の形状の組合せにより、圧
着および圧入等の接続が任意に得られ、印刷回路
板の接触部の形状や表面形態に左右されることな
く確実な電気的導通状態を作りだすことができ
る。
以上の構成、作用を有する本考案によると、印
刷回路板の挿入抵抗が無い回路試験用接続装置に
おいて、接触針を複数にすることができるように
したと共にそのそれぞれをソケツトに保持可能と
したことにより、印刷回路板の1接触部に対して
1ないし複数の接触針が任意の接触圧力で得ら
れ、また、接触部の表面状態および形状により
種々の接触針の組合せ使用が可能となり、さらに
ソケツトで保持されるために接触針の交換が可能
であり、しかも繰返しの使用ができる効果を有す
る。
さらに、接触針間の開閉を回転動力を利用して
行なうために自動化が可能となり、正確で迅速な
回路検査が行なえることとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図,は従来例を示す要部断面図、第2
図は本考案の一実施例を示す平面図、第3図は同
正面図、第4図は要部の部分拡大断面平面図、第
5図は接触針の状態を示す斜視図である。 5……印刷回路板、6a,6b……接触針、7
……ソケツト、8……絶縁板、9……プレート、
13……スクリユー軸、17……駆動源、18…
…スクリユー軸受、20……リンク、23……ば
ね。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ソケツトにより1本または複数本の接触針を配
    置した絶縁板を所定間隙に対向させて移動可能に
    保持し、駆動源に連結したスクリユー軸のスクリ
    ユー軸受に連結したリンクを介して上記絶縁板を
    移動させて上記接触針を印刷回路板の接触部に圧
    着または圧入して電気的導通状態で接続すること
    を特徴とする回路試験用接続装置。
JP12316482U 1982-08-16 1982-08-16 回路試験用接続装置 Granted JPS5927478U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12316482U JPS5927478U (ja) 1982-08-16 1982-08-16 回路試験用接続装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12316482U JPS5927478U (ja) 1982-08-16 1982-08-16 回路試験用接続装置

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Publication Number Publication Date
JPS5927478U JPS5927478U (ja) 1984-02-20
JPS6318932Y2 true JPS6318932Y2 (ja) 1988-05-27

Family

ID=30281254

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12316482U Granted JPS5927478U (ja) 1982-08-16 1982-08-16 回路試験用接続装置

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0762693B2 (ja) * 1984-08-31 1995-07-05 富士通株式会社 プロービィング装置
KR102882640B1 (ko) * 2023-11-16 2025-11-07 주식회사 아테코 반도체디바이스에 대한 시험용 트레이 및 시험용 트레이가 이용되는 테스트장치
KR102909973B1 (ko) * 2023-11-16 2026-01-12 주식회사 아테코 반도체디바이스에 대한 시험용 트레이 및 시험용 트레이가 이용되는 테스트장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5311954B2 (ja) * 1974-02-05 1978-04-25

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JPS5927478U (ja) 1984-02-20

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