JPS6319021B2 - - Google Patents
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- JPS6319021B2 JPS6319021B2 JP56049873A JP4987381A JPS6319021B2 JP S6319021 B2 JPS6319021 B2 JP S6319021B2 JP 56049873 A JP56049873 A JP 56049873A JP 4987381 A JP4987381 A JP 4987381A JP S6319021 B2 JPS6319021 B2 JP S6319021B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clamping
- subject
- electrodes
- electrode
- hot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/226—Construction of measuring vessels; Electrodes therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、物体に含まれている水分を測定する
ための水分測定装置に関するもので、更に詳しく
は、被験体をプローブに挟持させることによつて
その水分率を測定するようにした挟持方式採用の
水分測定装置に関するものである。
ための水分測定装置に関するもので、更に詳しく
は、被験体をプローブに挟持させることによつて
その水分率を測定するようにした挟持方式採用の
水分測定装置に関するものである。
一般に、狭い間隔の電極間にある誘電率をもつ
物体を挿入して高周波電圧を印加すると、電極間
には(1)式に示すような誘電率に比例した高周波電
流が流れる。
物体を挿入して高周波電圧を印加すると、電極間
には(1)式に示すような誘電率に比例した高周波電
流が流れる。
ｉ＝ωεS／4πdν ……(1)
ν：印加高周波電圧
ｄ：電極間距離
Ｓ：電極面積、
ε：誘電率
ω：2π
水の誘電率は他の物質に比べて非常に大きいた
め、上記高周波電流は物体中の水分率にほぼ比例
したものとなり、従つて、この電流を測定するこ
とにより物体中の水分率を知ることができる。
め、上記高周波電流は物体中の水分率にほぼ比例
したものとなり、従つて、この電流を測定するこ
とにより物体中の水分率を知ることができる。
このような原理に基づいて物体の水分を測定す
る測定装置はすでに幾例か知られているが、被験
体を電極間に挾持させる挾持方式を採用したもの
は提案されていない。このことは、(1)式において
高周波電流ｉと電極間距離ｄとが反比例関係にあ
ることから、ｄの変動が避けられない挾持方式で
は正確に水分測定を行うことができないという従
来からの通念のためである。
る測定装置はすでに幾例か知られているが、被験
体を電極間に挾持させる挾持方式を採用したもの
は提案されていない。このことは、(1)式において
高周波電流ｉと電極間距離ｄとが反比例関係にあ
ることから、ｄの変動が避けられない挾持方式で
は正確に水分測定を行うことができないという従
来からの通念のためである。
本発明は、一対の挾持アームのそれぞれに高周
波電圧印加用のホツト電極とこれに対応するアー
ス電極とを取付ければ、これらの電極間距離がア
ームの挾持間隔とは無関係に一定になる点に着目
し、このような観点から高精度の測定を行うこと
のできる挾持方式採用の水分測定装置を提供しよ
うとするものである。
波電圧印加用のホツト電極とこれに対応するアー
ス電極とを取付ければ、これらの電極間距離がア
ームの挾持間隔とは無関係に一定になる点に着目
し、このような観点から高精度の測定を行うこと
のできる挾持方式採用の水分測定装置を提供しよ
うとするものである。
即ち、第１図Ａに示すように、挾持アーム１
ａ，１ｂのそれぞれにホツト電極２ａ，２ｂとア
ース電極３ａ，３ｂとを取付ければ、電極間距離
ｄは挾持間隔ｌとは無関係に一定となり、理論上
はアーム１ａ，１ｂ間に任意量の被験体を挾持さ
せて測定することができるはずである。しかしな
がら、実際には、第１図Ｂに示すように、ｄが一
定であつてもｌに応じて水分率の測定値は変化す
る。これは、ホツト電極２ａ，２ｂから自アーム
のアース電極３ａ，３ｂに向う電気力線が相互に
影響を及ぼし合つて互いに相手方の電気力線を遮
蔽する遮蔽効果を生じ、この効果の度合がアーム
の間隔に応じて変化するため電気力線の到達深度
が変化するためであろうと推測される。而して、
このときの水分率は、第１図Ｂから分るように挟
持間隔ｌとほぼ比例的に変化しており、この関係
は(1)式におけるｉとｄとの関係とは逆である。
ａ，１ｂのそれぞれにホツト電極２ａ，２ｂとア
ース電極３ａ，３ｂとを取付ければ、電極間距離
ｄは挾持間隔ｌとは無関係に一定となり、理論上
はアーム１ａ，１ｂ間に任意量の被験体を挾持さ
せて測定することができるはずである。しかしな
がら、実際には、第１図Ｂに示すように、ｄが一
定であつてもｌに応じて水分率の測定値は変化す
る。これは、ホツト電極２ａ，２ｂから自アーム
のアース電極３ａ，３ｂに向う電気力線が相互に
影響を及ぼし合つて互いに相手方の電気力線を遮
蔽する遮蔽効果を生じ、この効果の度合がアーム
の間隔に応じて変化するため電気力線の到達深度
が変化するためであろうと推測される。而して、
このときの水分率は、第１図Ｂから分るように挟
持間隔ｌとほぼ比例的に変化しており、この関係
は(1)式におけるｉとｄとの関係とは逆である。
本発明は、特に、このような電気力線相互の影
響を少なくして測定精度を高めたことを特徴とす
るものである。
響を少なくして測定精度を高めたことを特徴とす
るものである。
以下、本発明を図面を参照しながら更に詳細に
説明するに、本発明の測定装置は、第２図に示す
ように、ホツト電極及びアース電極からなるセン
サ電極を備えたプローブ１０と、該プローブ１０
におけるセンサ電極に接続された制御回路と、該
制御回路に接続された演算回路及び表示部とを備
え、さらに高周波発振回路を備えている。
説明するに、本発明の測定装置は、第２図に示す
ように、ホツト電極及びアース電極からなるセン
サ電極を備えたプローブ１０と、該プローブ１０
におけるセンサ電極に接続された制御回路と、該
制御回路に接続された演算回路及び表示部とを備
え、さらに高周波発振回路を備えている。
上記プローブ１０は、第３図からも明らかなよ
うに、握柄１１の先端に一対の絶縁体からなる挾
持アーム１２ａ，１２ｂを開閉自在に取付け、こ
れらのアーム１２ａ，１２ｂを押釦等の操作手段
１３によつて開閉操作できるようにしたもので、
各アームの挾持面に、それぞれ高周波電圧を印加
するための小径のホツト電極１４ａ，１４ｂと該
ホツト電極を挾んで対向する長径棒状のアース電
極１５ａ，１５ｂとを取付けると共に、両アーム
１２ａ，１２ｂにおけるホツト電極１４ａ，１４
ｂを、それらの取付位置を挟持面に沿つて相互に
ずらすことにより、互いに非対向な位置に配置せ
しめている。
うに、握柄１１の先端に一対の絶縁体からなる挾
持アーム１２ａ，１２ｂを開閉自在に取付け、こ
れらのアーム１２ａ，１２ｂを押釦等の操作手段
１３によつて開閉操作できるようにしたもので、
各アームの挾持面に、それぞれ高周波電圧を印加
するための小径のホツト電極１４ａ，１４ｂと該
ホツト電極を挾んで対向する長径棒状のアース電
極１５ａ，１５ｂとを取付けると共に、両アーム
１２ａ，１２ｂにおけるホツト電極１４ａ，１４
ｂを、それらの取付位置を挟持面に沿つて相互に
ずらすことにより、互いに非対向な位置に配置せ
しめている。
なお、１６ａ，１６ｂは挾持圧を被験体のみに
作用させるためのアーム１２ａ，１２ｂの逃げで
ある。
作用させるためのアーム１２ａ，１２ｂの逃げで
ある。
上記両ホツト電極の位置をずらせることは、前
述したような電気力線相互の影響を少なくする上
で極めて有効であり、これによつて、アーム１２
ａ，１２ｂの挾持間隔ｌに伴つて高周波電流ｉが
変化するのを防止することができる。即ち、第４
図に示す如く、位置をずらせることによつてホツ
ト電極１４ａ，１４ｂにおける電気力線がまとも
に影響し合う割合が少なくなり、そのため相手ア
ーム上のアース電極に向う電気力線が増大し、こ
れによつて電気力線の到達深度が間隔ｌの影響を
受けにくくなるからである。
述したような電気力線相互の影響を少なくする上
で極めて有効であり、これによつて、アーム１２
ａ，１２ｂの挾持間隔ｌに伴つて高周波電流ｉが
変化するのを防止することができる。即ち、第４
図に示す如く、位置をずらせることによつてホツ
ト電極１４ａ，１４ｂにおける電気力線がまとも
に影響し合う割合が少なくなり、そのため相手ア
ーム上のアース電極に向う電気力線が増大し、こ
れによつて電気力線の到達深度が間隔ｌの影響を
受けにくくなるからである。
而して、上記ホツト電極１４ａ，１４ｂをずら
す方向は、第５図Ａに挾持面を展開図によつて示
すように、アーム１２ａ，１２ｂの挾持面におけ
るｘ軸方向、即ちアース電極１５ａ，１５ｂの軸
線と直交する方向であつても、あるいは、ｙ軸方
向即ちアース電極の軸線と平行な方向であつても
よく、また、その両方向に動かすようにしてもよ
い。
す方向は、第５図Ａに挾持面を展開図によつて示
すように、アーム１２ａ，１２ｂの挾持面におけ
るｘ軸方向、即ちアース電極１５ａ，１５ｂの軸
線と直交する方向であつても、あるいは、ｙ軸方
向即ちアース電極の軸線と平行な方向であつても
よく、また、その両方向に動かすようにしてもよ
い。
上記のごとくホツト電極の位置をずらせた場合
には、高周波電流ｉ即ち水分率とアームの挟持間
隔ｌとの間に第６図Ａに示すような関係が得られ
る。これは、ホツト電極１４ａ，１４ｂをその幅
ｔだけｘ軸方向にずらせ（Ｐ＝ｔ）て20KHzの高
周波電圧を印加させた場合のもので、この特性曲
線から、挟持間隔ｌが0.4〜1.8mmの範囲内におい
て指示値が略一定となり、挟持間隔が測定値に影
響を及ぼさないことが分る。一方、第６図Ｂは、
２つのアーム１２ａ，１２ｂ間に毛髪を任意に挟
持した場合の挟持間隔の分布を示すもので、ほと
んどの場合が上記0.4〜1.8mmの範囲内に収まつて
いる。従つて、これらのデータから、通常の測定
においては、アーム１２ａ，１２ｂ間に挟持され
る毛髪の量に応じて挟持間隔に若干のばらつきが
あつても、該挟持間隔とは無関係に正確な測定を
行い得ることが理解される。
には、高周波電流ｉ即ち水分率とアームの挟持間
隔ｌとの間に第６図Ａに示すような関係が得られ
る。これは、ホツト電極１４ａ，１４ｂをその幅
ｔだけｘ軸方向にずらせ（Ｐ＝ｔ）て20KHzの高
周波電圧を印加させた場合のもので、この特性曲
線から、挟持間隔ｌが0.4〜1.8mmの範囲内におい
て指示値が略一定となり、挟持間隔が測定値に影
響を及ぼさないことが分る。一方、第６図Ｂは、
２つのアーム１２ａ，１２ｂ間に毛髪を任意に挟
持した場合の挟持間隔の分布を示すもので、ほと
んどの場合が上記0.4〜1.8mmの範囲内に収まつて
いる。従つて、これらのデータから、通常の測定
においては、アーム１２ａ，１２ｂ間に挟持され
る毛髪の量に応じて挟持間隔に若干のばらつきが
あつても、該挟持間隔とは無関係に正確な測定を
行い得ることが理解される。
また、第６図Ａに示す特性曲線は、位置ずれ量
Ｐに応じて左右にシフトし、変曲点ｍ，ｎの間隔
も変わることが実験的に確められている。即ち、
第６図Ｃは、ホツト電極１４ａ，１４ｂのｘ軸方
向の位置ずれ量ＰをＰ＝2tとした場合の特性曲線
を示しており、この場合には、挟持間隔ｌが0.8
〜2.0mmの範囲内において指示値が略一定となつ
ている。従つて、挟持間隔がその範囲内に収まる
ような測定を行うことにより、測定精度を維持す
ることができる。
Ｐに応じて左右にシフトし、変曲点ｍ，ｎの間隔
も変わることが実験的に確められている。即ち、
第６図Ｃは、ホツト電極１４ａ，１４ｂのｘ軸方
向の位置ずれ量ＰをＰ＝2tとした場合の特性曲線
を示しており、この場合には、挟持間隔ｌが0.8
〜2.0mmの範囲内において指示値が略一定となつ
ている。従つて、挟持間隔がその範囲内に収まる
ような測定を行うことにより、測定精度を維持す
ることができる。
上記ホツト電極１４ａ，１４ｂの位置ずれ量及
びその方向は、被験体、プローブの構造、印加電
圧の周波数等に応じて最適なものに設定される。
びその方向は、被験体、プローブの構造、印加電
圧の周波数等に応じて最適なものに設定される。
第７図及び第８図はアーム１２ａ，１２ｂにお
ける挾持面の異なる構成例を示すもので、第７図
は、１つのホツト電極１７と１つの棒状アース電
極１８とを取付けた場合であり、第８図は、リン
グ状のアース電極１９の内側にホツト電極２０を
取付けたものである。
ける挾持面の異なる構成例を示すもので、第７図
は、１つのホツト電極１７と１つの棒状アース電
極１８とを取付けた場合であり、第８図は、リン
グ状のアース電極１９の内側にホツト電極２０を
取付けたものである。
これらの電極は、図示した構造に限定されるも
のではなく、任意の形状及び大きさに形成するこ
とができ、これらを同じアームに少なくとも１つ
づつ適当な配置により取付ければよい。この場
合、一対のアームの挾持面は特に同一構造とする
必要はない。
のではなく、任意の形状及び大きさに形成するこ
とができ、これらを同じアームに少なくとも１つ
づつ適当な配置により取付ければよい。この場
合、一対のアームの挾持面は特に同一構造とする
必要はない。
また、上記各実施例は、いずれも絶縁アーム上
に独立するアース電極を設けた場合であるが、ア
ーム自身をアース電極として兼用させることもで
きる。第９図はこのようなプローブの構造例を示
すもので、アーム１２ａ，１２ｂをアルミニウ
ム、鉄、しんちゆう等の導電体により形成し、そ
の挾持面に設けた凹所２１ａ，２１ｂ内に絶縁部
材２２ａ，２２ｂ及び２３ａ，２３ｂを介してホ
ツト電極２４ａ，２４ｂを取付けると共に、アー
ム１２ａ，１２ｂ上に該ホツト電極を取巻くリン
グ状のアース電極２５ａ，２５ｂを直接形成させ
ている。この場合、ホツト電線２６ａ，２６ｂも
第１０図及び第１１図に示すように絶縁部材２７
ａ，２７ｂを介して配線する。なお、上記ホツト
電極上の絶縁部材２３ａ，２３ｂは特に設ける必
要はない。
に独立するアース電極を設けた場合であるが、ア
ーム自身をアース電極として兼用させることもで
きる。第９図はこのようなプローブの構造例を示
すもので、アーム１２ａ，１２ｂをアルミニウ
ム、鉄、しんちゆう等の導電体により形成し、そ
の挾持面に設けた凹所２１ａ，２１ｂ内に絶縁部
材２２ａ，２２ｂ及び２３ａ，２３ｂを介してホ
ツト電極２４ａ，２４ｂを取付けると共に、アー
ム１２ａ，１２ｂ上に該ホツト電極を取巻くリン
グ状のアース電極２５ａ，２５ｂを直接形成させ
ている。この場合、ホツト電線２６ａ，２６ｂも
第１０図及び第１１図に示すように絶縁部材２７
ａ，２７ｂを介して配線する。なお、上記ホツト
電極上の絶縁部材２３ａ，２３ｂは特に設ける必
要はない。
上記プローブにおいては、ホツト電極２４ａ，
２４ｂからの電気力線は周囲のアース電極２５
ａ，２５ｂに捕捉されて外側に飛出すことがほと
んどなく、従つてシールド効果が向上し、水分率
の測定に際して挟持面からはみ出した被験体やそ
の他の物の影響を受けることがない。
２４ｂからの電気力線は周囲のアース電極２５
ａ，２５ｂに捕捉されて外側に飛出すことがほと
んどなく、従つてシールド効果が向上し、水分率
の測定に際して挟持面からはみ出した被験体やそ
の他の物の影響を受けることがない。
また、第１図において、プローブ１０に接続さ
れた制御回路は、ホツト電極を高周波発振回路に
接続すると共に、電極間を流れる高周波電流を検
出し、それを必要なレベルに増幅して後段の演算
回路に入力させるものである。
れた制御回路は、ホツト電極を高周波発振回路に
接続すると共に、電極間を流れる高周波電流を検
出し、それを必要なレベルに増幅して後段の演算
回路に入力させるものである。
さらに演算回路は、上記制御回路からの出力信
号を被験体の水分率に対応した信号に変換するも
ので、この演算回路からの出力信号が表示部に入
力されて水分率として表示される。
号を被験体の水分率に対応した信号に変換するも
ので、この演算回路からの出力信号が表示部に入
力されて水分率として表示される。
上述した測定装置によつて水分率を測定する場
合には、被験体をアーム１２ａ，１２ｂ間に挾持
させてホツト電極に高周波電圧を印加させる。す
ると、ホツト電極とアース電極との間には被験体
の誘電率に比例する高周波電流が流れ、これが制
御回路で検出されて一定レベルに増幅されたあと
演算回路に入力され、ここで水分率に比例する信
号に変換されて表示部において水分率として表示
される。
合には、被験体をアーム１２ａ，１２ｂ間に挾持
させてホツト電極に高周波電圧を印加させる。す
ると、ホツト電極とアース電極との間には被験体
の誘電率に比例する高周波電流が流れ、これが制
御回路で検出されて一定レベルに増幅されたあと
演算回路に入力され、ここで水分率に比例する信
号に変換されて表示部において水分率として表示
される。
以上に詳述した本発明の水分測定装置によれば
次のような効果を期待することができる。
次のような効果を期待することができる。
(1) 挾持方式の採用により測定を非常に簡単に行
うことができる。
うことができる。
(2) 一対の挟持アーム上にそれぞれ取付けたホツ
ト電極を互いに非対向な位置に配置したので、
挾持間隔の変化に伴う測定水分率のばらつきを
なくすことができ、これによつて挾持間隔とは
無関係に高精度の測定を行うことができる。
ト電極を互いに非対向な位置に配置したので、
挾持間隔の変化に伴う測定水分率のばらつきを
なくすことができ、これによつて挾持間隔とは
無関係に高精度の測定を行うことができる。
(3) 挾持間隔に関係なく水分率を測定できるの
で、挾持によつて密度や厚さが略一定になり易
い毛髪や繊維状物だけでなく、紙や布、プラス
チツク等をも測定対象とすることができる。
で、挾持によつて密度や厚さが略一定になり易
い毛髪や繊維状物だけでなく、紙や布、プラス
チツク等をも測定対象とすることができる。
(4) 挟持アーム自身をアース電極として構成した
ので、別途にアース電極を取付ける必要がな
く、その構造が簡単で製造が容易であるばかり
でなく、ホツト電極からの電気力線の捕捉を確
実にしてシール効果を高め、挟持面からはみ出
した被験体やその他の物の影響を受けにくくす
ることができる。
ので、別途にアース電極を取付ける必要がな
く、その構造が簡単で製造が容易であるばかり
でなく、ホツト電極からの電気力線の捕捉を確
実にしてシール効果を高め、挟持面からはみ出
した被験体やその他の物の影響を受けにくくす
ることができる。
第１図Ａは本発明を適用すべきプローブの部分
断面図、第１図Ｂはその特性図、第２図は本発明
の一実施例を示す構成図、第３図はプローブの要
部拡大断面図、第４図は電気力線の作用説明図、
第５図Ａ，Ｂは一対のアームについてホツト電極
の位置のずらせ方を説明する挟持面の正面図、第
６図Ａ，Ｃはホツト電極の位置をずらせた場合の
特性図、第６図Ｂは挟持アーム間に毛髪を任意に
挟持した場合の挟持間隔の分布図、第７図及び第
８図はプローブの異なる実施例を示す正面図、第
９図はプローブのさらに異なる実施例を示す要部
断面図、第１０図及び第１１図は第９図における
Ａ―Ａ断面図であつて実施例の異なるものであ
る。 １０……プローブ、１２ａ，１２ｂ……挾持ア
ーム、１４ａ，１４ｂ，１７，２０，２４ａ，２
４ｂ……ホツト電極、１５ａ，１５ｂ，１８，１
９，２５ａ，２５ｂ……アース電極。
断面図、第１図Ｂはその特性図、第２図は本発明
の一実施例を示す構成図、第３図はプローブの要
部拡大断面図、第４図は電気力線の作用説明図、
第５図Ａ，Ｂは一対のアームについてホツト電極
の位置のずらせ方を説明する挟持面の正面図、第
６図Ａ，Ｃはホツト電極の位置をずらせた場合の
特性図、第６図Ｂは挟持アーム間に毛髪を任意に
挟持した場合の挟持間隔の分布図、第７図及び第
８図はプローブの異なる実施例を示す正面図、第
９図はプローブのさらに異なる実施例を示す要部
断面図、第１０図及び第１１図は第９図における
Ａ―Ａ断面図であつて実施例の異なるものであ
る。 １０……プローブ、１２ａ，１２ｂ……挾持ア
ーム、１４ａ，１４ｂ，１７，２０，２４ａ，２
４ｂ……ホツト電極、１５ａ，１５ｂ，１８，１
９，２５ａ，２５ｂ……アース電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ プローブに取付けた電極に高周波電流を印加
し、被験体の誘電率に応じて流れる高周波電流か
ら被験体中の水分率を測定するようにしたものに
おいて、上記プローブを開閉自在な一対の挟持ア
ーム間に被験体を挟持する挟持方式とし、上記挟
持アームのそれぞれに高周波電圧が印加されるホ
ツト電極とアース電極とを設けると共に、両アー
ムにおける２つのホツト電極を互いに非対向位置
に配置したことを特徴とする水分測定装置。 ２ プローブに取付けた電極に高周波電流を印加
し、被験体の誘電率に応じて流れる高周波電流か
ら被験体中の水分率を測定するようにしたものに
おいて、上記プローブを開閉自在な一対の挟持ア
ーム間に被験体を挟持する挟持方式とし、導電体
により形成した上記挟持アームのそれぞれに高周
波電圧が印加されるホツト電極を互いに非対向状
態に設けると共に、各挟持アーム自身をアース電
極として構成したことを特徴とする水分測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4987381A JPS57163860A (en) | 1981-04-02 | 1981-04-02 | Measuring apparatus of moisture |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4987381A JPS57163860A (en) | 1981-04-02 | 1981-04-02 | Measuring apparatus of moisture |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13651381A Division JPS57165754A (en) | 1981-08-31 | 1981-08-31 | Measuring device for moisture rate of fibrous body |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57163860A JPS57163860A (en) | 1982-10-08 |
| JPS6319021B2 true JPS6319021B2 (ja) | 1988-04-21 |
Family
ID=12843161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4987381A Granted JPS57163860A (en) | 1981-04-02 | 1981-04-02 | Measuring apparatus of moisture |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57163860A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020173142A (ja) * | 2019-04-09 | 2020-10-22 | 東芝情報システム株式会社 | 乾湿度合測定装置 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57165754A (en) * | 1981-08-31 | 1982-10-12 | Lion Corp | Measuring device for moisture rate of fibrous body |
| JPS58127354U (ja) * | 1982-02-23 | 1983-08-29 | 小暮 弘 | 毛髪の水分測定計 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57163860A (en) | 1982-10-08 |
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