JPS63191123A - 光変調器 - Google Patents
光変調器Info
- Publication number
- JPS63191123A JPS63191123A JP2282687A JP2282687A JPS63191123A JP S63191123 A JPS63191123 A JP S63191123A JP 2282687 A JP2282687 A JP 2282687A JP 2282687 A JP2282687 A JP 2282687A JP S63191123 A JPS63191123 A JP S63191123A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- electrodes
- optical modulator
- semiconductor layer
- gainasp
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
光導波路に電界を印加することにより、ここを通る低エ
ネルギの光の吸収が増加する現象、いわゆるフランツケ
ルディシュ(PK)効果を用いた光変調器において、従
来の対向電極に代わって、電極を同一面上に配置して電
極間の静電容量を低減し、高速応答化をはかったもので
ある。
ネルギの光の吸収が増加する現象、いわゆるフランツケ
ルディシュ(PK)効果を用いた光変調器において、従
来の対向電極に代わって、電極を同一面上に配置して電
極間の静電容量を低減し、高速応答化をはかったもので
ある。
本発明は高速応答性を向上したPK型光変調器に関する
。
。
光通信システムや光情報処理システムの光源として半導
体レーザが用いられている。
体レーザが用いられている。
レーザ光の変調において、直接変調を行う場合高速にな
るとレーザの入力電流の波形通りの光出力波形が得られ
ず、光出力波形に緩和振動が存在するようになる。
るとレーザの入力電流の波形通りの光出力波形が得られ
ず、光出力波形に緩和振動が存在するようになる。
そこで、変温速度の上限がRC時定数によってのみ決定
されるFK型外部光変調器が有望視されている。
されるFK型外部光変調器が有望視されている。
第2図(1)、(2)は従来のPK型光変調器の断面図
である。
である。
第2図(1)は光軸方向の断面図、(2)はそれに垂直
な方向の断面図である。
な方向の断面図である。
光変調器の半導体層構造はっぎのように形成される。
図において、n−1nP基板1上に、光ガイド層として
GaInAsP N 2、光吸収層としてn−Galn
AsP層3、クラッド層としてn−1nP層4、キャッ
プ層としてn−GaInAsP層5を形成する。
GaInAsP N 2、光吸収層としてn−Galn
AsP層3、クラッド層としてn−1nP層4、キャッ
プ層としてn−GaInAsP層5を形成する。
つぎに、n−GalnAsP層5の表面よりn−Gal
nAsP層3に届くようにZn等を拡散してp型頭域6
を形成する。
nAsP層3に届くようにZn等を拡散してp型頭域6
を形成する。
以上の構造の半導体層構造のp型頭域6上にはn側電極
7を、基板裏面にはn側電極8を形成する。
7を、基板裏面にはn側電極8を形成する。
導波路は光ガイド層の厚さの差による実効的な屈折率差
を利用したリブガイド構造を用いて形成される。
を利用したリブガイド構造を用いて形成される。
以上の構造をもつFK型光変調器の変調はっぎのように
行われる。
行われる。
光は、例えば光ガイド層の左端より入射され、光ガイド
層の中を通って、右端より出射する。
層の中を通って、右端より出射する。
両電極間に逆バイアスが印加されるように、例えば変調
用電源PPG (パルスパターンゼネレータ)の負側を
n側電極7に、正側をn側電極に接続する。
用電源PPG (パルスパターンゼネレータ)の負側を
n側電極7に、正側をn側電極に接続する。
両電極間に逆バイアスが印加されている間は、p型頭域
6とn−GaInAsP層3間に形成されるpn接合に
逆バイアスがかかり、n−GalnAsP層3内に空乏
層が拡がり、ここに局部的に大きい電界(〜10S10
5V’)が印加されて、光が吸収され、出射光の強度は
減少する。この場合光強度を10dB以上落とすために
は変調用電源PPGの電圧は3〜4v必要である。
6とn−GaInAsP層3間に形成されるpn接合に
逆バイアスがかかり、n−GalnAsP層3内に空乏
層が拡がり、ここに局部的に大きい電界(〜10S10
5V’)が印加されて、光が吸収され、出射光の強度は
減少する。この場合光強度を10dB以上落とすために
は変調用電源PPGの電圧は3〜4v必要である。
従来のPK型光変調器は対向型の電極を採用しているた
め、電極間の静電容量が大きく、高速応答性がわるい。
め、電極間の静電容量が大きく、高速応答性がわるい。
上記問題点の解決は、一導電型基板上に順次形成された
光ガイド層、一導電型光吸収層、一導電型クラッド層を
含む半導体層構造と、 該半導体層構造の表面より該光吸収層に届くように形成
された他導電型領域上と、該半導体層構造の表面とに形
成された一対の電極を有する光変調器により達成される
。
光ガイド層、一導電型光吸収層、一導電型クラッド層を
含む半導体層構造と、 該半導体層構造の表面より該光吸収層に届くように形成
された他導電型領域上と、該半導体層構造の表面とに形
成された一対の電極を有する光変調器により達成される
。
前記他導電型領域を光軸方向に複数個形成し、前記一対
の電極を複数組形成して光の吸収効果を上げることがで
きる。
の電極を複数組形成して光の吸収効果を上げることがで
きる。
また、この場合は前記一対の電極を、櫛歯が交互に配列
された櫛歯状電極にすれば、個々の電極をボンディング
等で接続しなくてもウェハプロセスにおいて造りつける
ことができ、製造工程が容易である。
された櫛歯状電極にすれば、個々の電極をボンディング
等で接続しなくてもウェハプロセスにおいて造りつける
ことができ、製造工程が容易である。
本発明は半導体層構造の表面に形成された一対の電極間
に変調用パルスを印加できるようにして、電極間容量の
低減による高速化をねらったものである。
に変調用パルスを印加できるようにして、電極間容量の
低減による高速化をねらったものである。
第1図(1)〜(3)は本発明のPK型光変調器の断面
図と平面図である。
図と平面図である。
第1図(1)は光軸方向の断面図、(2)はそれに垂直
な方向の断面図、(3)は平面図である。
な方向の断面図、(3)は平面図である。
光変調器の半導体層構造はっぎのように形成される。
図において、5l−1nP基板1上に、光ガイド層とし
てGaInAsP層2、光吸収層としてn−GaInA
sP層3、クラッド層としてn−InPn連層キャップ
層としてn−Ga1nAsP @ 5を形成する。
てGaInAsP層2、光吸収層としてn−GaInA
sP層3、クラッド層としてn−InPn連層キャップ
層としてn−Ga1nAsP @ 5を形成する。
各層のキャリア濃度と厚さは、例えばっぎのようにする
。
。
図番 眉毛 物質名 キャリア濃度 厚さくcm
−”) (μm) 2 ガイド 層 GaInAsP (2〜5
)X 10” 0.3〜0.4(アンドープ) 3 吸収層 n−Ga1nAsP 2X10”
0.24 クラフト層 n−InP
2X10” 0.85 キヤツプ層 n
−GaInAsP lXl018 0.2つ
ぎに、n−にaInAsP層5の表面よりn−Galn
AsP層3に届くようにZn等を拡散してp型領域6を
形成する。
−”) (μm) 2 ガイド 層 GaInAsP (2〜5
)X 10” 0.3〜0.4(アンドープ) 3 吸収層 n−Ga1nAsP 2X10”
0.24 クラフト層 n−InP
2X10” 0.85 キヤツプ層 n
−GaInAsP lXl018 0.2つ
ぎに、n−にaInAsP層5の表面よりn−Galn
AsP層3に届くようにZn等を拡散してp型領域6を
形成する。
以上の構造の半導体層構造のp型領域6上にはp側電極
(Au/Zn/Au) 7を、n−GaInAsP層5
上にはn側電極(Au/AuGe) 8Aを形成する。
(Au/Zn/Au) 7を、n−GaInAsP層5
上にはn側電極(Au/AuGe) 8Aを形成する。
導波路は光ガイド層の厚さの差による実効的な屈折率差
を利用したリブガイド構造を用いて形成される。
を利用したリブガイド構造を用いて形成される。
以上の構造をもつFK型光変調器の変調動作は従来例の
場合と同様である。
場合と同様である。
変調速度は、PPGより光変調器まで接続した50Ωの
同軸ケーブルの抵抗Rと、光変調器の静電容量Cとの積
により決まり、従来例では5 Gbps(bit pe
r sec、)程度であったが、本発明では電極間容量
の低下により、10 Gbps以上で変調できることが
確認された。
同軸ケーブルの抵抗Rと、光変調器の静電容量Cとの積
により決まり、従来例では5 Gbps(bit pe
r sec、)程度であったが、本発明では電極間容量
の低下により、10 Gbps以上で変調できることが
確認された。
以上詳細に説明したように本発明によれば、光変調器の
電極容量を低減し、高速応答性を向上することができる
。
電極容量を低減し、高速応答性を向上することができる
。
第1図(1)〜(3)は本発明のFK型光変調器の断面
図と平面図、 第2図(1)、(2)は従来のFK型光変調器の断面図
である。 図において、 1は5l−InP基板、 2は光ガイド層でGaInAsP層、 3は光吸収層でn−GalnAsP層、4はクラッド層
でn−1nP II!、5はキヤ・ノブ層でn−GaI
nAsP層、6はp型領域、 7はn側電極7. 8.8Aはn側電極 本発明ハ箇面目 L手[有]口 Vll 図
図と平面図、 第2図(1)、(2)は従来のFK型光変調器の断面図
である。 図において、 1は5l−InP基板、 2は光ガイド層でGaInAsP層、 3は光吸収層でn−GalnAsP層、4はクラッド層
でn−1nP II!、5はキヤ・ノブ層でn−GaI
nAsP層、6はp型領域、 7はn側電極7. 8.8Aはn側電極 本発明ハ箇面目 L手[有]口 Vll 図
Claims (3)
- (1)一導電型基板上に順次形成された光ガイド層、一
導電型光吸収層、一導電型クラッド層を含む半導体層構
造と、 該半導体層構造の表面より該光吸収層に届くように形成
された他導電型領域上と、該半導体層構造の表面とに形
成された一対の電極を有することを特徴とする光変調器
。 - (2)前記他導電型領域が複数個形成され、前記一対の
電極が複数組よりなることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の光変調器。 - (3)前記一対の電極が、櫛歯が交互に配列された櫛歯
状電極であることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
載の光変調器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2282687A JPS63191123A (ja) | 1987-02-03 | 1987-02-03 | 光変調器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2282687A JPS63191123A (ja) | 1987-02-03 | 1987-02-03 | 光変調器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63191123A true JPS63191123A (ja) | 1988-08-08 |
Family
ID=12093496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2282687A Pending JPS63191123A (ja) | 1987-02-03 | 1987-02-03 | 光変調器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63191123A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02212804A (ja) * | 1989-02-14 | 1990-08-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光半導体素子及びその製造方法 |
-
1987
- 1987-02-03 JP JP2282687A patent/JPS63191123A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02212804A (ja) * | 1989-02-14 | 1990-08-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光半導体素子及びその製造方法 |
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