JPS6319713A - 透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法 - Google Patents
透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法Info
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Landscapes
- Chemically Coating (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、透明導電膜形成用組成物に係り、さらに詳し
くは、酸化インジウム−酸化錫複合膜(以下rlTOI
llJと記す、)からなるパターン化された透明導電膜
を、耐熱性基板上に形成するに適したペースト状の組成
物およびパターン化された透明導電膜の形成方法に関す
る。
くは、酸化インジウム−酸化錫複合膜(以下rlTOI
llJと記す、)からなるパターン化された透明導電膜
を、耐熱性基板上に形成するに適したペースト状の組成
物およびパターン化された透明導電膜の形成方法に関す
る。
本発明は、各種ディスプレイや太陽電池等用の透明電極
の製造に、好適に使用することができる。
の製造に、好適に使用することができる。
従来、各種ディスプレイや太陽電池等用の透明電極の製
造方法として、ガラス等の透明基板上に真空蒸着法、ス
パッタリング法、化学蒸着法、塗布焼成法等により形成
した透明導電膜を、エツチングしてパターン化する方法
が知られており、真空蒸着法やスパッタリング法で形成
した透明導電膜をエツチングする方法が、一般に実用化
されている。
造方法として、ガラス等の透明基板上に真空蒸着法、ス
パッタリング法、化学蒸着法、塗布焼成法等により形成
した透明導電膜を、エツチングしてパターン化する方法
が知られており、真空蒸着法やスパッタリング法で形成
した透明導電膜をエツチングする方法が、一般に実用化
されている。
近年、透明ill膜のエツチング工程を省略することを
目的として、ペースト状の透明導電膜形成用組成物をス
クリーン印刷法等により、ガラス基板等にパターン化し
て塗布し、焼成する方法が種々検討されている。たとえ
ば、有機インジウム錯体、有機錫錯体、粘結剤としての
ニトロセルロースおよび溶剤とからなるITO膜形成用
のペースト状組成物(特開昭57−27505号公報)
、硝酸インジウム誘導体、硝酸錫アルキル誘導体、セル
ロース誘導体および有機)容剤からなるITO膜形成用
のペースト状組成物およびこの組成物をスクリーン印刷
した後加熱下に紫外線を照射し、ついで、焼成、焼鈍す
るパターン化した透明導電膜の形成方法(特開昭57−
212268号公報)などが開示されている。
目的として、ペースト状の透明導電膜形成用組成物をス
クリーン印刷法等により、ガラス基板等にパターン化し
て塗布し、焼成する方法が種々検討されている。たとえ
ば、有機インジウム錯体、有機錫錯体、粘結剤としての
ニトロセルロースおよび溶剤とからなるITO膜形成用
のペースト状組成物(特開昭57−27505号公報)
、硝酸インジウム誘導体、硝酸錫アルキル誘導体、セル
ロース誘導体および有機)容剤からなるITO膜形成用
のペースト状組成物およびこの組成物をスクリーン印刷
した後加熱下に紫外線を照射し、ついで、焼成、焼鈍す
るパターン化した透明導電膜の形成方法(特開昭57−
212268号公報)などが開示されている。
透明電極の製造方法として、前記した一般に実用化され
ている方法においては、透明導電膜の形成に高真空装置
を使用するため生産性が低く、さらに、透明導電膜をパ
ターン化するためのエノチング工程を必要とする。した
がって、得られる製品は極めて高価である。
ている方法においては、透明導電膜の形成に高真空装置
を使用するため生産性が低く、さらに、透明導電膜をパ
ターン化するためのエノチング工程を必要とする。した
がって、得られる製品は極めて高価である。
一方、前記ペースト状組成物を用い、スクリーン印刷等
によりパターン化した透明導電膜を形成し、透明電極と
する方法においては、いづれもシート抵抗値が1〜2に
Ω/ s q程度のパターン化されたITO膜を形成す
ることができるが、これらは基板との密着性が不十分で
あり、また、LCDの透明電極用としてはシート抵抗値
が高い。
によりパターン化した透明導電膜を形成し、透明電極と
する方法においては、いづれもシート抵抗値が1〜2に
Ω/ s q程度のパターン化されたITO膜を形成す
ることができるが、これらは基板との密着性が不十分で
あり、また、LCDの透明電極用としてはシート抵抗値
が高い。
本発明は、シート抵抗値の低い、かつ、基板との密着性
に優れたパターン化されたITO膜を形成するに適した
、安定な透明導電膜形成用ペースト状組成物およびパタ
ーン化されたIToMの形成方法を提供することを、そ
の目的とする。
に優れたパターン化されたITO膜を形成するに適した
、安定な透明導電膜形成用ペースト状組成物およびパタ
ーン化されたIToMの形成方法を提供することを、そ
の目的とする。
C問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、前記目的を達成すべく鋭意研究した結果
、インジウム化合物と錫化合物とをITO膜形成の主剤
とするペースト組成として、芳香族ニトロ化合物とセル
ロース誘導体とを添加した組成物を、スクリーン印刷に
より耐熱性基板に塗布した後、前加熱処理および本焼成
を行って形成したlTa1lが、基板との密着性に優れ
、かつ、シート抵抗値が低いことを見出し、本発明を完
成した。
、インジウム化合物と錫化合物とをITO膜形成の主剤
とするペースト組成として、芳香族ニトロ化合物とセル
ロース誘導体とを添加した組成物を、スクリーン印刷に
より耐熱性基板に塗布した後、前加熱処理および本焼成
を行って形成したlTa1lが、基板との密着性に優れ
、かつ、シート抵抗値が低いことを見出し、本発明を完
成した。
本発明は、有機インジウム化合物、錫化合物、セルロー
ス誘導体および芳香族ニトロ化合物を含有することを特
徴とする透明i!膜形成用ペースト状組成物および耐熱
性基板上に、前記ペースト状組成物をスクリーン印刷し
150〜350℃の温度で前加熱処理した後、酸化性雰
囲気中において、450℃以上の温度で焼成することを
特徴とする透明導電膜CITO膜)の形成方法である。
ス誘導体および芳香族ニトロ化合物を含有することを特
徴とする透明i!膜形成用ペースト状組成物および耐熱
性基板上に、前記ペースト状組成物をスクリーン印刷し
150〜350℃の温度で前加熱処理した後、酸化性雰
囲気中において、450℃以上の温度で焼成することを
特徴とする透明導電膜CITO膜)の形成方法である。
本発明において、有機インジウム化合物および錫化合物
は、焼成により透明な酸化インジウム−酸化錫複合膜C
ITO膜)を形成するための主剤である。
は、焼成により透明な酸化インジウム−酸化錫複合膜C
ITO膜)を形成するための主剤である。
有機インジウム化合物として、熱分解により酸化インジ
ウムを生成する有機溶剤溶解性の化合物が使用できる。
ウムを生成する有機溶剤溶解性の化合物が使用できる。
特に、下記一般式(1)%式%(1)
で表され、式中のXが、アセチルアセトン、ベンゾイル
アセトン、ベンゾイルトリフルオルアセトン、ジベンゾ
イルメタン、フロイルアセトン、トリフルオルアセトン
等のβ−ジケトン類の残基および/またはアセト酢酸メ
チル、アセト酢酸エチル、マロン酸ジエステル等のβ−
ケトエステル類の残基、Yが、ハロゲン原子、水酸基、
メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、i−プロ
ポキシ基、n−ブトキシ基、t−ブトキシ基等炭素数が
1〜18のアルコキシ基、ホルミル基、アセチル基、プ
ロピオニル基、ブチリル基、バレイル基、ステアロイル
基、ベンソイル基等炭素数が1〜18のアシル基および
硝酸エステル残基よりなる群から選ばれた少なくとも1
種の置換基であり、かつ、a#Oである有機インジウム
化合物が、熱分解性および有機溶剤への溶解性に優れる
ので好ましく使用される。さらに好ましくは、さらに熱
分解性および塗膜形成性に優れた前記一般式(11中の
Yが、水a基、アルコキシ基および/またはアシル基で
ある有機インジウム化合物1モルと硝酸0.3〜3.0
モルとの反応生成物を使用する。
アセトン、ベンゾイルトリフルオルアセトン、ジベンゾ
イルメタン、フロイルアセトン、トリフルオルアセトン
等のβ−ジケトン類の残基および/またはアセト酢酸メ
チル、アセト酢酸エチル、マロン酸ジエステル等のβ−
ケトエステル類の残基、Yが、ハロゲン原子、水酸基、
メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、i−プロ
ポキシ基、n−ブトキシ基、t−ブトキシ基等炭素数が
1〜18のアルコキシ基、ホルミル基、アセチル基、プ
ロピオニル基、ブチリル基、バレイル基、ステアロイル
基、ベンソイル基等炭素数が1〜18のアシル基および
硝酸エステル残基よりなる群から選ばれた少なくとも1
種の置換基であり、かつ、a#Oである有機インジウム
化合物が、熱分解性および有機溶剤への溶解性に優れる
ので好ましく使用される。さらに好ましくは、さらに熱
分解性および塗膜形成性に優れた前記一般式(11中の
Yが、水a基、アルコキシ基および/またはアシル基で
ある有機インジウム化合物1モルと硝酸0.3〜3.0
モルとの反応生成物を使用する。
一方、錫化合物は、酸化インジウムの薄膜に導電性を付
与するための酸化錫をドープする成分である。錫化合物
として、熱分解により酸化錫を生成する有機溶剤熔解性
の2価または4価の錫化合物が使用される。たとえば、
塩化第1錫、塩化第2錫、臭化第1錫、臭化第2錫、沃
化第1錫、沃化第2s+A等のハロゲン化錫類、硝酸錫
等の無機錫塩類、ジプロピル錫、テトラプロピル錫等の
アルキル錫類、酢酸錫、安息香酸錫、ジブチル錫ラウレ
ート、オクテン酸錫等の錫有機酸塩類、ジーまたはテト
ラ−エトキシ錫1 ジーまたはテトラ−プロポキシ錫、
ジーまたはテトラ−ブトキシ錫等の錫アルコキシド類、
錫アルコキシド類とβ−ジケトン類またはβ−ケトエス
テル類とのキレート錯体または部分キレート錯体類等が
使用できる。好ましくは、無機錫塩類、錫有機酸塩類お
よび(部分)キレート錯体類を使用する。
与するための酸化錫をドープする成分である。錫化合物
として、熱分解により酸化錫を生成する有機溶剤熔解性
の2価または4価の錫化合物が使用される。たとえば、
塩化第1錫、塩化第2錫、臭化第1錫、臭化第2錫、沃
化第1錫、沃化第2s+A等のハロゲン化錫類、硝酸錫
等の無機錫塩類、ジプロピル錫、テトラプロピル錫等の
アルキル錫類、酢酸錫、安息香酸錫、ジブチル錫ラウレ
ート、オクテン酸錫等の錫有機酸塩類、ジーまたはテト
ラ−エトキシ錫1 ジーまたはテトラ−プロポキシ錫、
ジーまたはテトラ−ブトキシ錫等の錫アルコキシド類、
錫アルコキシド類とβ−ジケトン類またはβ−ケトエス
テル類とのキレート錯体または部分キレート錯体類等が
使用できる。好ましくは、無機錫塩類、錫有機酸塩類お
よび(部分)キレート錯体類を使用する。
インジウム化合物と錫化合物との組成比(重量基準)は
、それぞれを酸化物に換算して0.01≦5nO1/
(SnOz+IntO1)≦0.5、好ましくは、0.
02≦Snow/ (SnOz+InJx)≦0.3の
範囲である。
、それぞれを酸化物に換算して0.01≦5nO1/
(SnOz+IntO1)≦0.5、好ましくは、0.
02≦Snow/ (SnOz+InJx)≦0.3の
範囲である。
セルロース誘導体は、前記インジウム化合物と錫化合物
とをITO膜形成の主剤とする組成物に、チクソ性を付
与しペースト化するたの増粘剤として使用される。セル
ロース誘導体として、たとえば、メチルセルロース、エ
チルセルロース、アセチルセルロース、アセチルブチル
セルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシ
プロピルセルロース、ベンジルセルロース、ニトロセル
ロースなどが使用される。特に、ヒドロキシプロピルセ
ルロース、エチルセルロース、アセチルブチルセルロー
ス、ニトロセルロースおよびそレラの混合物は、少量の
使用で組成物をペースト化するためのチクソ性の付与効
果が大きいので好ましく使用される。
とをITO膜形成の主剤とする組成物に、チクソ性を付
与しペースト化するたの増粘剤として使用される。セル
ロース誘導体として、たとえば、メチルセルロース、エ
チルセルロース、アセチルセルロース、アセチルブチル
セルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシ
プロピルセルロース、ベンジルセルロース、ニトロセル
ロースなどが使用される。特に、ヒドロキシプロピルセ
ルロース、エチルセルロース、アセチルブチルセルロー
ス、ニトロセルロースおよびそレラの混合物は、少量の
使用で組成物をペースト化するためのチクソ性の付与効
果が大きいので好ましく使用される。
芳香族ニトロ化合物は、前記各成分の燃焼、熱分解を補
助、促進する成分である。芳香族ニトロ化合物として、
ニトロベンゼン、ジニトロベンゼン、トリニトロベンゼ
ン、ニトロトルエン、ジニトロトルエン、トリニトロト
ルエン、ニトロ−1−’7タレン、ピクリン酸、ニトロ
アニソール、ピクリン酸エチル、トリニトロジフェニル
エーテル、ピクリン酸ベンジル、酢酸ピクリル等のピク
リン酸誘導体などが使用でき、比較的に安定で取り扱い
の容易なピクリン酸が好ましく使用される。
助、促進する成分である。芳香族ニトロ化合物として、
ニトロベンゼン、ジニトロベンゼン、トリニトロベンゼ
ン、ニトロトルエン、ジニトロトルエン、トリニトロト
ルエン、ニトロ−1−’7タレン、ピクリン酸、ニトロ
アニソール、ピクリン酸エチル、トリニトロジフェニル
エーテル、ピクリン酸ベンジル、酢酸ピクリル等のピク
リン酸誘導体などが使用でき、比較的に安定で取り扱い
の容易なピクリン酸が好ましく使用される。
本発明の組成物は、有機1容剤100重量部に対し、金
属酸化物に換算したインジウム化合物と錫化合物との合
計0.5〜15重量部、セルロース誘導体5〜50重量
部およびセルロース誘導体1゜0重量部に対し、芳香族
ニトロ化合物5〜100重量部を配合し、混合したチク
ソ性を存するペースト状組成物である。
属酸化物に換算したインジウム化合物と錫化合物との合
計0.5〜15重量部、セルロース誘導体5〜50重量
部およびセルロース誘導体1゜0重量部に対し、芳香族
ニトロ化合物5〜100重量部を配合し、混合したチク
ソ性を存するペースト状組成物である。
を機溶剤として、沸点が100℃以上、好ましくは15
0℃以上の有機溶剤が使用される。たとえば、ブタノー
ル、オクタツール、ラウリルアルコール、2−エチルヘ
キシルアルコール、ベンジルアルコール、シクロヘキサ
ノール、α−テルピネオール等のアルコール類、エチル
セロソルブ。
0℃以上の有機溶剤が使用される。たとえば、ブタノー
ル、オクタツール、ラウリルアルコール、2−エチルヘ
キシルアルコール、ベンジルアルコール、シクロヘキサ
ノール、α−テルピネオール等のアルコール類、エチル
セロソルブ。
ブチルセロソルブ等のセロソルブ類、エチルカル、
ビトール、メチルカルピトール、ブチルカルピトール等
のカルピトール類、エチレングリコール。
ビトール、メチルカルピトール、ブチルカルピトール等
のカルピトール類、エチレングリコール。
プロピレングリコール、ジエチレングリコール等のグリ
コール類、アセト酢酸エチル、酢酸ベンジル、安息香酸
メチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジブチル、エチル
セロソルブアセテート等のエステル類などの1種の単独
溶剤または2種以上の混合溶剤が使用される。
コール類、アセト酢酸エチル、酢酸ベンジル、安息香酸
メチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジブチル、エチル
セロソルブアセテート等のエステル類などの1種の単独
溶剤または2種以上の混合溶剤が使用される。
インジウム化合物および錫化合物の合計の配合量が過少
な場合、形成されるITO膜の膜厚が薄くなり、また、
過大な場合、形成されるITOIIQに白濁や、クラッ
ク等の薄膜欠陥が生じ易くなる。
な場合、形成されるITO膜の膜厚が薄くなり、また、
過大な場合、形成されるITOIIQに白濁や、クラッ
ク等の薄膜欠陥が生じ易くなる。
セルロース誘導体の配合量が過少な場合、チクソ性の付
与効果が十分でなく、組成物の印刷解像性が低下し形成
されるITO膜にニジミや断線を生じ易くなる。また、
過大な場合には、組成物の粘度が大きくなり、スクリー
ン印刷の作業性が低下する。
与効果が十分でなく、組成物の印刷解像性が低下し形成
されるITO膜にニジミや断線を生じ易くなる。また、
過大な場合には、組成物の粘度が大きくなり、スクリー
ン印刷の作業性が低下する。
芳香族ニトロ化合物のセルロース誘導体に対する配合型
は、使用する他の成分の種類、配合型等による熱分解性
に影響されるが、過少な場合、組成物の燃焼、分解の促
進効果が不十分となり、形成されるITO膜の基板への
密着性が低下し、また、ITO膜のシート抵抗が高くな
る。また、過剰に配合しても組成物の燃焼、分解の促進
効果の増加は期待できない。好ましい芳香族ニトロ化合
物の配合量は、セルロース誘導体100重量部に対し、
10〜30重量部である。
は、使用する他の成分の種類、配合型等による熱分解性
に影響されるが、過少な場合、組成物の燃焼、分解の促
進効果が不十分となり、形成されるITO膜の基板への
密着性が低下し、また、ITO膜のシート抵抗が高くな
る。また、過剰に配合しても組成物の燃焼、分解の促進
効果の増加は期待できない。好ましい芳香族ニトロ化合
物の配合量は、セルロース誘導体100重量部に対し、
10〜30重量部である。
本発明において、前記組成物をスクリーン印刷により、
耐熱性基板上にパターン化して印刷し、150〜350
℃の温度に5〜30分間保持して前加熱処理を行った後
、酸化性雰囲気下、好ましくは酸化性ガスの送気下に4
50℃以上、好ましくは500〜600℃の温度に10
〜60分間保持して本焼成を行うことにより、パターン
化された透明導電膜(ITO膜)を耐熱性基板上に形成
することができる。
耐熱性基板上にパターン化して印刷し、150〜350
℃の温度に5〜30分間保持して前加熱処理を行った後
、酸化性雰囲気下、好ましくは酸化性ガスの送気下に4
50℃以上、好ましくは500〜600℃の温度に10
〜60分間保持して本焼成を行うことにより、パターン
化された透明導電膜(ITO膜)を耐熱性基板上に形成
することができる。
本焼成に引き続いて、不活性ガスおよび/または還元性
ガス雰囲気下において、300〜600℃の温度に10
〜60分間保持する後加熱処理を施すことにより、さら
に形成されたITO膜のシート抵抗を低下させることが
できる。
ガス雰囲気下において、300〜600℃の温度に10
〜60分間保持する後加熱処理を施すことにより、さら
に形成されたITO膜のシート抵抗を低下させることが
できる。
耐熱性性基板として、本焼成温度において、割れや変形
を生じない、たとえば、各種ガラス、マイカ、セラミッ
クス等が使用できる。特に透明電(覆には、基板の透明
性も要求されるので各種ガラス恭仮が使用され、さらに
好ましくは、Naブロック用の5i(h、 Ti0z、
Zr0z、 Al2O3等およびそれらの複合膜をプ
レコートしたソーダライムガラス基板が使用される。
を生じない、たとえば、各種ガラス、マイカ、セラミッ
クス等が使用できる。特に透明電(覆には、基板の透明
性も要求されるので各種ガラス恭仮が使用され、さらに
好ましくは、Naブロック用の5i(h、 Ti0z、
Zr0z、 Al2O3等およびそれらの複合膜をプ
レコートしたソーダライムガラス基板が使用される。
〔作 用〕
本発明は、前記したように、組成物をペースト化するた
めのセルロース誘導体と、燃焼、分解の促進剤としての
芳香族ニトロ化合物を併用したことを特徴とするパター
ン化されたITO膜を印刷法により形成するに適したペ
ースト状の組成物およびこの組成物を使用するパターン
化されたITO膜の形成方法である。
めのセルロース誘導体と、燃焼、分解の促進剤としての
芳香族ニトロ化合物を併用したことを特徴とするパター
ン化されたITO膜を印刷法により形成するに適したペ
ースト状の組成物およびこの組成物を使用するパターン
化されたITO膜の形成方法である。
セルロース誘導体は、スクリーン印刷用ペースト状組成
物の印刷性に要求されるチクソ性を、少量の使用で付与
することができ、印刷解像性の優れた組成物とすること
ができる。また、併用される芳香族ニトロ化合物は、組
成物の熱分解性を助長促進する。
物の印刷性に要求されるチクソ性を、少量の使用で付与
することができ、印刷解像性の優れた組成物とすること
ができる。また、併用される芳香族ニトロ化合物は、組
成物の熱分解性を助長促進する。
また、本発明の前加熱処理−本焼成の2段加熱分解、所
望により追加される後加熱処理を加えた3段加熱分解に
よるITO膜の形成方法においては、前加熱処理におい
て、溶剤が蒸発し、また、低分子量の成分が熱分解した
ピンホール等の薄膜欠陥の少ないgillが形成され、
本焼成により残余成分が熱分解し、酸化インジウム−酸
化錫の複合膜が形成され、さらに結晶化する。また、後
加熱処理は、不活性ガスおよび/または還元性ガス雰囲
気下で行われるため、形成されたIT○膜中の酸素空孔
が増加し、ITO膜のシート抵抗値が低下する。
望により追加される後加熱処理を加えた3段加熱分解に
よるITO膜の形成方法においては、前加熱処理におい
て、溶剤が蒸発し、また、低分子量の成分が熱分解した
ピンホール等の薄膜欠陥の少ないgillが形成され、
本焼成により残余成分が熱分解し、酸化インジウム−酸
化錫の複合膜が形成され、さらに結晶化する。また、後
加熱処理は、不活性ガスおよび/または還元性ガス雰囲
気下で行われるため、形成されたIT○膜中の酸素空孔
が増加し、ITO膜のシート抵抗値が低下する。
本発明においては、前記組成物の作用とITO膜形成方
法の作用とが相乗的に作用し、シート抵抗が低く、かつ
、基板への密着性の優れたパターン化されたITO膜が
、耐熱性基板上に形成される。
法の作用とが相乗的に作用し、シート抵抗が低く、かつ
、基板への密着性の優れたパターン化されたITO膜が
、耐熱性基板上に形成される。
本発明を、実施例および比較例により、さらに詳細に説
明する。
明する。
ただし、本発明の範囲は、下記実施例により何等限定さ
れるものではない。
れるものではない。
なお、以下の実施例および比較例中において、「部」お
よび「%」は、断りのない限り重量基準である。
よび「%」は、断りのない限り重量基準である。
fll 透明導電膜形成用ペースト組成物の調製fa
+ 試料(A−1)〜(A−4)および比較試料(C
A−1) ブチルカルピトール/ベンジルアルコールの重量比が1
/1の混合溶剤30部をフラスコに仕込み、インジウム
トリス(アセチルアセトナト)5.0部を加え100〜
120℃に加温して攪拌溶解し、均一な溶液を得た。
+ 試料(A−1)〜(A−4)および比較試料(C
A−1) ブチルカルピトール/ベンジルアルコールの重量比が1
/1の混合溶剤30部をフラスコに仕込み、インジウム
トリス(アセチルアセトナト)5.0部を加え100〜
120℃に加温して攪拌溶解し、均一な溶液を得た。
前記と同一組成の混合溶剤52部にヒドロキシプロピル
セルロース(商品名・HP C−)1・日本曹達■製)
8.4部を室温下に徐々に加え、約6時間撹拌保持して
均一に溶解した後、ヒドロキシプロピルセルロース10
0部に対して45.2部に相当するピクリン酸3.8部
を加えて溶解した。
セルロース(商品名・HP C−)1・日本曹達■製)
8.4部を室温下に徐々に加え、約6時間撹拌保持して
均一に溶解した後、ヒドロキシプロピルセルロース10
0部に対して45.2部に相当するピクリン酸3.8部
を加えて溶解した。
得られたヒドロキシプロピルセルロースとピクリン酸と
の混合9g ?&に、先に調製したインジウムトリス(
アセチルアセトナト))容7佼を徐々に力■えて均一に
混合した後、ジブチル錫ジラウレート1゜0部を加えて
ペースト状組成物・試料(A−1)を調製した。
の混合9g ?&に、先に調製したインジウムトリス(
アセチルアセトナト))容7佼を徐々に力■えて均一に
混合した後、ジブチル錫ジラウレート1゜0部を加えて
ペースト状組成物・試料(A−1)を調製した。
また、ピクリン酸のヒドロキシプロピルセルロース10
0部に対する添加量を5部、20部および100部に変
えたペースト状組成物・試料(A−1)〜(A−4)を
調製した。
0部に対する添加量を5部、20部および100部に変
えたペースト状組成物・試料(A−1)〜(A−4)を
調製した。
さらに、比較のためにピクリン酸の添加を省略したペー
スト状組成物・比較試料(CA−1)を調製した。
スト状組成物・比較試料(CA−1)を調製した。
(bl 試料(A−5)〜(A−7)試料(A−1)
の調製において、ピクリン酸に代えて、p−ジニトロベ
ンゼン1.68部、1,3.5−トリニトロベンゼン1
.68部およびピクリン酸エチル1.68部のそれぞれ
を添加し、ペースト状組成物・試料(A−5)〜(A−
7)を調製した。
の調製において、ピクリン酸に代えて、p−ジニトロベ
ンゼン1.68部、1,3.5−トリニトロベンゼン1
.68部およびピクリン酸エチル1.68部のそれぞれ
を添加し、ペースト状組成物・試料(A−5)〜(A−
7)を調製した。
fcl 試料(A−8)および比較試料(CA−1)
ブチルセロソルブ/ブチルカルピトール/酢酸ベンジル
の重量比が、2/1/1の混合溶剤122部に、インジ
ウムトリス(7セチルアセトナト)7.44部および濃
硝酸2.40部を添加し、60℃に30分間攪拌保持し
た後、冷却してチンビスメチルアセテート0.51部を
添加し均一に溶解した。
ブチルセロソルブ/ブチルカルピトール/酢酸ベンジル
の重量比が、2/1/1の混合溶剤122部に、インジ
ウムトリス(7セチルアセトナト)7.44部および濃
硝酸2.40部を添加し、60℃に30分間攪拌保持し
た後、冷却してチンビスメチルアセテート0.51部を
添加し均一に溶解した。
ついで、ヒドロキシプロピルセルロース(商品名・HP
C−M・日本曹達■M) 12.0部とアセチルブチ
ルセルロース9.3部とを、前記調製した溶液に徐々に
添加して均一に溶解した後、酢酸とクリル3.3部を添
加混合しペースト状組成物・試料(A−8)を調製した
。
C−M・日本曹達■M) 12.0部とアセチルブチ
ルセルロース9.3部とを、前記調製した溶液に徐々に
添加して均一に溶解した後、酢酸とクリル3.3部を添
加混合しペースト状組成物・試料(A−8)を調製した
。
また、比較試料として、酢酸ピクリルの添加を省略した
(CA−1)を調製した。
(CA−1)を調製した。
+d+ 試料(A−9)
ブチルカルピトール/ブチルセロソルブ/酢酸 ゛ベ
ンジルの重量比が、2/1/1の混合溶剤100部に、
硝酸インジウム1モルと乳酸1モルとを反応させて合成
したインジウム・ニトリル・ラクテート3.3部および
テトラブトキシ錫1モルと乳酸2モルとを反応させて合
成したチンブトキシラクテート1.8部を添加し、均一
に溶解した。ついで、ヒドロキシプロピルセルロース・
RPC−H(前出)6部とHPC−M (前出)14部
との混合物を、前記鋼製した溶液に添力uし、十分攪拌
混合して均一に溶解した後、ピクリン酸5部を添加混合
しペースト状組成物・試料(A−9)を調製した。
ンジルの重量比が、2/1/1の混合溶剤100部に、
硝酸インジウム1モルと乳酸1モルとを反応させて合成
したインジウム・ニトリル・ラクテート3.3部および
テトラブトキシ錫1モルと乳酸2モルとを反応させて合
成したチンブトキシラクテート1.8部を添加し、均一
に溶解した。ついで、ヒドロキシプロピルセルロース・
RPC−H(前出)6部とHPC−M (前出)14部
との混合物を、前記鋼製した溶液に添力uし、十分攪拌
混合して均一に溶解した後、ピクリン酸5部を添加混合
しペースト状組成物・試料(A−9)を調製した。
以上調製した試料(A−1)〜(A−9)および比較試
料(CA−1)ならびに(CA−1)の組成を第1表に
示す。
料(CA−1)ならびに(CA−1)の組成を第1表に
示す。
(1)透明導電膜(ITO膜)の形成
ソーダライムガラス基板上に、前記f11項で調製した
透明導電膜(ITO膜)形成用ペースト状組成物試料(
A−1)の線幅25Qum、乳r¥20μmのパターン
を、300メソシユのステンレス製スクリーンを用いて
印刷し、150℃×15分の条件で前加熱処理を施した
後、マツフル炉を使用し、空気雰囲気下において550
℃×30分の条件で本焼成した0本焼成後、室温まで自
然冷却して、当該基板上にパターン化された透明導電膜
CITO膜)を得た。
透明導電膜(ITO膜)形成用ペースト状組成物試料(
A−1)の線幅25Qum、乳r¥20μmのパターン
を、300メソシユのステンレス製スクリーンを用いて
印刷し、150℃×15分の条件で前加熱処理を施した
後、マツフル炉を使用し、空気雰囲気下において550
℃×30分の条件で本焼成した0本焼成後、室温まで自
然冷却して、当該基板上にパターン化された透明導電膜
CITO膜)を得た。
得られたrTo膜は、膜厚1200人、室温に1日放置
後のシート抵抗値R,Q1.OKΩ/sqの断線やにじ
みのない膜であり、セロテープ剥離試験結果は良好な密
着性を示した。
後のシート抵抗値R,Q1.OKΩ/sqの断線やにじ
みのない膜であり、セロテープ剥離試験結果は良好な密
着性を示した。
また、得られたITO膜を形成した基板を、窒素ガス雰
囲気中において350℃×30分の条件で後加熱処理し
た結果、シート抵抗値R□は0.5にΩ/sqまで低下
した。
囲気中において350℃×30分の条件で後加熱処理し
た結果、シート抵抗値R□は0.5にΩ/sqまで低下
した。
以下、ソーダライムガラス基板、5iOz被覆ソーダラ
イムガラス基板および5i(h/ZrO冨=60/40
(重量比)の複合膜被覆ソーダライムガラス基板のそれ
ぞれに、透明導電膜(ITO膜)形成用ペースト状組成
物試料(A−1)〜(A−9>および比較試料(CA−
1)ならびに(CA−1)のそれぞれのパターンを、3
00メツシユのステンレス製スクリーンを用いて印刷し
、マツフル炉または加熱冷却パターンを調整可能なイメ
ージ炉を使用して前加熱処理−本焼成−後加熱処理一冷
却の各処理を施し、当該基板上にパターン化された透明
導電IQCITO膜)を形成した。
イムガラス基板および5i(h/ZrO冨=60/40
(重量比)の複合膜被覆ソーダライムガラス基板のそれ
ぞれに、透明導電膜(ITO膜)形成用ペースト状組成
物試料(A−1)〜(A−9>および比較試料(CA−
1)ならびに(CA−1)のそれぞれのパターンを、3
00メツシユのステンレス製スクリーンを用いて印刷し
、マツフル炉または加熱冷却パターンを調整可能なイメ
ージ炉を使用して前加熱処理−本焼成−後加熱処理一冷
却の各処理を施し、当該基板上にパターン化された透明
導電IQCITO膜)を形成した。
前加熱処理条件、本焼成処理条件、後加熱処理条件およ
び形成されたITO膜の特性等を第2表に示す。
び形成されたITO膜の特性等を第2表に示す。
第2表中において、密着性、表面硬度および耐アルカリ
性は、下記の基準で表示した。
性は、下記の基準で表示した。
密着性:セロテープ剥離試験において剥離を生じなかっ
たものを良好°とした。
たものを良好°とした。
表面硬度二表面を消しゴムを用いて20回摩擦し、変化
のなかったものをOl一部変 化したものを△、薄膜の消失したもの を×で表示した。
のなかったものをOl一部変 化したものを△、薄膜の消失したもの を×で表示した。
耐アルカリ性=60℃の5%水酸化ナトリウム水溶液に
浸漬し、薄膜が溶解するまで の時間(分)を測定し、表示した。
浸漬し、薄膜が溶解するまで の時間(分)を測定し、表示した。
本発明において(よ、前記実施例に示したように芳香族
ニトロ化合物を含有していない比較試料(CA−1)ま
たは(CA−1)の組成物を使用した系に比較して、シ
ート抵抗値の低いパターン化された透明導電膜(ITO
膜)が得られる。特に、後方u’Q処理を施した系にお
いては、シート抵抗値R0が0.38 KΩ/sq、0
.10にΩ/ s qに達する低シーHff抗の、すな
わち、高導電性のIT0119が得られる。また、これ
らはいづれも基板への密着性が優れている。
ニトロ化合物を含有していない比較試料(CA−1)ま
たは(CA−1)の組成物を使用した系に比較して、シ
ート抵抗値の低いパターン化された透明導電膜(ITO
膜)が得られる。特に、後方u’Q処理を施した系にお
いては、シート抵抗値R0が0.38 KΩ/sq、0
.10にΩ/ s qに達する低シーHff抗の、すな
わち、高導電性のIT0119が得られる。また、これ
らはいづれも基板への密着性が優れている。
本発明は、基板への密着性に優れた、シート抵抗値の低
いパターン化された透明導電膜(ITO膜)が得られる
透明導電膜形成用ペースト状組成物およびこの組成物を
使用する透明導電膜の形成方法を提供するものであり、
その産業的意義は極めて大きい。
いパターン化された透明導電膜(ITO膜)が得られる
透明導電膜形成用ペースト状組成物およびこの組成物を
使用する透明導電膜の形成方法を提供するものであり、
その産業的意義は極めて大きい。
Claims (1)
- (1)有機インジウム化合物、錫化合物、セルロース誘
導体および芳香族ニトロ化合物を含有することを特徴と
する透明導電膜形成用ペースト状組成物(1)耐熱性基
板上に、有機インジウム化合物、錫化合物、セルロース
誘導体および芳香族ニトロ化合物を含有するペースト状
組成物をスクリーン印刷し、150〜350℃の温度で
前加熱処理した後、酸化性雰囲気中において、450℃
以上の温度で焼成することを特徴とするパターン化され
た透明導電膜の形成方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16192786A JPH07118230B2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16192786A JPH07118230B2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6319713A true JPS6319713A (ja) | 1988-01-27 |
| JPH07118230B2 JPH07118230B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=15744680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16192786A Expired - Lifetime JPH07118230B2 (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | 透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07118230B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01133961A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Catalysts & Chem Ind Co Ltd | 透明酸化物薄膜被着ガラスの製造方法 |
| JPH02192616A (ja) * | 1988-04-07 | 1990-07-30 | Kawaguchiko Seimitsu Kk | 透明導電膜用インキ組成物 |
| JP2001002954A (ja) * | 1999-06-16 | 2001-01-09 | Asahi Denka Kogyo Kk | 透明導電膜形成用塗布液および透明導電膜の形成方法 |
| JP2005125305A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-05-19 | Mitsuboshi Belting Ltd | 透明導電膜形成用処理剤および透明導電膜形成方法 |
-
1986
- 1986-07-11 JP JP16192786A patent/JPH07118230B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01133961A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Catalysts & Chem Ind Co Ltd | 透明酸化物薄膜被着ガラスの製造方法 |
| JPH02192616A (ja) * | 1988-04-07 | 1990-07-30 | Kawaguchiko Seimitsu Kk | 透明導電膜用インキ組成物 |
| JP2001002954A (ja) * | 1999-06-16 | 2001-01-09 | Asahi Denka Kogyo Kk | 透明導電膜形成用塗布液および透明導電膜の形成方法 |
| JP2005125305A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-05-19 | Mitsuboshi Belting Ltd | 透明導電膜形成用処理剤および透明導電膜形成方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07118230B2 (ja) | 1995-12-18 |
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