JPS6319713A - 透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法 - Google Patents

透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法

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JPS6319713A
JPS6319713A JP16192786A JP16192786A JPS6319713A JP S6319713 A JPS6319713 A JP S6319713A JP 16192786 A JP16192786 A JP 16192786A JP 16192786 A JP16192786 A JP 16192786A JP S6319713 A JPS6319713 A JP S6319713A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、透明導電膜形成用組成物に係り、さらに詳し
くは、酸化インジウム−酸化錫複合膜(以下rlTOI
llJと記す、)からなるパターン化された透明導電膜
を、耐熱性基板上に形成するに適したペースト状の組成
物およびパターン化された透明導電膜の形成方法に関す
る。
本発明は、各種ディスプレイや太陽電池等用の透明電極
の製造に、好適に使用することができる。
〔従来の技術〕
従来、各種ディスプレイや太陽電池等用の透明電極の製
造方法として、ガラス等の透明基板上に真空蒸着法、ス
パッタリング法、化学蒸着法、塗布焼成法等により形成
した透明導電膜を、エツチングしてパターン化する方法
が知られており、真空蒸着法やスパッタリング法で形成
した透明導電膜をエツチングする方法が、一般に実用化
されている。
近年、透明ill膜のエツチング工程を省略することを
目的として、ペースト状の透明導電膜形成用組成物をス
クリーン印刷法等により、ガラス基板等にパターン化し
て塗布し、焼成する方法が種々検討されている。たとえ
ば、有機インジウム錯体、有機錫錯体、粘結剤としての
ニトロセルロースおよび溶剤とからなるITO膜形成用
のペースト状組成物(特開昭57−27505号公報)
、硝酸インジウム誘導体、硝酸錫アルキル誘導体、セル
ロース誘導体および有機)容剤からなるITO膜形成用
のペースト状組成物およびこの組成物をスクリーン印刷
した後加熱下に紫外線を照射し、ついで、焼成、焼鈍す
るパターン化した透明導電膜の形成方法(特開昭57−
212268号公報)などが開示されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
透明電極の製造方法として、前記した一般に実用化され
ている方法においては、透明導電膜の形成に高真空装置
を使用するため生産性が低く、さらに、透明導電膜をパ
ターン化するためのエノチング工程を必要とする。した
がって、得られる製品は極めて高価である。
一方、前記ペースト状組成物を用い、スクリーン印刷等
によりパターン化した透明導電膜を形成し、透明電極と
する方法においては、いづれもシート抵抗値が1〜2に
Ω/ s q程度のパターン化されたITO膜を形成す
ることができるが、これらは基板との密着性が不十分で
あり、また、LCDの透明電極用としてはシート抵抗値
が高い。
本発明は、シート抵抗値の低い、かつ、基板との密着性
に優れたパターン化されたITO膜を形成するに適した
、安定な透明導電膜形成用ペースト状組成物およびパタ
ーン化されたIToMの形成方法を提供することを、そ
の目的とする。
C問題点を解決するための手段〕 本発明者等は、前記目的を達成すべく鋭意研究した結果
、インジウム化合物と錫化合物とをITO膜形成の主剤
とするペースト組成として、芳香族ニトロ化合物とセル
ロース誘導体とを添加した組成物を、スクリーン印刷に
より耐熱性基板に塗布した後、前加熱処理および本焼成
を行って形成したlTa1lが、基板との密着性に優れ
、かつ、シート抵抗値が低いことを見出し、本発明を完
成した。
本発明は、有機インジウム化合物、錫化合物、セルロー
ス誘導体および芳香族ニトロ化合物を含有することを特
徴とする透明i!膜形成用ペースト状組成物および耐熱
性基板上に、前記ペースト状組成物をスクリーン印刷し
150〜350℃の温度で前加熱処理した後、酸化性雰
囲気中において、450℃以上の温度で焼成することを
特徴とする透明導電膜CITO膜)の形成方法である。
本発明において、有機インジウム化合物および錫化合物
は、焼成により透明な酸化インジウム−酸化錫複合膜C
ITO膜)を形成するための主剤である。
有機インジウム化合物として、熱分解により酸化インジ
ウムを生成する有機溶剤溶解性の化合物が使用できる。
特に、下記一般式(1)%式%(1) で表され、式中のXが、アセチルアセトン、ベンゾイル
アセトン、ベンゾイルトリフルオルアセトン、ジベンゾ
イルメタン、フロイルアセトン、トリフルオルアセトン
等のβ−ジケトン類の残基および/またはアセト酢酸メ
チル、アセト酢酸エチル、マロン酸ジエステル等のβ−
ケトエステル類の残基、Yが、ハロゲン原子、水酸基、
メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、i−プロ
ポキシ基、n−ブトキシ基、t−ブトキシ基等炭素数が
1〜18のアルコキシ基、ホルミル基、アセチル基、プ
ロピオニル基、ブチリル基、バレイル基、ステアロイル
基、ベンソイル基等炭素数が1〜18のアシル基および
硝酸エステル残基よりなる群から選ばれた少なくとも1
種の置換基であり、かつ、a#Oである有機インジウム
化合物が、熱分解性および有機溶剤への溶解性に優れる
ので好ましく使用される。さらに好ましくは、さらに熱
分解性および塗膜形成性に優れた前記一般式(11中の
Yが、水a基、アルコキシ基および/またはアシル基で
ある有機インジウム化合物1モルと硝酸0.3〜3.0
モルとの反応生成物を使用する。
一方、錫化合物は、酸化インジウムの薄膜に導電性を付
与するための酸化錫をドープする成分である。錫化合物
として、熱分解により酸化錫を生成する有機溶剤熔解性
の2価または4価の錫化合物が使用される。たとえば、
塩化第1錫、塩化第2錫、臭化第1錫、臭化第2錫、沃
化第1錫、沃化第2s+A等のハロゲン化錫類、硝酸錫
等の無機錫塩類、ジプロピル錫、テトラプロピル錫等の
アルキル錫類、酢酸錫、安息香酸錫、ジブチル錫ラウレ
ート、オクテン酸錫等の錫有機酸塩類、ジーまたはテト
ラ−エトキシ錫1 ジーまたはテトラ−プロポキシ錫、
ジーまたはテトラ−ブトキシ錫等の錫アルコキシド類、
錫アルコキシド類とβ−ジケトン類またはβ−ケトエス
テル類とのキレート錯体または部分キレート錯体類等が
使用できる。好ましくは、無機錫塩類、錫有機酸塩類お
よび(部分)キレート錯体類を使用する。
インジウム化合物と錫化合物との組成比(重量基準)は
、それぞれを酸化物に換算して0.01≦5nO1/ 
(SnOz+IntO1)≦0.5、好ましくは、0.
02≦Snow/ (SnOz+InJx)≦0.3の
範囲である。
セルロース誘導体は、前記インジウム化合物と錫化合物
とをITO膜形成の主剤とする組成物に、チクソ性を付
与しペースト化するたの増粘剤として使用される。セル
ロース誘導体として、たとえば、メチルセルロース、エ
チルセルロース、アセチルセルロース、アセチルブチル
セルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシ
プロピルセルロース、ベンジルセルロース、ニトロセル
ロースなどが使用される。特に、ヒドロキシプロピルセ
ルロース、エチルセルロース、アセチルブチルセルロー
ス、ニトロセルロースおよびそレラの混合物は、少量の
使用で組成物をペースト化するためのチクソ性の付与効
果が大きいので好ましく使用される。
芳香族ニトロ化合物は、前記各成分の燃焼、熱分解を補
助、促進する成分である。芳香族ニトロ化合物として、
ニトロベンゼン、ジニトロベンゼン、トリニトロベンゼ
ン、ニトロトルエン、ジニトロトルエン、トリニトロト
ルエン、ニトロ−1−’7タレン、ピクリン酸、ニトロ
アニソール、ピクリン酸エチル、トリニトロジフェニル
エーテル、ピクリン酸ベンジル、酢酸ピクリル等のピク
リン酸誘導体などが使用でき、比較的に安定で取り扱い
の容易なピクリン酸が好ましく使用される。
本発明の組成物は、有機1容剤100重量部に対し、金
属酸化物に換算したインジウム化合物と錫化合物との合
計0.5〜15重量部、セルロース誘導体5〜50重量
部およびセルロース誘導体1゜0重量部に対し、芳香族
ニトロ化合物5〜100重量部を配合し、混合したチク
ソ性を存するペースト状組成物である。
を機溶剤として、沸点が100℃以上、好ましくは15
0℃以上の有機溶剤が使用される。たとえば、ブタノー
ル、オクタツール、ラウリルアルコール、2−エチルヘ
キシルアルコール、ベンジルアルコール、シクロヘキサ
ノール、α−テルピネオール等のアルコール類、エチル
セロソルブ。
ブチルセロソルブ等のセロソルブ類、エチルカル、  
ビトール、メチルカルピトール、ブチルカルピトール等
のカルピトール類、エチレングリコール。
プロピレングリコール、ジエチレングリコール等のグリ
コール類、アセト酢酸エチル、酢酸ベンジル、安息香酸
メチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジブチル、エチル
セロソルブアセテート等のエステル類などの1種の単独
溶剤または2種以上の混合溶剤が使用される。
インジウム化合物および錫化合物の合計の配合量が過少
な場合、形成されるITO膜の膜厚が薄くなり、また、
過大な場合、形成されるITOIIQに白濁や、クラッ
ク等の薄膜欠陥が生じ易くなる。
セルロース誘導体の配合量が過少な場合、チクソ性の付
与効果が十分でなく、組成物の印刷解像性が低下し形成
されるITO膜にニジミや断線を生じ易くなる。また、
過大な場合には、組成物の粘度が大きくなり、スクリー
ン印刷の作業性が低下する。
芳香族ニトロ化合物のセルロース誘導体に対する配合型
は、使用する他の成分の種類、配合型等による熱分解性
に影響されるが、過少な場合、組成物の燃焼、分解の促
進効果が不十分となり、形成されるITO膜の基板への
密着性が低下し、また、ITO膜のシート抵抗が高くな
る。また、過剰に配合しても組成物の燃焼、分解の促進
効果の増加は期待できない。好ましい芳香族ニトロ化合
物の配合量は、セルロース誘導体100重量部に対し、
10〜30重量部である。
本発明において、前記組成物をスクリーン印刷により、
耐熱性基板上にパターン化して印刷し、150〜350
℃の温度に5〜30分間保持して前加熱処理を行った後
、酸化性雰囲気下、好ましくは酸化性ガスの送気下に4
50℃以上、好ましくは500〜600℃の温度に10
〜60分間保持して本焼成を行うことにより、パターン
化された透明導電膜(ITO膜)を耐熱性基板上に形成
することができる。
本焼成に引き続いて、不活性ガスおよび/または還元性
ガス雰囲気下において、300〜600℃の温度に10
〜60分間保持する後加熱処理を施すことにより、さら
に形成されたITO膜のシート抵抗を低下させることが
できる。
耐熱性性基板として、本焼成温度において、割れや変形
を生じない、たとえば、各種ガラス、マイカ、セラミッ
クス等が使用できる。特に透明電(覆には、基板の透明
性も要求されるので各種ガラス恭仮が使用され、さらに
好ましくは、Naブロック用の5i(h、 Ti0z、
 Zr0z、 Al2O3等およびそれらの複合膜をプ
レコートしたソーダライムガラス基板が使用される。
〔作    用〕 本発明は、前記したように、組成物をペースト化するた
めのセルロース誘導体と、燃焼、分解の促進剤としての
芳香族ニトロ化合物を併用したことを特徴とするパター
ン化されたITO膜を印刷法により形成するに適したペ
ースト状の組成物およびこの組成物を使用するパターン
化されたITO膜の形成方法である。
セルロース誘導体は、スクリーン印刷用ペースト状組成
物の印刷性に要求されるチクソ性を、少量の使用で付与
することができ、印刷解像性の優れた組成物とすること
ができる。また、併用される芳香族ニトロ化合物は、組
成物の熱分解性を助長促進する。
また、本発明の前加熱処理−本焼成の2段加熱分解、所
望により追加される後加熱処理を加えた3段加熱分解に
よるITO膜の形成方法においては、前加熱処理におい
て、溶剤が蒸発し、また、低分子量の成分が熱分解した
ピンホール等の薄膜欠陥の少ないgillが形成され、
本焼成により残余成分が熱分解し、酸化インジウム−酸
化錫の複合膜が形成され、さらに結晶化する。また、後
加熱処理は、不活性ガスおよび/または還元性ガス雰囲
気下で行われるため、形成されたIT○膜中の酸素空孔
が増加し、ITO膜のシート抵抗値が低下する。
本発明においては、前記組成物の作用とITO膜形成方
法の作用とが相乗的に作用し、シート抵抗が低く、かつ
、基板への密着性の優れたパターン化されたITO膜が
、耐熱性基板上に形成される。
〔実 施 例〕
本発明を、実施例および比較例により、さらに詳細に説
明する。
ただし、本発明の範囲は、下記実施例により何等限定さ
れるものではない。
なお、以下の実施例および比較例中において、「部」お
よび「%」は、断りのない限り重量基準である。
fll  透明導電膜形成用ペースト組成物の調製fa
+  試料(A−1)〜(A−4)および比較試料(C
A−1) ブチルカルピトール/ベンジルアルコールの重量比が1
/1の混合溶剤30部をフラスコに仕込み、インジウム
トリス(アセチルアセトナト)5.0部を加え100〜
120℃に加温して攪拌溶解し、均一な溶液を得た。
前記と同一組成の混合溶剤52部にヒドロキシプロピル
セルロース(商品名・HP C−)1・日本曹達■製)
8.4部を室温下に徐々に加え、約6時間撹拌保持して
均一に溶解した後、ヒドロキシプロピルセルロース10
0部に対して45.2部に相当するピクリン酸3.8部
を加えて溶解した。
得られたヒドロキシプロピルセルロースとピクリン酸と
の混合9g ?&に、先に調製したインジウムトリス(
アセチルアセトナト))容7佼を徐々に力■えて均一に
混合した後、ジブチル錫ジラウレート1゜0部を加えて
ペースト状組成物・試料(A−1)を調製した。
また、ピクリン酸のヒドロキシプロピルセルロース10
0部に対する添加量を5部、20部および100部に変
えたペースト状組成物・試料(A−1)〜(A−4)を
調製した。
さらに、比較のためにピクリン酸の添加を省略したペー
スト状組成物・比較試料(CA−1)を調製した。
(bl  試料(A−5)〜(A−7)試料(A−1)
の調製において、ピクリン酸に代えて、p−ジニトロベ
ンゼン1.68部、1,3.5−トリニトロベンゼン1
.68部およびピクリン酸エチル1.68部のそれぞれ
を添加し、ペースト状組成物・試料(A−5)〜(A−
7)を調製した。
fcl  試料(A−8)および比較試料(CA−1)
ブチルセロソルブ/ブチルカルピトール/酢酸ベンジル
の重量比が、2/1/1の混合溶剤122部に、インジ
ウムトリス(7セチルアセトナト)7.44部および濃
硝酸2.40部を添加し、60℃に30分間攪拌保持し
た後、冷却してチンビスメチルアセテート0.51部を
添加し均一に溶解した。
ついで、ヒドロキシプロピルセルロース(商品名・HP
C−M・日本曹達■M)  12.0部とアセチルブチ
ルセルロース9.3部とを、前記調製した溶液に徐々に
添加して均一に溶解した後、酢酸とクリル3.3部を添
加混合しペースト状組成物・試料(A−8)を調製した
。
また、比較試料として、酢酸ピクリルの添加を省略した
(CA−1)を調製した。
+d+  試料(A−9) ブチルカルピトール/ブチルセロソルブ/酢酸  ゛ベ
ンジルの重量比が、2/1/1の混合溶剤100部に、
硝酸インジウム1モルと乳酸1モルとを反応させて合成
したインジウム・ニトリル・ラクテート3.3部および
テトラブトキシ錫1モルと乳酸2モルとを反応させて合
成したチンブトキシラクテート1.8部を添加し、均一
に溶解した。ついで、ヒドロキシプロピルセルロース・
RPC−H(前出)6部とHPC−M (前出)14部
との混合物を、前記鋼製した溶液に添力uし、十分攪拌
混合して均一に溶解した後、ピクリン酸5部を添加混合
しペースト状組成物・試料(A−9)を調製した。
以上調製した試料(A−1)〜(A−9)および比較試
料(CA−1)ならびに(CA−1)の組成を第1表に
示す。
(1)透明導電膜(ITO膜)の形成 ソーダライムガラス基板上に、前記f11項で調製した
透明導電膜(ITO膜)形成用ペースト状組成物試料(
A−1)の線幅25Qum、乳r¥20μmのパターン
を、300メソシユのステンレス製スクリーンを用いて
印刷し、150℃×15分の条件で前加熱処理を施した
後、マツフル炉を使用し、空気雰囲気下において550
℃×30分の条件で本焼成した0本焼成後、室温まで自
然冷却して、当該基板上にパターン化された透明導電膜
CITO膜)を得た。
得られたrTo膜は、膜厚1200人、室温に1日放置
後のシート抵抗値R,Q1.OKΩ/sqの断線やにじ
みのない膜であり、セロテープ剥離試験結果は良好な密
着性を示した。
また、得られたITO膜を形成した基板を、窒素ガス雰
囲気中において350℃×30分の条件で後加熱処理し
た結果、シート抵抗値R□は0.5にΩ/sqまで低下
した。
以下、ソーダライムガラス基板、5iOz被覆ソーダラ
イムガラス基板および5i(h/ZrO冨=60/40
(重量比)の複合膜被覆ソーダライムガラス基板のそれ
ぞれに、透明導電膜(ITO膜)形成用ペースト状組成
物試料(A−1)〜(A−9>および比較試料(CA−
1)ならびに(CA−1)のそれぞれのパターンを、3
00メツシユのステンレス製スクリーンを用いて印刷し
、マツフル炉または加熱冷却パターンを調整可能なイメ
ージ炉を使用して前加熱処理−本焼成−後加熱処理一冷
却の各処理を施し、当該基板上にパターン化された透明
導電IQCITO膜)を形成した。
前加熱処理条件、本焼成処理条件、後加熱処理条件およ
び形成されたITO膜の特性等を第2表に示す。
第2表中において、密着性、表面硬度および耐アルカリ
性は、下記の基準で表示した。
密着性:セロテープ剥離試験において剥離を生じなかっ
たものを良好°とした。
表面硬度二表面を消しゴムを用いて20回摩擦し、変化
のなかったものをOl一部変 化したものを△、薄膜の消失したもの を×で表示した。
耐アルカリ性=60℃の5%水酸化ナトリウム水溶液に
浸漬し、薄膜が溶解するまで の時間(分)を測定し、表示した。
〔発明の効果〕
本発明において(よ、前記実施例に示したように芳香族
ニトロ化合物を含有していない比較試料(CA−1)ま
たは(CA−1)の組成物を使用した系に比較して、シ
ート抵抗値の低いパターン化された透明導電膜(ITO
膜)が得られる。特に、後方u’Q処理を施した系にお
いては、シート抵抗値R0が0.38 KΩ/sq、0
.10にΩ/ s qに達する低シーHff抗の、すな
わち、高導電性のIT0119が得られる。また、これ
らはいづれも基板への密着性が優れている。
本発明は、基板への密着性に優れた、シート抵抗値の低
いパターン化された透明導電膜(ITO膜)が得られる
透明導電膜形成用ペースト状組成物およびこの組成物を
使用する透明導電膜の形成方法を提供するものであり、
その産業的意義は極めて大きい。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)有機インジウム化合物、錫化合物、セルロース誘
    導体および芳香族ニトロ化合物を含有することを特徴と
    する透明導電膜形成用ペースト状組成物(1)耐熱性基
    板上に、有機インジウム化合物、錫化合物、セルロース
    誘導体および芳香族ニトロ化合物を含有するペースト状
    組成物をスクリーン印刷し、150〜350℃の温度で
    前加熱処理した後、酸化性雰囲気中において、450℃
    以上の温度で焼成することを特徴とするパターン化され
    た透明導電膜の形成方法
JP16192786A 1986-07-11 1986-07-11 透明導電膜形成用ペ−スト状組成物および透明導電膜の形成方法 Expired - Lifetime JPH07118230B2 (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01133961A (ja) * 1987-11-20 1989-05-26 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 透明酸化物薄膜被着ガラスの製造方法
JPH02192616A (ja) * 1988-04-07 1990-07-30 Kawaguchiko Seimitsu Kk 透明導電膜用インキ組成物
JP2001002954A (ja) * 1999-06-16 2001-01-09 Asahi Denka Kogyo Kk 透明導電膜形成用塗布液および透明導電膜の形成方法
JP2005125305A (ja) * 2003-09-30 2005-05-19 Mitsuboshi Belting Ltd 透明導電膜形成用処理剤および透明導電膜形成方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01133961A (ja) * 1987-11-20 1989-05-26 Catalysts & Chem Ind Co Ltd 透明酸化物薄膜被着ガラスの製造方法
JPH02192616A (ja) * 1988-04-07 1990-07-30 Kawaguchiko Seimitsu Kk 透明導電膜用インキ組成物
JP2001002954A (ja) * 1999-06-16 2001-01-09 Asahi Denka Kogyo Kk 透明導電膜形成用塗布液および透明導電膜の形成方法
JP2005125305A (ja) * 2003-09-30 2005-05-19 Mitsuboshi Belting Ltd 透明導電膜形成用処理剤および透明導電膜形成方法

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