JPS6319910B2

JPS6319910B2 -

Info

Publication number: JPS6319910B2
Application number: JP57052793A
Authority: JP
Inventors: Teru Koshidaka; Hideo Kamata; Masami Yasuda; Ikuo Hakata; Tatsufumi Kataoka
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1982-03-31
Filing date: 1982-03-31
Publication date: 1988-04-25
Also published as: JPS58169294A

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野本発明は濃度制御処理方式に係り、特に印鑑を
照合したりその印影を表示する場合における16レ
ベルの濃度を４レベルや２レベルに読取るための
濃度制御処理方式に関する。

(2) 従来技術と問題点例えば印鑑合照機において印影を読取つてこれ
をデイスプレイに表示したり、センターに送出し
たり、あるいは登録印鑑の印影と照合することが
研究されている。

この場合、第１図に示すように印影を一定の方
向に走査して、これをCCDの如き、センサーで
読取り、出力された16レベルの画信号を多値レベ
ルから２値または４値レベルにスライスする。こ
れは、印鑑を自動照合する場合には２値レベルで
行うが、その印影をデイスプレイに表示したり、
あるいは回線によりセンサー等に選出する場合に
は４値情報として取扱うことによる。

このとき、多値レベル（例えば16レベル）で読
出された画信号を２値あるいは４値のレベルに変
換する方法として、従来は、第２図に示すよう
にセンサーの１走査分の画素の濃度の総和を求
め、これに応じてスライスレベルを求めるという
濃度平均により変換する方法、つまり、第２図に
おいて各画素毎の濃度の総和０＋１＋４＋６……
＝18であれば、これを例えば７で商した18÷７≒
３により得た。「３」をスライスレベルとして２
値化する方法（４値化するときは例えば「２」以
下を「00」、「２」〜「３」を「01」、「４〜７」を
「10」、「８」以上を「11」とする）や、センサ
ーから出力された16レベルを固定的スライスレベ
ルで２値または４値レベルに変更する方法等があ
る。

しかし、前記では、印影の濃度が均一化さ
れ、特に地色部分、特に白の影響が大きくあらわ
れて、印影の照合が不自然となり、また前記で
は薄い印影は薄い状態で出力されるので、これを
レベルアツプしないと照合が不自然となるという
問題が存在する。

(3) 発明の目的本発明の目的は、このような問題を改善して、
地色部分の影響をあまり受けずに、また薄いもの
はこれを修正できるようにした濃度制御処理方式
を提供することを目的とする。

(4) 発明の構成この目的を達成するために、本発明の濃度制御
処理方式では、画像を読取りこれを電気信号に出
力センサーとこのセンサーより得られた多値レベ
ル画信号を設定されたスライスレベルで変換する
レベル変換部を備えた濃度制御処理方式におい
て、センサーの出力より濃度別分布状態を作成す
る濃度別分布作成手段と、前記濃度別分布作成手
段は作成した濃度別分布状態より算出した平均値
に基づいて特定濃度の割合を演算する割合制御手
段と、前記特定濃度の割合より大きい濃度が前記
濃度別分布状態の高濃度領域に存在するか否かを
判別する判別手段と、少なくとも上限及び下限の
スライスレベルを演算するスライス演算手段を設
け、前記割合制御手段と判別手段の制御にもとづ
き基準スライスレベルを決定してこの基準スライ
スレベルにより前記スライス演算手段は、少なく
とも上限及び下限のスライスレベルを演算し、上
記レベル変換部に供給することを特徴とする。

(5) 発明の実施例本発明を一実施例にもとづき詳述するに先立
ち、その概略を第３図により説明する。

いま、センサーからの各画素の濃度分布を計算
して第３図の如くヒストグラムを作成する。この
とき濃度分布曲線H₁が得られたとする。そして
濃度「３」、「４」の画素数（C₃＋C₄）／２＝C_M
という平均値を求めそしてこれよりその40％の大
きさの0.4C_Mを得る。それから濃度レベル「８」
〜「Ｆ」までの画素数C₈〜C_Fのうちにこの0.4C_M
より大きいものが存在するか否かを判別し、存在
する場合には濃度レベル「８」を４値スライスレ
ベルの「00」の閾値とする。

もしも曲線H₂のように、存在しない場合には
前記C_Mの30％の値0.3C_Mを求めるとともに、濃度
レベルも１つ下げて濃度レベル「７」〜「Ｆ」ま
での画素数C₇〜C_Fのうちにこの0.3C_Mより大きな
数値が存在するか否かを調らべ、存在するときに
は濃度レベル「７」を４値スライスレベルの
「00」の閾値とする。これによるも存在しない場
合には、今度は0.2C_Mを求め濃度レベル「６」〜
「Ｆ」の画素数C₆〜C_Fのうちにこの0.2C₀より大き
いものが存在するか否かを調らべ、以下同様の制
御を行う。印影の押印されている地色や、デツド
カラーで表示されている枠は、ほとんど濃度レベ
ル「０」〜「２」の範囲に存在するので、このよ
うにすることにより地色等の影響を除去すること
ができるし、また薄い印影に対してもスライスレ
ベルを低くできるので、薄くとも正確に表示、照
合することができる。

本発明の一実施例を第４図に示す。

図中、１はイメージ・リーダ、２はイメージ・
バツフア、３は濃度弁別器、４はヒストグラム作
成部、５は平均値演算回路、６は濃度割合制御
部、７はセレクタ、８は濃度分布数演算部、９は
２値化スライス演算回路、１０は４値化スライス
演算回路、１１は２値化弁別器、１２は４値化弁
別器である。

イメージ・リーダ１は、印影を走査してその１
走査ライン分の各画素毎の多値レベル、例えば16
レベルの画信号を出力するものであり、この出力
された画信号はそのままイメージ・バツフア２に
セツトされ、また濃度弁別器３にて各濃度レベル
「０」〜「Ｆ」毎にヒストグラム作成部４に出力
される。

ヒストグラフ作成部４は、第３図の濃度分布曲
線H₁，H₂を作成するものであつて、濃度レベル
「０」の画素数を計数するカウンタ４−０、濃度
レベル「１」の画素数を計数するカウンタ４−１
……濃度レベル「Ｆ」の画素数を計数するカウン
タ４−Ｆを有する。

平均値演算回路５は濃度レベル「３」と「４」
の画素数C₃とC₄の平均値C_Mを算出するものであ
る。

濃度割合制御部６は前記C_Mより0.4C_M、0.3C_M、
0.2C_M……を求めるものであり、後述する濃度分
布数演算部８より伝達される制御信号に応じて前
記0.4C_M、0.3C_M……を順次出力する。

セレクタ７はヒストグラム作成部４から伝達さ
れている、濃度レベル「５」〜「Ｆ」までの画素
数C₅〜C_Fのうち、濃度割合制御部６からの伝数
された制御信号により選択された濃度レベル以上
のものを出力する。

濃度分布数演算部８は、まずセレクタ７より伝
達されたC₅〜C_Fに濃度割合制御部６から伝達さ
れた0.4C_M、0.3C_M……より大きいものがあるか否
かを判別して、これを濃度割合制御部６に報告す
るとともに、その有無に応じて４値レベル「00」
の閾値Ｓを作成し、これを出力するものである。

２値化スライス演算回路９は、後述する４値化
スライス演算回路１０の作成する４値レベル
「01」のスライスレベルにもとづき２値化スライ
スレベルを作成しこれを２値化弁別器１１に出力
するものであり、また４値化スライス演算回路１
０は前記閾値Ｓにもとづき４値化スライスレベル
を作成しこれで４値化弁別器１２に出力する。こ
の４値化スライスレベルの作成に際しては、例え
ば濃度レベル「８」を４値レベル「00」の閾値と
するとき、「８」〜「Ｆ」を３等分して「８」〜
「Ａ」を「01」、「Ｂ」〜「Ｃ」を「10」、「Ｄ」〜
「Ｆ」を「11」と定めてもよいし、これとは別に
適立選定することができる。そして４値レベル
「00」の閾値を「７」としたときも同様である。
しかし２値化スライスレベルは、この４値レベル
「01」と「10」とのスライスレベルを使用するも
のである。

２値化弁別器１１は、２値化スライス演算回路
９より伝達された２値化スライスレベルにもとづ
きイメージ・バツフア２にセツトされている16レ
ベルの画信号を２値化するものである。同様に４
値化弁別器１２は、４値化スライス演算回路１０
より伝達された４値化スライスレベルにもとづき
イメージ・バツフア２にセツトされている16レベ
ルの画信号を４値化するものである。

次に第４図の動作について説明する。

イメージ・リーダ１から出力された16レベル
の濃度の画素信号は濃度弁別器３に伝達される
とともにイメージ・バツフア２にセツトされ
る。そしてこの濃度弁別器３により濃度レベル
別に識別されてヒストグラム作成部４に出力さ
れ、そのカウンタ４−０〜４−Ｆにより濃度レ
ベル別の画素数C₀〜C_Fがカウントされ、その
うちC₃とC₄が平均値演算回路５に出力されて（C₃＋C₄）×１／２の演算が行なわれその平均値C_Mが求められ、
これが濃度割合制御部６に出力されて0.4C_M、
0.3C_M、0.2C_M…が算出される。

またヒストグラム作成部４で計数されたC₅
〜C_Fはセレクタ７に出力され、まずC₈〜C_Fが
濃度分布数演算部８に出力される。このとき濃
度分布数演算部８には濃度割合制御部６から
0.4C_Mが伝達されているので前記C₈〜C_Fにこの
0.4C_M以上の数値が存在するか否かをチエツク
する。

これによりC₈〜C_F中に0.4C_M以上のものが存
在すれば、濃度分布数演算部８は濃度レベル
「８」を４値化レベル「00」のスライスレベル
としてこれを２値化スライス演算回路９及び４
値化スライス演算回路１０に伝達する。

４値化スライス演算回路１０には、あらかじ
め４値化スライスレベル作成のアルゴリズムが
規定されており、例えばほぼ均等で他の「01」
〜「11」のスライスレベルを定める場合には、
「８」〜「Ａ」を「01」、「Ｂ」〜「Ｃ」を
「10」、「Ｄ」〜「Ｆ」を「11」となるようにス
ライスレベルを変更する。そして「01」と
「10」との間のスライスレベル「Ａ」を２値化
スライス演算回路９に伝達する。これにより２
値化スライス演算回路９は２値化スライスレベ
ル「Ａ」を出力する。

かくして２値化スライス演算回路９から２値
化スライスレベル「Ａ」が出力されて２値化弁
別器１１に出力され、４値化スライス演算回路
１０から４値化スライスレベル「８」（00）、
「Ａ」（01）、「Ｃ」（11）が出力されて４値化弁
別器１２に出力され、これらに応じてイメージ
バツフア２の画素信号は２値化信号あるいは４
値化信号として取出すことができる。

ところで前記におけるチエツクの結果、最
初C₈〜C_F中に0.4C_M以上の数値が存在しなかつ
た場合、濃度分布数演算部８はこれを濃度割合
制御部６に報告する。これにより濃度割合制御
部６は、今度は0.3C_M濃度分布数演算部８に出
力するとともに、セレクタ７よりC₇〜C_Fを出
力させる。そして濃度分布数演算部８でC₇〜
C_F中に0.3C_M以上のものの有無がチエツクされ
る。その結果存在すれば、今度は濃度レベル
「７」を４値化レベル「00」の閾値として出力
する。これにより前記の如く新らしい各スライ
スレベルが作成され、これによりイメージ・バ
ツフア２中の画素信号が弁別されることにな
る。

そしてこのような制御を繰返すことにより印影
の画素信号が２値及びまたは４値に変換出力され
ることになる。

なお、前記では２値化スライスレベルを４値化
スライス演算回路から伝達される「01」と「10」
の間の閾値をそのまま使用する例について説明し
たが、勿論これに限定されるものではなく、多少
の変更はできる。

(6) 発明の効果本発明によれば、情報量として大きな割合を示
める地白部分を除去し、印影の濃淡レベルを一定
のスライスで行いその登録を可能にすることがで
きるので濃淡レベルに変化があつてもより自然な
形での一定の濃度で照合、表示が行える。

また論理演算を定量化しているので、演算を速
やかに行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は印影を読取るときの説明図、第２図は
従来の処理方式の説明図、第３図は本発明の動作
状態説明図、第４図は本発明の一実施例構成図で
ある。図中、１はイメージ・リーダ、２はイメージ・
バツフア、３は濃度弁別器、４はヒストグラム作
成部、５は平均値演算回路、６は濃度割合制御
部、７はセレクタ、８は濃度分布数演算部、９は
２値化スライス演算回路、１０は４値化スライス
演算回路、１１は２値化弁別器、１２は４値化弁
別器である。

Claims

【特許請求の範囲】

１画像を読取りこれを電気信号に出力するセン
サーとこのセンサーより得られた多値レベル画信
号を設定されたスライスレベルで変換するレベル
変換部を備えた濃度制御処理方式において、セン
サーの出力より濃度別分布状態を作成する濃度別
分布作成手段と、前記濃度別分布作成手段は作成
した濃度別分布状態より算出した平均値に基づい
て特定濃度の割合を演算する割合制御手段と、前
記特定濃度の割合より大きい濃度が前記濃度別分
布状態の高濃度領域に存在するか否かを判別する
判別手段と、少なくとも上限及び下限のスライス
レベルを演算するスライス演算手段を設け、前記
割合制御手段と判別手段の制御にもとづき基準ス
ライスレベルを決定してこの基準スライスレベル
により前記スライス演算手段は、少なくとも上限
及び下限のスライスレベルを演算し、上記レベル
変換部に供給することを特徴とする濃度制御処理
方式。