JPS63200731U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63200731U JPS63200731U JP9303287U JP9303287U JPS63200731U JP S63200731 U JPS63200731 U JP S63200731U JP 9303287 U JP9303287 U JP 9303287U JP 9303287 U JP9303287 U JP 9303287U JP S63200731 U JPS63200731 U JP S63200731U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- radiation source
- measured
- basis weight
- radiation
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005250 beta ray Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
第１図は本考案に係る坪量計の要部構成例を示
した図、第２図は第１図装置の検出器１の外観を
描いた図、第３図は第１図装置の検出器１と線源
部２の要部断面図、第４図は従来例を示す図であ
る。 １……検出器、１ａ……半導体素子、１ｂ……
吹出穴、１ｃ……ケース、２……線源部、３……
β線源、４，５……容器、７……スプリング。
した図、第２図は第１図装置の検出器１の外観を
描いた図、第３図は第１図装置の検出器１と線源
部２の要部断面図、第４図は従来例を示す図であ
る。 １……検出器、１ａ……半導体素子、１ｂ……
吹出穴、１ｃ……ケース、２……線源部、３……
β線源、４，５……容器、７……スプリング。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 放射線源３と、放射線検出素子として半導体素
子を用いた検出器１を前記放射線源と対向して配
置し、放射線源と検出器の間に存在する被測定物
の坪量を測定する装置において、 前記検出器１から圧縮気体を被測定物１へ噴出
することにより検出器を被測定物の上に浮上させ
るとともに、被測定物を放射線源３側に押付ける
ことにより、放射線源３と検出器１との距離を一
定に保つようにしたことを特徴とする坪量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9303287U JPH0516504Y2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9303287U JPH0516504Y2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63200731U true JPS63200731U (ja) | 1988-12-23 |
| JPH0516504Y2 JPH0516504Y2 (ja) | 1993-04-30 |
Family
ID=30955264
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9303287U Expired - Lifetime JPH0516504Y2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0516504Y2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8483355B2 (en) | 2009-09-24 | 2013-07-09 | Yokogawa Electric Corporation | Radiation inspection apparatus comprising a gas ejecting unit for supporting and conveying a sheet-like sample |
| JP2014506303A (ja) * | 2010-11-22 | 2014-03-13 | ハネウェル・アスカ・インコーポレーテッド | 紙および連続ウェブ・スキャナのエアワイプおよびシート・ガイド温度制御 |
| JP2014145733A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
-
1987
- 1987-06-17 JP JP9303287U patent/JPH0516504Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8483355B2 (en) | 2009-09-24 | 2013-07-09 | Yokogawa Electric Corporation | Radiation inspection apparatus comprising a gas ejecting unit for supporting and conveying a sheet-like sample |
| JP2014506303A (ja) * | 2010-11-22 | 2014-03-13 | ハネウェル・アスカ・インコーポレーテッド | 紙および連続ウェブ・スキャナのエアワイプおよびシート・ガイド温度制御 |
| JP2014145733A (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-14 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0516504Y2 (ja) | 1993-04-30 |