JPS63201574A - 超高周波帯回路素子用検査治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超高周波帯回路素子用検査治具に関し、特に超
高周波帯におけるフィルタ、アイソレータ等の受動回路
素子、あるいは集積回路、トランジスタ増幅器等の能動
回路素子等を検査、測定するための超高周波帯回路素子
用検査治具に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の超高周波帯回路素子用検査治具は、第３
図及び第４図に示すように、被検査物１０を搭載するた
めの取付部２を設けた台座１と、この台座１上に設けら
れた誘電体基板３と、台座１に設けられた入出力信号等
の外部接続用の同軸コネクタ５と、誘電体基板３上に設
けられこの同軸コネクタ５と被検査物１０のリード端子
Ｌｏｔとを接続し同軸コネクタ５と等しい所定の特性イ
ンピーダンスをもつストリップライン４とを備え、被検
査物１０のリード端子１０Ｌとストリップライン４との
接続は、はんだ８付けするか絶縁体のおさえ棒９により
圧着する構成となっていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来の超高周波帯回路素子用検査治具は、リー
ド端子１０Ｌとストリップライン４との接続をはんだ付
けするが絶縁体のおさえ棒９で圧着する構成となってい
るので、はんだ付けする場合は、リード端子１０Ｌには
んだが乗ることにより製品の外観がそこなわれる、はん
だゴテのリーク電流によって回路素子が破壊されること
がある、はんだをするのに人手と時間ががかりコスト高
になる等の欠点がある。

また、絶縁体のおさえ棒９による場合は、上記のはんだ
付けによる欠点は除かれるものの、おさえ棒９は誘電体
であるのでストリップライン４の上を誘電体が覆った状
態と等価となり、ストリップライン４の特性インピーダ
ンスが変化してしまう、すなわち、所定の特性インピー
ダンスを有する測定系において、その特性インピーダン
スが乱れた部分が存在することになり、測定の精度が低
下する、上からおさえる力によってはリード端子１０Ｌ
に張力がかかり被検査物１ｏがリード端子１０ｔ、の接
続部で破壊することがある等の欠点がある。

本発明の目的は、リード端子部分の破損や外観がそこな
われることなく容易にリード端子とストリップラインと
を接続することができ、測定精度を上げることができる
超高周波帯回路素子用検査治具を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の超高周波帯回路素子用検査治具は、被検査物を
搭載する取付部を設けた台座と、この台座上に設けられ
た誘電体基板と、前記台座に設けられた外部接続用の同
軸コネクタと、前記誘電体基板上に設けられ一端が前記
同軸コネクタと接続し所定の特性インピーダンスをもつ
ストリップラインと、前記取付部に搭載された被検査物
のリード端子を気体圧力により前記ストリップラインの
他端に圧着接続する手段とを有している。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の第１の実施例
を示す一部断面平面図及び一部断面側面図である。

この実施例は、被検査物１ｏを搭載する取付部２を設け
た台座１と、この台座１上に設けられた誘電体基板３と
、台座１に設けられた入出力信号等の外部接続用の同軸
コネクタ５と、誘電体基板３上に設けられ、一端が同軸
コネクタ５と接続し、この同軸コネクタ５と等しい所定
の特性インピーダンスをもつストリップライン４と、噴
出する気体の圧力によって、取付部２に搭載された被検
査物１０のリード端子１０ｔとストリップライン４の他
端とを圧着接続するノズル６とを有する構成となってい
る。

なお、ストリップライン４の特性インピーダンスは、そ
の幅、誘電体基板３の厚さ及び誘電率等により調整され
る。

第２図は本発明の第２の実施例を示す一部断面側面図で
ある。

この実施例が第１の実施例と相違する点は、リード端子
１０Ｌをストリップライン４の他端に圧着接続する手段
として、ストリップライン４のリード端子１０Ｌが配置
される部分から台座１底面に抜ける排気孔７と、この排
気孔７につながる排気管７．とを設けて排気し、リード
端子１０Ｌを吸着してストリップライン４に圧着接続し
た点にある。

従って、これら実施例は、リード端子１０ｔ、をはんだ
付けする必要がないので外観をそこなわずに容易に取付
は接続することができ、余分な力が加わらないのでリー
ド端子Ｌｏｔ部分の破損もなく、ストリップライン４を
誘電体で覆うこともないので特性インピーダンスが変化
することがなく測定精度を上げることができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、ストリップラインと被検
査物のリード端子との接続を気体圧力により行う構成と
することにより、リード端子部分の破損や外観がそこな
われることなく容易に接続することができ、ストリップ
ラインの特性インピーダンスが乱れないので測定精度を
上げることができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本発明の第１の実施例
を示す一部断面平面図及び一部所面側面図、第２図は本
発明の第２の実施例を示す一部断面側面図、第３図は従
来の超高周波帯回路素子用検査治具の第１の例を示す平
面図、第４図（ａ）、（ｂ）はそれぞれ従来の超高周波
帯回路素子用検査治具の第２の例を示す一部断面平面図
及び側面図である。 １．１．・・・台座、２・・・取付部、３・・・誘電体
基板、４・・・ストリップライン、５・・・同軸コネク
タ、６・・・ノズル、７・・・排気孔、７．・・・排気
管、８・・・はんだ、９・・・おさえ棒、１０・・・被
検査物、１０ｔ、・・・リード端子。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　被検査物を搭載する取付部を設けた台座と、この台座
   上に設けられた誘電体基板と、前記台座に設けられた外
   部接続用の同軸コネクタと、前記誘電体基板上に設けら
   れ一端が前記同軸コネクタと接続し所定の特性インピー
   ダンスをもつストリップラインと、前記取付部に搭載さ
   れた被検査物のリード端子を気体圧力により前記ストリ
   ップラインの他端に圧着接続する手段とを有することを
   特徴とする超高周波帯回路素子用検査治具。