JPS63204171A - インタ−ロツク回路診断装置 - Google Patents

インタ−ロツク回路診断装置

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JPS63204171A
JPS63204171A JP62034416A JP3441687A JPS63204171A JP S63204171 A JPS63204171 A JP S63204171A JP 62034416 A JP62034416 A JP 62034416A JP 3441687 A JP3441687 A JP 3441687A JP S63204171 A JPS63204171 A JP S63204171A
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JP
Japan
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interlock circuit
input
signal
storage device
diagnostic
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JP62034416A
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English (en)
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Toshibumi Hayashi
俊文 林
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Toshiba Corp
Nippon Atomic Industry Group Co Ltd
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Toshiba Corp
Nippon Atomic Industry Group Co Ltd
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

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  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はプロセスプラン1〜で使用されるインターロッ
ク回路動作を診断するインターロック回路診断装置に関
する。
(従来の技術) 多くのプロセスプラントではプラントの運転の自動化、
異常事態でのプラントの安全確保等を目的としてインタ
ーロック回路か設けられている。
かかるインターロック回路の例として沸騰水型原子力発
電所の炉水浄化系(以下CUW系〉の隔離を対象とする
論理回路を第2図に示す。このインターロック回路では
、通常は右辺のCUW系1〜リップ論理が成立、即ち[
励磁]がON、[無励磁]がOFFという状態になって
いるか、これは左辺のプロセス信号によって決定される
条件すなわち[チャンネル1 炉水位高]、[チャンネ
ル2炉水位高1.[CUW流最止常E、[CUW機器エ
リア温度正常]等の入力信号のON、OFFによって決
まる論理の結果であって、0[「であれば[励磁]、O
Nであれば[無励磁]となる。そして、この結果CUW
系トリップ論理が無励磁になると、CU W系(ユ隔離
される。このようにインターロック回路はAND、OR
,NOTという論理演算を基本として、これに時間遅延
回路を加えたものを構成要素としている。
ところで、しチャンネル1 炉水位高]、[Cuwit
正常]等の入力信号はプラントからのプロセス値である
か、或いは第2図と同様のインターロックによって判定
される結果である。後者の場合、そのインターロックの
入力信号も同様に2種類考えられるが、最終的にはプラ
ントからのプロセス値となる。すなわち、インターロッ
ク回路はネッ1〜ワーク構成になっており、この様子を
第3図に示す。第3図において、1〜5はプラントから
の入力信号、6〜13はインターロック回路のブロック
、14.15は出力信号を示す。矢印は信号の流れを示
す。ここで、インターロック回路の10ツクとは一つ以
上のインターロック回路の構成要素からなり、入力信号
と出力信号が測定可能なインターロック回路部分とする
。また、インターロック回路のブロック、プロセス信号
の入力点、インターロック回路の最終的出力点等の信号
の取り出せる部分をノードと呼ぶことにする。勿論プラ
ントの正常な運転の為にはこのようなインターロック回
路は正しく作動する必要かある。
また、万一インターロック回路から送られてくる信号に
異常かある場合、速かに異常箇所を発見てきることが必
要でおる。異常原因としてはインターロック回路の回路
要素自体、すなわちインターロック回路のブロックの故
障またはインターロック回路に信号を送っているセンサ
ー、信号伝送系の故障が考えられる。
ところで、沸騰水型原子力発電所のような複雑なプロセ
スプラントの場合使用されているインターロック回路や
センサーの数は膨大でおり、運転員にとってそれらの詳
細を記憶することは困難であるばかりでなく、ドキュメ
ントの吊も多く、それらを検索するのは容易ではない。
このような問題に対して従来からコンピュータによるイ
ンターロック回路の自動診断システムが考えられてきた
。この診断システムはそれぞれのインターロック回路に
対してその診断方法を記憶し、インターロック回路の入
力と出力をオンラインて監視するものである。
このような診断装置の例を第4図に示す。同図に1J−
3いて、21はプラン1へのプロセス値とインターロッ
ク回路の各ブロックの出力信号の値を入力する入力装置
、22はインターロック回路の論理的構成を記憶する第
1の記憶装置、23は入力装置21からの信号と記憶装
置22からのインターロック回路の論理的構成に基づき
、インターロック回路の働きをシミュレー1〜するシミ
ュレーション装置でおる。24はシミュレーション装置
23から送られる信号と、実際のインターロック回路か
らの出力信号を比較し、両者に不一致がおった場合、後
に説明するインターロック回路の診断方法を記憶してい
る第2の記憶装置25からの診断方法に基づきインター
ロック回路の診断を行う判定装置である。
例えば第3図のインターロック回路についてこの診断シ
ステムを適用した場合を検討すると、1〜5のプロセス
信号を入力装置21が入力し、シミュレーション装置2
3が6〜13のインターロック回路のブロックの出力及
び14.15の最終的な出力信号をシミュレートし、判
定装置24は入力装置21が入力した実際の値とシミュ
レーション結果を比較し、不一致を捜す。不一致が発見
されたとき異常箇所を判定するための診断方法は「イン
ターロック回路のブロック7の出力信号に異常があり、
プロセス値2,3.4にはない場合インターロック回路
のブロック7に異常かある。」といった情報を使うもの
であり、本質的に論理演算である。すなわち、診断もイ
ンターロック回路と同じ形式である。以下これをここで
は診断ロジックと呼ぶ。
(発明が解決しようとする問題点) 以上のような従来技術においては、診断されるインター
ロック回路のノードそれぞれに固有の診断ロジックを用
意する必要かある。従って、対象とするインターロック
回路が多い場合、その全てに診断用ロジックを作成する
には多くの作業量が必要となる。また、インターロック
回路の要素全ての信号かオンラインで測定可能とは限ら
ないか、オンラインで測定不可能でも人間の診断者が測
定できる部分かある場合がある。従来の診断装置では測
定された信号は信号に対して一方通行の処理しかできな
いため、診断者と対話を行いながら異常箇所を狭めてい
くという方法か取れないという問題があった。
更にインターロック回路自体の動きは正常でも、その作
用の原因を知りたいときかある。例えば、第2図におい
てrcuw系トリップ論理」か正常に励磁された時、励
磁の原因となった信号を知りたい場合などである。この
ような要求に対しては、従来の診断装置は役に立たない
本発明は前記した従来技術の問題点を解消するためにな
されたもので、その目的はインターロック回路一般に対
して共通の診断方法、ずなわち[あるインターロック回
路のノードに対し、入力信号が正常で出力信号に異常か
あればそのノードは異常である。」という性質を用い、
個々のインターロック回路の論理構成と信号の性質を記
憶させるだけで診断の可能なインターロック回路診断装
置を提供することにある。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 上記目的を達成するために、本発明は診断ずべきインタ
ーロック回路について入力点の状態を外部から入力する
オフライン入力装置と、インターロック回路の論理的構
成を記憶する第1の記憶装置と、前記インターロック回
路にお(プる観測可能な測定点を記憶する第2の記憶装
置と、インターロック回路からの信号を入力する入力装
置と、診断の途中経過と結果を出力する出力装置と、前
記入力装置から入力される信号の内前記インターロック
回路の入力信号に対して前記第1の記憶装置に記憶され
たインターロック回路の論理的構成に基づきインターロ
ック回路の働きを模擬するシミー 〇 − ニレ−ジョン装置と、前記入力装置から入力されるイン
ターロック回路の測定可能信号点における信号の値と前
記シミュレーション装置の出力信号とを比較しインター
ロック回路の異常を検出する判定装置と、後記の診断制
御装置の再帰的な手続きに際し情報を保持するための第
1の一時記憶装置と、この第1の一時記憶装置に記憶さ
れない診断制御装置の情報を記憶する第2の一時記憶装
置と前記判定装置から与えられたインターロック回路の
異常な信号点を初めの診断目標としてこの診断目標にお
(プる信号の値が前記入力装置から入力できるかあるい
は診断者か測定できるかどうかを前記第2の記・隠装置
に記憶された情報を基に判定し、前記入力装置から入力
できる場合は前記入力装置から信号を入力し、また外部
から測定できる場合は測定点を前記出力装置を用いて提
供し、その結果に従って測定した結果を前記オフライン
入力装置を通じて入力し、この入力された信号に異常か
ある場合は診断目標に対し上流にある測定点を前記第1
の記憶装置から探索し、もし上流に測定点がない場合は
、現在の診断目標を異常と判定し、そうでないときはそ
れらの上流の測定点それぞれを診断目標に同様の手続き
を繰返し行い、それら全てが正常でおれば現在の診断目
標か異常と判定する診断制御装置とから構成されたイン
ターロック回路診断装置を特徴とするものである。
(作 用) 本発明のインターロック回路診断装置は上記したように
構成されているので、インターロック回路の診断をその
インターロック回路の論理的構成と信号の性質を記憶さ
せるたりて行うことかでき、また、診断者と対話的に作
業を進めることができるので、診断の対象となる出力信
号の全てをオンラインで入力できない場合でも診断が可
能となり、さらに診断者は診断の過程で必要となるドキ
ュメント類を自分で検索する必要がなく、診断を効率的
に進めることができる。
(実施例) 本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック構成図で−11= ある。同図において、21〜24は第4図と同一部分を
示す。すなわち、21は入力装置、22はインターロッ
ク回路の論理的構成を記憶する第1の記憶装置、23は
インターロック回路の動きをシミュレー1〜するシミュ
レーション装置、24は判定装置である。27は診断制
御装置、28はインターロック回路の各ノートについて
その性質、すなわちその信号点がオンラインで測定可能
かオフラインで測定可能かという情報と、その信号点に
おける一時的な信号の値および診断上の一時的な情報を
記憶する第2の記憶装置、29は診断制御装置の状態を
記憶する第1の一時記憶装置、30は出力装置、31は
オフライン入力装置、32は診断制御装置27で使うパ
ラメータの内、一時記憶装置29に記憶されるもの以外
を記憶する第2の一時記憶装置である。
なお、本発明ではインターロック回路の構成をノードを
単位として考える。ただし、ぞの信号はオンラインで取
り出せるとは限らないものとする。
また、診断装置の内部ではこのノードを情報の単位とし
て扱い、自然数の番号によって参照する。
次に、第3図のインターロック回路のノートを例として
本発明のインターロック回路診断装置の作用を説明する
。第3図のインタ−1]ツク回路において、ノートはこ
の図に示されたものと同じ番号によって参照されるもの
とする。また、ノート信号14.12.10.7に異常
があり、3,4はオンラインでの測定が不可能とする。
このような場合に対し、本発明のインターロック回路診
断装置は次のように診断を行う。すなわち、初めにシミ
ュレーション装置23が入力装置21から送られるプロ
セス信号を用いてインターロック回路をシミュレートし
、判定装置24がノート14の出力信号に異常かあるこ
とを発見し、診断目標をノード14として診断制御装置
27が動くか、これは以下に説明する様なものである。
第5図および第6図は診断制御装置27の処理の流れを
示したものである。診断制御装置27の働きは二つの部
分に分けて行われる。号なわら、第5図のメインループ
から第6図の機能を関数として呼び出す。つまり、呼び
出し側に値が返される。
第6図の関数には便宜上〇iagnoseという名前が
ついてあり、この関数が呼び出されるときは一つのパラ
メータが渡される。このパラメータは第6図の51でF
と示されたものである。この「および54〜60に現れ
るSは全て一時記憶装置29内の特定の領域を示すシン
ボルで、これらのシンボルによって一時記憶装置29内
の特定の領域を参照できるものとする1、ただし、この
特定の領域とは一時記憶装置29内の固定した領域を示
すのではなく、後で詳しく述べるように関数口agno
seに新しく入る度に新しい領域が取られ、この部分に
記憶される。
関数D:agnoseは再帰的な呼び出しか可能な関数
である。一方、F、S以外のパラメータ、すなわち41
のN160のN154〜60のSlは一時記憶装置32
の固定的な領域に記憶される。
診断制御装置27の作業は41て診断目標とするノート
、この場合はノード14をパラメータとして関数Dia
gnoseを呼び出ずことから始まる。この時51でノ
ード14か「として与えられる。第7図(a)は一時記
憶装置29のFとSおよび実行の流れを記憶= 14− するAに関する84造を示したものである。一時記憶装
置29では、後に説明づ−るA、FおよびSを記憶する
領域がスタック構造になっており、関数DiaqnO3
eが呼び出される時、このスタックに新しい領域が取ら
れ、反対にDiagnoseから仇は出る時領域が一つ
消去される。71のAは関数DiagnO3eを呼び出
した手順、つまり返る先の位置を記゛匝する部分である
。ここでは第5図および第6図におけるフローチャート
のブロックの番号を入れる。また、72は「の入る部分
である。したがって、この時の一時記憶装置29の状態
は第7図(b)のようになる。続いて63てノートFす
なわちノード14について記憶装置28内部に記憶され
た一時的な診断上の情報が参照され、[正常]というマ
ークが付いているかどうかか調べられる。[正常]とい
うマークは53でイ」けられるものなので当然この段階
では付いていない。したがって、64から52に進みノ
ード「すなわちノード14の出力信号に異常がないかを
調べる。これは記憶装置28からノード14に関する情
報を参照し、オンラインで測定可能なことか判るため、
入力装@21からその信号を得て、異常と判定し、54
へ進む。54において記憶装@28からノード14の上
流のノート即ちノード14へ信号を送っているノート、
この場合は12を入力し、S [iflち一時記憶装置
の73の部分は不定長の情報を記憶できるものとする。
この時の状態が第7図(C)で示したものである。次の
56ではSが空であるかを調べるが、空でないなら58
に進み、SlにSの先頭即ちノード12が入り、さらに
Sはノート12を取った残りが入る。すなわちSは空と
なる。60で、SlをパラメータとしてDiac+n0
3eか新たに呼び出される。
60から旧agnoseか呼び出されると、一時記憶装
置29の内部は第7図(d)のようになる。ここからは
「として参照されるのはノード12である。また、Aの
部分には今回旧agnoseを呼び出した60が入る。
前と同様に63.64てノード「ずなわちノード12に
[正常]というマークの有無を調べ、付いていないなら
52で出力信号を調べ異常がおるので、Sのノード12
の上流のノードであるノード6、10.11を入れる。
この時−特記″臣装置29は第7図(e)のようになる
。次に56のテストで58に進み、Slにノード6か、
Sにノード10と11が入る。60でまた、Diagn
oseが呼び出される。
Diagnoseが呼び出された段階で一時記憶装置2
9の内部は第7図(f)のようになる。したがって、今
度の「はノード6で必る。ノード6に[正常]というマ
ークはなく、出力信号にも異常がないから、63→64
→52→53と進む。53で記憶装置28のノート6に
関連した部分に[正常]というマークを付(ブておく。
これは診断の過程で再び)−ドロを調べた時数に異常が
ないことを63の段階でチェックするためである。次に
55で関数Diagnoseから抜は出る。ここて、扱
は出る先は一時記憶装置29のへて示された部分、すな
わち今回Diagnoseを呼び出した旧agnose
の60である。また、この時間数の値としてOを返され
る。
60で旧agnoseからOか返されると、それをパラ
メータNに入れる。この時の一時記憶装置29は第7図
(g)のようになる。続いて61に進み、Nの値を調べ
る。初めに約束したようにノードの番号は自然数を使う
から、Oは異常のあるノートがこの段階でないことを示
すために使われる。要するに、Diaqnoseから抜
けた時異常があるノートか児つかったかどうかをパラメ
ータとして渡せるようにするわけである。NがOなので
56に進み、Sが空でないから、58に進む。58て8
1に10が、Sに11が入る。60で旧agnoseを
呼び出す。
この段階で一時記憶装置29の内部は第7図(IA)の
ようになる。以下説明を簡単にするか、ノート10につ
いて調べると出力信号が異常なので、その上流のノード
7と5を順に調べる。ノード7を調べるためにDiag
noseを呼び出した時、ノード2゜3.4を調べる。
ノード2については異常がないので次にノード3を調べ
る。
ノード3にツイテ51から旧a(lrlO3Qに入り、
63゜64て「正常]のマークかイ」いていないので5
2に進む。ここで記憶装置28からノード3について調
べるが、ノード3の出力信号の値はオンラインで(、主
測定されていないことか判る。この様な場合はj4−1
8 = 力装置30にメツレージを出力し診断者にノート3の出
力信号の値を測定するよう依頼する。診断者はノード3
の出力信号を測定したらオフライン入力装置31からこ
の値を入力し、診断制御装置27はこの値に基づいてノ
ード3の出力信号が正常かどうかを判定する。ここで、
もし正常なら次に診断はノード4へ続くが、正常でない
場合は次のようになる。
すなわち、54でSにノード3の上流のノードを入れる
か、第3図から判るようにノート3には上流のノードは
ないから、Sは空となる。したがって、次の56から5
7に進みノード3には[異常]のマークか付けられ、続
いて59に進む。59に進んだ時一時記憶装置29には
第7図(i)のように記憶されている。したかって、5
9でDiaOnoseを抜けると一つ前の旧agnos
eの60に戻り、関数の値としてFすなわち3か返り、
Nに代行される。61に進むとN=Oは成立しないから
62に進み、ざらに一つ前のDiagnoseに3を返
す。この過程は第7図(i)の下の行から△の値に従っ
て一つづつ上に戻るもので、最終的に第5図の41に値
3と共に戻り、Nにこの値が代行され42でN=Oが成
立しないから、43に進み出力装置30に[ノード3に
異常がおる]と表示する。
ところで、この場合は上流のノードを持たないノード3
に異常がおった場合であるが、もしノード7に異常があ
る場合は次のようになる。すなわち、ノード3について
診断者から測定した出力信号の値を入力した後正常であ
るから、ノード4を同様に調べる。ここにも異常がない
ためノード7を診断中の、つまりFの値が7となってい
る段階の60に戻り、Nの値がOであるから61から5
6へ進む。この時Sが空となっているから57でノード
Fずなわちノード7に[異常]のマークを付け、59へ
進み、ノード3に異常があった場合と同様に最終的に第
6図の41へ戻る。以下同様である。
尚、ここではインターロック回路に異常がある場合の診
断を考えていたか、回路そのものの異常ではなく、例え
ばある時点でインターロック回路の出力信号がONとな
った原因を探索するような−20= 作業にも使用することが可能である。例えばインターロ
ックの最終的出力信号がONとなっている原因を探索す
る場合、52の判定を出力信号がONかOFFと変えれ
ばよい。また、途中のノートでNOT条件が入る度に、
60で次に呼び出ずDiaclnO3eの52の判定を
ONからOFF、OFF′bsらONというように反転
させる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によればインターロック回
路の診断をそのインターロック回路の論理的構成と信号
の性質を記憶させるだけで行うことができ、個々のイン
ターロック回路の診断方法を予め人間が用意しなければ
ならない従来の診断装置に比べて大幅な]ス1〜ダウン
かできる。さらに、診断者と対話的に作業を進めること
かでき、診断の対象となる出力信号の全てをオンライン
で入力できない場合でも診断が可能となり、また診断者
は従来のように診断の過程で必要となるドキュメント類
を自分で検索する必要かなく、診断を効率的に進めるこ
とかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック構成図、第2図は
本発明が適用されるインターロック回路の一例を示す図
、第3図はインターロック回路における信号の伝播を示
す図、第4図は従来のインターロック回路診断装置のブ
ロック構成図、第5図および第6図は本発明における診
断制御装置の処理の流れを示す図、第7図は本発明にあ
ける一時記憶装置の内部にあけるデータ記憶の模式図で
ある。 21・・・入力装置 22、25.28・・・記憶装置 23・・・シミュレーション装置 24・・・判定装置 26、30・・・出力装置 27・・・診断制御装置 29、32・・・一時記憶装置 31・・・オフライン入力装置 (8733)代理人 弁理士 猪 股 祥 晃(ほか 
1名) 第4図 第5図 第6図 (i) 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 診断すべきインターロック回路について入力点の状態を
    外部から入力するオフライン入力装置と、インターロッ
    ク回路の論理的構成を記憶する第1の記憶装置と、前記
    インターロック回路における観測可能な測定点を記憶す
    る第2の記憶装置と、インターロック回路からの信号を
    入力する入力装置と、診断の途中経過と結果を出力する
    出力装置と、前記入力装置から入力される信号の内前記
    インターロック回路の入力信号に対して前記第1の記憶
    装置に記憶されたインターロック回路の論理的構成に基
    づきインターロック回路の働きを模擬するシミュレーシ
    ョン装置と、前記入力装置から入力されるインターロッ
    ク回路の測定可能信号点における信号の値と前記シミュ
    レーション装置の出力信号とを比較しインターロック回
    路の異常を検出する判定装置と、後記の診断制御装置の
    再帰的な手続きに際し情報を保持するための第1の一時
    記憶装置と、この第1の一時記憶装置に記憶されない診
    断制御装置の情報を記憶する第2の一時記憶装置と、前
    記判定装置から与えられたインターロック回路の異常な
    信号点を初めの診断目標として、この診断目標における
    信号の値が前記入力装置から入力できるかあるいは外部
    から測定できるかどうかを前記第2の記憶装置に記憶さ
    れた情報を基に判定し、前記入力装置から入力できる場
    合は前記入力装置から信号を入力し、そうでなく外部か
    ら測定できる場合は測定点を前記出力装置を用いて提供
    するとともにその結果に従って測定結果を前記オフライ
    ン入力装置を通して入力し、この入力された信号に異常
    がある場合は診断目標に対し上流にある測定点を前記第
    1の記憶装置から探索し、もし上流に測定点がない場合
    は現在の診断目標を異常と判定し、そうでないときはそ
    れらの上流の測定点それぞれを診断目標に同様の手続き
    を繰り返し行い、それら全てが正常であれば現在の診断
    目標が異常と判定する診断制御装置とから構成されたこ
    とを特徴とするインターロック回路診断装置。
JP62034416A 1987-02-19 1987-02-19 インタ−ロツク回路診断装置 Pending JPS63204171A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01284904A (ja) * 1988-05-12 1989-11-16 Hitachi Ltd プラントのインターロックバイパス方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01284904A (ja) * 1988-05-12 1989-11-16 Hitachi Ltd プラントのインターロックバイパス方法

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